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Fターム[5F102GS09]の内容

接合型電界効果トランジスタ (42,929) | ゲート電極構造 (2,097) | 平面形状 (492) | 櫛歯状、蛇行状 (270)

Fターム[5F102GS09]に分類される特許

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【課題】 半導体装置に関し、従来のベアチップ実装に於ける半導体装置の耐湿性劣化の問題を簡単な構成に依って抑止して高耐湿性を確保し、製造コストが低い高周波高出力の半導体装置を実現できるようにする。
【解決手段】 複数の細線状ゲート1を結ぶゲート配線10上を絶縁膜21を介して覆う保護金属膜41を備える。 (もっと読む)


接合電界効果トランジスタが記載される。このトランジスタは、広いバンドギャップの半導体から造られる。上記デバイスは、ソース、チャネル、ドリフトおよびドレインの半導体の層ならびにp型注入ゲート領域またはショットキーゲート領域を含む。上記ソース、チャネル、ドリフトおよびドレイン層は、エピタキシャルに成長され得る。上記ソース、ゲートおよびドレイン領域に対するオーム接触は、ウェーハと同じ側に形成され得る。上記デバイスは、垂直チャネル幅に依存する異なる閾電圧を有し得、同じチャネルドーピングに対し、デプレッション動作モードおよびエンハンス動作モードの両方に対して実施され得る。上記デバイスは、デジタル、アナログおよびモノリシックなマイクロ波集積回路のために使用され得る。上記デバイスを含むトランジスタおよび集積回路を製造する方法もまた、記載される。
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【課題】 融点が高くかつ高温にて熱処理してもリーク電流の小さい電極材料を用いることで、リーク電流特性を向上させることができる窒化物系半導体装置を提供する。
【解決手段】 本発明の窒化物系半導体装置は、Si基板1上に、AlN/GaNバッファ層2、アンドープGaN層3、n型AlGaN活性層4が順次積層され、n型AlGaN活性層4上に、Ti/Alのオーム性接触のソース電極5、Ti/Alのオーム性接触のドレイン電極6およびRhからなるショットキー接合のゲート電極7が形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】マイクロ波FETでは、内在するショットキー接合容量またはpn接合容量が小さく、それらの接合が静電気に弱い。しかし、マイクロ波デバイスにおいては、保護ダイオードを接続することによる寄生容量の増加が、高周波特性の劣化を招き、その手法を取ることができなかったという問題があった。
【解決手段】被保護素子の端子とGND端子間に第1n+型領域−絶縁領域−第2n+型領域からなる保護素子を接続する。第1n+型領域は基板深さ方向に柱状に設け、第2n+型領域は第1n+型領域の底部と対向配置する板状に形成する。これにより、第1電流経路、第2電流経路により非常に大きな静電気電流を接地電位に流すことができるので、寄生容量をほとんど増やすことなくHEMTの動作領域に至る静電エネルギーを大幅に減衰させることができる。 (もっと読む)


【課題】電流の状態に関する情報を提供する能力を有するように配置されたIII族窒化物ベースの電力半導体装置を提供することである。
【解決手段】本発明の電力半導体装置は、III族窒化物ヘテロ接合領域と、該III族窒化物ヘテロ接合領域及び第1給電パッドに電気的に接続される第1電力電極と、前記III族窒化物ヘテロ接合領域及び第2給電パッドに電気的に接続される前記第1電力電極に対向して離隔される第2電力電極と、前記III族窒化物ヘテロ接合領域及び第3給電パッドに電気的に接続される前記第1電力電極に対向して離隔される第3電力電極と、を有する電力半導体装置。 (もっと読む)


【課題】 発振することなく動作の安定した半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板21上に複数のトランジスタを隣接して配置し、前記複数のトランジスタのゲート22をゲートバー22aで共通に接続するとともに、前記複数のトランジスタのソースフィンガー24bを共通に接続するソース配線24を前記複数のトランジスタ上に設け、前記ソース配線は前記ゲートバーの一部のみを跨ぐ互いに離間した複数のブリッジ部24aを有する。ゲートバー22aの一部のみをソース配線24が跨ぐので、ゲートバー・ソース容量を減らせることができ、高周波でのインピーダンスが大きくなって、トランジスタに帰還経路が実質的に形成されない。 (もっと読む)


【課題】 電界効果トランジスタ特性の劣化を低減し、微細化を実現することが可能なガリウム砒素電界効果トランジスタを提供する。
【解決手段】 基板31と、メサ11と、メサ11上に形成されたソース電極13、ドレイン電極14及びゲート電極12とを備え、メサ11上面には、櫛形状のソース電極13及びドレイン電極14の指状部13a、14aが互いに組み合わさるように対向して位置し、かつミアンダ形状のゲート電極12がソース電極13とドレイン電極14との間に位置する形状の上面パターンが形成され、ソース電極13及びドレイン電極14の指状部13a、14aの基部となる共通部13b、14bは、メサ11上面に形成され、ゲート電極12における指状部13a、14aと平行な直線部12aの下方に位置する部分は、ゲート電極12における隣り合う直線部12aをつなぐ屈曲部12bの下方に位置する部分と電気的に分離されている。 (もっと読む)


課題マイクロ波FETでは、内在するショットキ接合容量またはPN接合容量が小さく、それらの接合が静電気に弱い。しかし、マイクロ波デバイスにおいては、保護ダイオードを接続することによる寄生容量の増加が、高周波特性の劣化を招き、その手法を取ることができなかったという問題があった。解決手段PN接合、ショットキ接合、または容量を有する被保護素子の2端子間に第1N+型領域−絶縁領域−第2N+型領域からなる保護素子を並列に接続する。近接した第1、第2N+領域間で放電できるので、寄生容量を増やすことなくFETの動作領域に至る静電エネルギーを減衰させることができる。
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【課題】電力用デバイスにおいて双方向に電圧をブロックできるようにする。
【解決手段】大電流を搬送するチャンネルを得るAlGaN/GaNインターフェースを備えたIII族窒化物双方向スイッチであり、この双方向スイッチは、この双方向スイッチのために、電流を搬送するチャンネルを形成するための二次元電子ガスの発生を阻止したり、または可能にする少なくとも1つのゲートにより作動する。 (もっと読む)


共通のダイ内で形成された少なくとも2つのIII族−窒化物ベースの半導体デバイスを含む、III族−窒化物をベースとする集積半導体デバイス。
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