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Fターム[5F152CC03]の内容

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Fターム[5F152CC03]に分類される特許

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【課題】可視光領域の波長のレーザーを用いて、結晶性の安定した結晶シリコン膜を形成する結晶シリコン膜の形成方法を提供する。
【解決手段】金属膜を形成する第1工程と、前記金属膜上に絶縁膜を形成する第2工程と、前記絶縁膜に多結晶Siからなる結晶シリコン膜を形成する第3工程とを含み、前記第2工程において、前記絶縁膜を160nm〜190nmの膜厚範囲で形成し、前記第3工程は、前記絶縁膜にa−Siからなる非晶質シリコン膜を30nm〜45nmの膜厚範囲で形成する工程と、前記非晶質シリコン膜に可視光領域の波長のレーザーの光を照射することにより、前記結晶シリコン膜を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体膜が分離された後の分離後の半導体基板を、SOI基板作製に用いることが可能な再生半導体基板に再生する際に、分離後の半導体基板の取り代を削減し、1枚の半導体基板を再生使用できる回数を増やす半導体基板の再生処理方法を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】半導体を酸化する酸化剤として機能する物質と、半導体の酸化物を溶解する物質と、半導体の酸化及び半導体の酸化物の溶解の減速剤として機能する物質と、を含む混合溶液を用いて、分離後の半導体基板の周辺部に残存した脆化層及び半導体層を選択的に除去する半導体基板の再生処理方法である。なお、イオンドーピング装置により水素ガスから生成される、少なくともHイオンを含む複数種のイオンを照射することにより半導体基板に形成する脆化層を用いて、半導体基板から半導体膜を分離する。 (もっと読む)


【課題】熱プラズマジェットを用いて粒径の異なる結晶シリコンを製造する半導体製造装置を提供する。
【解決手段】圧電素子2によって噴出口18と基板60との距離が1mmに設定されると、プラズマ源10は、熱プラズマジェットを発生し、直径が300μmφである噴出口18から熱プラズマジェットTPJをa−Si:H膜61に照射する。これによって、a−Si:H膜61の一部が溶融結晶化する。その後、圧電素子2によって噴出口18と基板60との距離が5mmに設定されると、プラズマ源10は、熱プラズマジェットを発生し、噴出口18から熱プラズマジェットTPJをa−Si:H膜61に照射する。これによって、a−Si:H膜61の一部が固相結晶化する。 (もっと読む)


【課題】有機発光表示装置の駆動トランジスタとスイッチングトランジスタとに要求される特性を十分に満たす有機発光表示装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】同一の基板上に形成された逆スタガ型のスイッチングトランジスタおよび駆動トランジスタを備える有機発光表示装置であって、スイッチングトランジスタは、第1半導体層からなる第1チャネル層を有し、駆動トランジスタは、第1半導体層とは異なる結晶質である第2半導体層と、第2半導体層上に積層される第1半導体層とからなる第2チャネル層を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の表面に優れた光閉じ込め効果を有する凹凸形状を形成して光電変換素子の感度を向上させる。
【解決手段】多結晶半導体膜10は、基板1上に形成されており、ラテラル結晶を含む。多結晶半導体膜の表面に自己組織化的に形成されたテクスチャ構造を有し、その表面の二乗平均粗さが4nm以上である。 (もっと読む)


【課題】 広範囲にわたって全導電性領域に、断切れ及び上層配線層との間のリーク電流の発生のない、均一な膜厚の銅配線層を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 ガラス基板上に薄膜トランジスタ及び配線を有する半導体装置を製造する方法において、ガラス基板上に下地絶縁層を形成する工程と、前記下地絶縁層上に下地バリア層を形成する工程と、前記下地バリア層上にシード層を形成する工程と、前記シード層を前記配線に対応する形状にパターニングしてシード層パターンを形成する工程と、前記シード層パターンの表面に銅配線層を無電解めっき法で形成する工程と、前記銅配線層マスクとして前記下地バリア層をパターニングする工程と、前記銅配線層を被覆するように絶縁層を形成する工程とを備えたことを特徴する半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】製造工数の増大をもたらすことなく、薄膜トランジスタのゲート絶縁膜と容量素子の誘電体膜を異なる層における絶縁膜を用いることによって、それらの特性に応じた膜厚に設定できる表示装置の提供。
【解決手段】基板上に薄膜トランジスタと容量素子が形成されている表示装置にであって、前記薄膜トランジスタは、
ゲート電極の形成領域を被って形成された第1の絶縁膜と、
前記第1の絶縁膜上に形成され、平面的に観て、前記ゲート電極の形成領域内に開口を備える第2の絶縁膜と、
前記第2の絶縁膜上に前記開口を横切って形成され、両端に高濃度領域を備える島状の多結晶化された半導体層と、
前記半導体層の上面に前記半導体層の両端の高濃度領域のそれぞれの一部を露出させて形成された第3の絶縁膜と、
前記第3の絶縁膜から露出された前記半導体層の両端の高濃度領域のそれぞれに電気的接続がなされて形成された一対の電極と、を備えて構成され、
前記容量素子は、その誘電体膜が前記第3の絶縁膜と同層で同材料の絶縁膜によって構成されている。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の結晶性若しくは表面の平坦性、又は結晶性及び表面の平坦性を高めることのできるレーザ照射装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】レーザ発振器と、レーザ発振器から射出されたレーザ光を線状に成形する光学系と、光学系によって成形された線状のレーザ光が照射される被照射物を載置するステージと、を有し、ステージは、支持台上に、ヒータ、不純物吸着材及び被照射物を載置する載置台が順に固定されているレーザ照射装置を用いて、絶縁表面上に設けられた半導体膜にレーザ光を照射し、半導体膜を結晶化する。 (もっと読む)


【課題】低温プロセスへの適合が可能でありながらも、半導体特性を損なわすに高精度に不純物の濃度コントロールが可能なドーピング方法を提供する。
【解決手段】アンチモンと共に、水素、窒素、酸素、炭素のみで構成されたアンチモン化合物を含有する材料溶液(アンチモン溶液L)を基板7の表面を覆う半導体層5に付着させて溶液層L1を形成する。アンチモン溶液Lを乾燥させることにより基板7上にアンチモン化合物層9を形成する。熱処理を行うことによりアンチモン化合物層9中のアンチモンを半導体層5に拡散させて不純物領域5aを形成する。熱処理は、アンチモン化合物層9へのエネルギービームhの照射によって行う。 (もっと読む)


【課題】炭化シリコンを含む半導体基板の新たな作製方法を提供することを目的の一とする。または、炭化シリコンを用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】炭化シリコン基板にイオンを添加することにより、炭化シリコン基板中に脆化領域を形成し、炭化シリコン基板とベース基板とを絶縁層を介して貼り合わせ、炭化シリコン基板を加熱して、脆化領域において炭化シリコン基板を分離することにより、ベース基板上に絶縁層を介して炭化シリコン層を形成し、炭化シリコン層を1000℃〜1300℃の温度で熱処理して、炭化シリコン層の欠陥を低減することにより半導体基板を作製する。または、上述のようにして形成された半導体基板を用いて半導体装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】 本発明では剥離技術を用いることにより様々な基板上に薄膜素子を形成し、従
来の技術では不可能であると考えられていた部分に薄膜素子を形成することにより、省ス
ペース化を図ると共に耐衝撃性やフレキシビリティに優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】 本発明では、剥離技術を用いて一旦基板から剥離させた膜厚50μm以下
の素子形成層を基板上に固着することにより、様々な基板上に薄膜素子を形成することを
特徴とする。例えば、可撓性基板上に固着された薄膜素子をパネルの裏面に貼り付けたり
、直接パネルの裏面に固着したり、さらには、パネルに貼り付けられたFPC上に薄膜素
子を固着することにより、省スペース化を図ることができる。 (もっと読む)


基板上に材料を堆積及び結晶化する方法が開示され、特定の実施態様において、その方法は、堆積され、吹きつけられる種及びエネルギー輸送種を有するプラズマの生成を含んでもよい。第一の期間の間、基板にバイアス電圧は印加されず、プラズマ堆積を通じて種が基板上に堆積する。第二の期間の間、基板に電圧が印加され、堆積した種に向かって及び内部にイオンが引き付けられ、それにより堆積した層が結晶化する。このプロセスを十分な厚みが得られるまで繰り返すことができ、他の実施態様では、バイアス電圧又はバイアスパルス継続時間を変更して、生ずる結晶化の量を変えることができる。他の実施態様において、ドーパントを用いて、堆積した層をドープしてもよい。
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【課題】ベース基板(例えばガラス基板)とボンド基板(例えば単結晶シリコン基板)とを貼り合わせてSOI基板を作製する際の半導体層(例えば単結晶シリコン層)の表面の荒れを抑制することを目的の一とする。または、上記荒れを抑えて歩留まりの高い半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ボンド基板に加速されたイオンを照射して該ボンド基板に脆化領域を形成し、ボンド基板またはベース基板の表面に絶縁層を形成し、絶縁層を介してボンド基板とベース基板を貼り合わせると共に、ボンド基板とベース基板の一部に、ボンド基板とベース基板とが貼り合わない領域であってボンド基板とベース基板によって閉じられた領域を形成し、熱処理を施すことにより、脆化領域においてボンド基板を分離して、ベース基板上に半導体層を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体膜から金属元素を取り除く従来のゲッタリング工程と異なる方法により半導体膜中から金属元素を除去する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】金属元素を用いて結晶化された半導体膜に対して、パルスレーザを照射することにより、半導体膜にリッジが形成される。このリッジを除去することで、金属元素を除去する。リッジを除去したため半導体膜表面が荒れている場合、不活性雰囲気下で半導体膜にレーザを照射し半導体膜表面を平坦化する。 (もっと読む)


【課題】ドーピング処理の条件の厳密な管理および新たな製造工程を追加することなく、良好なVg−Id特性を有する薄膜トランジスタを実現する。
【解決手段】基板25上に形成された薄膜トランジスタにおいて、島状の半導体層21は、略平坦な上面を有する中央部21aと、基板25に対して0度より大きく、且つ90度以下の傾斜角を有する端部21bとを有し、島状の半導体層21の中央部21aに含まれる半導体は、端部21bに含まれる半導体よりも結晶粒径が大きい、或いは島状の半導体層21の中央部21aは多結晶半導体を含み、且つ端部21bは非晶質半導体を含む。 (もっと読む)


【課題】特性の良い半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】基板上に、ゲート電極として機能する第1の導電層を形成する工程と、第1の導電層を覆うように第1の絶縁層を形成する工程と、第1の導電層と一部が重畳するように、第1の絶縁層上に半導体層を形成する工程と、半導体層と電気的に接続されるように第2の導電層を形成する工程と、半導体層および第2の導電層を覆う第2の絶縁層を形成する工程と、第2の導電層と電気的に接続される第3の導電層を形成する工程と、半導体層を形成する工程の後、第2の絶縁層を形成する工程の前の第1の熱処理工程と、第2の絶縁層を形成する工程の後の第2の熱処理工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】段差部において膜厚の急激な変動が抑制された半導体膜を含む半導体基板、およびその製造方法、並びに、その半導体基板を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体基板1は、下地基板10と、下地基板10上の一部に形成されている金属膜20と、金属膜20を覆うようにして下地基板10上に形成されている絶縁膜30と、絶縁膜30上に形成され、かつ結晶化された半導体膜40とを備えている。絶縁膜30は、金属膜20の端部において段差部を有し、当該段差部の下地基板10に対して垂直な断面形状が、外に膨らむ「R」形状を呈している。上記段差面は、その上端部から下端部に向かって、テーパー角度ψが略0°から徐々に大きくなって、略40°〜90°であるテーパー角度θになるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板と単結晶半導体基板とを貼り合わせてSOI基板を作製する際のシリコン層の表面の荒れを抑制することを目的の一とする。または、上記荒れを抑えて歩留まりの高い半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ボンド基板に加速されたイオンを照射して該ボンド基板に脆化領域を形成し、ボンド基板またはベース基板の表面に絶縁層を形成し、絶縁層を介してボンド基板とベース基板を貼り合わせると共に、ボンド基板とベース基板の一部に貼り合わない領域を形成し、熱処理を施すことにより、脆化領域においてボンド基板を分離して、ベース基板上に半導体層を形成する。 (もっと読む)


【課題】光センサーと遮光膜を有する半導体装置において、段切れや膜剥がれに起因にする歩留まりの低下を防止することができるとともに、暗電流の増大を防止して光センサーの性能の低下を防止することができる半導体装置及びその製造方法、並びに液晶表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】フォトダイオード15を構成するポリシリコン膜を形成する部分Bの非晶質シリコン膜30の厚みW1が、遮光膜28の周縁に対応した部分Aの非晶質シリコン膜30の厚みW2より薄くなるように、非晶質シリコン膜30を薄膜化する。そして、非晶質シリコン膜30にレーザー光を走査して、非晶質シリコン膜30を多結晶化させてポリシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】エッチングが困難な炭化シリコン膜をエッチングすることなく、パターニングされた炭化シリコン膜を得ることが可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上にアモルファスシリコンとポリシリコンとの少なくとも一方を含むシリコン膜14を形成する工程と、シリコン膜14をパターニングするパターニング工程と、パターニング工程の後にシリコン膜14を炭化処理し炭化シリコン膜13を形成する工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


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