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Fターム[5F152CD14]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 被結晶化層の下方の層 (4,095) | 材料(結晶化直前の状態) (3,330) | 絶縁体 (2,749) | SiN (830)

Fターム[5F152CD14]に分類される特許

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【課題】薄膜トランジスタ基板の製造コストの低減を図る。
【解決手段】基板10に設けられたゲート電極11と、ゲート電極11を覆うように設けられたゲート絶縁膜12と、ゲート絶縁膜12上にゲート電極11に重なるように設けられた半導体層15aと、半導体層13a上にゲート電極11に重なると共に互いに離間するように設けられたソース電極16a及びドレイン電極16bとをそれぞれ備えた複数のTFT5aが設けられたTFT基板20aであって、半導体層15aは、ゲート絶縁膜12側に設けられたシリコン系の第1半導体層13と、ソース電極16a及びドレイン電極16b側に設けられた酸化物半導体系の第2半導体層14とを備えている。 (もっと読む)


【課題】半導体膜から金属元素を取り除く従来のゲッタリング工程と異なる方法により半導体膜中から金属元素を除去する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】金属元素を用いて結晶化された半導体膜に対して、パルスレーザを照射することにより、半導体膜にリッジが形成される。このリッジを除去することで、金属元素を除去する。リッジを除去したため半導体膜表面が荒れている場合、不活性雰囲気下で半導体膜にレーザを照射し半導体膜表面を平坦化する。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタにおけるオン電流の向上とリーク電流の低減を図る。
【解決手段】微結晶シリコン領域51の両端側が非晶質シリコン領域52となっている半導体膜5bを備えるスイッチトランジスタ5において、チャネル保護膜5dが、半導体膜5bにおける微結晶シリコン領域51を覆いつつ、そのチャネル保護膜5dの両端側で、微結晶シリコン領域51側の非晶質シリコン領域52の一部を覆い、また、ソース・ドレイン領域となる不純物半導体膜5f,5gが、微結晶シリコン領域51と直接接触せず、半導体膜5bにおける非晶質シリコン領域52と接することで、ドレイン電極5hとソース電極5iとが不純物半導体膜5f,5gを介して半導体膜5bと電気的に接続することで、微結晶シリコンに起因するホールエレクトロンペアの発生を抑えて、リーク電流の低減を図った。 (もっと読む)


【課題】特性の良い半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】基板上に、ゲート電極として機能する第1の導電層を形成する工程と、第1の導電層を覆うように第1の絶縁層を形成する工程と、第1の導電層と一部が重畳するように、第1の絶縁層上に半導体層を形成する工程と、半導体層と電気的に接続されるように第2の導電層を形成する工程と、半導体層および第2の導電層を覆う第2の絶縁層を形成する工程と、第2の導電層と電気的に接続される第3の導電層を形成する工程と、半導体層を形成する工程の後、第2の絶縁層を形成する工程の前の第1の熱処理工程と、第2の絶縁層を形成する工程の後の第2の熱処理工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】段差部において膜厚の急激な変動が抑制された半導体膜を含む半導体基板、およびその製造方法、並びに、その半導体基板を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体基板1は、下地基板10と、下地基板10上の一部に形成されている金属膜20と、金属膜20を覆うようにして下地基板10上に形成されている絶縁膜30と、絶縁膜30上に形成され、かつ結晶化された半導体膜40とを備えている。絶縁膜30は、金属膜20の端部において段差部を有し、当該段差部の下地基板10に対して垂直な断面形状が、外に膨らむ「R」形状を呈している。上記段差面は、その上端部から下端部に向かって、テーパー角度ψが略0°から徐々に大きくなって、略40°〜90°であるテーパー角度θになるように形成されている。 (もっと読む)


マルチレイヤ構造を製造する方法は、積層体をアニールする工程を含み、該アニール工程は、不活性ガスの存在下で前記積層体を加熱する工程を含むことができ、前記積層体はカドミウムおよび錫を含む層を含む。
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【課題】ドーピング処理の条件の厳密な管理および新たな製造工程を追加することなく、良好なVg−Id特性を有する薄膜トランジスタを実現する。
【解決手段】基板25上に形成された薄膜トランジスタにおいて、島状の半導体層21は、略平坦な上面を有する中央部21aと、基板25に対して0度より大きく、且つ90度以下の傾斜角を有する端部21bとを有し、島状の半導体層21の中央部21aに含まれる半導体は、端部21bに含まれる半導体よりも結晶粒径が大きい、或いは島状の半導体層21の中央部21aは多結晶半導体を含み、且つ端部21bは非晶質半導体を含む。 (もっと読む)


【課題】より均質な強度分布を有するレーザビームを安定して照射可能な照射装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源11と、レーザ光源11からの射出レーザ光をP偏光(第1の直線偏光)とS偏光(第2の直線偏光)とに分離する偏光ビームスプリッタ13(偏光分離手段)と、第1もしくは第2の直線偏光を複数の光束に分割するシリンドリカルレンズアレイ対14(光束分割手段)と、光束を右旋回円偏光に変換する第1の1/4波長板15Aと、光束を左旋回円偏光に変換する第2の1/4波長板15Bとが光軸Zと直交するX軸方向(第1の方向)において交互に配列されてなる1/4波長板アレイ15と、右旋回円偏光および左旋回円偏光を集光し、表面3S(被照射面)へ向けて照射するコンデンサレンズ16(投影光学系)とを備える。 (もっと読む)


【課題】光センサーと遮光膜を有する半導体装置において、段切れや膜剥がれに起因にする歩留まりの低下を防止することができるとともに、暗電流の増大を防止して光センサーの性能の低下を防止することができる半導体装置及びその製造方法、並びに液晶表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】フォトダイオード15を構成するポリシリコン膜を形成する部分Bの非晶質シリコン膜30の厚みW1が、遮光膜28の周縁に対応した部分Aの非晶質シリコン膜30の厚みW2より薄くなるように、非晶質シリコン膜30を薄膜化する。そして、非晶質シリコン膜30にレーザー光を走査して、非晶質シリコン膜30を多結晶化させてポリシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】搬送される基板の動きに追従してマイクロレンズアレイを移動してレーザ光の照射位置精度を向上する。
【解決手段】マトリクス状に設定されたTFT形成領域の縦横いずれか一方の配列方向に基板を搬送しながら撮像手段により基板表面を撮像し、該撮像画像に基づいて基板表面に予め設定されたアライメントの基準位置を検出し、複数のTFT形成領域に対応して基板の搬送方向と交差する方向に複数のレンズを配置した少なくとも一列のレンズアレイを基板の搬送方向と交差方向に移動して、レンズアレイのレンズと基板のTFT形成領域とをアライメント基準位置を基準にして位置合わせし、基板が移動してTFT形成領域がレンズアレイの対応レンズの真下に到達したときにレンズアレイにレーザ光を照射し、複数のレンズによりレーザ光を集光して各TFT形成領域のアモルファスシリコン膜をアニール処理する。
【選択図】図6

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【課題】曲げストレスによるオン特性の劣化を抑制できる半導体装置、この半導体装置の製造方法、前記半導体装置を備えた画素アレイ基板、前記半導体装置を備えたセンシング素子アレイ基板、表示パネル、インプットパネル、表示装置、携帯機器、X線検査装置、及びレントゲン装置を提供する。
【解決手段】単結晶膜または多結晶膜からなる結晶化領域であるチャネル領域14と、アモルファス膜からなるアモルファス領域であるソース領域24及びドレイン領域34とからなる半導体層4を備えており、チャネル領域14は、半導体層4となるアモルファス膜を形成し、アモルファス膜に電流を流して一部分を結晶化することにより形成されてなる。 (もっと読む)


【課題】エッチングが困難な炭化シリコン膜をエッチングすることなく、一つのチップに炭化シリコンのデバイスとシリコンのデバイスを容易に混載させ、かつ、炭化シリコンのデバイスとシリコンのデバイスが電気的に絶縁された構造とすることが可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上に下地層12を形成する工程と、下地層12上にシリコン膜を形成する工程と、シリコン膜をパターニングするパターニング工程と、パターニング工程の後にシリコン膜を炭化処理し、炭化された膜を含んだ炭化シリコン膜13を形成する工程と、炭化シリコン膜13をマスクに用いて、マスクが形成されていない領域の下地層12をエッチングする工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】緻密で均一な膜厚であり、しかも所望の膜厚の炭化シリコン膜を得ることができ、かつ低コストや大口径化が可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上にアモルファスシリコンとポリシリコンとの少なくとも一方を含むシリコン膜14を形成する工程と、シリコン膜14を炭化処理し、炭化された膜を含んだ炭化シリコン膜13を形成する工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】製造コストおよび製造時間の低減を図りつつ、高性能な薄膜トランジスタを備えた配線基板およびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 絶縁基板101と、絶縁基板101上の表示画素部DSPに配置され、非晶質の第1半導体層SC1Aと、第1半導層SC1Aの上に積層された微結晶または多結晶の第2半導体層SC1Bとを有する第1薄膜トランジスタTFT1と、絶縁基板101上の駆動回路部DCTに配置され、第2半導体層SC1Bより電子移動度が高い多結晶の第3半導体層SC2を有する第2薄膜トランジスタTFT2と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高温で長時間の処理が必要なエピタキシャル成長を用いることなく、熱応力の発生を抑え、信頼性に優れた、所望の膜厚の炭化シリコン膜を容易に得ることができ、かつ低コストや大口径化が可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上にアモルファスシリコンとポリシリコンとの少なくとも一方を含む第1シリコン膜14aを形成する工程と、第1シリコン膜14aを炭化処理し第1炭化シリコン膜13aを形成する工程と、第1炭化シリコン膜13aを形成した後に、第2シリコン膜14bを形成する工程と、第2炭化シリコン膜13bを形成する工程と、を少なくとも1回有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】エッチングが困難な炭化シリコン膜をエッチングすることなく、パターニングされた炭化シリコン膜を得ることが可能な炭化シリコン膜の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の炭化シリコン膜13の製造方法は、基板11上にアモルファスシリコンとポリシリコンとの少なくとも一方を含むシリコン膜14を形成する工程と、シリコン膜14をパターニングするパターニング工程と、パターニング工程の後にシリコン膜14を炭化処理し炭化シリコン膜13を形成する工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】同一基板上に、結晶粒の平均粒径が互いに異なり、各々優れたキャリア移動度を有する2種類の結晶質半導体膜を形成し、それら2種類の結晶質半導体膜を用いて異なる電気特性が要求される各半導体素子に所望の電気特性を得る。
【解決手段】基板11上に非晶質半導体膜24を成膜する非晶質膜成膜工程と、非晶質半導体膜24の一部を溶融固化して結晶化することで第1結晶質半導体膜24Aを形成する第1結晶化工程と、残部の非晶質半導体膜24を固相成長させることで第1結晶質半導体膜24Aよりも結晶粒の平均粒径が大きい第2結晶質半導体膜24Bを形成する第2結晶化工程と、第1結晶質半導体膜24Aの結晶粒の平均粒径が第2結晶質半導体膜24Bの結晶粒の平均粒径よりも小さい状態を維持しながら第1及び第2結晶質半導体膜24Bを溶融固化することで再結晶化する再結晶化工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】繰り返しの使用によってボンド基板に生じる不具合を抑制することを目的の一とする。
【解決手段】ボンド基板に加速されたイオンを照射してボンド基板中に脆化領域を形成する第1の工程と、絶縁層を介してボンド基板とベース基板とを貼り合わせる第2の工程と、脆化領域においてボンド基板を分離して、ベース基板上に絶縁層を介して半導体層を形成する第3の工程と、脆化領域で分離されたボンド基板に対して、アルゴン雰囲気において第1の熱処理を施した後に、酸素及び窒素の混合雰囲気において第2の熱処理を施すことにより再生ボンド基板を形成する第4の工程と、を有し、再生ボンド基板を第1の工程におけるボンド基板として再び使用する。 (もっと読む)


【課題】基板に対する剥離・転写の工程を簡略化した方法を提供する。
【解決手段】基板上に金属膜を形成し、加熱処理を行うことで、金属膜上に形成された酸化金属膜と、半導体膜の結晶化を同時に行うことができ、工程が簡略化された剥離・転写の方法である。金属膜にはタングステン膜などを用い、均一な剥離・転写を行うことができる。半導体膜に電気的に接続される電極上に発光層を形成することで発光装置の作製方法を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】酸化亜鉛に代表される酸化物半導体膜を用いて薄膜トランジスタを形成することで、作製プロセスを複雑化することなく、尚かつコストを抑えることができる半導体装置及びその作製方法を提供する。
【解決手段】基板301上にゲート電極303を形成し、ゲート電極303を覆ってゲート絶縁膜304を形成し、ゲート絶縁膜304上に酸化物半導体膜305を形成し、酸化物半導体膜305上に第1の導電膜306及び第2の導電膜307を形成する半導体装置であって、酸化物半導体膜は、チャネル形成領域において少
なくとも加熱処理LRTAにより結晶化した領域308を有する。 (もっと読む)


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