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Fターム[5F173AF38]の内容

Fターム[5F173AF38]に分類される特許

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【課題】高出力・高温動作時の消費電力を抑制し、信頼性の高い二波長レーザ装置を提供する。
【解決手段】半導体レーザ装置は、共に基板101上に形成された第1の半導体レーザ素子102と、第1の半導体レーザ素子102と発振波長が異なり、第2の半導体レーザ素子103とを備える。第1の半導体レーザ素子102及び第2の半導体レーザ素子103の共振器長は1500μm以上であり、第1の半導体レーザ素子102及び第2の半導体レーザ素子103は、それぞれIn(Ga1−x1Alx11−yP (0<x1<1、0<y<1)からなるn型クラッド層と、In(Ga1−x2Alx21−yP (0<x2<1、0<y<1)からなるp型クラッド層とを有している。活性層303は、AlGa1−zAs(0≦z<1)からなり、1層のみの井戸層を含む。 (もっと読む)


【課題】電気抵抗及び光損失の低減を高いレベルで実現できる半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子1Aは、n型半導体基板3、活性層12、回折格子層15、及びn型クラッド層18を備える。回折格子層15は、出力波長に応じた周期で光導波方向に配列された複数の領域15aと、複数の領域15aの間に設けられ不純物濃度が複数の領域15aより低い領域15bとを有する。複数の領域15aのそれぞれは、活性層12上に設けられたp型半導体層16と、p型半導体層16上に設けられたn型半導体層17とを含み、p型半導体層16及びn型半導体層17が互いにトンネル接合を構成する。 (もっと読む)


【課題】蓄積された製造技術やノウハウを活かしつつ、p型不純物の拡散を抑えた発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】n型GaAs基板2上に、n型クラッド層3、活性層5、p型クラッド層7及びp型GaAsキャップ層8を有する発光素子用エピタキシャルウェハにおいて、p型クラッド層7は、p型不純物としてCをドーピングしたCドープ層7aと、MgをドーピングしたMgドープ層7bとを有し、かつp型クラッド層7は、Cドープ層7aが活性層5に近い側に形成され、p型GaAsキャップ層8のp型不純物はZnであり、活性層5中のC原子濃度、Mg原子濃度、Zn原子濃度は、それぞれ5.0×1015cm-3以下、1.0×1016cm-3以上1.6×1016cm-3以下、1.1×1016cm-3以上5.0×1018cm-3以下であるものである。 (もっと読む)


【課題】 p型半導体層の数を減らした窒化物系半導体レーザ構造体の提供。
【解決手段】 p型半導体層216とn型半導体層218との間のp−nトンネル接合220は、エッジ発光型窒化物系半導体レーザ構造200のための電流注入を提供する。このp−nトンネル接合220により、窒化物系半導体レーザ構造200におけるp型半導体層の数が減り、それによって分散損失が低減され、閾値電流密度が低下し、全体的な直列抵抗が低下すると共に、より高い成長温度が可能となることによってレーザの構造的な品質が向上する。 (もっと読む)


【課題】蓄積された製造技術やノウハウを活かしつつ、p型不純物の拡散を抑えた発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】n型GaAs基板2上に、少なくともAlGaInP系材料からなるn型クラッド層3、活性層5、p型クラッド層7およびp型GaAsキャップ層8を順次積層したダブルヘテロ構造を有する発光素子用エピタキシャルウェハにおいて、p型クラッド層7中のp型不純物が炭素とマグネシウムであり、p型GaAsキャップ層8中のp型不純物が炭素と亜鉛であるものである。 (もっと読む)


【課題】高いPL発光強度を安定して得ることが可能な窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】この窒化物半導体発光素子の製造方法では、ガス供給管21およびリアクタ22にMgが残留している状態下において、ガス供給管21をベーキングして真空置換する工程、リアクタ22をベーキングして真空置換する工程、および、リアクタ22の内壁上にコート膜31を形成する工程の全てを行うことによって、活性層4のエピタキシャル成長時に、活性層4にドープされてしまうMgの濃度を制御する。 (もっと読む)


【課題】高出力の半導体光増幅素子を提供すること。
【解決手段】半導体からなる受動コア領域と、前記受動コア領域の両側に位置し、前記受動コア領域よりも屈折率が低い半導体活性層からなる能動クラッド領域と、を有する光増幅導波層を備え、前記光増幅導波層において光を増幅しながら導波する。好ましくは、前記光増幅導波層は、化合物半導体からなり、化合物半導体からなる基板上に、バットジョイント成長方法を用いて前記受動コア領域と前記能動クラッド領域とをモノリシックに集積して形成したものである。 (もっと読む)


【課題】二波長半導体レーザ装置に含まれる2つのレーザ部間相互の電気的特性の相違を緩和させる。
【解決手段】二波長半導体レーザ装置において、同一基板上において第1発光波長を有する第1レーザ部と第2発光波長を有する第2レーザ部とが形成されており、第1と第2のレーザ部の各々は基板側から第1導電型クラッド層、活性層、および第2導電型クラッド層をこの順で含み、第1と第2のレーザ部に含まれる活性層は互いに異なるバンドギャップを有し、第1と第2のレーザ部における活性層と第2導電型クラッド層とのバンドギャップの差がそれぞれEg1とEg2であってEg1>Eg2の関係にあり、そして第1レーザ部の第2導電型クラッド層は第2レーザ部の第2導電型クラッド層に比べて大きな導電率を有している。 (もっと読む)


【課題】出射光の偏向の応答速度が速い半導体光素子と、該半導体光素子を備え、波長掃引時のモードホップをリアルタイムに抑制することができる波長掃引光源を提供する。
【解決手段】n型半導体基板21と、n型半導体基板21上に形成され、光を発し該光を伝搬させる活性層24を有する発光領域22と、発光領域22の活性層24と光学的に結合され、活性層24から伝搬された光を伝搬させる導波路層26を有し、注入される屈折率調整領域注入電流Irに応じて導波路層26の等価屈折率を調整する屈折率調整領域23と、を備え、屈折率調整領域23側の出射端面20aと導波路層26の光軸との交差角θ1が非直角であり、屈折率調整領域注入電流Irにより導波路層26の等価屈折率n1が調整されることにより、出射端面20aから出射された光の出射端面20aに対する出射角θ2が変化される。 (もっと読む)


【課題】測定雰囲気中に含まれる複数の検知対象ガスを検知することができるガス検知装置を提供する。
【解決手段】検知対象ガスを識別するための吸収線の線幅をまたぐように所定の波長幅で波長変調されたレーザ光を出射する半導体発光素子10と、波長変調されたレーザ光を、検知対象ガスの吸収線を含む波長範囲に亘って波長変調の変調速度より遅い掃引速度で波長掃引する掃引手段11、12、13とを有し、波長掃引されたレーザ光を検知対象ガスを含む測定雰囲気2中に出射する波長掃引光源1と、波長掃引光源1からのレーザ光の出射に伴って測定雰囲気2を通過するレーザ光を受光する受光部3と、受光部3からの電気信号を用いて測定雰囲気2中の検知対象ガスの濃度を測定して当該測定データを出力するガス検知部5と、を備える。 (もっと読む)


【課題】活性層(量子井戸層)へ光の出射部となる窓構造を形成するための不純物の拡散条件のコントロールを容易にすることができる半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】この半導体レーザ素子では、赤外レーザ活性層12上に形成されたp‐InGaPクラッド層13は、拡散のし易さが異なる2つの異なる元素MgとZnを混合したドーパントが添加されている。したがって、この2つの元素MgとZnの混合比を調整することで、赤外レーザ活性層(量子井戸層)12への不純物の拡散条件をコントロールすることができる。 (もっと読む)


タイプIIバンド間カスケード利得媒質であって、厚みがあるIn豊富なGaInSb正孔井戸と、2またはそれ以上のGaSb正孔井戸とを有し、電子および正孔インジェクタは厚いAlSbバリアによって分離され、前記電子インジェクタ内の前記第1のInAs電子井戸の厚さと、前記電子インジェクタの合計の厚さと、カスケード化された段数は減少され、遷移領域は前記利得媒質の様々な領域間のインターフェイスに挿入され、Ga(InAlAs)Sbを有する厚い分離閉じ込め層が前記活性利得領域とクラッドの間に配置され、前記クラッド層のドーピングプロファイルは光モードと最もドープされた前記InAs/AlSb SLクラッド層との重なりを最小化するよう最適化される、バンド間カスケード利得媒質。
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【課題】結晶欠陥の発生を防止し、特性が劣化しない範囲で、TMモード発振が行えるようにした半導体発光素子を提供する。
【解決手段】GaAs基板1上に、n型AlGaAsクラッド層2、n型AlGaAsビーム拡散層3、n型AlGaAs光ガイド層4、MQW活性層5、p型AlGaAs光ガイド層6、p型AlGaAsビーム拡散層7、p型AlGaAs第1クラッド層8、InGaPエッチングストップ層9、p型AlGaAs第2クラッド層10、p型GaAsコンタクト層11が形成されている。MQW活性層5は、バリア層と引っ張り歪を持つ井戸層で構成された多重量子井戸構造を有しており、井戸層の各膜厚がバリア層の各膜厚よりも大きく、井戸層のうち、少なくとも1層の膜厚が他の井戸層とは異なるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】最大位相調整量を拡大した半導体発光素子を提供する。
【解決手段】電流注入を受けて光を発しその光を活性層に沿って伝搬させる発光領域と、その発光領域からの光を導波させる導波路層の屈折率が注入電流に応じて変化する位相調整領域とを有する半導体発光素子において、特性Fのように位相調整領域の導波路層に接する第2p型クラッド層の厚さ方向のドーピング濃度が、導波路層の上端から所定範囲、特に25〜150nmの範囲内で極大値をもつように形成することで、位相調整領域における注入キャリアのオーバーフローの抑制効果が高くなり、屈折率変化に寄与しない無駄な電流を流す必要がなくなり、その結果素子全体としての高効率化が実現できることがわかった。 (もっと読む)


【課題】n型クラッド層に要求される特性を有するn型クラッド層またはp型クラッド層に要求される特性を有するp型クラッド層を備えた半導体素子を提供する。
【解決手段】n型第1クラッド層12Aにおいて、n型キャリア密度をn型第2クラッド層12Bよりも高くし、かつ層厚をn型第2クラッド層12Bよりも厚くすることにより、n型クラッド層12全体のキャリア伝導性を確保する。n型第2クラッド層12Bにおいて、伝導帯サブレベル下端を活性層14よりも高くすることにより、キャリア閉じ込めに十分な電子障壁を確保し、さらにタイプII発光を抑制する。 (もっと読む)


【課題】n型クラッド層およびp型クラッド層が共に主として同種の混晶からなり、かつ低抵抗化可能であって活性層とタイプI接合し得る半導体素子を提供する。
【解決手段】n型クラッド層12およびp型クラッド層16が共に、主としてMgx1Znx2Cd1−x1−x2Se混晶層(第1半導体層12A,16A)と、主としてMgx3Bex4Zn1−x3−x4Sex5Te1−x5混晶層(第2半導体層12B,16B)を交互に含む超格子構造となっている。n型クラッド層12は、第1半導体層12Aおよび第2半導体層12Bのうち少なくとも第1半導体層12Aにn型不純物を含んでいる。p型クラッド層16は、第1半導体層16Aおよび第2半導体層16Bのうち少なくとも第2半導体層16Bにp型不純物を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】従来のp型III族窒化物半導体超格子からなるp型半導体よりも低抵抗のp型特性を示す所望の屈折率とバンドギャップを有するp型III族窒化物半導体を提供する。
【解決手段】このp型III族窒化物半導体は、サファイア基板20上に低温GaNバッファー層21,GaN層22が順次積層された積層構造上にエピタキシャル成長された、In0.04Al0.2Ga0.76N層とp型In0.1Al0.04Ga0.86N層との超格子構造からなるp型III族窒化物半導体23である。 (もっと読む)


【課題】より低出力で駆動でき、かつ発光効率のより高く、しかも440〜550nm程度の長波長の光を発光する窒化物半導体レーザ素子を提供する。
【解決手段】基板上に、少なくとも、第一n型窒化物半導体層、p型窒化物半導体層、活性層および第二n型窒化物半導体層を上記基板側からこの順に含むことを特徴とする窒化物半導体レーザ素子であって、上記基板または上記第一n型窒化物半導体層は、第一電極と接し、上記第二n型窒化物半導体層は、第二電極と接し、上記第一電極は、アノード電極であり、上記第二電極は、カソード電極である窒化物半導体レーザ素子である。また、第二n型窒化物半導体層に対し上記活性層とは反対側に、導電性酸化物層を備えることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】格子欠陥の発生とリーク電流の発生を防止し、発光効率の飽和が抑制され、安定した基本横モード発振を行うことが可能な半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】第1の半導体レーザ2と第2の半導体レーザ3とを備え、第1の半導体レーザは、第一クラッド層12と、第一拡散防止層13と、第二クラッド層14と、禁制帯幅がE1の第一量子井戸活性層15とが順に積層されて構成され、第2の半導体レーザは、第四クラッド層22と、第二拡散防止層23と、第五クラッド層24と、禁制帯幅がE2の第二量子井戸活性層25とが順に積層されて構成されている。窓領域における第一拡散防止層と第二クラッド層との間に立ち上がり電圧がV1のpn接合が形成され、窓領域における第二拡散防止層と第五クラッド層との間に立ち上がり電圧がV2のpn接合が形成され、E1とV1とがE1<e×V1を満たし、E2とV2とがE2<e×V2を満たす。 (もっと読む)


【課題】結晶性が良く、抵抗率が十分に低いp型窒化物半導体層を有する窒化物半導体積層構造を提供する。
【解決手段】GaN基板11(基板)上に、III族原料として有機金属化合物、p型不純物原料、及びV族原料としてNHを用いてp型Al0.07Ga0.93N層12(第1のp型窒化物半導体層)を形成する。次に、p型Al0.07Ga0.93N層12上に、III族原料として有機金属化合物、p型不純物原料、及びV族原料としてNHとヒドラジン誘導体を用いてp型GaN層13(第2のp型窒化物半導体層)を形成する。 (もっと読む)


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