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国際特許分類[B24B37/00]の内容

処理操作;運輸 (1,245,546) | 研削;研磨 (20,708) | 研削または研磨するための機械,装置,または方法;研削面のドレッシングまたは正常化;研削剤,研磨剤,またはラッピング剤の供給 (15,323) | ラッピング機械または装置,すなわち,比較的柔らかいが剛性のある材料から出来ているラップと,ラップ仕上されるべき工作物表面との間に,浮遊状態にある研磨物質が注ぎ込まれることを要する機械または装置;そのための附属装置 (4,544)

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【課題】第1金属層の平坦化効率、均一性、および除去速度を最大に、第2層の平坦化を最小にして、第1金属層の中低そり、表面の欠陥、下部層の損傷のような望ましくない結果を最小にするような形で、第1金属層と第2層を含む基板をポリッシングするためのシステム、組成物および/または方法の必要性を満たす。
【解決手段】本発明は、液体キャリヤー、ポリッシングパッドおよび/または研磨材、および少なくとも1種のアミン含有ポリマーを含み、そのアミン含有ポリマーが、アミノ官能基の窒素原子を区別する5個以上の連続した原子を有するもの、または1種以上のアミン官能基を含む少なくとも1種のポリマーブロックといかなるアミン官能基も含まない少なくとも1種のポリマーブロックを有するブロックコポリマーである、化学的−機械的ポリッシングシステムおよび方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】研磨装置において、従来は、研磨用流体中の微生物の存在の有無、微生物の繁殖傾向、および微生物汚染防止手段の駆動による実際の効果を、常に迅速に把握、確認することができないため、研磨装置でのウエハの安定した研磨に課題があり、常に安定した研磨を維持することができるスラリー供給装置を提供することを目的とする。
【解決手段】研磨原液の供給ライン7から前記複数の研磨原液の混合液であるスラリーの研磨装置34、37への供給ライン32、35に至るいずれかの部位に、微生物を検出する微生物検出手段200を備えたことを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェーハのより好ましい研磨条件が得られるスラリーを供給するスラリー供給装置を提供すると共に、そのスラリー供給装置を用いた半導体ウェーハの研磨方法を提供する。
【解決手段】スラリー中に分散するコロイダルシリカの凝集を制御しつつ、コロイダルシリカを含むスラリーを希釈した希釈スラリーを供給するスラリー供給装置を提供する。そして、希釈時のコロイダルシリカの凝集を制御することにより、得られる希釈スラリーの研磨特性を制御して、望ましい表面形状及び性状を有する半導体ウェーハを得るための研磨方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハの化学的機械的研磨において、高い研磨速度、低ディッシングならびにディフェクトの低減を可能とする金属用研磨液を提供する。
【解決手段】下記一般式(1)で表される化合物、酸化剤、および有機酸を含有することを特徴とする金属用研磨液(一般式(1)中、R、R、R、R、R、およびRは、それぞれ独立に、水素原子、脂肪族炭化水素基、アリール基、またはヘテロ環基を表す。但し、R、R、R、R、R、およびRの全てが水素原子となることはない。)。
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【課題】半導体集積回路の作製において、ポリシリコン又は変性ポリシリコンを含む層を有する被研磨体に対する化学的機械的研磨に用いることができ、ポリシリコン又は変性ポリシリコン以外のケイ素系材料を含む層の研磨速度が迅速であり、且つ、ポリシリコン又は変性ポリシリコンを含む層の研磨を選択的に抑制しうる研磨液、及びそれを用いた研磨方法を提供する。
【解決手段】ポリシリコン又は変性ポリシリコンを含む第1層と、酸化ケイ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、炭窒化ケイ素、酸化炭化ケイ素、及び酸窒化ケイ素から選択された1種を含む第2層と、を有した被研磨体の化学的機械的研磨に用いられ、(1)表面の珪素原子の一部または全部をアルミニウム原子に置き換えたコロイダルシリカ粒子、および(2)有機酸の各成分を含有し、pHが1.5〜7.0であり、且つ、前記第1層に対して前記第2層を選択的に研磨しうる研磨液。 (もっと読む)


【課題】発泡構造を均一化することができる研磨パッドを提供する。
【解決手段】研磨パッド1は発泡構造のポリウレタンシート2を有している。ポリウレタンシート2は、イソシアネート基含有化合物を主成分とし、研磨加工時に被研磨物にスラリを介して当接する研磨面Pを有している。ポリウレタンシート2には、半球体状で樹脂製の外殻を有する微粒子3が略均等、略均一に分散されている。外殻の中央部には中空状の窪みが形成されている。微粒子3の窪みには発泡成分が配されている。ポリウレタンシート2の内部には、微粒子3の窪みに配した発泡成分により気孔6が略均等かつ略均一に形成されている。微粒子3は気孔6に内包されている。発泡成分が発生するガスの分で気孔6が形成される。 (もっと読む)


【解決手段】(A)平均粒子径(Da)4〜150nmのシリカ微粒子100質量部と(B)平均粒子径(Db)2〜50nm(ただし、Da/Db≧2)の無機酸化物微粒子1〜30質量部とがヘテロ凝集してなる平均粒子径0.5〜50μmの(C)研磨用粒子が分散媒に分散してなる研磨用粒子分散液、およびこれを含む研磨用組成物、ならびにこれらを用いた研磨方法。
【効果】本発明に係る研磨用粒子分散液または研磨用組成物を用いれば、まず研磨用粒子の崩壊が生じない研磨圧力にて、高研磨レートの研磨処理(一次研磨処理)を行うことができ、その後、研磨用粒子の崩壊が生じる研磨圧力にて、研磨用粒子の崩壊により生成した比較的微小な粒子による精密な研磨処理(二次研磨処理)を行うことができる。つまり本発明に係る研磨用粒子分散液または研磨用組成物によれば、1種類の研磨粒子により、一次研磨処理および二次研磨処理を連続的に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】低濃度でも高い研磨速度が達成され、金属イオン汚染が実質的になく、使用される化学薬品が環境上優しくまた容易に回収可能であり、ポットライフの長い1成分系である研磨組成物を提供する。
【解決手段】活性化剤によって少なくとも部分的にコーティングされた表面を持つ少なくとも一つの研磨剤粒子を含み、活性化剤は、第4(b)族、第5(b)族、または第6(b)族の金属以外の金属を含み、さらに、少なくとも一つの酸化剤を含み、研磨剤粒子の表面にコーティングされた活性化剤と酸化剤の総合作用によって活性化剤表面にフリーラジカルを形成する研磨組成物。 (もっと読む)


【課題】発泡構造を均一化し良好な研磨特性を保持することができる研磨パッドを提供する。
【解決手段】研磨パッドは発泡構造のポリウレタンシートを有している。ポリウレタンシートは、イソシアネート基含有化合物を主成分とし、研磨加工時に被研磨物にスラリを介して当接する研磨面を有している。ポリウレタンシートには、半球体状の微粒子3が略均等、略均一に分散されている。微粒子3は、樹脂製の外殻3aに開口が形成されており、中央部に窪み3bが形成されている。外殻3aには研磨成分5aが含有されている。ポリウレタンシートは研磨面側が表面研削処理されている。研磨面には開孔が形成されており、外殻3aの断面が露出している。ポリウレタンシート2の摩耗により外殻3aに含有された研磨成分5aが溶出ないし放出される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、荒研磨(ラップ)した化学的に安定な炭化珪素単結晶ウェハ表面から加工変質層を除去して仕上げ研磨(ポリッシュ)することで、高品質な表面を得る効果的な方法を提供する。
【解決手段】ダイヤモンド機械研磨で荒研磨(ラップ)した炭化珪素単結晶ウェハ表面を、酸化した後に仕上げ研磨(ポリッシュ)で表面の酸化膜を除去することで、ダイヤモンド機械研磨で発生した加工変質層を除去して高品質な表面を効率的に創成する研磨方法である。 (もっと読む)


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