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国際特許分類[C23C14/40]の内容

国際特許分類[C23C14/40]に分類される特許

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【課題】成膜装置において、成膜中に基板へのイオン照射を十分に行うと共に、良好なイオン化率を得る。
【解決手段】本発明の成膜装置1は、内側に配備された内極磁石9と、この内極磁石9の外側に配備され且つ内極磁石9より磁力線密度が大きな外極磁石10とで形成された非平衡磁場形成手段6と、非平衡磁場形成手段6の前面に配備されたターゲット5とからなるスパッタリング蒸発源4を2基有し、2基のスパッタリング蒸発源4を1組として10kHz以上の周波数で極性が切り替わる交流電流を流すことにより、両スパッタリング蒸発源4の間に放電を起こして成膜を行う交流電源8が設けられている。 (もっと読む)


【課題】液体急冷法や化学還元法で作製したアモルファス合金の構造的な弱点を解決し、大きい表面積を有し、高い触媒活性を示し、更に、単なるアモルファス粒子よりかなり構造的に高い熱安定性も有するナノ金属ガラス薄膜を、工業プロセスで製造することができるナノ金属ガラス粒子集合体の製造方法を提供する。
【解決手段】真空引き、ガス置換が終了したRFマグネトロンスパッタ装置において、RF電圧印加直後のプラズマが不安定な状態で、RF電源を間欠的にON−OFFする。ガス置換ガスはアルゴンガスであり、RF電源の間欠的なON−OFFの間隔は、3分間以上、10分間以内である。 (もっと読む)


【課題】反応性スパッタリングにより所定の薄膜を形成する際に、処理基板全面に亘って膜厚分布や比抵抗値などの膜質を略均一にできるようにスパッタリング装置を構成する。
【解決手段】同数のターゲット31a乃至31hが等間隔で並設された複数のスパッタ室11a、11bの間で、各ターゲットに対向した位置に処理基板Sを搬送し、この処理基板が存するスパッタ室内の各ターゲットに電力投入して各ターゲットをスパッタリングし、処理基板表面に同一または異なる薄膜を積層する。その際、相互に連続するスパッタ室の間で処理基板表面のうち各ターゲット相互の間の領域と対向する箇所がずれるように処理基板の停止位置を変える。 (もっと読む)


【課題】高密度で均一なプラズマが生成される誘導結合プラズマ装置を提供する。
【解決手段】プロセス・チャンバに電気エネルギを結合して該プロセス・チャンバ内でプロセス・ガスからプラズマを発生させるための要素10であって、要素10は、長さ方向に沿って順次配置された多数のコイル・ターン32を有する単一のコイルで構成される導電性要素10であり、コイル・ターンの少なくとも一つ34aは、プラズマ処理システムの誘電体ウインドウにほぼ平行な第1平面36に配向され、コイル・ターン32の少なくとも一つ34bは、第1平面36と角度をなす第2平面38に配向されている。 (もっと読む)


【課題】抵抗率分布の均一性の向上を図る透明導電膜の製造方法を提供する。
【解決手段】透明導電膜の製造方法において、少なくともアルミニウムがドープされた酸化亜鉛をターゲット20として用い、水素を導入した雰囲気中で、直流電力に高周波電力を重畳したスパッタ電圧を用いたマグネトロンスパッタリング法により基体30上に透明導電膜を形成する。この態様によれば、エロージョン対向部での酸化を抑制可能となり、過剰な酸化が原因と考えられる透明導電膜の抵抗率分布の不均一性を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】ガス導入チューブ内でのプラズマの発生を防ぐことのできるプラズマ処理装置を提供すること。
【解決手段】一端部がカソード部のガス導入口に接続され、他端部が接地された部材に結合された電気絶縁性のガス導入チューブ25の中空部内に、この中空部を長手方向に沿って複数に分ける通気性を有する複数の導体31と、ガス導入チューブ25の中空部を狭めて、その中空部よりも断面積が小さいガス流路をガス導入チューブ25の一端部と他端部との間に形成する複数の誘電体32と、を設けた。 (もっと読む)


【課題】 安定した高品質の有機EL素子の製造方法及び有機EL素子を提供する。
【解決手段】 凹凸面を有する透明基板の上にスパッタリング装置を用いて透明電極として機能する透明導電膜を形成する工程を含む有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法において、スパッタリング装置は透明基板を支持する基板電極とターゲットを支持するターゲット電極とを備えるものであって、透明導電膜を形成する工程は、基板電極とターゲット電極のそれぞれに高周波電力を供給する。 (もっと読む)


【課題】膜厚を高精度で制御でき、かつ生産性に優れるスパッタ装置及びスパッタ成膜方法を提供する。
【解決手段】チャンバー12内に基板ホルダー14が設置されたカルーセル型スパッタ装置において、低屈折率膜形成用と高屈折率膜形成用にそれぞれ通常のマグネトロン23、333とACのマグネトロン27、37が併設され、設計膜厚(目標膜厚)の90%までACのマグネトロンで成膜し、その後、通常のマグネトロンのみで成膜する。成膜中に基板18の透過率を測定し、その情報を電源にフィードバックすることで、膜厚コントロールを行う。 (もっと読む)


本発明の薄膜形成装置(1)は、内部を真空に維持する真空容器(11)と、真空容器(11)内に反応性ガスを導入するガス導入手段(76)と、真空容器(11)内に反応性ガスのプラズマを発生させるプラズマ発生手段(61)と、を備える。そして、真空容器(11)内の壁面には、熱分解窒化硼素(P)が被覆されている。
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シリコンスパッタターゲット(2)と被成膜基板(S)を設置した成膜室(10)内に水素ガスを導入し、該ガスに高周波電力を印加することで該成膜室内にHα/SiHが0.3〜1.3であるプラズマを発生させ、該プラズマにてシリコンスパッタターゲット(2)をケミカルスパッタリングして基板(S)上に結晶性シリコン薄膜を形成する。比較的低温下で、安価に、安全に、良質の結晶性シリコン薄膜を形成できる。 (もっと読む)


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