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国際特許分類[C23C14/58]の内容

国際特許分類[C23C14/58]に分類される特許

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【課題】通電による焼き付き現象を低減可能な無機配向膜を備えた液晶装置の製造方法を
提供すること。
【解決手段】本適用例の液晶装置の製造方法は、一対の基板のうち少なくとも一方の基板
の液晶層に面する側の表面に少なくとも酸素を含む雰囲気中で紫外線を照射する前処理工
程(ステップS2、ステップS12)と、紫外線が照射された表面に無機配向膜を形成す
る無機配向膜形成工程(ステップS3、ステップS13)と、を備え、無機配向膜形成工
程の前には、上記前処理工程以外の表面処理工程を行わない。 (もっと読む)


【課題】ITOがアモルファスとなる成膜温度で、低抵抗で表面が平坦なITO透明導電膜を、膜剥がれを起こさずに安定して形成するための形成方法、それによって形成されたITO透明導電膜、およびそれを形成するための形成装置を提供する。
【解決手段】ITO透明導電膜の形成装置100は、レーザー光Lの照射機構を備えており、真空チャンバー1内で、スパッタリング法によりITOの薄膜を形成する成膜工程と、薄膜にレーザー光Lを照射するレーザー光照射工程とを繰り返えすことによりITO透明導電膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】埋め込み金属との密着性及び埋め込み特性の改善を図ることができるのみならず、エレクトロマイグレーション耐性も向上させることが可能な薄膜の形成方法を提供する。
【解決手段】表面に凹部8を有する被処理体Wの表面に薄膜を形成する形成方法において、被処理体の表面に埋め込み用の金属膜16して凹部を埋め込む埋め込み工程と、金属膜を覆うようにして被処理体の表面の全面に拡散防止用の金属膜18を形成する拡散防止膜形成工程と、被処理体をアニールするアニール工程とを有する。これにより、埋め込み金属との密着性及び埋め込み特性の改善を図ることができるのみならず、エレクトロマイグレーション耐性も向上させる。 (もっと読む)


【課題】酸化ガリウムの融点(1900℃)よりも低温で酸化ガリウムの単結晶を成長させる方法を提供することを課題とする。
【解決手段】Ga原子とO原子と昇華しやすい原子または分子を含む化合物膜(以下酸化ガリウム化合物膜と呼ぶ)を加熱し、酸化ガリウム化合物膜中から昇華しやすい原子または分子を昇華させることで、酸化ガリウムの結合エネルギーよりも低い熱エネルギーにより酸化ガリウムの単結晶を成長させる。昇華による酸化ガリウム化合物膜の消失を防ぐために、間隔を設けて別の酸化ガリウム化合物膜を配置する。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、信頼性の高い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。また、消費電力が低い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、消費電力が低い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。また、量産性の高い半導体装置を提供することを課題の一とする。また、量産性の高い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層に残留する不純物を除去し、酸化物半導体層を極めて高い純度にまで精製して使用すれば良い。具体的には、酸化物半導体層にハロゲン元素を添加した後に加熱処理を施し、不純物を除去して使用すれば良い。ハロゲン元素としては、フッ素が好ましい。 (もっと読む)


【課題】本発明は、スパッタ装置の処理能力を損なうことなく、スパッタに異常がないときは金属薄膜の反射率を面内で均一にすることができる半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本願の発明にかかる半導体装置の製造方法は、シリコン基板にスパッタ成長により金属膜を形成する第1スパッタ工程と、該第1スパッタ工程の後に該第1スパッタ工程よりも高いDCパワーでさらに金属膜をスパッタ成長させる第2スパッタ工程と、該第1スパッタ工程と該第2スパッタ工程の後に、該第1スパッタ工程および該第2スパッタ工程で形成された金属膜の反射率の均一性を測定する検査工程とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】材料の利用効率が高い発光中心添加CsI柱状膜の製造方法を提供すること。
【解決手段】柱状のCsI結晶から構成されるCsI柱状膜2を蒸着法により作製する工程と、CsI柱状膜2と発光中心原料1とを非接触な状態で閉空間3に配置し、CsI柱状膜2を、発光中心原料1の昇華温度以上、柱状の形態を維持可能な温度以下の範囲で加熱し、かつ発光中心原料1を昇華温度以上に加熱し、CsI柱状膜2に発光中心を添加する工程からなることを特徴とするシンチレータの製造方法。 (もっと読む)


【課題】 基板と、前記基板上に形成された亜鉛と錫との複合酸化物からなる透明導電膜とを備える透明導電膜付基板における透明導電膜の改質方法において、基板の熱劣化や熱ひずみを十分に抑制しつつ、透明導電膜の抵抗率を短時間で効率よく且つ十分に低下させることが可能な透明導電膜の改質方法を提供すること。
【解決手段】 基板と、該基板上に形成された亜鉛と錫との複合酸化物からなる透明導電膜とを備える透明導電膜付基板における透明導電膜の改質方法であって、前記透明導電膜にフラッシュランプを用いて光照射量が2〜25J/cmであるフラッシュ光を照射して前記透明導電膜を加熱することによりアニール処理を施すことを特徴とする透明導電膜の改質方法。 (もっと読む)


【課題】LED素子の放熱を均一に且つ効率的に行うことが可能な加熱装置を提供する。
【解決手段】加熱装置において、金属製の放熱基板72と、放熱基板上に直接的に形成された絶縁層74と、絶縁層上に配列された複数の配線パターン76と、複数の各配線パターン上に設けられたLED素子70と、隣り合うLED素子間を電気的に直列に接続する金属配線82とを有するLEDモジュール54を備える。このように、放熱基板上に直接的に絶縁層を形成し、この上に複数の配線パターンを形成するようにしたので、LED素子の放熱を均一に且つ効率的に行うことが可能となる。 (もっと読む)


【課題】スパッタ法により、TFTの活性層として好適なキャリア密度を有し、且つ、電気的ストレス、及び熱に対して安定性の良好なIGZO系アモルファス酸化物半導体膜を製造する。
【解決手段】IGZO系アモルファス酸化物層を下記式(1)を満足する条件でスパッタ成膜した後に、下記式(2)を満足する条件でアニール処理することにより、IGZO系アモルファス酸化物からなる半導体膜を製造する。
1×10−5≦P(Pa)≦5×10−4 ・・・(1)、
100≦T(℃)≦300 ・・・(2)
(式中、Pは前記スパッタ成膜における背圧,Tは前記アニール処理におけるアニール温度) (もっと読む)


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