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国際特許分類[C23C16/56]の内容

国際特許分類[C23C16/56]に分類される特許

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【課題】手間を要さずにIII族窒化物半導体基板を得ることができるIII族窒化物半導体基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】下地基板10上に、第一の膜11である炭素膜を形成する工程と、第一の膜11上に炭化チタン層12を形成する工程と、炭化チタン層12を窒化する工程と、窒化された炭化チタン層の上部にGaN半導体層をエピタキシャル成長させる工程と、GaN半導体層から、下地基板10を除去して、GaN半導体基板を得る工程とを実施する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の製造において、金属膜の酸化による高抵抗化を防止し、生産性を向上させる。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板200を収容し、基板200の温度が第1処理温度となるように設定された処理室201内に、酸素を用いることなく熱分解にて金属含有膜を形成できる有機金属原料ガスを供給して、基板200上に金属含有膜を形成する工程と、金属含有膜が形成された基板200を収容し、基板200の温度が第2処理温度となるように設定された処理室201内で、水素含有ガス雰囲気下、もしくは、到達真空雰囲気下で金属含有膜を熱処理する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】該非晶質炭素被膜の初期摩擦係数の低減を含む初期馴染み性を向上させることができる摺動部材およびその製造方法を提供する。
【解決手段】基材の表面に、水素を含有した非晶質炭素被膜を成膜する工程と、前記非晶質炭素被膜の表面に紫外線を照射する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】より高い誘電率を有する高誘電率絶縁膜を形成する半導体装置の製造方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板上に高誘電率絶縁膜を形成する工程S106と、前記高誘電率絶縁膜に対し真空下で熱処理を施す工程S110と、熱処理後の前記高誘電率絶縁膜が室温となるまでの間、前記高誘電率絶縁膜が存在する空間の酸素分圧を、前記熱処理時に前記高誘電率絶縁膜が存在する空間の酸素分圧と同等もしくはそれ以下に保持する。 (もっと読む)


【課題】絶縁性の高いシリコン酸化膜を低温下で成膜することができるシリコン酸化膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】シリコン酸化膜の成膜方法は、被処理基板Wを保持する保持台34の表面温度を300℃以下に保った状態でシリコン化合物ガス、酸化性ガスおよび希ガスを処理容器32内に供給し、処理容器32内にマイクロ波プラズマを生成し被処理基板Wにシリコン酸化膜を形成する工程と、酸化性ガスおよび希ガスを処理容器32内に供給し、処理容器32内にマイクロ波プラズマを生成し被処理基板W上に形成されたシリコン酸化膜をプラズマ処理する工程とを含む。 (もっと読む)


【解決手段】
複雑なメタライゼーションシステムの形成の間、全体的な伝導性に否定的な影響を与えることなしにエレクトロマイグレーション性能を高めるために、伝導性キャップ層(122C)が銅含有金属領域(122A)上に形成されてよい。その一方で熱化学的処理が実行されてよく、その結果、敏感な誘電体材質(121)の優れた表面状態をもたらすことができる他、敏感なULK材質の材質特性の大きなばらつきを従来的にはもたらすことがある炭素減損を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】全体としてのコンタクト抵抗を小さく維持しつつバリヤ性の高い薄膜の成膜方法及びプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】凹部6を有する絶縁層4が表面に形成された被処理体Wに対して薄膜を形成する成膜方法において、前記凹部内の表面を含む前記被処理体の表面にプラズマCVD法を用いて窒化チタン膜10の薄膜を形成する薄膜形成工程と、窒化ガスの存在下でプラズマを用いた窒化処理を行うことにより前記薄膜を窒化する窒化工程と、を有することを特徴とする成膜方法である。これにより、抵抗を小さく維持しつつバリヤ性の高い薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】多孔質絶縁膜における空孔の径を小さくすることができ、かつ多孔質絶縁膜の強度を高くすることができる多孔質絶縁膜の製造方法を提供する。
【解決手段】環状シロキサンを骨格とし側鎖に少なくとも一つの揮発性炭化水素基が結合した環状シロキサン化合物と、シリコン含有化合物とを、プラズマ中に導入し、基板上に絶縁膜を形成する工程と、絶縁膜にエネルギーを加えることにより、絶縁膜を多孔質絶縁膜にする工程とを備える。シリコン含有化合物は、環状シロキサン化合物の骨格、揮発性炭化水素基、及び環状シロキサン化合物と揮発性炭化水素基の結合より低エネルギーで分解する。 (もっと読む)


【課題】基板配列領域における全領域で低WERを確保するとともに、良好なWIWを得る。
【解決手段】炭素が添加された窒化シリコン膜を形成する工程では、処理容器内にシリコンを含むガスを供給して基板上に1原子層から数原子層のシリコン膜を形成する第1工程と、処理容器内に窒素を含むガスを熱で活性化して供給することで、シリコン膜を熱窒化して窒化シリコン膜に改質する第2工程と、処理容器内にシリコンを含むガスを供給して窒化シリコン膜上に1原子層から数原子層のシリコン膜を形成する第3工程と、処理容器内に炭素を含むガスを熱で活性化して供給することで、窒化シリコン膜上に形成された前記シリコン膜または窒化シリコン膜に炭素を添加する第4工程と、を1サイクルとして、このサイクルを少なくとも1回以上行う。 (もっと読む)


【課題】健全で均一な厚さを有すると共に、表面に微細な凹凸形状を備え、大幅な摩擦低減が可能なDLC膜と、このようなDLC膜を備えたDLCコーティング部材、さらにこれらの製造方法を提供する。
【解決手段】望ましくはHv100〜800の硬さを有し、中心線平均粗さRaが0.01μm未満の平滑面を備えた基材の表面上にDLC膜をコーティングしたのち、このDLC膜の表面に、好ましくはセラミックス材料から成る粒径100μm以下の微細粒子を高速投射して衝突させ、その表面に中心線平均粗さRaが0.01〜0.2μmの微細凹凸を形成する。 (もっと読む)


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