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国際特許分類[C30B25/20]の内容

化学;冶金 (1,075,549) | 結晶成長 (9,714) | 単結晶成長;そのための装置 (9,714) | 反応ガスの化学反応による単結晶成長,例.化学蒸着による成長 (895) | エピタキシャル層成長 (890) | 基板によって特徴づけられたもの (405) | 基板がエピタキシャル層と同一物質であるもの (127)

国際特許分類[C30B25/20]に分類される特許

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【課題】 これまでにない高品質な窒化物系化合物半導体結晶及び窒化物系化合物半導体基板を製造する方法を提供することにある。
【解決手段】 種結晶として、両面が研磨された窒化物系化合物半導体基板を用いて結晶成長を行うことにより、所定厚さの窒化物系化合物半導体結晶を製造する。これにより作製された窒化物系化合物半導体結晶をスライスすることで、窒化物系化合物半導体基板を得る。 (もっと読む)


【課題】 極めて転位密度の低い、これまでにない高品質なIII−V族窒化物系半導体結晶の製造方法を提供することにある。
【解決手段】 工程1として、第一の半導体結晶基板1を準備し、工程2として、前記第一の半導体結晶基板上に、第一の結晶軸方向に第一のIII−V族窒化物系半導体結晶2を第一の厚さまで成長させ、工程3として、前記第一のIII−V族窒化物系半導体結晶2を、その内部に存在する最も密度の高い貫通転位の伝播方向に対して平行な面3で切断し、工程4として、前記切断面上に第二のIII−V族窒化物系半導体結晶5を第二の厚さまで成長させ、前記第二のIII−V族窒化物系半導体結晶5を目的のIII−V族窒化物系半導体結晶とする。 (もっと読む)


【課題】 窒素極性を有する成長用の窒化アルミニウム結晶基板に存在する表面酸化層を適切に除去し、該基板上にHVPE法等の気相成長方法を用いて品質の良いアルミニウム系窒化物結晶をエピタキシャル成長させる
【解決手段】 窒化アルミニウム結晶基板のエッチング方法について鋭意検討した結果、窒化アルミニウム結晶基板の表面をアンモニア水溶液などの弱塩基性水溶液でエッチング処理して表面の酸化層を除去し、次いで該基板上にアルミニウム系窒化物結晶をエピタキシャル成長させることにより、下地基板の結晶性を引継いで成長層側のアルミニウム系窒化物結晶の品質が改善されることを見出した (もっと読む)


【課題】比較的安価な多結晶SiC基板を母材基板として大型で結晶性の良い単結晶SiC基板を安価に製造する。
【解決手段】下記の各工程を行い、多結晶SiC基板6の表面に単結晶SiC層7が形成された単結晶SiC基板を形成する。(1)Si母材層に表面Si層と埋め込み酸化物層が形成されたSOI基板を炭化水素系ガス雰囲気中で加熱して表面Si層を単結晶SiC膜5に変成させるSiC膜生成工程。(2)上記表面に単結晶SiC膜5が形成されたSi母材層を、多結晶SiC基板6の表面に単結晶SiC膜5が対面するよう積層して接合して積層体を形成する接合工程。(3)上記積層体のSi母材層と埋め込み酸化物層を除去する除去工程。(4)上記多結晶SiC基板6の表面に、単結晶SiC膜5をシード層として当該単結晶SiC膜5上に単結晶SiC層7をエピタキシャル成長させる成長工程。 (もっと読む)


【課題】人工水晶結晶のエピタキシャル成長用基板として、硬度が低く、ダイシング切断加工が短時間に行え、ダイシング刃の消耗の少ない基板を提供する。
【解決手段】結晶形成用基板は素材として水晶を用いた矩形状基板であり、この水晶基板のカットアングルが、水晶結晶体の結晶軸を、それぞれ電気軸を+X軸、光軸を+Z軸、この+Xと+Z軸に直交して機械軸を+Y軸として右手系で直交座標系を構成したとき、+X軸回りに+33度から+38度、又は+142度から+147度の角度範囲で回転し、且つ+Y´軸回りに+45度の角度で回転したカットアングルの結晶形成用基板である。 (もっと読む)


【課題】非常に平坦性で完全な透明性と鏡面性をもつm面窒化ガリウム(GaN)膜を成長する方法。
【解決手段】本方法は、選択横方向成長技術によって構造欠陥密度の大幅な低減を実現する。高品質で、一様で、厚いm面GaN膜は分極のないデバイスの成長のための基板として用いるために作製される。 (もっと読む)


オフアクシス基板上の単結晶炭化珪素エピタキシャル層が、基板をエピタキシャル成長反応炉に配置し、基板上にエピタキシャル炭化珪素の第1の層を成長させ、エピタキシャル炭化珪素の第1の層の成長を中断し、第1の層の厚みを減少させるために該第1の層をエッチングし、エピタキシャル炭化珪素の第1の層の上にエピタキシャル炭化珪素の第2の層を再成長させて製造される。ニンジン状欠陥を、エピタキシャル成長処理を中断し、成長した層をエッチングし、エピタキシャル炭化珪素の第2の層を再成長させる工程によって終止できる。成長中断/エッチング/再成長の処理は複数回反復可能である。炭化珪素エピタキシャル層は、内部で終止する少なくとも1つのニンジン状欠陥を有する。半導体構造は、オフアクシス炭化珪素基板上の炭化珪素エピタキシャル層と、基板とエピタキシャル層の境界面の近傍に核形成点を有し内部で終止するニンジン状欠陥とを含む。

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