本発明は、葉片の成長を測定するための方法および装置に関する。この方法は、ａ）撮影システムを較正するステップと、ｂ）１枚の葉片の少なくとも２枚の画像を撮像するステップと、ｃ）画像データを処理するステップであって、ｉ）しきい値セグメント化によって葉片をセグメント化することと、ｉｉ）複数回の形態学的侵食を行うことと、ｉｉｉ）保管容器の縁部を除去するためにエッジ補正することとを含むステップと、ｄ）３Ｄ再構成：ステレオアルゴリズムによって視差マップを生成し、事前に特定された較正パラメータに基づいて、視差マップから３Ｄ表面モデルを計算するステップと、ｅ）事前に取得された表面モデルを平滑化するステップと、ｆ）面積値の時系列から成長率を算出するステップとによって特徴付けられる。この装置は、少なくとも１台のカメラと、照明ユニットと、カメラおよび（赤外線）照明用のＸ／Ｙ平面でのスライドテーブルと、葉片用の保管容器と、電子的解析および制御ユニットとを備える。
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【課題】 溶液の塗布装置及び方法において、撮像手段で撮像される液滴の面積を高精度で求めること。
【解決手段】 基板に溶液の液滴Ｙを吐出して塗布するノズル３４を備えた塗布ヘッド２２と、塗布ヘッド２２を駆動してノズル３４から溶液の液滴Ｙを吐出させる圧電素子３５と、塗布ヘッド２２のノズル３４から吐出された飛翔中の溶液の液滴Ｙを撮像する高速度カメラ４７と、高速度カメラ４７が撮像した溶液の液滴Ｙの画像に基づいて該液滴Ｙの面積を求める画像処理装置５５とを有してなる溶液の塗布装置において、高速度カメラ４７の撮像光学系中に液滴Ｙの吐出方向に沿う縦方向と、該縦方向に直交する横方向で倍率の異なる変倍レンズ４８を配置し、横方向の倍率を縦方向の倍率に比して大きくするもの。 （もっと読む）

【課題】新規な接触面積測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】接触面積測定装置は、試料３０に接する光透過性基板３１と、前記試料３０と前記光透過性基板３１を相対的に移動させる駆動手段３８と、前記試料３０とは反対側から、前記光透過性基板３１に白色光を照射する照射手段と、前記試料３０からの反射光と前記光透過性基板３１からの反射光とから生じる干渉画像を取得する干渉画像取得手段２７と、前記干渉画像の輝度値情報から輝度値ヒストグラムを作成する輝度値ヒストグラム作成手段と、前記輝度値ヒストグラムから輝度値差分ヒストグラムを算出する画像解析演算手段を有する。ここで、輝度値ヒストグラム作成手段は、干渉画像の輝度値情報をRGB輝度値情報に分離し、G輝度値ヒストグラムを作成する。また、画像解析演算手段は、輝度値ヒストグラムから輝度値差分ヒストグラムを算出し、前記輝度値差分ヒストグラムのうち正の値を有する領域を決定する。 （もっと読む）

【課題】 鉄塔，鋼橋などの鋼構造物の塗装面の劣化状況を検出し、劣化度判定を行うための塗装劣化診断方法および装置を提供する。
【解決手段】 本発明は、塗装が施された鋼構造物の表面を撮影した入力画像に対して塗装面の劣化部だけを透過させた変換に変換する劣化部抽出フィルターを構築する工程と、変換画像中の透過部を検出して劣化部プロファイルを生成する工程と、塗装面劣化の発生・成長をシミュレートした仮想塗装面劣化画像を作成する工程と、作成された仮想塗装面劣化画像と劣化基準とから評価用劣化プロファイルを作成し、蓄積してデータベースを形成する工程と、劣化診断対象の入力画像から得られた劣化プロファイルと評価用劣化プロファイルを比較することで劣化度合いを判定する劣化度評価の工程により構成される。 （もっと読む）

【課題】マークの形状が変化した場合や、照明が変化した場合、あるいはマークが付されている対象が変化した場合であっても、マークを正確に読み込むことができる閾値レベルを自動的に検出することができる閾値レベル自動演算装置と方法、位置決めマーク認識装置と方法および電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】位置決めマーク１８を撮像する撮像カメラ６と、撮像カメラ６で撮像された位置決めマーク１８を含む多値画像を、初期の閾値レベルで二値化する二値化手段８と、二値化手段８で二値化された二値化画像のうち、位置決めマーク１８に対応すると考えられる二値化画像塊の面積（S)と周囲長（R)とを求め、前記面積（S)を前記周囲長（R)で割り算した比率（S/R）を求める演算回路１０と、二値化手段８における閾値レベルを変化させて、演算回路で比率（S/R）を求める工程を繰り返し、比率（S/R）が所定値以上となる閾値レベルの範囲を求め、当該閾値レベルの範囲Ｗから実閾値レベルＷ０を決定する制御部１２と、を有する。 （もっと読む）

【課題】１組の光源とラインセンサ型カメラによって欠陥の検出に加え、欠陥の種別の判別も行う。
【解決手段】一定方向に送られる被検査物５の表面に斜光照明を行うライン状光源２と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ１と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路３とからなる。上記光源の光軸Ｌ２と被検査物表面との交点の位置を、上記カメラの光軸Ｌ１と被検査物表面との交点の位置からずらして、上記光源の光軸と被検査物表面とがなす角度αよりも、上記光源からカメラの光軸と被検査物表面との交点の位置に至る光が被検査物表面とがなす角度α’を小さくする。 （もっと読む）

【課題】複数はんだ箇所をグループ化し、そのグループにおける形状値を軸に許容値と工程指数との関係を可逆的に認識可能にし、許容値の変更があったときは次の１枚目の検査から反映することができる印刷はんだ検査装置を提供することである。
【解決手段】データ蓄積手段６に測定手段２で測定されたプリント基板の１枚毎に、形状データ生成手段３で生成されたハンダ量を表す複数種類の形状データをはんだ箇所に対応づけて蓄積し保存する。統計処理手段７が、プリント基板の１枚を測定する度に、操作手段により指定されたはんだ箇所のグループの、かつ種類の前記保存された形状データについて、少なくとも、標準偏差σを求めるとともに標準偏差値σと該当する前記許容データとから工程能力指数を求める演算を行う。表示制御手段８は、前記１枚毎に、更新された工程能力指数を表示手段９に表示させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】新規な接触面積測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】接触面積測定装置は、試料７に接する光透過性基板６と、前記試料７とは反対側から、前記光透過性基板６に白色光を照射する照射手段と、前記試料７からの反射光と前記光透過性基板６からの反射光とから生じる干渉画像を取得する干渉画像取得手段１１と、前記干渉画像の輝度値情報から輝度値ヒストグラムを作成する輝度値ヒストグラム作成手段と、前記輝度値ヒストグラムから接触面積を算出する接触面積演算手段を有する。ここで、干渉画像取得手段１１は、干渉画像と前記干渉画像の輝度値情報を取得する。また、輝度値ヒストグラム作成手段は、干渉画像の輝度値情報をRGB輝度値情報に分離し、G輝度値ヒストグラムを作成する。また、接触面積演算手段は、輝度値ヒストグラムを複合正規分布最適化近似により複数の正規分布に分離し、そのうち最も低輝度側の正規分布から接触面積を算出する。 （もっと読む）

【課題】撮像条件、照明条件、周期性パターンの設計条件などの影響をできる限り排除した欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】周期性パターンを有する被検査体のスジ状ムラを検出するための欠陥検査方法であって、被検査体に光源からの照射で生じる回折光の強度分布の取得を複数の照明角度で行い、各照明角度における回折光の強度分布を検査画像として取得された被検査体への照明角度が異なる複数枚の検査画像に対し、照明角度の異なる複数の検査画像を比較し、被検査体への照射角度に応じて位置が変化するスジ状ムラと変化しないスジ状ムラとを抽出し、変化するスジ状ムラを検査の際に欠陥としない擬似欠陥とし、変化しないスジ状ムラを検査の際に欠陥として選別されたスジ状ムラに対し、それぞれの最大輝度とパターンピッチ正規化面積に基づいて欠陥規模の評価を行う欠陥検査方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】静電霧化装置において適正量の帯電微粒子水が発生するか否かの検査の自動化を可能にする。
【解決手段】静電霧化装置は、霧化電極と冷却手段とを備える。霧化電極は、冷却手段に結合された軸部と、軸部軸部よりも大径のヘッド部とを一体に備える。冷却された霧化電極を撮像装置１で撮像して得た濃淡画像を画像処理装置２０に入力する。画像処理装置２０は、ヘッド部の輪郭線上の画素数を求める輪郭線長検出部２６と、ヘッド部の輪郭線内の画素数を求める面積検出部２７と、軸部において方向値を持つ画素数を計数する水付着量検出部２８とを備える。判定部２９は、輪郭線長検出部２６と面積検出部２７と水付着量検出部２８とで求めたいずれかの画素数が、それぞれ対して規定した閾値を超えていると霧化電極に水が付着した良品と判定する。 （もっと読む）