【課題】簡便に持ち運びできるように小型化でき、蛍光画像情報と形状画像情報とを両方検出可能にするとともに、測定対象物の温度上昇を防止できる分光イメージング装置を提供する。
【解決手段】２次元分光センサ３０には、半導体光電変換素子が２次元アレイ状に並べられている。測定対象となる試料プレパラート３１に半導体発光素子３２から白色光を照射して、試料からの透過光を検出して、試料の構造や形状に関する可視画像を取得する。他方、半導体発光素子３２から励起光を試料プレパラート３１に照射して、試料からの蛍光を検出して、蛍光画像を取得する。上記可視画像及び蛍光画像を得るために、半導体光電変換素子は、光電変換領域の深さ方向の幅又は位置を変化させることで分光を行っている。 （もっと読む）

【課題】より短時間かつ高精度にスペクトルを測定可能な光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
【解決手段】処理装置は、補正領域で検出された信号強度に基づいて、補正値を算出する（ステップＳ２０４）。続いて、処理装置は、ステップＳ２０２において取得された検出領域で検出された測定スペクトルに含まれる各成分値から、ステップＳ２０４において算出した補正値を減じることで補正測定スペクトルを算出する（ステップＳ２０６）。ここで、検出領域は分光器からの光の入射面に対応する領域であり、補正領域は分光器で分光された光が入射しない領域である。 （もっと読む）

ハイパースペクトルおよびマルチスペクトル撮像のための装置および方法について述べる。具体的には、画像マッピング分光計システム、使用方法、および製造方法を示す。概して、画像マッピング分光計は、画像マッピングフィールドユニットと、スペクトル分離ユニットと、選択的撮像素子とを含む。画像マッピング分光計を、光学試料のスペクトル撮像に使用してもよい。ある実施例では、画像マッピング分光計の画像マッピングフィールドユニットを、表面成形ダイヤモンドツールを用いて製造できる。
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分光計の検出器の温度値を求めるための分光法の構造及び方法。オプトエレクトロニクス検出器における温度変動を補償するために、サーマル温度センサによって検出器温度を検出することが知られている。検出器と温度センサの間の有限距離に基づき、温度検出の精度が限定される。本発明により、検出器温度を高い精度と少ないコストで判定可能にすることが意図される。入射光をスペクトル分解する手段、及び分割された光のスペクトル領域をスペクトル分解検出するための光検出器に加えて、当該スペクトル領域の部分領域を検出するための第２の光検出器が参照検出器として設けられ、参照検出器の感度は実質的に温度非依存性である。これら両方の検出器の信号の比率は、参照検出器の感度の温度非依存性に基づき、第１の検出器の相対的な温度を表す高度に正確な目安となり、少ないコストで求めることができる。

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本発明は、本発明は、スペクトル検出器の製造方法に関し、フォトディテクタアレイとコレステリック液晶材料を電磁スペクトル検出器のすべての部分の光を測定するために含む。前記コレステリック液晶材料の異なる部分で紫外放射を異なる曝露強度又は曝露時間で制御されつつ暴露することにより、前記コレステリック液晶材料の部分が得られ、一般的にそれぞれの部分はそれ自体の伝達性を持つ。さらに、本発明はまた本発明の方法により製造されるスペクトル検出器に関する。
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【課題】容易に被測定物の分光特性を測定可能であるとともに、構成が簡単で安価な分光測定装置、校正装置、分光測定方法、および校正方法を提供する。
【解決手段】分光測定装置１０は、アレイ状に配列されるとともに、被測定物１００から出力される光を受光して受光した光に応じた受光信号を出力する複数の受光素子と、受光素子から出力される受光信号を認識する受光信号認識手段３２１と、各受光素子のそれぞれに対する分光感度特性値を記憶する記憶手段３１と、受光素子から出力される受光信号、および記憶手段３１に記憶される各受光素子に対する分光感度特性値に基づいて、二次元マトリクス演算処理により、各受光素子に対応する各画素の分光特性値を演算する分光特性演算手段３２２と、を具備した。 （もっと読む）

本発明は、電磁スペクトルの全部分の光特性を測定するためのスペクトル検出器に関し、コレステリック液晶材料及び前記コレステリック液晶材料のヘリックスピッチを変更可能とする切り替え手段を含み、透過波長バンドの位置が前記切り替え手段に応じて調節される。スペクトル検出器はさらに、ある角度でスペクトル検出器に入射する入射光を選択するために、少なくともひとつの光方向選択構成を含む。本発明はまた本発明のスペクトル検出器を含む照明システムに関する。
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【課題】
非特許文献１に記載のイメージ分光器は、画像と分光を同時に得ることができることは既に公知であるが、文献１の従来技術では分光後の画像が暗い欠点がある。
本発明は、上記欠点を解消することを目的とする。
【解決手段】
本発明のイメージ分光器は、対象からの光を受ける対物レンズからの光を二次元平面で多数の微小区域に分割するマイクロレンズアレイが配置されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ターゲット、ハイパー分光器または光学系を移動させずに、ターゲット全体のハイパースペクトル画像を走査することができる。
【解決手段】焦点面１７０上に、複数の列光学画像１７１、１７２、１７３を含むターゲット１４０の光学画像を合焦させる光学系１１０と、光学系１１０と別に設置されたハイパー分光器１２０と、選択的に複数の列光学画像１７１、１７２、１７３のうちの１つをハイパー分光器１２０へ伝達させる中継モジュール１３０と、を備えるハイパースペクトル走査装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】出荷前の校正がより正確に行われた分光特性測定装置を提供する。
【解決手段】分光特性測定装置１００は、測定試料２４に照明光を照射する照明部２１と、照明光を照射された測定試料２４からの放射光を波長に応じて分散させる分光部３２と、分光部３２により分散された光を波長ごとに受光し、電気信号に変換して出力する複数の受光素子を有する受光部３３と、照明光の分光強度分布に基づいて予め算出された、受光素子の合成中心波長を記憶している記憶部４３とを備えている。 （もっと読む）