【課題】取込み可能な光量のむらが少なく、受光量の多い高精度な分光特性取得装置を提
供する。
【解決手段】本発明の分光特性取得装置1-100は、光照射手段1-102、1-103と、レンズア
レイ1-104と、ピンホールアレイ1-105と、結像手段1-106と、回折手段1-107と、受光手段1-108とを含んで構成され、受光手段1-108は、分光センサが一方向に複数個配列された分光センサアレイを構成し、分光センサは、一方向に配列された互いに分光特性の異なる光を受光する所定数の画素を有し、レンズアレイを構成するレンズは、ピンホールアレイを形成する開口部と１対１に対応して形成されており、レンズアレイを構成するレンズの配列方向に対する開口数ＮＡは結像手段の最大有効画角θmaxに対して、ＮＡ＞sin（θmax）の条件を満たす構成とした。 （もっと読む）

【課題】小型化可能な分光センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】分光センサー装置は、光源部１１０と、光源部１１０からの光を観察対象に照射することで得られる光が入射される分光センサー１００を含む。分光センサー１００は、透過波長が異なる複数の光バンドパスフィルター６１〜６４と、複数のフォトセンサー部３１〜３４を有する。第１の光バンドパスフィルター６１は、第１の特定波長を透過する波長特性を有し、第２の光バンドパスフィルター６２は、第１の特定波長とは異なる第２の特定波長を透過する波長特性を有する。第１のフォトセンサー３１は、第１の光バンドパスフィルターを透過した第１の特定波長の光をセンシングし、第２のフォトセンサーは、第２の光バンドパスフィルターを透過した第２の特定波長の光をセンシングする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、測定精度を向上する。
【解決手段】本発明は、光源２から照射されて照射面ＩＦで反射した光を２次元配列された複数のレンズ６Ａで集光し、該レンズ６Ａを透過した光をそれぞれプリズム１０Ａで分光して所定帯域ごとにイメージャ１１で受光するようにしたことにより、複数の領域で反射した光を分光して受光するので、複数の領域における測定対象の成分量を測定することができ、かくして測定精度を向上することができる。 （もっと読む）

【課題】全波長域で波長分解能が良好なポリクロメータを供給する。
【解決手段】本発明のポリクロメータは、測定光を導入する入口スリット１と、該導入された光を各波長毎に分散するとともに各波長の光の像を結像する凹面回折格子２と、該各波長の光の強度を同時に測定するアレイ検出器３で構成されている。アレイ検出器３は、光電変換素子列３ａと、透光板３ｂで構成される。透光板３ｂは厚さが波長分散方向で変化するＢＫ７ガラスで構成されている。例えば、４４０ｎｍ、５５０ｎｍ、６５０ｎｍの各波長の光の結像位置は、透光板３ｂの厚さで調整され、いずれも光電変換素子列３ａの受光面上にあり、全波長域で波長分解能は良好となる。 （もっと読む）

【課題】試料からの測定光のスペクトル分布を、同時に二次元で計測することができる分光装置を提供すること。
【解決手段】格子状に配列された入射ピンホール配列１１と、その複数のピンホールから入射された光を波長分散する回折格子１３を含む光学系と、その光学系から出射される光を受光する平面受光素子１５を備え、かつ前記光学系は入射ピンホール配列１１の配列方向である二方向の少なくともいずれかと、回折格子１３の波長分散方向および出射光受光用平面受光素子１５の画素配列方向とが、平行または直行とならないように角度をもつように配置されている。 （もっと読む）

【課題】光源からの光を分光して検出する測光装置において、バンドル化した光ファイバを通して積分球に光を導く場合の測定誤差を軽減することのできる測光装置を提供する。
【解決手段】測光装置１００は、積分球１と、光ファイババンドルケーブル２と、光検出器３０と、を有し、光ファイババンドルケーブル２の積分球１の入射開口１２に隣接して配置される第１の端部２２における複数の光ファイバ素線２１の端面は第１の軸方向に沿って一方向に長くなるように配列され、光検出器の３０複数の光電変換素子は第２の軸方向に沿って一方向に長くなるように配列されており、積分球１の出射開口１３を含む平面と直交し且つ上記第２の軸方向と平行な平面を基準平面としたとき、光ファイババンドルケーブル２の第１の端部２２は、上記第１の軸方向が基準平面と交差するように入射開口１２に隣接して配置される構成とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、分光フィルタ光学系は、分光特性を正確に検出することができ、小型化が可能である分光フィルタ光学系を提供する。
【解決手段】 分光フィルタ光学系は、複数個の光学系により構成されるアレイ光学系（４０）と、透過位置により透過する光束の波長領域が異なるリニア波長可変フィルタ（１３）と、を備え、光学系は、正パワーを有する正レンズ（１２２）と、正レンズ（１２２）を透過したまたは透過する光束を他の光束と交わらないように限定する遮光部（２３）と、を有し、アレイ光学系（４０）の複数個の光学系はリニア波長可変フィルタ（１３）に対してそれぞれ異なる位置に配置される。 （もっと読む）

【課題】 分光測定装置においては、経時変化や温度変化などによって、波長とセンサ上での検出位置が変化する場合があり、予め特定されてある範囲内では検出位置と波長との対応関係を適切に取得することができない場合がある。その結果、正しく分光測定装置の校正を行うことができない。
【解決手段】 分光測定装置の校正装置であって、入射光に含まれる輝線の波長と、探索範囲とを対応付けて記憶し、輝線を含む入射光の探索範囲内における画素値に基づいて、第一の検出位置を取得し、探索範囲内における画素値が所定の条件を満たした場合、探索範囲を変更し、変更された探索範囲内における画素値に基づいて第二の検出位置を取得し、第一の検出位置又は第二の検出位置と、輝線の波長との対応関係に基づいて、前記分光測定装置の校正を行う。 （もっと読む）

空間フーリエ変換分光計が開示される（例えば３５０）。該フーリエ変換分光計は、第１及び第２の光学表面（例えば４５４、４５８及び５５４、５５８）を伴うファブリーペロー干渉計（例えば３２０、４２０、５２０）を含む。第１の光学表面と第２の光学表面との間のギャップ（例えば４６２、５６２）は、フーリエ変換分光計の光軸（例えば４６６、５６６、６６６）に直交する方向に空間的に変化する。ファブリーペロー干渉計は、入力光から干渉縞を形成する。プロセッサ（例えば３４２）に通信可能につながれた検出器（例えば３４０、６４０）によって、干渉縞の画像が捉えられる。プロセッサは、入力光のスペクトル成分に関する情報を決定するために、干渉縞画像を処理するように構成される。 （もっと読む）

イメージングシステム用の集積回路が、光学センサアレイ（４０）と、ある波長帯域を１つ又はそれ以上のセンサに向けて通過させるようにそれぞれ構成された光学フィルタアレイ（１０）とを有する。光学フィルタアレイは、センサアレイと一体化されている。集積回路は、センサアレイから画素値を読み出して画像を表現する読み出し回路（３０）を有する。光学フィルタの異なるものが異なる厚さを有するように構成され、干渉を用いて異なる波長帯域を通過させて、波長スペクトルの検出を可能にしている。読み出し回路は、１つの光学フィルタ下にある複数の画素が並列で読み出し可能である。厚さは、アレイ全体で非単調的に変化してもよい。読み出しまたは後の画像処理は、厚さ誤差を補償するために、スペクトルのサンプリングまたはシフト(shift)を実行する波長間の選択または補間(interpolation)を含んでもよい。
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