【課題】さらに付加的な情報の取得が可能で、かつ堅牢な装置構造と高度な測定精度とを有する光干渉測定技術の提供。
【解決手段】光干渉測定装置は、光源１からの出発ビーム２を測定ビーム３と第１の参照ビーム４ａとに分割するビームスプリッタ５ａと、光の重ね合わせ手段と、第１の検出器８ａとを備える。重ね合わせ手段と第１の検出器８ａとは互いに連携する。物体７によって反射された測定ビームと第１の参照ビームとが第１の検出器の検出面で重ね合わされる。ビームスプリッタ５ａは、出発ビーム２を測定ビーム３と、第１の参照ビーム４ａと、少なくとも第２の参照ビーム４ｂとに分割する。重ね合わせ手段と互いに連係する第２の検出器８ｂが備えられ、物体７によって散乱させられた第１の受信ビーム４ｂ’としての測定ビームと第２の参照ビーム４ｂとが第２の検出器８ｂの検出面で重ね合わされる。 （もっと読む）

【課題】被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比のばらつきを検出する光サンプリングシステムを提供する。
【解決手段】
被測定光信号を、第１及び第２サブ被測定光信号、並びに１ビット遅延を与えられた第３及び第４サブ被測定光信号に分割する光分岐器及びビット遅延器と、第３及び第４サブ被測定光信号に、各々異なる位相変調を与えて第１及び第２変調光信号を生成する第１及び第２位相シフタと、第１サブ被測定光信号及び第１変調光信号、並びに第２サブ被測定光信号及び前記第２変調光信号を、各々結合して第１及び第２干渉光信号を生成する光結合器と、第１及び第２干渉光信号の各々とサンプリング用パルスとを入力して第１及び第２サンプリング光信号を出力する非線形光学媒体とを具える。そして、第１及び第２サンプリング光信号の電力を測定して、被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比を検出する。 （もっと読む）

【課題】 位相シフト法より少ない周期パターンからでも、窓フーリエ変換法より正確に波面情報を算出することが可能な波面測定方法、プログラムとそれを用いた波面測定装置とＸ線撮像装置を提供すること。
【解決手段】 波面測定装置は、光源からの光で光周期パターンを形成する光学素子１４０，１５０と、光学素子からの光を検出する複数の画素を有する検出器１６０と、検出器の検出結果に基づいて被検体を透過した光の波面の複数の位置における波面情報を算出する算出手段１７０と、を備え、被検体の情報を取得する。算出手段は、第１の光周期パターンの検出時に第１の画素が検出した検出結果と、第１の光周期パターン検出時に第１の画素から３画素以内に配置されている第２の画素が検出した検出結果と、第２の光周期パターンの検出時に第１の画素が検出した検出結果と、を用いて、１つの位置における波面情報を算出する。 （もっと読む）

【課題】１つの縦モードおよび２つの縦モードが混在している状態で半導体レーザーからレーザー光が出射されているか否かを容易に検知することが可能な検知システムを得る。
【解決手段】検知システムは、固定鏡１５、移動鏡１６、半導体レーザー２２から出射されたレーザー光を分割し固定鏡１５および移動鏡１６の各々に反射したレーザー光を合成する光束分岐手段１４、光束分岐手段１４によって合成されたレーザー光を受光する受光手段２５、および制御部２６を備える。制御部２６は、検知システムが上記の検知を行なう際には、固定鏡１５に反射されるレーザー光と移動鏡１６に反射されるレーザー光との光路差が変化するように、移動鏡１６を移動させる。上記の検知は、受光手段２５により受光されるレーザー光の干渉信号がレーザー光のコントラストが変化することによって不連続になったか否かに基づいて行なわれる。 （もっと読む）

【課題】伝送されている光信号波長、各光信号の光パワー、およびＯＳＮＲを精度良く測定することが可能な光パフォーマンスモニタを提供する。
【解決手段】導波路型分光器２と、導波路型分光器２から出射され第１レンズ３を透過した光をＸ偏光とＹ偏光に分離して第２レンズ７に出射する偏光分離素子６と、導波路型分光器２と偏光分離素子６との間に設けられ、その一方の複屈折軸方向の偏光成分とそれと直交する他方の偏光成分との位相差を調整することでＸ偏光とＹ偏光の光パワー比を調節する可変リターダ４と、第２レンズ７から出射されたＸ偏光とＹ偏光のどちらか一方の偏光のみを空間的に９０度回転させる１／２波長板８と、１／２波長板８からの一方の偏光と第２レンズ７からの他方の偏光とを第２レンズ７に反射する光位相変調器９と、第２レンズ７で集光された両偏光の干渉縞を検出する受光素子アレイ１０と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】特殊部品を用いることなく、光９０°ハイブリッドの直交位相測定を行う。
【解決手段】光９０度ハイブリッド３５のポート３５Ｓ，３５Ｌに、信号光源３３，３４から単一波長レーザ光を入力する。光９０度ハイブリッド３５の出力ポートのうちI相信号及びQ相信号を出力する２ポートの出力光をフォトディテクタ３６，３７で光電変換し、得られた２つの電気信号の一方をX軸、他方をY軸としてオシロスコープ３８のXY平面上に描画してリサージュ図形として描画する。X軸から４５度回転させた軸にリサージュ図形が接する接点と原点との間の距離と、Y軸から４５度回転させた軸にリサージュ図形が接する接点と原点との間の距離との比より、光９０度ハイブリッド３５の直交位相を測定する。 （もっと読む）

【課題】高繰返し率ガス放電レーザ用の改良されたスペクトル測定を提供する。
【解決手段】レーザから射出された光の帯域幅を示す第１のパラメータを表す第１の出力と、レーザから射出された光の帯域幅を示す第２のパラメータを表す第２の出力とを提供する光帯域幅モニタと、光帯域幅モニタに固有の所定の較正変数を用いる多変数方程式の一部として第１の出力及び第２の出力を用いて実帯域幅パラメータを計算する実帯域幅計算装置と、を含むことができ、多変数方程式は対称性に敏感な項を含む、レーザから射出され、帯域幅計測器に入力される光のスペクトルの帯域幅を測定するための帯域幅計測器の装置及び方法が開示される。 （もっと読む）

【課題】参照光の位相設定精度に限界がある場合でも、測定対象物による位相シフト量を用いた計測する光位相測定装置を提供する。
【解決手段】コヒーレント光源８１、光源よりの光波を２分岐する光分岐手段８２、光波のうちの参照光波８９を周波数ωｍで位相変調する位相変調手段８３ａ、分岐された後に被測定対象物８５を透過又は反射した信号光波と位相変調された参照光波８９とを合成する光合成手段９７と、合成された干渉光の強度を測定する光強度測定手段８８を有する光干渉計を備えた光位相測定装置で、干渉光の強度を一定の時間に亘って取得し、取得した時系列の強度信号をフーリエ変換し、位相変調の周波数ωｍの整数倍の周波数成分のうち少なくとも２つの成分の光強度を演算して、位相変調手段の変調指数ｍを同定して、該変調指数ｍに基づいて前記被測定対象物８５による信号光波の位相変化量φを算出する演算手段９５を備えた光位相測定装置。 （もっと読む）

【課題】平板型のＢＳを用いた小型、安価な構成で、ＢＳで発生するゴースト光の影響を抑えながら、干渉強度の高い良好な干渉光を得る。
【解決手段】干渉計では、レーザ光源から出射されたレーザ光を平板型のＢＳで２光束に分離し、それぞれを別々の反射光学素子で反射させた後、ＢＳに再度入射させて干渉させる。干渉光は、ＢＳからレーザ光源とは異なる方向に出射され、光検出器にて検出される。ＢＳは、平板状の基板と、上記基板の表面に形成される反射透過膜と、上記基板の裏面に形成される反射防止膜とを有している。上記基板の反射透過膜が形成された面でのレーザ光の反射率および透過率をそれぞれＲｂおよびＴｂとし、上記基板の反射防止膜が形成された面でのレーザ光の反射率をＲａとすると、以下の条件式（１）および（２）を満足する。すなわち、（１）１．５＜Ｒｂ／Ｔｂ＜２０、（２）Ｒａ＜０．０３である。 （もっと読む）

【課題】光周波数コム光源のパルス間位相ズレを高効率に測定する。
【解決手段】光周波数コム光源（１１）が発振する光パルス信号（Ｓ）を１対の光パルス信号（Ｓａ、Ｓｂ）に分岐してから再統合する光路設定手段（１２、１３、１４）と、合成光パルス信号（Ｓｃ、Ｓｅ、Ｓｆ）に含まれる１対の光パルス信号の間のパルスシフト数Ｎが１以上の整数となるように光周波数コム光源の発振周期と１対の光パルス信号の光路長差との関係を設定するパルスシフト手段（１４）と、１対の光パルス信号の間の位相シフト量をＭ通りの位相シフト量（Ｍ：３以上の整数）に設定する位相シフト手段（１７、１５）と、Ｍ通りの位相シフト量の下で１対の光パルス信号が示すＭ通りの干渉強度を合成光パルス信号に基づき検出する検出手段（１６−０、１６−１、１６−２）と、Ｍ通りの干渉強度の関係と前記Ｍ通りの位相シフト量の関係とに基づき光パルス信号（Ｓ）のパルス間位相ズレを算出する演算手段（１８）とを備える。 （もっと読む）