本発明は、試料のセクションとして得られる画像対を取得して解析するための方法及びシステムに関する。本発明は、それぞれが試料の各セクションからのものである、２つの対応する画像の登録を容易にする。本発明は、２つの画像の登録プロセスを行なうこと、これにより数学的変換規則を取得すること、及びその後、１つの画像内で特定される各画像フィールド毎に上記変換規則を使用し、他の画像内の対応する画像フィールドを同様に特定できるようにすることを含む。本発明の方法を使用して対応画像対を取得した後、例えば少なくとも１つの対応画像対内の画像フィールド上のオブジェクトの少なくとも１つのタイプに関して計数事象を、所望により自動手段を使用して特定することにより、そのセクションを評価することができる。
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【課題】従来の近赤外分光法においては、近赤外光源として複数のレーザーダイオードを用いていたため、装置が大型化し、また金額的にも高額な装置となりがちであった。また、レーザーを用いた測定においては、システム筐体内のレーザーダイオードからの光を光ファイバーで測定位置まで導くため、測定位置での光ファイバーと生体表面の接触具合が偶発的な光ファイバーの動きに大きく影響され、大きな計測誤差の原因となっていた。
【解決手段】レーザーの代わりに、安価な発光ダイオード（ＬＥＤ）を用い、非線形最適化問題を解くことによって推定を行う。 （もっと読む）

【課題】生体情報として生体内部の密度を光により計測できる小型でかつ安価の密度計測装置を提供する。
【解決手段】光の強度を変化させて測定対象の内部に光を照射する光照射部２０と、照射された光の前記測定対象の内部からの反射光を受光する受光部３０と、照射された光の強度に対する受光した反射光の強度の変化傾向を算出する変化傾向算出部２０１と、前記変化傾向に基づき前記測定対象の密度を特定する密度特定部２０２とを備えることを特徴とする密度計測装置。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴ計測よって得られた干渉信号の劣化を補償し、周波数解析によって得られる断層情報の品質を向上させる
【解決手段】干渉信号検出器２より、光源より射出した所定の波長帯域の光を測定光と参照光とに分割し、分割した前記測定光が測定対象から反射した反射光と前記参照光とを合波し、合波した前記反射光と前記参照光との干渉光の強度を干渉信号として検出する。測定対象の代わりに前記測定対象に近い特性を有す物質を用いて、該物質の所定の深さ位置から前記測定光が反射した反射光と前記参照光とを合波した干渉光の強度を予め計測して得られた減衰率と屈折率とを補償用データＣとして補償データ記憶手段５１に記憶する。補償手段５２により補償用データＣを用いて干渉信号Ｉの強度の減衰補償と分散補償を行ない、断層情報取得手段５３により、補償された干渉信号Ｉｃを周波数解析することにより測定対象の断層情報r(z)を取得する。 （もっと読む）

【課題】光トモグラフィー計測により各深さ位置における反射強度を検出し断層画像を取得するときに、効率的に良好な画質の光断層画像を取得する。
【解決手段】光トモグラフィー計測において、干渉光Ｌ４を干渉信号として検出し、検出した干渉信号に光源ユニットから出射されるレーザ光のモードホップの情報、又は／及び、スペクトル形状を示す情報、又は／及び、検出される干渉光の瞬時スペクトルを示す情報をパラメータとして有している線形システム行列の演算処理を施すことにより、各深さ位置からの反射強度を取得する。 （もっと読む）

【課題】低い電磁波偏波方向依存性で、かつ機械的動作を要せずに、電磁波の伝播状態を変化させる電磁波変調装置を提供することである。
【解決手段】電磁波変調装置は、電磁波24の波面26を受ける面を含む伝播経路において、波面内の少なくとも1つの方向にプラズマの電子密度が変化する空間的な電子密度分布を形成して電磁波24の伝播状態を変化させる。電磁波変調装置は、プラズマ28を発生させる発生手段23と、プラズマの空間的な電子密度分布を調節する電子密度分布調節手段21、23を有する。 （もっと読む）

【課題】雨滴量判定禁止期間を必要最小限度に短縮することにより雨滴量判定動作期間を長くして、雨滴量判定精度向上が可能な雨滴検出装置を提供する。もう一つの目的は、雨滴検出装置が搭載される車種に対応した専用の制御手段を必要としない雨滴検出装置を提供する。
【解決手段】ワイパーブレードの一往復払拭動作期間おいて、ワイパーモータからの動作信号と、雨滴センサにより直接的に検出されたワイパーブレードが雨滴センサの検出領域を通過した時の通過時期信号である第１信号および第２信号とに基づいて、次回のワイパーブレード往復払拭動作期間における雨滴量判定禁止期間を設定する。 （もっと読む）

不透明媒体のイメージングのためのイメージングシステムは、画像化されるべき対象を照らすための照明源を含む。検出システムは、対象からの放射を検出し各波長領域を有する放射成分を区別する分離モジュールを含む。分析モジュールは各放射成分の比較を形作る。画像データセットは、各放射成分の比較に基づき再構成される。比較は例えば(i)高波長放射成分の低波長放射成分に対するレベルの比率、(ii)高波長放射成分の検出された放射に対するレベルの相対差、又は(iii)高波長放射成分の低波長放射成分に対するレベルの相対差を含む。造影剤の濃度の関係領域に亘ってその比較が相対的に波長領域の１つにとって他の領域に対しより有益である時、再構成画像中に良いコントラストが達成される。従って、波長領域間の比較競争において、その１つの波長領域の強度（又は光子計数）が、その１つの波長領域における如何なるコントラストもコントラスト反転の影響を受けないように支配する。
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【課題】離散的な複数の光束を射出する簡便な光源の構成により良好な画質の光断層画像を取得する。
【解決手段】光源ユニット１０から波長帯域λ１、λ２が離散した複数の第１光束Ｌａ、第２光束Ｌｂが射出され光分割手段３に入射される。光分割手段３において各光束Ｌａ、Ｌｂは測定光Ｌ１ａ、Ｌ１ｂと参照光Ｌ２ａ、Ｌ２ｂとに光分割される。測定光Ｌ１ａ、Ｌ１ｂは測定対象Ｓに照射され測定対象Ｓの各深さ位置ｚにおいて反射した反射光Ｌ３が合波手段４に入射される。参照光Ｌ２ａ、Ｌ２ｂは光ファイバＦＢ３を導波し合波手段４に入射される。反射光Ｌ３ａと参照光Ｌ２ａとの干渉光Ｌ４ａおよび反射光Ｌ３ｂと参照光Ｌ２ｂとの干渉光Ｌ４ｂが干渉光検出手段４０において光電変換され、干渉信号ＩＳａ、ＩＳｂとが生成され、干渉信号ＩＳａ、ＩＳｂを用いて断層画像が取得される。 （もっと読む）

【課題】 光断層画像化装置において、光プローブの揺れによる干渉信号レベルの揺らぎを防止する。
【解決手段】 測定対象内に挿入される光ファイバ１２を収容した光プローブ１０を、光断層画像化装置本体１Ａに接続してなる光断層画像化装置１において、光プローブ１０の測定対象Ｈ外に延びる部分の少なくとも一部を、すくなくとも光断層画像取得時に固定する固定手段５Ａを備える。 （もっと読む）