説明

国際特許分類[G01N21/45]の内容

国際特許分類[G01N21/45]に分類される特許

41 - 50 / 171


【課題】熱量測定対象ガスが天然ガスまたはバイオガスであっても、当該熱量測定対象ガスの熱量を高い信頼性で測定することのできる熱量測定方法および熱量測定装置を提供すること。
【解決手段】熱量測定方法は、ガスの熱量を測定するための熱量測定方法であって、熱量測定対象ガスの熱伝導率から得られる熱伝導率換算熱量A〔MJ/Nm3 〕と、当該熱量測定対象ガスの屈折率から得られる屈折率換算熱量B〔MJ/Nm3 〕とに基づいて、下記の式(1)により、2.91≦補正係数α≦3.75の条件にて熱量測定対象ガスの熱量Q〔MJ/Nm3 〕を算出することを特徴とする。
(もっと読む)


【課題】硝子やプラスチックなどの透明の物体の屈折率分布を非破壊で簡易に測定すること。
【解決手段】2つのプローブ光学系を、被検物を間に挟むように配置して測定に用いることによって、局所的に特定された被検物中を透過する光の光路長をその干渉信号を利用して算出し、また同部分の幾何学的厚みをプローブ光学系の位置を測定することで算出して、両算出値を求め、それらの値と基準物における算出値とに基づいて、被検物の屈折率分布を求めることで本発明の課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】 従来の有機物顕在化方法では、被検査物表面の異物を識別するためには、薄膜を堆積させる時間を多く必要とし、異物を識別させるための作業等が煩雑であった。また、被検査物表面の異物を識別する際には、被検査物を不活性ガスが封入された特別な環境下に置く必要があるため、異物の存在を容易に確認することができなかった。
【解決手段】 基板1の表面に金属薄膜19を成膜し、金属薄膜19が成膜された基板1表面に光を照射して、光の干渉により生じる、有機物14が存在している部分と存在していない部分とのコントラスト差を識別する。 (もっと読む)


波長選択器5が広帯域光源4の波長を選択する。光導波器BS1、BS2が、波長選択器からの光を測定経路に沿ってサンプル表面の領域に向けて誘導すると共に基準経路に沿って基準表面に向けて誘導し、サンプル表面の領域によって反射された光及び基準表面によって反射された光が干渉してインターフェログラムを生成するようにしている。コントローラ20が、波長選択器を制御して、波長選択器によって選択される波長を変更する。記録器63が、連続した画像を記録し、各画像は、波長選択器によって選択された波長のそれぞれ1つによって生成されたインターフェログラムを表す。データプロセッサ18、180が、記録された画像を処理して、サンプル表面の少なくとも一部の表面プロファイル及び表面高マップのうちの少なくとも一方を作成する。基準経路を制御して、振動、熱的効果及び乱流のような環境影響を補償することができる。データプロセッサは、グラフィックス処理装置を用いて、ピクセルデータを並列に処理することを可能にすることができる。
(もっと読む)


被験物体からの試験光と参照光とを合成して、検出器上に干渉パターンを形成する光学系を含む広帯域走査干渉計システムから構成される装置。本装置は、共通の光源から検出器への試験光と参照光との間の光路差(OPD)を走査するように構成されたステージと、一連のOPD増分の各々に対する干渉パターンを記録する検出器を含む検出系であって、各OPD増分の周波数がフレームレートを定義する、検出系とを含む。光学系は、走査時のOPDの変化を示す少なくとも2つの監視干渉信号を生成するように構成され、検出系は、監視干渉信号を記録するように構成される。本装置は、フレームレートより高い周波数において、OPD増分への摂動に対する感度でOPD増分に関する情報を決定するように構成されたプロセッサを含む。
(もっと読む)


外面(16)と、当該外面に対して反対側に位置する内面(17)と、を備える物体(2)の厚さを干渉分析法によって光学的に計測するための方法、計測装置(23;26;27)、及び計測システム(1)に関する。低コヒーレンスの放射線ビーム(I)が放射され、そのようなビームは、放射線源(4a、4b;4c、4d;4ef)によって放射され、所定帯域内で多数の波長からなっている。前記放射線源は、前記物体(2)の厚さに応じて、異なる波長帯域に属する少なくとも2つの異なる放射線ビーム、又は、単一の広範な波長帯域の放射線源を、選択的に採用し得る。前記放射線ビームは、光学プローブ(6)によって前記物体の前記外面へ向けて方向付けられている。前記物体によって反射される放射線ビーム(R)は、前記光学プローブによって集積されている。スペクトル計(5;5a、5b;5d、5e;5f、5g)によって、前記物体に入り込むことなく前記外面によって反射される放射線ビーム(R1)と、前記物体に入り込んで前記内面によって反射される放射線ビーム(R2)と、の間の干渉の結果であるスペクトルを分析することができる。そして、前記物体の厚さは、前記スペクトル計によって提供されるスペクトルの関数として計算される。2つのスペクトル計が、前記異なる波長帯域の各々に属する放射線ビームに対して選択的に用いられ得る。
(もっと読む)


【課題】
変調信号のフーリエ成分である基本波、2倍高調波の信号強度比から位相抽出を行うことにより、高周波ノイズの影響を無くすとともに信号強度変化による測定誤差を低減し高精度化することができ、実時間制御での利用が可能なディスパーション干渉計を提供する。
【解決手段】
ディスパーション干渉計の非線形結晶素子10は、レーザ光(基本波W1)の一部を2倍高調波W2に変える。光弾性素子12は、基本波W1に変調角周波数ω分の位相変調を発生させる。非線形結晶素子14はプラズマ30を透過した基本波W1を2倍高調波W2に変える。波長選択フィルタ16は2倍高調波W2を選択的に透過させる。干渉計は、干渉信号における変調角周波数ωの基本波成分と2倍高調波成分の強度比を求め、該強度比と、位相変化量に基づいて、プラズマ30の物理量である線平均電子密度を算出する。 (もっと読む)


可視光干渉パターンの様々な使用が提供される。適した干渉パターンは、絞りのパターンからの回折により形成されるパターンである。本明細書中で開示される典型的な使用は、並進及び/又は角度位置決定システムなどの空間計測学に関連する。更なる使用は、光自体の特性の解析(例えば、電磁放射線の波長の決定)を含む。更なる他の使用は、光が通過する物質の1つ以上の特性(例えば屈折率)の解析を含む。干渉パターンの一部がCCDチップなどの画素化された検出器で捕らえられ、捕らえられたパターンが計算されたパターンと比較される。最大値間の間隔の非常に正確な測定が可能であり、したがって、干渉パターン中における検出器の位置の非常に正確な測定を行なうことができる。
(もっと読む)


【課題】細胞等の対象物の詳細な情報を得て効果的に表示することができる観察装置および観察方法を提供する。
【解決手段】観察装置1は、観察対象物9の表面または内部を観察するものであって、光源11,12、レンズ21〜25、アパーチャ31、光合波器41、光分波器42、ハーフミラー43、撮像部51、解析部52、表示部53、受光部61、変位検出部62、ピエゾアクチュエータ71、駆動部72、ミラー73、ステージ81、駆動部82および制御部90を備える。解析部52は、位相シフト法により光路長差が各目標値に順次に設定されて撮像部51により撮像された干渉光像に基づいて、観察対象物9の表面または内部で生じた第2反射光の強度成分および位相成分を求める。表示部53は、位相成分を色相に反映させ、強度成分を彩度または明度に反映させて、HSV色空間で第2反射光を画像表示する。 (もっと読む)


【課題】 VOCを含む測定ガス中の炭素濃度測定を、連続的に、かつ、溶剤ガスの種類に関わらず、確実に行うことのできる光干渉式炭素濃度計を提供すること。
【解決手段】 この光干渉式炭素濃度計は、揮発性有機化合物を含む測定ガスの、揮発性有機化合物を含まない標準ガスに対する屈折率増加量を検出し、屈折率増加量と測定ガス中の炭素濃度とが比例関係にあることを利用して、検出された屈折率増加量に応じた測定ガス中の炭素濃度を算出するものであり、具体的には、標準ガスが空気である場合において、測定ガスの標準ガスに対する屈折率増加量Y〔×10-6〕と測定ガス中の炭素濃度X〔ppmC〕との間の関係が(式)Y=α×X(α:比例係数)により示され、前記関係式における比例係数αが0.230×10-3〜0.310×10-3の範囲内において設定される。 (もっと読む)


41 - 50 / 171