【課題】基板上に形成された多層膜の界面のナノスケールの粗さを光学的に非破壊・非接触で観察すること。
【解決手段】本発明の一態様に係る多層膜構造観察装置１００は、基板上に形成された多層膜の観察対象界面を観察するための多層膜構造観察装置であって、多層膜の観察対象界面以外の界面からの反射光と、当該反射光により生じる干渉光とが打ち消しあう波長の光を選択する波長選択部２２と、波長選択部２２で選択された波長の光を、多層膜に出射する光源１１とを備える。 （もっと読む）

組織部位における細胞が生存可能であるか生存不能であるかを判定する方法が提供される。また、組織部位から組織を創面切除する方法も提供される。さらに、生存可能細胞と生存不能細胞とを区別する組成物と、組織部位上で前記組成物を使用するための説明書とを備えるキットが提供される。さらに、生存可能細胞と生存不能細胞とを区別する組成物の使用法であって、組織部位における細胞が生存可能であるのかまたは生存不能であるのかを判定するための使用法が提供される。また、生存可能細胞と生存不能細胞とを区別する組成物の使用法であって、上記キットの製造のための使用法が提供される。 （もっと読む）

本明細書に記載される実施形態は、対象サンプルに関する構造的情報および深さ情報の取得を可能にする低コヒーレンス干渉法（ＬＣＩ）技術を伴う。一実施形態において、「掃引源」（ＳＳ）光源は、サンプルに関する構造的情報および深さ情報を取得するために、ＬＣＩにおいて用いられる。掃引源光源は、参照信号と、サンプルに向けられる信号を生成するために用いられることができる。サンプルから散乱される光は、結果として戻され、参照信号と混合されて、干渉を実現し、したがって、サンプルに関する構造的情報を提供する。サンプルに関する深さ情報は、フーリエ領域概念のほか、時間領域技術を用いて取得されることができる。掃引源光源を利用する複数のＬＣＩ実施形態が、本明細書に開示される。本明細書に開示される別の実施形態において、ａ／ＬＣＩシステムおよび方法は、時間領域システムに基づいて提供され、広帯域の光源を利用する。
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【課題】流路におけるサンプルの光学的特性を一定感度で測定することができる光学的特性計測装置を提供する。
【解決手段】光学的特性計測装置１は、光源部１０、第１光カプラ２１、第２光カプラ２２、レンズ３１、レンズ３２、位相変調部４０、駆動部４１、光路長差調整部５０、制御部５１、受光部６０、同期検出部７０および測定部８０を備える。位相変調部４０は、周波数ｆで光を位相変調する。同期検出部７０は、受光部６０から出力される電気信号に含まれる周波数ｆの成分の大きさに応じた値の第１信号を出力するとともに、該電気信号に含まれる周波数２ｆの成分の大きさに応じた値の第２信号を出力する。制御部５１は、同期検出部７０から出力される第１信号または第２信号に基づいて、光路長差調整部５０により調整される光路長差が所定値となるように制御をする。 （もっと読む）

【課題】参照光と検査対象物で反射され周波数変調された信号光との干渉縞を安定化することが可能な干渉縞安定化装置、および検査対象物の内部欠陥の検出精度の向上が可能な非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】非破壊検査装置は、検出用レーザ１１と、弾性波励起用レーザ２１と、信号光と参照光とを干渉させ検査対象物Ｏｂの振動を検出する振動検出手段３０と、干渉縞安定化装置４０とを備える。干渉縞安定化装置４０は、信号光から分岐された補正用信号光と参照光から分岐された補正用参照光との干渉縞を検出する干渉縞検出手段４１と、補正用参照光を分岐する前の参照光の光路上に配設され参照光の波面を制御する波面制御用ミラー４２と、干渉縞検出手段４１により検出される干渉縞の安定状態からの位相シフトを抑制するように波面制御用ミラー４２の位置を制御する制御手段４３とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、屈折率と厚さの修正効果を有する精密光学コーティングモニタリング法を提供する。
【解決手段】
光学モニタリンググラフィックによって提供された情報により、また、極値点と終点の膜堆積の光学特性に合わせて、各フィルム層の屈折率や厚さ及び対応する補正厚さを推定でき、これにより、作業者が最初に入力した屈折率に対して即時に修正でき、また、フィルム層の終点透過率や反射率により、前のフィルム層の厚さを算出でき、モニタリング波長に対してエラー補正厚さを有する切点を推定でき、そのスペクトル位置が偏移しなく、中心極値も変更せず、そして、作業者が任意に各フィルム層に対して、予測した切点の近くに対応する感度が高いモニタリング波長を選択でき、作業者が工程状況をより把握でき、元の設計に満たす光学素子を作製できる。 （もっと読む）

【課題】 １またはそれ以上の特異的結合物質のそれぞれの結合パートナーへの結合を検出するための構成物および方法を提供すること。
【解決手段】 生体分子の相互作用を検出するための方法および構成物を提供する。ラベルの使用を必要とせず、本方法は、ハイスループット方式にて実行することができる。本発明はまた、狭周波数帯フィルタとして有用な光学装置を提供する。 （もっと読む）

公知の方法は全反射の測定に基づいており、反射光の測定又はそれに続く他の方法による屈折率の測定のいずれかによる規格化を必要とする。その結果、公知の方法は汎用的に使用することができない。この分野で公知の制御方法は製造プロセスにおける特殊な特性に基づいて定性的にしか動作しない。しかし、真の定量的制御のためには、制御すべき要素（光学的層パラメータ）を測定可能にすることが不可欠である。本発明による方法は光学的に薄い層の物質組成を直接的に求めるものであり、波動インピーダンスとともに電磁伝送線路理論から導かれた光学的層モデルに基づいている。堆積層は好ましくは白色光源からの好ましくは非コヒーレント光により照射され、全反射以外の反射強度が空間分解型光検出器、好ましくはＣＣＤ、によって検出され、層モデルに供給される。層モデルの特徴関数はプロセスの実際値へと当てはめられ、光学的層パラメータを数値的に求めるために使用される。具体的な物質組成はこの光学的層パラメータから導かれる。
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【課題】干渉計測の精度を向上させ、屈折率の標準測定装置としても使用可能な、高精度の屈折率の計測を行うことができるようにする。
【解決手段】被測定プリズム１と補償用プリズム２の斜面１１、２１を近接対向配置してプリズム対を形成し、これをマッハ・ツェンダー干渉計等の干渉計の中に配置し、レーザ測長器１０によって被測定プリズムの移動量を測定可能とする。被測定プリズムを補償用プリズムに向かい合っている面内で平行移動させ、干渉計中の被測定プリズム中の光路長を変化させ、被測定プリズム中の光路長変化と、レーザ測長器で測定した被測定プリズムの移動量の関係から、プリズムの屈折率を求める。被測定器物はプリズム、くさび、それらの形状の容器に液体を充填したものでも良く、また種々の二光束干渉計を使用することができ、プリズムへの入射も種々の態様で実施することができる。 （もっと読む）

バイモーダル光学導波路に基づく干渉計及びセンサ並びに検出方法。
平面型光学導波路干渉計（１５、２５、３５、４５）は、基板（８、２８、２８、４８）と、前記基板（８、２８、３８、４８）上に堆積された少なくとも１つの層（１、２、３）を有し、異なる散乱を持つ０次横断伝播モード及び１次横断伝播モードをサポートするバイモーダル導波路（１０、２０、２０’、３０、４０）と、前記バイモーダル導波路（１０、２０、２０’、３０、４０）の上側の選択領域に位置し、前記バイモーダル導波路（１０、２０、２０’、３０、４０）の有効屈折率を変化させることができる化学的、生化学的又は物理的入力刺激を受信するセンサ板（２１、３１、４１、５１）と、を備える。前記バイモーダル導波路（１０、２０、２０’、３０、４０）は、横方向に光を閉じ込めるように設計された閉じ込め手段（９）をさらに有し、横モードをサポートするように設計されている。平面型光学導波路干渉計を備えるチップ、センサ及び検出方法が提供される。
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