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国際特許分類[G01N21/45]の内容

国際特許分類[G01N21/45]に分類される特許

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【課題】1つ以上のサンプルを感知する光検出システムを提供する。
【解決手段】この光検出システムは、波長範囲にわたって連続スペクトルを含むビームを放出する広帯域光源と、ビームの少なくとも一部分がサンプルに向かい、後方反射ビームが創出されるように、サンプルを位置決めする1つ以上のチャネルを含む流体セルと、サンプルから後方反射するビームの干渉スペクトルを解析するスペクトロメータと、を含む。
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流体サンプル内の分析物を検出するための方法が開示される。本方法は、a)測定領域及び参照領域を設けること、を含む。前記測定領域には分析物を結合するための受容体が与えられる。本方法は更に、b)測定領域及び参照領域に沿って進行するように、少なくとも1つの光ビームを設けること、c)少なくとも測定領域内に流体サンプルを提供すること、d)測定領域及び参照領域に沿って進行した後の少なくとも1つの光ビームによって提供される光パターンを、検出器によって検出すること、e)検出された光パターンから流体サンプル内の分析物の存在を導出すること、を含み、前記c)の前に、遮断流体が、測定領域及び参照領域に沿って提供される。
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光学的放射の手段による対象物の表面の特性を決定するための測定機器は、光学的放射源及び測定表面から反射した放射を受信する検出器を具備する。更に、測定デバイスは、放射される光学的放射の処理装置を具備し、それは、光源から放射される光学的放射を、別の波長へ分割し、前述の波長の内、少なくとも最も短い波長及び最も長い波長が、測定表面の法線方向において、測定対象物の異なる半分且つ異なる高さに集中するように、前述の測定対象物への分割された波長を測定表面の通常から異なる方向に向けるように調整される。更に、測定デバイスは、反射光の放射線処理装置を具備し、被測定物から少なくとも鏡面反射の方向に反射光学的放射線を受けるように調整され、測定表面の法線方向とは異なり、受信した光学的放射を前述の検出器へ向ける。更に、測定デバイスは、検出器によって生成された電子シグナルを分析し、そこに集中した放射線の強度に比例し、更に、被測定物の表面の光沢(光沢度)及び/又は厚さ特性を、その波長の強度、測定面に位置する、焦点に基づいて決定するように調整され、波長は鏡面のジオメトリにおいて検出器へのその点から反射された最も強いものであった。 (もっと読む)


光学系及びこれに関連する方法により、準実時間光位相共役が可能になる。本方法では、半透明媒体が、サンプル照射ビームによって照射される。媒体によって散乱された散乱光は、電子イメージセンサに導かれる一方、参照光ビームも電子イメージセンサに導かれる。散乱光及び参照光ビームは、電子イメージセンサにおいて干渉パターンを形成する。干渉パターンのデジタル表現が、電子イメージセンサを用いて記録され、サンプル光の共役特性が、数値表現から算出される。算出された特性を有する共役ビームが、構成変更可能な光学素子を用いて生成され、半透明媒体に再度導かれる。共役ビームの生成は、空間光変調器を用いて達成し得る。
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【課題】エバネッセント光学センサが、光ファイバまたは光マイクロファイバのいずれかのコイルとして形成されること。
【解決手段】ファイバ/マイクロファイバをコイル状に巻くことによって、「直線経路」の従来技術のファイバ・センサに比較すると、センサの全体的な大きさは著しく抑えられ、さらには同程度の感度を示す。動作中、光信号が、解析すべき周囲内に浸漬されたファイバ・コイルに結合される。コイル構成の使用は、コイルを形成する湾曲したファイバ/マイクロファイバの表面から反射することによって、コイルに沿って伝搬することになる複数のウィスパリング・ギャラリ・モード(WGM)の生成を結果的にもたらす。これらのモード間の干渉は、コイルがその中に浸漬される周囲環境の特性の関数として修正されることになる。環境的変化が、様々なモードによって「見られる」コイルの光路長の変動をもたらし、モードの干渉は、コイルの出力における透過スペクトルを考察することによって解析される。 (もっと読む)


【課題】風力発電装置の制御に関わる部分のコストを低く抑える。
【解決手段】風車12と、この風車12の回転軸14に連結された発電機24と、この発電機24および風車12を支持する支持手段34と、この支持手段34を間に置いて風車12および発電機24とは離れた位置に配置されて風車12および/または発電機24の動作を制御する制御手段62とを有してなる風力発電装置10において、ファイバーグレーティング(FBG)42、44、46が形成された光ファイバー48、そこに光Lを入射させる光源50、およびFBG42、44、46で反射した光の波長を検出する波長検出器56を備えて発電装置の振動を検出する歪センサを設ける。そして、制御手段62から発せられて風車12および/または発電機24の動作を制御する制御信号として光信号Lc、Lpを用い、この光信号Lc、Lpを伝える信号伝送路を、光ファイバー48の少なくとも一部を用いて構成する。 (もっと読む)


材料内のイオン注入ドーズ量を測定するための方法及び装置は、(i)材料の注入面による反射スペクトルを測定する工程、ここで注入面は注入面から材料内のある深さまでの材料層及びこの材料層の下の脆弱層を形成するためにイオン注入プロセスにかけられている、(ii)反射スペクトル強度値を注入面への入射光のそれぞれの波長の関数として格納する工程、及び(iii)入射光の少なくとも2つの波長における少なくとも2つの対応する反射スペクトル強度値の比較に基づいてイオン注入プロセス中に用いられたイオン注入ドーズ量を計算する工程を含む。
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【課題】正確な画像システム、プロセスおよび穿刺生検プローブであって、干渉計測距装置を用いて組織タイプを認識するためのシステム及び装置、プロセス、ソフトウェア構成、記憶媒体を提供する。
【解決手段】システム600は、光学連結器58を介して光学ファイバ25に連結された画像システム5と、光学ファイバ29とを含む。光学ファイバ25は、注射器51に操作可能に連係され、かつ注射針52の内径部を通過する。ホルダ612は注射外筒により注射器51に連係される。フィードバック装置620はホルダ612に連係されてもよい。 (もっと読む)


【課題】試料の吸光度を高精度で測定でき,また,試料の吸光度に対する光熱効果及びその他の要因の影響度合いの評価にも有効な吸光特性測定方法を提供すること。
【解決手段】測定対象試料1とその両側に配置された2つの同一物である第1参照試料2a及び第2参照試料2bとを励起する励起光Hを,第1参照試料2a,測定対象試料1及び第2参照試料2bの順に貫通させ,第1検出光Pa及び第2検出光Pbそれぞれを,第1参照試料2a及び第2参照試料2bそれぞれに対し,それらの内部における励起光Hに交差させつつ通過させ,通過後の各検出光Pa’,Pb’を光干渉計30により干渉させて干渉光の強度を検出し,その検出信号から各検出光Pa’,Pb’の位相差を検出する。 (もっと読む)


【課題】 ガス濃度の測定を高い精度で行うことができ、しかも、装置全体の小型化および省電力化を図ることのできる光干渉式ガス濃度測定装置を提供すること。
【解決手段】 この光干渉式ガス濃度測定装置は、互いに同一の長さを有する標準ガス用セル部および被測定ガス用セル部を有するチャンバと、光源からの光を分割して標準ガス用セル部および被測定ガス用セル部の各々に入射させると共に、標準ガス用セル部および被測定ガス用セル部を通過した光を合成して干渉縞を生じさせる平行平面鏡と、当該平行平面鏡によって合成された光を受光して被測定ガスと標準ガスとの光の屈折率の相違を干渉縞の変位量として検出する干渉縞検出手段とを具えてなり、平行平面鏡における、光源からの光およびチャンバを通過した光が入射される表面の反射率が10〜60%とされている。 (もっと読む)


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