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国際特許分類[H01J27/16]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | イオンビーム管 (482) | イオン源;イオン銃 (482) | 高周波励起,例.マイクロ波励起,を利用するもの (80)

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【課題】照射されるイオンに金属不純物の混入することのない荷電粒子引出照射機構を提供する。
【解決手段】誘導結合プラズマ型のプラズマ発生手段により、プラズマ生成室200内に誘導結合プラズマを励起し、被処理体120にイオンでプラズマ処理を施す荷電粒子引出照射機構1であって、誘導結合プラズマから被処理体に向けて、誘導結合プラズマを引出し制御する複数の多孔電極10、20、30、40が、相互に離隔して平行に配置されており、かつ、全ての多孔電極がカーボン材料で構成されている。 (もっと読む)


【課題】熱による厚み方向への変形を防止する引き出し電極を備えたイオンミリング装置を提供する。
【解決手段】加速電極20aに形成され加速電極20aの取り付け位置を位置決めする基準穴25aと、加速電極20aに形成され加速電極20aの取り付け位置を案内する案内穴26aと、電極取り付け板に立設された基準穴25aと係合する加速電極保持軸40と、電極取り付け板に立設された案内穴26aと係合する加速電極案内軸41と、基準穴25aおよび案内穴26aの周囲を加速電極20aの厚み方向に押圧する圧縮コイルバネと、を有し、案内穴26aは基準穴25aの中心と加速電極20aの中心を結ぶ直線上に設けられ、直線に沿って長穴形状に形成されている。 (もっと読む)


【課題】FIB動作用のイオン・モードまたはSEM動作用の電子モードで動作するユーザが選択可能な構成を有する単一カラム誘導結合プラズマ源を提供すること。
【解決手段】X線検出器が装着されていれば、エネルギー分散型のX線分光分析が可能である。ユーザは、イオン・モードまたはFIBモードで試料を調製するようにICPを選択的に構成し、次いで電子モードまたはSEMモードを選択するスイッチを実際に動かし、EDSまたは他のタイプの分析を使用して試料を分析することができる。 (もっと読む)


【課題】効率的にイオンミリング加工を行えるイオンミリング装置を提供する。
【解決手段】プラズマを生成するプラズマ生成室10と、プラズマ生成室10に連通する処理室40と、プラズマ生成室10から処理室40へイオンビームを引き出す複数の引き出し電極20,21,22と、複数の引き出し電極20,21,22から選択された一つの引き出し電極をプラズマ生成室10の開口部18に移動させるスライドテーブル30と、を備える。 (もっと読む)


【課題】表面が任意の初期形状の被加工物でも表面を平坦に加工できるイオンミリング装置を提供する。
【解決手段】イオンビーム源10として第1イオンガン11と、第2イオンガン12と、を備え、第1イオンガン11を制御する第1制御部29aと、第2イオンガン12を制御する第2制御部29bと、イオンビームが照射される位置に基板14を搭載し回転する基板ホルダー35と、を備え第1イオンガン11は、第1イオンガン11の中心軸C1が基板ホルダー35の中心を通る位置に配置され、第2イオンガン12は、第1イオンガン11と同じ方向にイオンビームが出射され、かつ第2イオンガン12の中心軸C2が基板ホルダー35の中心から偏心した位置に配置されている。 (もっと読む)


【課題】ビームを形成する目的に対して望ましい小さなエネルギー幅を得るために、荷電粒子ビーム・システム内でのプラズマとの容量結合を低減させる。
【解決手段】集束荷電粒子ビーム・システム用の誘導結合プラズマ源200は、プラズマとの容量結合を低減させるため、プラズマ室102内に導電性シールド202を含む。この内部導電性シールドは、バイアス電極106またはプラズマ104によってプラズマ源と実質的に同じ電位に維持される。この内部シールドは、プラズマ室の外側においてより幅広いさまざまな冷却方法を使用することを可能にする。 (もっと読む)


【課題】例えば幅広ビーム源への使用に好適な、実用性に優れるラインプラズマ発生装置を提供する。
【解決手段】ラインプラズマ発生装置10は、長手方向にマイクロ波を伝搬するための導波管14と、長手方向に沿って配設され、導波管14にプラズマを閉じ込めるための長手方向に交差する磁場を発生させるための磁石16と、を備える。導波管14は、側壁24から管内に突き出して長手方向に延びるリッジ部26を備え、リッジ部26は側壁24の外表面に長手方向に延びる凹部28を形成してもよい。磁石16は、凹部28に配設されていてもよい。 (もっと読む)


【課題】集束イオン・ビーム・カラム用のプラズマ源内の処理ガスの迅速な変更または汚染の迅速な除去を可能にする方法および装置を提供すること。
【解決手段】開閉式ガス通路は、荷電粒子ビーム・システムの誘導結合プラズマ源内の処理ガスまたは焼出しガスの迅速な排出を提供する。一般に源電極またはガス入口の一部に配置された弁は、プラズマ室を排気するために開いているときにガスの導通を増大させ、プラズマ源の動作中は閉じる。 (もっと読む)


【課題】一定の加速電圧で処理対象物の厚さ方向全長に亘って均一なイオン濃度分布を得ることができる生産性のよいイオン注入法を提供する。
【解決手段】本発明は、減圧下で所定の処理ガスを導入してプラズマを形成し、このプラズマ中のイオンを引き出し、引き出したイオンを加速して処理対象物W内に注入するイオン注入法であって、処理ガスとして、X(式中、X及びYを互いに異なる元素であって、その質量数が1、5〜40の原子とし、m=1〜4、n=1〜10とする)で表される分子の中から選択されるものを用いる。 (もっと読む)


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