【課題】高圧放電灯用の始動補助光源を良否判定する検査手段を提供する。
【解決手段】本発明によって高圧放電灯用の始動補助光源の検査機が提供される。検査機は、始動補助光源に電圧を印加するための電源（１０２）、始動補助光源から発光する紫外線を受光するＵＶセンサ（１０４）、ＵＶセンサで受光した紫外線強度を電気パルス出力として検出するコントローラ（１０６）、及びコントローラからの電気パルス出力に基づいて始動補助光源の良／不良を判別する判定手段（１０８）を備える。 （もっと読む）

【課題】電界放出型電子放出素子の製造において、短絡による素子の欠陥を検出し、欠陥のない素子へ影響を及ぼすことなく、該短絡を修復し、歩留まりを向上する。
【解決手段】放出電流−電圧特性に閾値を有する電子放出素子において、該閾値よりも低い第１の電位差を素子に印加して該素子に流れる電流値を測定し、該電流値によって該素子における短絡の有無を判断し、短絡を有する素子に対してのみ、前記第１の電位差よりも大きい第２の電位差を印加する工程を、第２の電位差を徐々に増加させながら、短絡が修復されるまで繰り返す。 （もっと読む）

【課題】電子放出準位の解析方法において、形成遅れ時間と統計遅れ時間を高精度に分離し、かつ、任意形状の電子放出源のエネルギー状態密度を自動的に求解する。
【解決手段】サスティン電圧印加後からアドレス電圧印加までの休止時間ｔ_ｉと温度Ｔの計測条件に対するアドレス放電遅れ時間ｔ_ｄを基に、放電確率頻度分布と既放電確率を算出し、既放電確率を基に電子放出源から放出されるプライミング電子の電子放出時定数の実験値ｔ_ｓ^exp（ｔ_ｉ，Ｔ）を算出し、電子放出源のエネルギー状態密度D_j(E)の初期値を設定する。実験値ｔ_ｓ^exp（ｔ_ｉ，Ｔ）とその理論値ｔ_ｓ^th（ｔ_ｉ，Ｔ）を用いた重付き目的関数O(D_j(E))を算出し最小となるO(D_j(E))とD_j(E)を選択し、D_j(E)を固定値にする拘束条件を設定する。先のO(D_j(E))と新たなO(D_j(E))の収束残差比を比較し、エネルギー状態密度D_j(E)を決定する。 （もっと読む）

【課題】本発明のプラズマディスプレイパネルの製造方法によれば、透明電極の不具合を確実に検出することによって、製造歩留まりを向上することができる。
【解決手段】第１のバス電極と第１の透明電極とを有する走査電極と、第２のバス電極と第２の透明電極とを有する維持電極とを、前面基板上に形成したプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、第１のバス電極および第２のバス電極は、それぞれ前面基板上に形成し、第１の透明電極は少なくとも第１のバス電極またはその前駆体の一部を覆うように、第２の透明電極は少なくとも第２のバス電極またはその前駆体の一部を覆うように、それぞれ金属の微粒子または金属酸化物の微粒子を含む分散液を用いて形成し、分散液は顔料を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】１８０℃を超える高温度で放出される不純ガスを原因とする発光管の良否判定を行える蛍光ランプの製造方法を提供することにある。
【解決手段】封止工程１３により、内面に蛍光体が塗布されたバルブの両端にフィラメント電極を封止する。排気工程１４により、封止されたバルブ内を排気する。この後、ガス充填工程１５によりバルブ内に希ガスを封入してから、封切工程１６により排気管を閉じて発光管を形成する。点灯検査工程１７により、発光管を点灯させた状態で加熱炉に通過させながらエージングをする。このエージングをする点灯検査工程１７で、発光管の表面最低温度が１８０℃を超える温度となるように発光管を加熱炉で加熱しながら、表面最低温度に応じて定められた所要時間の間発光管を加熱炉に滞在させる。それにより、エージングをしながら発光管の良否を検査できるようにしたことを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】放電セルの不灯の検出を高精度で実施する検査方法を有したプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供する。
【解決手段】プラズマディスプレイパネルの製造方法において、放電セルの表示状態を確認するステップを含む検査工程を有し、プラズマディスプレイパネルの通常の駆動方法および、前記放電セルの表示状態を確認するステップにおける駆動方法は、走査電極に緩やかな傾斜を持つ初期化波形を印加する初期化期間と、走査電極に初期化波形と逆極性の走査波形を順次に印加するとともに、アドレス電極に初期化波形と同極性のデータ波形を選択して印加する書き込み期間とを有し、かつ放電セルの表示状態を確認するステップにおける駆動方法は、初期化期間もしくは書込み期間の少なくともいずれかの期間に、維持電極に印加する電圧の設定値を変化させて行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電子放出素子を備えたマルチ電子源において、低抵抗の素子を検出し、修復する工程を、正確に且つ簡易に行う。
【解決手段】検出用電圧を印加し、素子のリーク電流を測定し、該リーク電流値にもとづいて素子の抵抗値を算出し、規定の抵抗値以下の素子について、修復用電圧を印加して素子の高抵抗化を図る工程を、素子毎に点順次で行う。 （もっと読む）

【課題】ショートアーク型放電ランプにおいて、照度変動を十分に抑える。
【解決手段】陰極２０、陽極３０を発光管１２内に対向配置させ、発光管１２内に水銀、Ａｒなどの希ガスを封入したショートアーク型放電ランプにおいて、以下の式を満たす分光分布特性を備える。ただし、３３４ｎｍの輝線スペクトルの強度をＨ_３３４、５４６ｎｍの輝線スペクトルの強度をＨ_５４６とする水銀量をＭとする。

Ｈ_３３４／Ｈ_５４６≧０．３５ （Ｍ≧１５）
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【課題】 カソードのみの仕事関数を正確に把握するために必要な熱電子放出電流測定装置を提供すること。
【解決手段】 熱電子放出電流測定装置１００は、測定装置本体１、直流電源２、パルス電源３、電流電圧測定装置６を有している。
測定装置本体１は、真空チャンバ１３と、真空チャンバ１３内に設けられ、測定試料であるカソード１５を載置する試料載置台１７と、真空チャンバ１３内に設けられたアノード１９と、フィラメント２１とを有している。
カソード１５の熱電子放出電流を測定する場合は、フィラメント２１に電流を流して加熱し熱電子を放出させ、フィラメント２１に直流電源２で電圧を印加して電子を加速し、カソード１５に電子衝撃を与えて加熱し、加熱したカソード１５の熱電子放出電流を電流電圧測定装置６を用いて測定する。 （もっと読む）

【課題】電子放出パネルの特性をその封着前に短時間で検査を行って生産性を一層向上させる。
【解決手段】基板上に配置された複数の配線と、複数の配線と交差するように配置された複数の他の配線との電気的交差部にそれぞれ複数の電子放出素子を配置し、
基板を載置する基板ステージと、複数の電子放出素子の放出電流を捕捉する複数の検出電極と、複数の配線と複数の他の配線の一方に順次走査電圧を与え、複数の配線と複数の他の配線の他方に駆動電圧を与えることで、行ごと又は列ごとに順次複数の電子放出素子に電圧を印加する第１の電圧印加手段と、複数の検出電極と複数の電子放出素子との間に電圧を印加する第２の電圧印加手段と、を有し、
複数の検出電極は、基板ステージに載置された基板上の複数の配線又は複数の他の配線に対向して配置される。 （もっと読む）