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国際特許分類[H01L21/20]の内容

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【課題】Si基板上に、AlN及びGaNを成長させるにあたり、Si基板の抵抗値の低下を抑制する。
【解決手段】成長装置内にシリコン基板を導入して、成長装置内でシリコン基板を水素雰囲気中でクリーニングする。次に、成長装置内を不活性ガス雰囲気にした後、成長装置内を減圧し、さらに、シリコン基板の温度を成長温度まで昇温する。次に、成長装置内に原料ガスを導入して、シリコン基板上に有機金属気相成長法によりバッファ層として窒化アルミニウム層を形成する。 (もっと読む)


【課題】複数の半導体基板をベース基板に貼り合わせる場合であっても、貼り合わせ効率を向上すると共に、接合不良を抑制することを目的とする。
【解決手段】第1の基板支持台上に複数の半導体基板を設け、第2の基板支持台上にベース基板を設け、複数の半導体基板の表面とベース基板の表面が所定の間隔をもって対向するように、第1の基板支持台の上方に第2の基板支持台を配置し、複数の半導体基板又はベース基板を帯電させ、複数の半導体基板の表面とベース基板の表面の間隔を狭めることにより、ベース基板の表面に複数の半導体基板を接触させ、ベース基板の表面と複数の半導体基板の表面を接合させる。 (もっと読む)


【課題】
レーザ光を用い、効率よく適度なエネルギーを結晶粒界に与えることにより、基板部分や既に結晶になった部分に影響を与えることなく、多結晶シリコンの結晶粒界を改質する。
【解決手段】
多結晶シリコンにパルスレーザ光を照射して結晶粒界の改質を行う多結晶シリコン結晶粒界改質方法であって、パルスレーザ光は波長400nm以上の可視光であり、パルスレーザ光の照射強度は、多結晶シリコンの結晶粒中心が溶融しないエネルギー密度である。好ましくは、パルスレーザ光の照射強度は、多結晶シリコンの結晶粒界近傍が部分溶解するエネルギー密度である。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極の電極幅を広げることで寄生容量を増加させることなく、チャネル領域におけるチャネル長方向の結晶性が均一化された薄膜トランジスタを得ることが可能で、これにより薄膜トランジスタに接続された発光素子の輝度ムラが防止された表示特性の良好な表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板1上にゲート電極14aを形成する工程と、ゲート電極14を覆う状態でガラス基板1上にゲート絶縁膜31および非晶質の半導体薄膜32をこの順に成膜する工程と、少なくともゲート電極14a上方における半導体薄膜32に対して、ゲート電極14aの延設方向にレーザ光Lhを走査させながら照射することにより、半導体薄膜32を結晶化させる工程とを含んでガラス基板1上に複数の薄膜トランジスタを形成し、さらにこのガラス基板1上に、各薄膜トランジスタに接続された複数の発光素子を形成する表示装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物の結晶体の基板を製造する際における剥離バッファー層をエッチングするための時間を短縮する方法を提供する。
【解決手段】基板の製造方法は、下地基板の上にバッファー層を形成するバッファー層形成工程S1と、バッファー層の上に、バッファー層の一部を覆うマスクパターンを形成するマスクパターン形成工程S2と、バッファー層及びマスクパターンを覆うように、III族窒化物の結晶体を成長させる成長工程S5と、マスクパターンの第1のエッチャントを用いてマスクパターンを選択的にエッチングすることにより、バッファー層の第2のエッチャントを供給するための経路を形成する経路形成工程S6と、経路を介して第2のエッチャントを供給してバッファー層を選択的にエッチングすることにより、結晶体を下地基板から分離する分離工程S7とを備える。 (もっと読む)


【課題】バウの制御のためだけでなく、SiGeエピタキシャル層の品質を改善するために、特にSi基板上に堆積されたSiGe層のクロスハッチ及び表面ラフネスを低減するために、背面層によって形成された応力を用いる適切な解決策を提供すること。
【解決手段】第1の面及び第2の面を有する基板10、前記基板の第1の面に堆積された完全に又は部分的に緩和されたヘテロエピタキシャル層20、及び前記基板の第2の面に堆積された応力相殺層30を有する、半導体ウェハ。 (もっと読む)


【課題】格子定数が異なる複数種類の半導体素子を同一の基板上に混載することが可能な半導体装置とその製造方法。
【解決手段】少なくとも第1、第2のSi1-xGe(0≦x≦1)層14a,14b,14cが絶縁膜13上に形成されている。第1、第2のSi1-xGe(0≦x≦1)層上に対応して少なくとも第1、第2の材料層15,16,17が形成されている。第1、第2のSi1-xGe(0≦x≦1)層層14a,14b,14cの格子定数はその上の第1、第2の材料層15,16,17の格子定数に整合されている。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタを有する半導体装置を安価に大量生産することを可能にする、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】プラスチック基板11等の基板上にアモルファスシリコン層13を形成する工程と、アモルファスシリコン層13をパターニングして、薄膜トランジスタとなる所定のパターンを形成する工程と、その後、パターニングされたアモルファスシリコン層13を結晶化する工程とを有して、薄膜トランジスタを有する半導体装置を製造する。 (もっと読む)


本発明は、AlGa1−xN(式中、0≦x≦3)の組成を有する窒化物の無亀裂単結晶質層(5)を、該層中に引張応力を発生しそうな基材(1)上に形成する方法に関し、該方法は、a)該基材(1)上に核形成層(2)を形成する工程、b)該核形成層(2)上に単結晶質中間層(3)を形成する工程、c)該中間層(3)上に単結晶質種層(4)を形成する工程、d)該種層(4)上にAlGa1−xN窒化物の単結晶質層(5)を形成する工程を含んでなる。この方法の特徴は、−中間層(3)の材料がアルミニウムおよびガリウム窒化物であり、−種層(4)の材料が、ホウ素含有量が0〜10%であるAlBN化合物であり、−種層(4)の厚さと中間層(3)の厚さとの比が0.05〜1であり、−種層(4)を形成する温度が、該無亀裂単結晶質AlGa1−xN窒化物層(5)を形成する温度より50〜150℃高いことである。
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【課題】透明導電膜を薄膜化させた場合においても良好な光閉じこめ効果を有する凹凸構造を形成し、光吸収損失の低減および信頼性の高い薄膜太陽電池およびその製造方法を得ることを目的とする。
【解決手段】本発明における薄膜太陽電池20の製造方法は、(a)透明絶縁基板1を準備する工程と、(b)透明絶縁基板1の表面に凹凸構造を形成する工程と、(c)透明絶縁基板1上に透明電極層4を形成する工程と、(d)透明電極層4上に光電変換層12を形成する工程と、(e)光電変換層12上に裏面電極層8を形成する工程と、を備え、工程(b)は、(f)透明絶縁基板1上に非晶質膜2を形成する工程と、(g)非晶質膜2にレーザ照射を行い、結晶化された結晶質膜3を形成する工程と、(h)結晶質膜3にエッチングを行い、結晶質膜3を除去する工程と、を備える。 (もっと読む)


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