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国際特許分類[H01L21/20]の内容

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【課題】単結晶半導体層と支持基板との間に導電層を形成する半導体装置において、熱による支持基板の反り量の小さくする。また、同半導体装置の生産性の良い作製方法を提供する。
【解決手段】単結晶半導体層と支持基板との間に導電層が形成され、前記単結晶半導体層と前記導電層との間にゲート絶縁膜が形成された構造を有し、前記導電層と支持基板との間に、隙間が設けられる構成を有する。単結晶半導体基板に前記導電層を作製時、第一の絶縁層が単結晶半導体層と支持基板との間に形成されるが、前記導電層形成時に用いたレジスト上に成膜し、この上部の第一の絶縁層はレジストと共に除去することで、第一の絶縁層に凹部を設ける。前記凹部を有した状態で単結晶半導体基板と支持基板とを貼り合わせることで、前記隙間を有する構造とし、また貼りあわせ前の単結晶半導体基板表面平坦化は不要となる。 (もっと読む)


【課題】トランジスタ駆動に適した比抵抗をもつ良質な無機膜を提供する。
【解決手段】一般式Nabcd(式中NはZnまたはMg、MはTi、WまたはMo、QはInまたはFeであり、a,b,c,dは正の実数である)で表される無機膜を、Nの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Mの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Qの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、有機溶媒と、を含む原料液を基板上に塗布成膜し、加熱処理により製造する。 (もっと読む)


【課題】長さが長い線状ビームを照射する際に、線状ビームの長さにわたって被照射物にピントを合わせて処理することを課題とする。
【解決手段】レーザ発振器と、前記レーザ発振器から発振したレーザビームを線状ビームに変える線状光学系と、前記線状ビームが照射される基板を設置するステージと、前記ステージは、ビームプロファイラで調べられた前記線状ビームの焦点位置に沿うように前記基板の表面形状を変形させ、かつ、支持手段を有することを特徴とするレーザ照射装置を用いたレーザ照射方法に関する。さらに、前記基板上に半導体膜を形成し、前記半導体膜を前記線状ビームにより結晶化あるいは活性化する半導体装置の作製方法に関する。 (もっと読む)


【課題】半導体層の電気的あるいは物理的特性の変化を生じることなく半導体層をアニールすることができ、製造効率の向上および大型の製品を製造可能なレーザーアニール方法、およびこの方法により製造された半導体装置を提供する。
【解決手段】この方法は、半導体層上に窒素含有層を形成し(200)、この窒素含有層は少なくとも3×1020原子/ccの窒素濃度を有し、低酸素雰囲気で、前記窒素含有層の第1領域にレーザービームを照射し(202)、低酸素雰囲気で、一部が前記第1領域の一部と重なる前記窒素含有層の第2領域にレーザービームを照射する(204)。 (もっと読む)


【課題】SOI基板のSOI層上に良質なシリコンエピタキシャル層を積層させるのと同時にSOI基板の接合強度も上げることができるSOI基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ボンドウェーハの表面から水素イオン、希ガスイオンの少なくとも一種類のガスイオンをイオン注入してイオン注入層を形成し、前記ボンドウェーハのイオン注入した表面とベースウェーハの表面とを酸化膜を介して貼り合わせた後、前記イオン注入層でボンドウェーハを剥離させることによりSOI層を有するSOI基板を作製し、該SOI層を有するSOI基板に水素を含む還元性雰囲気もしくは塩化水素ガスを含む雰囲気で熱処理を行い、その後前記SOI層の表面をCMPで研磨した後に、前記SOI基板のSOI層上にシリコンエピタキシャル層を成長させることを特徴とする厚膜SOI層を有するSOI基板の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】不純物を含む半導体層の均一な熱処理を可能とする熱処理装置、熱処理方法、及びこの熱処理装置を用いた半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】発熱体と、この発熱体に光を照射する手段とを具備する、前記発熱体からの伝熱により被処理体を熱処理する熱処理装置であって、
前記発熱体が、透明基板と、この透明基板上に設けられ、多数の空孔を有する金属膜と、前記空孔内に充填され、その一部が前記空孔外に突出し、前記被処理体と接触する溶融金属塊とを含み、前記金属膜を構成する材料が前記発熱体の使用上限温度よりも高い融点を有し、前記溶融金属塊を構成する材料が被処理体の歪点よりも低い融点及び前記発熱体の使用上限温度よりも高い沸点を有し、
前記光を照射する手段により前記発熱体を加熱し、その熱を前記溶融金属塊を伝熱媒体として前記被処理体に伝熱して前記被処理体を熱処理する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の特性を向上させることができる連続発振のレーザ装置を用いた半導体装置の作製方法の提供を課題とする。
【解決手段】絶縁表面上に半導体膜を形成し、半導体膜に希ガスを添加し、希ガス雰囲気中で希ガスが添加された半導体膜にレーザ光を照射し、レーザ光の照射の際に半導体膜に磁場を印加し、半導体膜は数μs以上数十μs以下の間溶融している半導体装置の作製方法を提供する。なお、レーザ光は基本波と高調波を合わせることで効率よく半導体膜を結晶化できる。 (もっと読む)


【課題】平均粒径の異なる2つの領域を有する移動度に優れた結晶性半導体膜を備えた半導体基板の製造方法、半導体基板及び表示装置を提供する。
【解決手段】絶縁性の表面を有する基板上に結晶性半導体膜を備えた半導体基板の製造方法であって、上記製造方法は、絶縁性の表面を有する基板上に非晶質半導体膜を成膜する工程と、非晶質半導体膜の一部を結晶化し、第一結晶性半導体膜を形成する第一結晶化工程と、非晶質半導体膜の残部を溶融固化し、第一結晶性半導体膜よりも平均粒径の小さい第二結晶性半導体膜を形成する第二結晶化工程と、第一結晶性半導体膜の平均粒径が第二結晶性半導体膜の平均粒径よりも大きい状態を維持しながら第一結晶性半導体膜及び第二結晶性半導体膜を溶融固化する第三結晶化工程とを含む半導体基板の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】従来に比べ極めて薄いバッファ層を用いて、工業的に安定でかつ低コストで、基板と格子定数の異なる良質の薄膜を形成した半導体基板を提供すること。
【解決手段】基板1は、格子定数xを有するものである。第1の半導体層2は、基板1上に形成され、格子定数yを有し、少なくともSbを含んでいる。第2の半導体層3は、第1の半導体層2上に形成され、格子定数yからzまで格子定数を段階的又は連続的に変化させものである。第3の半導体層4は、第2の半導体層3上に形成され、格子定数zを有するものある。これらの格子定数の関係は、x<z<yの関係を有している。基板1上に格子定数の異なる薄膜を形成する際に、まずSbを含む半導体を形成し、その上層に格子定数を変化させるためのバッファ層を形成することで、従来に比べ薄いバッファ層で結晶欠陥のない薄膜形成が可能となる。 (もっと読む)


【課題】半導体層欠損領域の修復の際に作業時間の増大を回避し、より効率的に修復を行うことができる、貼り合わせ法により単結晶半導体層を設けた半導体基板の製造方法の提供。
【解決手段】その製造方法は、支持基板に単結晶半導体層を貼り合わせ、該単結晶半導体層の欠損領域である半導体層欠損領域を欠損検知装置1により検出し、該単結晶半導体層上及び半導体層欠損領域に非単結晶半導体層を形成し、欠損検知装置1により検出された半導体層欠損領域の位置情報22に基づいて半導体層欠損領域の非単結晶半導体層を結晶化する、又は結晶性を高める処理を行い、その後平坦化処理することにより残存する非単結晶半導体層を除去する。 (もっと読む)


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