国際特許分類[H01L21/225]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 半導体装置またはその部品の製造または処理 (125,986) | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁,例.PN接合,空乏層,キャリア集中層,を有する装置 (97,574) | 不純物,例.ドーピング材料,を含むまたは含まない周期律表第IV族の元素またはA↓I↓I↓IB↓V化合物から成る半導体本体を有する装置 (83,040) | 半導体本体へのまたは半導体本体からのまたは半導体領域間の不純物材料,例.ドーピング材料,電極材料,の拡散;不純物材料の再分布,例.さらなるドーパントの導入または除去をしないもの (951) | 固相,例.ドープされた酸化物層,から固体へのまたは固体から固相への拡散を用いるもの (146)
国際特許分類[H01L21/225]に分類される特許
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半導体装置の作製方法
【課題】 高速性に優れまた高集積化の可能な半導体装置を作製する。
【解決手段】 半導体装置の作製方法であって、半導体上に選択的に一導電型を付与する不純物を含む膜41、42を形成し、一導電型を付与する不純物を含む膜41、42を通して半導体にレーザー光を照射して不純物領域を形成することを特徴とする。
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半導体製造装置
【目的】 高いアスペクト比の微細コンタクトホールへの段差被膜性および埋め込み性が良好な配線膜が形成できる半導体製造装置を得る。
【構成】 フェイスが上向きのウエハ160を搬送する機構と、ウエハ160を搬入および搬出するウエハローディング室80,81と、チタンを蒸発させる点蒸発源が備えられ、窒素ガスが導入されコンタクトホール底部にチタン密着層および窒化チタンバリア層を形成するTiおよびTiN蒸着室43と、それぞれアルミニウムとシリコンと銅等を蒸発させる点蒸発源が備えられ、バリア層上部にアルミ合金配線層を形成するアルミ合金蒸着室42と、フェイスが上向きのウエハ160をフェイスが下向きに反転させるウエハ反転機構70とを備えている。
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半導体装置の製造方法
【目的】 不純物ドープ工程の回数を減らすことが出来る半導体装置の製造方法を提供する。
【構成】 この発明の半導体装置の製造方法では、半導体基板1の表面に不純物濃度の異なる拡散層を形成するにあたり、前記半導体基板表面に絶縁層を形成したのち、比較的不純物濃度の高い拡散層を形成するための部分上の前記絶縁層を部分的に除去し、この除去部分と残る絶縁層部分上にさらに絶縁層形成を行ってから、この絶縁層5上に拡散層を形成する部分を残してレジスト膜を形成して前記絶縁層に対しエッチング処理を施したのち、拡散層を形成するための不純物19のドープを行うことを特徴とする。
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アルミニウムドーパント分布の形成方法
アルミニウムドーパント分布の形成方法
【目的】 シリコン半導体基体内にアルミニウムドーパント分布を形成する。
【構成】 半導体基体の表面に近い領域にアルミニウムを付着させ、引続き酸化雰囲気下にアルミニウムをドライブインさせる。その際酸素とアルミニウムとの相互作用を低下させるために、アルミニウムを付着させた後及びアルミニウムをドライブインする前に半導体基体1の表面にシリコン層4、5又は酸化珪素層を析出させる。
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拡散方法
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