【課題】 微細化に有利な、二重ウェル、及びこの二重ウェルから離れたウェルを備えた不揮発性半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、第１導電型の半導体基板１内に形成された第１導電型の第１ウェル１０と、第１ウェル１０に形成された複数のメモリセルトランジスタＱ５−１、Ｑ５−２と、第１ウェル１０の側面領域を囲む第１部分７、及び第１ウェル１０の下部領域を囲む第２部分９を有し、第１ウェル１０を半導体基板１から電気的に分離する第２導電型の第２ウェルと、半導体基板１内に形成された第２導電型の第３ウェル領域５と、を備える。そして、第３ウェル５の深さＬ１を、第２ウェルの第２部分９の深さＬ２よりも浅くする。 （もっと読む）

【課題】半導体基板内に電気的に区画された磁気検出部に印加される磁界（磁気）の強度に対し発生するホール電圧を増大させて、磁気検出素子としての感度を高めることのできる縦型ホール素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板内の磁気検出部ＨＰとなる所定領域を電気的に区画する分離壁（拡散層１４ａおよび１４ｂ）についてこれを、基板表面から内部へ向けて磁気検出部ＨＰを順次狭める態様で形成する。 （もっと読む）

【課題】 向上した調節能力と高い品質係数Ｑとを有するバラクタ及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、向上した調節能力と高い品質係数Ｑとを有するバラクタ２２、及び、バラクタ２２を製造する方法を提供する。本発明の方法は、従来のＣＭＯＳ処理スキーム又はＢｉＣＭＯＳ処理スキームに組み込むことができる。この方法は、第１の導電型の半導体基板１２と、該基板１２の上部領域１１の下方に配置された、第２の導電型のサブコレクタ１４又は分離ウェル（すなわち、ドープ領域）とを含む構造体であって、該第１の導電型は、第２の導電型とは異なる構造体を準備するステップを含む。次に、複数の分離領域１６が、基板１２の上部領域１１内に形成され、次いで、ウェル領域が、基板１２の上部領域１１内に形成される。場合によっては、本発明のプロセスのこの時点で、ドープ領域１４が形成される。ウェル領域は、第２の導電型の外側ウェル領域２０Ａ及び２０Ｃと、第１の導電型の内側ウェル領域２０Ｂとを含む。ウェル領域の各々のウェルは、分離領域１６によって上面で分離される。次に、内側ウェル領域２０Ｂの上方に、少なくとも第１の導電型のゲート導体２６を有する電界効果トランジスタが形成される。 （もっと読む）

【課題】電力用トランジスタと制御用半導体素子とを共通の基板上に備え、電力用トランジスタにおける電力損失が従来よりも大幅に低減された半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置２００は、トランジスタ２と、トランジスタ２のゲート電位を制御する半導体素子１０、１１とを備え、トランジスタ２および半導体素子１０、１１は共通の炭化珪素基板１の上に形成されており、トランジスタ２と半導体素子１０、１１とを電気的に分離する素子分離領域１２をさらに含む。 （もっと読む）

【課題】 素子分離領域の広がりによる素子形成領域間の拡大等の改善を図る。
【解決手段】 半導体基体１１に、素子分離領域１６が、所定の濃度をもって第１導電型不純物が導入された第１の選択的不純物導入領域１７と、第１の選択的不純物導入領域１７に比し低い所定の不純物濃度の第２導電型不純物が選択的に導入された第２の選択的不純物導入領域１８とによって構成され、第２の選択的不純物導入領域１８の不純物濃度の選定によって第１の選択的不純物導入領域１７からの不純物の横方向拡散による広がり領域における第１導電型の打消しを行って、素子分離領域１６の横方向の実質的広がりを抑制する。 （もっと読む）

【課題】 ＣＭＯＳデバイスのラッチアップ耐性を高める方法及びデバイスを提供する。
【解決手段】 好適な方法は、Ｎウェル及びＰウェルのエッジにインプラントを形成するためハイブリッド・レジストを使用する。インプラントは寄生トランジスタの少数キャリア存続期間を短縮し、よって寄生トランジスタのゲインを少なくする。これによりＣＭＯＳデバイスのラッチアップ傾向が小さくなる。好適な実施例の方法では、従来技術の方法にマスキング・ステップを追加することなくこれらのインプラントを形成できる。更にインプラントを形成する好適な方法により、ウェルのエッジと自己整合するインプラントが得られる。 （もっと読む）