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国際特許分類[H01L21/8232]に分類される特許

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【課題】PINダイオードとMIMキャパシタとを備え、その製造工程の短縮を可能とする構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】GaAs基板10A上に、オーミック電極42a、44aを備えたPINダイオードと、下側電極45と上側電極48cとの間に誘電体層46が介在するMIMキャパシタとが設けられた半導体装置であって、PINダイオードは、GaAs基板10A上に設けられたn型半導体層32およびp型半導体層38と、n型半導体層32上に設けられた第1のオーミック電極42aと、p型半導体層38上に設けられた第2のオーミック電極44aとを具備し、下側電極45は第1のオーミック電極42aと同じ構造を有し、かつ、GaAs基板10Aと下側電極45との間には絶縁膜40が設けられている。 (もっと読む)


【課題】設計自由度が高く、並列化および周波数限定が容易でテラヘルツ電磁波を高効率で受信するテラヘルツ受信素子を提供する。
【解決手段】本発明のテラヘルツ受信素子は、半導体基板と、前記半導体基板の第1の主面上に形成され、ヘテロ接合により形成される2次元電子チャネル層を含む2つ以上の半導体層と、前記2次元電子チャネル層とともに電界効果トランジスタを形成するゲート電極、ドレイン電極およびソース電極と、前記ゲート電極に電気的に接続され、テラヘルツ波を受信するアンテナが形成されたアンテナ層と、前記ゲート電極に直流バイアス電圧を与えるためのゲートパッドとを備える。 (もっと読む)


【課題】工程増加、マスク増加を伴うことなく、回路に影響を与えない導電パスを配置でき、精密なエッチングが可能な半導体装置の製造方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかる半導体装置の製造方法は、半導体基板上に形成された複数の半導体素子が配線で電気的に接続されている集積回路を備える半導体装置の製造方法であって、配線と同じ接続で半導体素子に接続する導電パスを形成し、導電パスで半導体素子を電気的に接続した状態でエッチングし、導電パスと同じ接続で半導体素子に接続する配線を形成するものである。 (もっと読む)


【課題】優れた特性を有し、IC化に適した起動回路を提供する。
【解決手段】N型エピタキシャル層12に形成され、ドレイン領域121を規定するP型素子分離領域13が形成される。ドレイン領域121内にボディ領域15が形成され、ボディ領域15内にN型ソース領域16が形成される。ドレイン領域121とソース領域16間のチャネル領域上にゲート電極20が配置され、LDMOSが形成される。ドレイン領域121と、ゲートとして機能するP型分離領域13とドレイン領域121に印加される電圧により、P型素子分離領域13が逆バイアスされて空乏層が延びるチャネル領域を介して、JFETのソース引出層23が配置され、JFETが形成される。 (もっと読む)


【課題】ECMのインピーダンス変換および増幅を行うために、J−FETをソースホロワでバイポーラトランジスタに接続した増幅素子を採用すると、高入力インピーダンスで低出力インピーダンスの増幅素子が実現するが、歪み特性が悪く、またデバイスのばらつきによってゲインがばらつく問題があった。
【解決手段】 J−FETとバイポーラトランジスタと第1抵抗と第2抵抗で増幅素子を構成し、J−FETのゲートがECMの一端および第1抵抗の一端に接続され、J−FETのドレインがバイポーラトランジスタの入力端子に接続され、バイポーラトランジスタの高電位側が負荷抵抗の一端に接続され、第1抵抗の他端が接地され、J−FETのソース及びバイポーラトランジスタの低電位側が第2抵抗の一端に接続され、第2抵抗の他端は接地され、バイポーラトランジスタの高電位側から出力電圧を取り出す構成とする。 (もっと読む)


【課題】一時的な過電流による接合型電界効果トランジスタの発熱を抑制できる接合型電界効果トランジスタの駆動装置および駆動方法を提供する。
【解決手段】電流検知部90でモニタする電流が閾値電流を超えた場合、接合型電界効果トランジスタ(JFET)32をターンオンするときのゲート電圧をPN接合のビルトイン電圧より大きくする。これにより、JFET32のオン抵抗を低減させてJFET32の発熱を抑制する。一方、電流検知部90によるモニタ電流が閾値電流以下の場合には、ターンオン時のゲート電圧をビルトイン電圧より小さくすることにより、JFET32を高速にスイッチングさせる。 (もっと読む)


【課題】チップの占有面積を有効に活用する。
【解決手段】P型半導体基板11上にN型エピタキシャル層12が形成され、LDMOSとJFETに共通なドレイン領域121を規定するP型素子分離領域13が形成される。ドレイン領域121内にボディ領域15が形成され、ボディ領域15内にN型ソース領域16が形成され、ドレイン領域121とソース領域16間のチャネル領域上にゲート電極20が配置され、LDMOSが形成される。ボディ領域15とP型素子分離領域13との間にJFETのソースとなるN型領域が形成される。ドレインに正のドレイン電圧が印加されると、PN接合が逆バイアスされ、ボディ領域15と分離領域13と半導体基板11とから空乏層が延び、JFETのチャネルを制御する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成によって、一時的な過電流による接合型電界効果トランジスタの発熱を抑制するとともに、接合型電界効果トランジスタの過熱状態を検知することができる接合型電界効果トランジスタの駆動装置および駆動方法を提供する。
【解決手段】電流検知部90でモニタする電流が閾値電流を超えた場合、接合型電界効果トランジスタ(JFET)32をターンオンするときのゲート電圧をPN接合のビルトイン電圧より大きくする。これにより、JFET32のオン抵抗を低減させてJFET32の発熱を抑制する。さらに、オン状態のJFET32に流れるゲート電流IGの温度依存性を利用することによって、JFET32の温度の値を簡単に求めることができる。 (もっと読む)


【課題】発振が抑制できるとともに、直流動作測定を正確に行うことができる半導体装置を提供すること。
【解決手段】GaAs基板11上に形成された複数のドレイン電極15、及び複数のソース電極14と、これらのドレイン電極15とソース電極14との間にそれぞれ形成された複数のゲート電極13と、これらのゲート電極13に接続された複数のゲートバスライン18と、これらのゲートバスライン18にそれぞれ接続された複数のゲートパッド20と、これらのゲートパッド20と複数のゲートバスライン18との間に形成され、複数のソース電極14を接続するソースパッド16と、このソースパッド16に対向する位置に形成され、複数のドレイン電極15を接続する複数のドレインパッド17と、GaAs基板11に埋め込み形成され、複数のゲートパッド20をそれぞれ接続する抵抗21と、複数のドレインパッド17をそれぞれ接続するマイクロストリップライン22と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】耐湿性を向上することのできる化合物半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体装置は、オーミック電極OMEa〜OMEdと、絶縁膜ILと、金を含む配線IC1a〜IC1dと、金を含む配線IC2a〜IC2dとを備えている。絶縁膜ILはオーミック電極OMEa〜OMEdの一部上に形成されている。配線IC1a〜IC1dは、オーミック電極OMEa〜OMEd上で絶縁膜ILが形成されていない部分であって、絶縁膜ILの側面に接触する位置に形成されている。配線IC2a〜IC2dは、絶縁膜IL上および配線IC1a〜IC1d上に形成されている。 (もっと読む)


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