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国際特許分類[H01S5/323]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 誘導放出を用いた装置 (18,077) | 半導体レーザ (12,571) | 活性領域の構造または形状;活性領域に用いられる材料 (2,589) | PN接合からなるもの,例.ヘテロまたはダブルヘテロ構造 (897) | A↓I↓I↓IB↓V族化合物におけるもの,例.AlGaAsレーザ (851)

国際特許分類[H01S5/323]に分類される特許

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【課題】小型化が可能であり容易に作製できる多波長の光半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体レーザ素子1Aは、主面10aが第1の面方位を有するGaN基板10と、主面10aの第1の領域上に成長しており、活性層24を含むレーザ構造部20と、主面10aの第1の領域とは異なる第2の領域に対し接合層41を介して接合されており、表面40aが第1の面方位とは異なる第2の面方位を有するGaN薄膜40と、GaN薄膜40の表面40a上に成長しており、活性層34を含むレーザ構造部30とを備える。活性層24,34は、Inを含む井戸層をそれぞれ有し、これらの井戸層の発光波長は互いに異なる。 (もっと読む)


【課題】 光半導体層の結晶性を向上させつつ、発光効率の低下を招きにくくすることが可能な発光素子を提供する。
【解決手段】 本発明の発光素子は、n型窒化ガリウム系半導体層3と、n型窒化ガリウム系半導体層3上に設けられた、窒化ガリウム系半導体を含む発光層4と、発光層4上に設けられた、発光層4と接するブロック層5を持つp型窒化ガリウム系半導体層6とを有し、ブロック層5は、マグネシウムを含有した電子ブロック層5aと、電子ブロック層5aよりもマグネシウムの含有量が小さい、厚みが3nm以下の正孔トンネル層5bとが積層されている。このような正孔トンネル層5bをブロック層5が有していることから、光半導体層7の結晶性を向上させつつ、発光効率の低下を招きにくくすることができる。 (もっと読む)


【課題】再成長された半導体層をエッチングしてアライメントマークを掘り出す際に、アライメントマークの複数の凹部の形状の崩れを抑制できるアライメントマーク形成方法及び光半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】この方法は、組成中にAlを含む半導体層16と、半導体層16上に成長した半導体層18とを有する半導体積層物10において半導体層18の一部を除去することにより、半導体層16を底面とする複数の凹部22を含むアライメントマーク24を形成する工程と、半導体層18上および複数の凹部22上に埋込半導体層26を成長させる工程と、アライメントマーク24上に形成された埋込半導体層26を除去して複数の凹部22を露出させる工程とを備える。凹部22の幅を1μmより大きく且つ6μmより小さく形成し、凹部22の深さDと凹部22同士の間隔Sとの比(S/D)を3以上とする。 (もっと読む)


【課題】CODが生じにくい窒化物系の半導体レーザ素子を実現できるようにする。
【解決手段】半導体レーザ素子は、空洞部101aを有する基板101と、基板101の上に順次形成された第1導電型の第1クラッド層122、活性層124及び第2導電型の第2クラッド層126を含む半導体層積層体102とを備えている。半導体層積層体102は、第1の端面151と第2の端面152との間に延びるストライプ状の光導波路を有している。空洞部101aは、その壁面からその周囲に応力を及ぼし、活性層124における光導波路の第1の端面を含む部分におけるバンドギャップは、活性層124における他の部分よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】貫通転位密度が低く高い結晶性を有するGaNのa面:<11−20>面やm面:<1−100>面を主面とする基板、或いは<11−22>面を主面とする基板など、多様な面方位の面がサファイア下地基板上に積層されたGaN積層基板、並びにその製造方法を提供する。
【解決手段】サファイア下地基板10と、該基板上に結晶成長せしめて形成された窒化ガリウム結晶層とを含み、該窒化ガリウム結晶層は、サファイア下地基板10の主面に複数本形成された溝部の各側壁21から横方向結晶成長して該主面と平行に表面が形成された、a面やm面などの無極性面、<11−22>面等の半極性面からなり、且つ、該窒化ガリウム結晶の暗点密度が2×10個/cm未満、好ましくは1.85×10個/cm以下、特に好ましくは1.4×10個/cm以下である窒化ガリウム結晶積層基板。 (もっと読む)


【課題】MgドープAlGaNで構成されたp型クラッド層16からなる凸状のリッジ部を有する窒化物半導体レーザ装置の特性を向上させる。
【解決手段】MgドープAlGaNで構成されたp型クラッド層16をドライエッチングしてリッジ部16Aを形成した後、熱リン酸を用いてp型クラッド層16の表面をウェットエッチングすることにより、リッジ部16Aの両側のp型クラッド層16の深さ(膜厚)の制御性を確保しつつ、リッジ部16Aの側面のダメージ層を除去することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体レーザ素子をOpen−Airパッケージで動作させた場合においても、電圧上昇を引き起こすことなく、安定に長時間動作することができる窒化物半導体発光素子とその製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体基板であるn型GaN基板101と、n型GaN基板101上に形成されたp型窒化物半導体層を含む窒化物半導体層とを備え、p型AlGaInNコンタクト層108と、p型AlGaInNコンタクト層108の下のp型AlGaInNクラッド層107と、p型AlGaInN層106からなるp型窒化物半導体層に形成された電流注入領域の上方に、窒化シリコン膜から構成される保護膜113が形成されている。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体積層体の結晶欠陥密度が低減可能な窒化物半導体の積層構造およびその製造方法並びに窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】窒化物半導体の積層構造は、基板10、第1バッファ層12、第1結晶層14、第2バッファ層16、第2結晶層20とを備える。基板10には、段差部10dが形成されている。第1バッファ層12は、InAlGaNを含み、段差下面10bと段差側面10cとを覆う。第1結晶層14は、前記第1バッファ層12の上に設けられ、InAlGaNを含み、前記基板10の上面10aよりも上方に設けられた上面14aを有する。第2バッファ層16は、InAlGaNを含み、前記第1結晶層14の前記上面14aと前記基板10の前記上面10aとを連続して覆う。第2結晶層20は、前記第2バッファ層16を覆い、InAlGaNを含み、前記第1の面20aを有する。 (もっと読む)


【課題】高い発光強度を有する発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】発光素子は、第1導電型のIII−V族窒化物系半導体からなるクラッド層兼コンタクト層4と、コンタクト層4上に形成されInを含有するIII−V族窒化物系半導体からなる活性層5と、活性層5上に形成されIII−V族窒化物系半導体からなるアンドープのキャップ層6と、キャップ層6上に形成され第2導電型のIII−V族窒化物系半導体からなるクラッド層7とを備える。 (もっと読む)


【課題】光利得が高く、低い消費電力で駆動される偏波無依存型光半導体増幅器を提供する。
【解決手段】InP基板1の上方に形成されるn型InPクラッド層2と、InP基板1の上方に形成されるp型InPクラッド層7と、n型InPクラッド層2と前記p型InPクラッド層7の間に形成され、伸張歪が加えられた光活性層5と、光活性層5とn型InPクラッド層2の間に、500nm以上の厚さに形成され、InPと光活性層5の間の大きさのエネルギーバンドギャップ波長を有する化合物半導体から形成されるn型ガイド層3と、を有する (もっと読む)


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