説明

国際特許分類[H03K19/0944]の内容

国際特許分類[H03K19/0944]の下位に属する分類

国際特許分類[H03K19/0944]に分類される特許

101 - 110 / 203


【課題】素子にかかる電圧ストレスを低減したゲート制御回路を提供する。
【解決手段】供給電圧より高電圧レベルの出力を供給してトランスファゲートP2を制御するMOSトランジスタ回路において、2つのクランプ回路CLAMP1,CLAMP2が設けられる。第1クランプ回路CLAMP1は、ポンプ電圧を供給するPMOSトランジスタP1のドレイン/ソースが所定電圧を超えないように、トランジスタP1のゲートとソース/ドレインとの間の電圧を確保する。第2クランプ回路CLAMP2は、NMOSトランジスタN1のゲートと同トランジスタN1のドレイン/ソースに接続される出力との間の電圧が所定量を超えないように保証する。2つのクランプ回路は、ゲートとソース/ドレインとの間の電圧を確保することによりドレイン/ソース端子が所定電圧を超えないようにし、それによりトランジスタP2にかかるゲートストレスを低減する。 (もっと読む)


【課題】オフセット電圧調整機能を有する低消費電力のバッファ回路を提供する。
【解決手段】キャパシタ(50)の一端に入力信号端子(1)が接続され、他端にメインバッファ回路(20)が接続される。外部参照電圧端子(65,60)は各々差動増幅回路(45,40)の非反転入力端子に接続され、差動増幅回路(45,40)の出力は各々DCバイアス用抵抗(10,15)に接続される。各々のDCバイアス用抵抗(10,15)はキャパシタ(50)とメインバッファ回路(20)の間に共に接続される。差動増幅回路(45,40)の出力はレプリカバッファ回路(35,30)に各々接続され、各々のレプリカバッファ回路(35,30)の出力は、差動増幅回路(45,40)の反転入力端子に各々接続される。 (もっと読む)


【課題】長期間の動作が安定する、スピンMOSFETを有する論理回路を提供することを可能にする。
【解決手段】n型もしくはp型のスピンMOSFET4と、n(n≧2)個の入力端子と、スピンMOSFETのゲートとn個の入力端子との間にそれぞれ設けられたn個のコンデンサ6,8とを有する入力回路と、駆動電源とスピンMOSFETのゲートとの間に設けられた第1の抵抗Rp1と、駆動電源とスピンMOSFETのゲートとの間に第1の抵抗と直列に接続され、ゲートにリセット信号を反転した信号を受けるp型MOSFET10と、接地電源とスピンMOSFETのゲートとの間に設けられた第2の抵抗Rn1と、接地電源とスピンMOSFETのゲートとの間に第2の抵抗と直列に接続され、ゲートにリセット信号を受けるn型MOSFET12と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】回路規模を縮減するインピーダンス調整回路の提供。
【解決手段】外付抵抗3と、被調整抵抗5のレプリカをなすレプリカ抵抗4の抵抗値の大小を比較するコンパレータ2と、抵抗制御回路10と、を備え、抵抗制御回路10は、コンパレータ2での比較結果に基づきカウント値をアップ・ダウンしレプリカ抵抗への制御信号を出力するレプリカ抵抗制御カウンタ11と、被調整抵抗5へ与える制御信号を保持する被調整抵抗制御信号保持回路12と、前記カウンタの状態と、前記保持回路の出力を入力し、レプリカ抵抗制御カウンタ11のカウント状態と被調整抵抗制御信号保持回路12の出力(Y)との値の差(|X−Y|)が予め定められた所定範囲内にあるときは、被調整抵抗制御信号保持回路12の出力(Y)を被調整抵抗制御信号保持回路(12)への入力(Z)として供給する監視回路13を備えている。 (もっと読む)


【課題】差動伝送方式の信号伝送回路の消費電力を低減する。
【解決手段】電源電位Vtermが供給される電源配線とグランド電位GNDが供給される電源配線との間に直列接続された差動出力回路10,20,30及び定電流源4を備える。このように、一つの定電流源4が3つの差動出力回路10,20,30に対して共用されており、差動出力回路10の動作に用いられた電流Iは差動出力回路20の動作に再利用され、さらに、差動出力回路20の動作に用いられた電流Iは差動出力回路30の動作に再利用される。これにより、Vterm×Iの消費電力で3つの差動出力回路10,20,30を動作させることが可能となるため、全体的な消費電力が1/3に低減される。 (もっと読む)


【課題】動作するノードのトランジスタを1段で構成することにより、前記論理回路に印加すべき電源電圧を低減して、回路の高速化を実現する。
【解決手段】並列接続された第1および第2のFET(M43,M44)と第1の負荷抵抗(R42)からなる直列回路、並列接続された第3および第4のFET(M41,M42)と第2の負荷抵抗(R41)からなる直列回路を並列に接続して電流制御用FET(M45)を介して直流電源に接続し、前記第1および第2のFETに供給されるゲート信号の論理演算結果を前記第1の負荷抵抗を介して出力する差動論理回路において、前記直流電源の電源端子間に直列接続されるFETは前記電流制御用FETと前記第1,第2,第3,第4のFETのうち何れか1つのみであり、 第1および第2のFETに供給されるゲート信号がともに第1および第2のFETをオフに駆動する信号であるとき第3および第4のFETの少なくとも一方をオンに駆動する。 (もっと読む)


【課題】チップ面積と遅延時間の増大を抑えつつ、漏れ電流を削減するMOSFETによる半導体集積回路
【解決手段】
回路内のMOSFETのチャネル長を調整し、チップ面積と遅延時間の増加を抑えつつ漏れ電流を削減することを特徴とする。回路内にある直列に接続された2つ以上の同一導電型のMOSFETのうち、大きなドレイン・ソース間電圧の絶対値|VDS|が加わるMOSFETのチャネル長を他のMOSFETのチャネル長よりも大きくすることによって、漏れ電流を削減する。 (もっと読む)


【課題】オープンドレイン出力バッファは、出力パッドに印加される比較的高電圧を受ける。
【解決手段】オープンドレインバッファは、多数のフローティングウェルと、出力スイッチングデバイスと、対応するウェル・バイアスセレクタとを有し、ゲート酸化膜が予め定められた値より大きい電圧を受けないようにする。PMOSおよびNMOSウェル・バイアスセレクタは、それぞれ、有効な最高または最低電圧を選択して印加し、対応するウェル領域をバイアスし、デバイススイッチング端子に過剰な電気的ストレスがかからないようにする。端子関連出力にスイッチング関連電圧が印加されると、ウェル・バイアスセレクタは、代わりの端子を選択して最高または最低電圧の選択を連続して行い、適正なウェルバイアス状態を提供する。分圧器は、ウェルバイアス電圧を適正に選択させる基準電圧をフローティングウェルに対して生成する。 (もっと読む)


【課題】 ブローしたヒューズの再結合を防止し、また、プログラム用電源に流れる電流をプログラムビット数に拘らず小さくすることが出来る半導体集積回路を提供する。
【解決手段】 半導体集積回路は、ヒューズ素子1と、ヒューズ素子1の状態を判断するヒュ−ズデータ読み出し回路2と、ヒューズデータ読み出し回路2のデータを保持するヒュ−ズデータ保持回路3と、保持回路3の出力によりヒューズデータ読み出し回路2の読み出しコマンドを制御する読み出し制御回路4とをえる。ブローしたヒューズの再結合を防止し、プログラム用電源に流れる電流をプログラムビット数に拘らず小さくすることが出来る。 (もっと読む)


【課題】電流モード論理回路を構成するトランジスタのバルクバイアスを制御することで、リーク電流を制御でき、応用によってリーク電流よりも高速動作が必要な場合にバルクバイアスを制御して高速動作を可能にする。
【解決手段】本発明の電流モード論理回は、ドレインに第1負荷が接続され、ゲートにデータを印加する入力端子が接続されている第1NMOSトランジスタと、ドレインに第2負荷が接続され、ゲートにネガティブ基準電圧を印加する入力端子が接続されている第2NMOSトランジスタと、前記第1及び第2NMOSトランジスタのそれぞれのソースにドレインが接続され、ゲートに基準電圧を印加する入力端子が接続されている第3NMOSトランジスタとを備え、前記第1、第2、第3NMOSトランジスタのバルクバイアスを制御して前記第1、第2、第3NMOSトランジスタのリーク電流又は動作速度のうちの少なくとも1つを制御する。 (もっと読む)


101 - 110 / 203