トラッキングエラー信号生成装置、トラッキングエラー信号生成方法
【課題】比較対象の２つの信号の両方に信号異常が生じている場合に、適切に異常の検出を行うことができるトラッキングエラー信号生成装置、トラッキングエラー信号生成方法を提供すること
【解決手段】トラッキングエラー信号生成装置１０は、光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する受光素子Ｐ１と、光ディスクの反射光を第１のタイミングから入力遅延時間だけ後の第２のタイミングで受光する受光素子Ｐ４を有する。異常信号検出部１３０は、Ｐ１の出力信号に基づく検出信号ＥＱ１、及びＰ４の出力信号に基づく検出信号ＥＱ４、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する。
【解決手段】トラッキングエラー信号生成装置１０は、光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する受光素子Ｐ１と、光ディスクの反射光を第１のタイミングから入力遅延時間だけ後の第２のタイミングで受光する受光素子Ｐ４を有する。異常信号検出部１３０は、Ｐ１の出力信号に基づく検出信号ＥＱ１、及びＰ４の出力信号に基づく検出信号ＥＱ４、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はトラッキングエラー信号生成装置及びトラッキングエラー信号生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
トラッキングエラー信号の生成方式としてＤＰＤ（Differential Phase Detection）方式が挙げられる。ＤＰＤ方式は、複数の受光素子からの受光信号の位相差を検出し、検出結果に基づいてトラッキングエラー信号を生成する方式である。ＤＰＤ方式は、高密度化された近年の光ディスク記憶媒体を扱う場合であっても他の方式（プッシュプル方式、３ビーム方式）と比べて良好なトラッキング信号を生成できる。そのため、ＤＰＤ方式は、高密度化された光ディスク記憶媒体を扱う光ディスク装置に多く採用されている。
【０００３】
トラッキングエラー信号のばらつきは、再生エラーレートの低下、メディア判別誤操作等の原因となる。そのため、トラッキングエラー信号の信号精度の向上が求められている。トラッキングエラー信号の信号精度の向上のために、ピット幅信号のノイズを除去する必要性が高まっている。
【０００４】
特許文献１には、受光素子からの受光信号の信号歪みの訂正機能を持つトラッキングエラー信号生成装置が開示されている。図１６は、特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【０００５】
トラッキングエラー信号生成装置は、受光素子Ｐ１〜Ｐ４、第１〜４のＧＣＡ（Gain Control Amplifier）３２０〜３２３、第１〜４の比較部３３０〜３３３、第１のエラー訂正部３４０、第２のエラー訂正部３４１、第１の位相差検出部３５０、第２の位相差検出部３５１、ＯＲゲート３６０、３６１、減算器３７０、ＬＰＦ３８０、を有する。
【０００６】
受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、光ディスク記録媒体の記録面からの反射光を受光する。受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、それぞれ第１〜第４のＧＣＡ３２０〜３２３に受光信号を出力する。第１〜第４のＧＣＡ３２０〜３２３は、入力信号を一定振幅に調整し、調整信号Ａ１〜Ａ４をそれぞれ第１〜４の比較器３３０〜３３３に出力する。第１〜４の比較器３３０〜３３３は、入力信号Ａ１〜Ａ４を基準レベルと比較し、比較結果に応じて２進化した信号Ｂ１〜Ｂ４を出力先のエラー訂正部（第１のエラー訂正部３４０または第２のエラー訂正部３４１）に出力する。
【０００７】
第１のエラー訂正部３４０は、入力信号Ｂ１及びＢ２のいずれか一方のレベルが異常に一定幅以上に延長する場合に信号歪みが生じたと判定する。そして、第１のエラー訂正部３４０は、異常が生じた信号を他方の信号と同一レベルに変換して第１の位相差検出部３５０に供給する。第２のエラー訂正部３４１は、第１のエラー訂正部３４０と略同一の動作を行う。
【０００８】
図１７は、第１のエラー訂正部３４０の構成を示すブロック図である。第１のエラー訂正部３４０は、第１のＭＵＸ３４０１、第２のＭＵＸ３４０２、ＸＯＲゲート３４０３、ＯＲゲート３４０４、及びパルス比較部３４０５を有する。第１のエラー訂正部３４０では、入力信号Ｂ１、及びＢ２を用いた論理和演算、排他的論理和演算の演算結果がパルス比較部３４０５に供給される。パルス比較部３４０５は、入力された両信号が同一レベルに保持される区間に対しては、第１のＭＵＸ３４０１及び第２のＭＵＸ３４０２からロウレベルの信号が出力されるように指示する指示信号を出力する。第１のＭＵＸ３４０１及び第２のＭＵＸ３４０２は、供給された信号Ｂ１、Ｂ２をそのまま信号Ｃ１として第１の位相差検出部３５０に出力するか、信号Ｃ１としてロウレベルの信号を第１の位相差検出部３５０に出力する。
【０００９】
図１８は、各信号の変化を示すタイミングチャートである。本例では、区間Ｘ１において信号Ｂ２に信号歪みは生じ、区間Ｘ２において信号Ｂ１に信号歪みは生じている。図示したように、第１のエラー訂正部３４０からの出力信号Ｃ１及びＣ２は、同一波形を持つ。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００４−７１１４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、特許文献１に記載のトラッキングエラー信号生成装置では、第１のエラー訂正部３４０において比較を行う２つの信号の両方に異常が生じた場合に、適切にエラーの検出ができないという問題がある。以下に、詳細を説明する。
【００１２】
符号Ｓ１により示した部分において、信号Ｂ２がロウレベルの間に、信号Ｂ１がロウレベル、ハイレベル、ロウレベルと変化することにより第１のエラー訂正部３４０は異常を検出できる。しかし、信号Ｂ１がハイレベルである期間内に信号Ｂ２がハイレベルとなるような異常が発生する場合には、第１のエラー訂正部３４０は、両信号の異常を検出できない。なぜならば、第１のエラー訂正部３４０内のＸＯＲゲート３４０３の出力及びＯＲゲート３４０４の出力が不一致となるため、第１のエラー訂正部３４０は両信号を正常と判定するためである。
【００１３】
これは、第１のエラー訂正部３４０が、比較対象の信号Ｂ１、Ｂ２を相互に比較し、いずれか一方のレベルが異常に一定幅以上に延長する場合に信号歪みが生じたと判定することに起因する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明にかかるトラッキングエラー信号生成装置の一態様は、
光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する第１の受光素子と、
前記光ディスクの反射光を第２のタイミングで受光する第２の受光素子と、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する異常信号検出部と、を有するものである。
【００１５】
本発明にかかるトラッキングエラー信号生成方法の一態様は、
光ディスクの反射光を第１の受光素子が第１のタイミングで受光し、
前記光ディスクの反射光を第２の受光素子が第２のタイミングで受光し、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する、ものである。
【００１６】
本発明においては、第１及び第２の信号の正常時のエッジ検出順序及びエッジ検出間隔に対して、エッジ検出タイミングがずれているか否かにより信号異常の判定を行う。エッジ検出タイミングのずれは、第１の信号、第２の信号の一方または双方に異常が生じた際に生じる。そのため、第１の信号、第２の信号の双方に信号異常が生じていたとしても、本発明にかかるトラッキングエラー信号生成装置は適切に信号異常の検出を行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、比較対象の２つの信号の両方に信号異常が生じている場合に、適切に異常の検出を行うことができるトラッキングエラー信号生成装置、トラッキングエラー信号生成方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１にかかる２値化部の詳細を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１にかかる２値化部の出力信号を示すタイミングチャートである。
【図４】実施の形態１にかかる異常信号検出部の構成を示すブロック図である。
【図５】実施の形態１にかかるマスク信号出力部の構成を示すブロック図である。
【図６】実施の形態１にかかるマスク信号出力部の動作概念を示す図である。
【図７】実施の形態１にかかる位相比較器の構成を示すブロック図である。
【図８】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図９】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１０】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１１】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１２】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１３】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１４】実施の形態１にかかる位相比較器の動作を示すタイミングチャートである。
【図１５】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の異常検出の動作概念を示すタイミングチャートである。
【図１６】特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】特許文献１にかかるエラー訂正部の構成を示すブロック図である。
【図１８】特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
＜実施の形態１＞
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。トラッキングエラー信号生成装置１０は、光検出器１１０、２値化部１２１〜１２４、異常信号検出部１３０、位相比較器１４１及び１４２、ＯＲゲート１５１及び１５２、減算器１６０、及びＬＰＦ（Low-Pass Filter）１７０を有する。
【００２０】
光検出器１１０は、光ディスク記録媒体の記録面からの反射光を受光する４分割のディテクターであり、受光素子Ｐ１〜Ｐ４を有する。受光素子Ｐ１（第１の受光素子）は、光ディスクトラックの進行方向の関係から受光素子Ｐ４（第２の受光素子）よりも速く光検出を行う。受光素子Ｐ４は、Ｐ１の光検出（第１のタイミング）から所定の時間（本例では入力遅延時間ΔＴＤ）だけ遅れたタイミング（第２のタイミング）に光検出を行う。同様に、受光素子Ｐ２は、光ディスクトラックの進行方向の関係から受光素子Ｐ３よりも速く光検出を行う。受光素子Ｐ３は、Ｐ２の光検出から入力遅延時間ΔＴＤだけ遅れて光検出を行う。受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、受光信号をそれぞれ２値化部１２１〜１２４に供給する。
【００２１】
２値化部１２１は、受光素子Ｐ１の出力信号を調整した後に２値化し、２値化した信号ＥＱ１を異常信号検出部１３０に供給する処理部である。同様に２値化部１２２、１２３、１２４は、それぞれ受光素子Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４の出力信号を２値化した信号ＥＱ２〜４を異常信号検出部１３０に供給する。
【００２２】
２値化部１２１の詳細な構成を図２を参照して説明する。２値化部１２１は、アンプ１２１１と、イコライザ１２１２と、スライサ１２１３と、を有する。受光素子Ｐ１から出力信号が供給されたアンプ１２１１は、当該信号の増幅し、増幅した信号をイコライザ１２１２に供給する。イコライザ１２１２は、アンプ１２１１から供給された信号の増幅率を調整し、調整した信号をスライサ１２１３に供給する。スライサ１２１３は、イコライザ１２１２から供給された信号を２値化した信号ＥＱ１を生成し、生成した２値化信号を異常信号検出部１３０に供給する。
【００２３】
図３は、２値化部１２１の各処理部から出力される信号の信号波形を表わすタイミングチャートである。図３では、出力電圧はＶＨ＞ＶＨ１＞ＶＭ＞ＶＬ１＞ＶＬという関係となる。
【００２４】
信号ＡＭＰ１は、アンプ１２１１の出力信号である。ＡＭＰ１は、Ｔ１に出力電圧ＶＭ、Ｔ２に出力電圧ＶＨ、Ｔ３に出力電圧ＶＭ、Ｔ４に出力電圧ＶＬ、Ｔ５に出力電圧ＶＭ、Ｔ６に出力電圧ＶＨ１、Ｔ７に出力電圧ＶＭ、Ｔ８に出力電圧ＶＬ１、Ｔ９に出力電圧ＶＭ、と遷移する。Ｔ１〜Ｔ５の最短ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬであり、Ｔ５〜Ｔ９の最長ピット幅出力振幅はＶＨ１−ＶＬ１である。最短ピット幅出力振幅は、最長ピット幅出力振幅の約５０％程度となる。
【００２５】
信号Ａ１は、イコライザ１２１２の出力信号である。信号Ａ１は、信号ＡＭＰ１の長周期の増幅率と等しくなるように短周期の増幅率を上げた信号である。信号Ａ１は、Ｔ１に出力電圧ＶＭ、Ｔ２に出力電圧ＶＨ、Ｔ３に出力電圧ＶＭ、Ｔ４に出力電圧ＶＬ、Ｔ５に出力電圧ＶＭ、Ｔ６に出力電圧ＶＨ、Ｔ７に出力電圧ＶＭ、Ｔ８に出力電圧ＶＬ、Ｔ９に出力電圧ＶＭ、と遷移する。Ｔ１〜Ｔ５の最短ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬであり、Ｔ５〜Ｔ９の最長ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬである。最短ピット幅出力振幅は、最長ピット幅出力振幅と等しくなる。
【００２６】
信号ＥＱ１は、スライサ１２１３の出力信号であり、信号Ａ１を２値化した信号である。信号ＥＱ１は、Ｔ１にＶＤＤに立ち上がり、Ｔ３にＧＮＤに立ち下がり、Ｔ５にＶＤＤに立ち上がり、Ｔ７にＧＮＤに立ち下がり、Ｔ９にＶＤＤに立ち上がる。
【００２７】
続いて、図１及び図４、図５を用いて異常信号検出部１３０の構成について説明する。異常信号検出部１３０は、遅延部１３１１〜１３１４、マスク信号出力部１３２１及び１３２２、ＯＲゲート１３７、ＮＯＴゲート１３８、ＡＮＤゲート１３９１〜１３９４を有する。
【００２８】
遅延部１３１１は、入力信号ＥＱ１（第１の信号）を所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ａ（第１の遅延信号）を生成し、信号Ａをマスク信号出力部１３２１に出力する。同様に遅延部１３１２は、入力信号ＥＱ４（第２の信号）を所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ｄ（第２の遅延信号）を生成し、信号Ｄをマスク信号出力部１３２１に出力する。遅延部１３１３及び１３１４は、それぞれ入力信号ＥＱ２、ＥＱ３所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ｂ、Ｃを生成し、信号Ｂ、Ｃをマスク信号出力部１３２１に出力する。
【００２９】
マスク信号出力部１３２１及び１３２２は、入力信号ＥＱ１〜ＥＱ４の異常を検出し、信号異常時に活性化（ハイレベル）となるマスク信号（ＭＡＳＫ＿Ａ〜ＭＡＳＫ＿Ｄ）を生成する処理部である。マスク信号出力部１３２１の詳細な構成を図５を参照して説明する。なお、マスク信号出力部１３２２は、マスク信号出力部１３２１と略同一の機能を有する。
【００３０】
マスク信号出力部１３２１は、ＮＯＴゲート１３３１〜１３３４、ＡＮＤゲート１３３５〜１３３８、ＯＲゲート１３３９及び１３４０、ＡＮＤゲート１３４１、ＮＯＴゲート１３４２及び１３４３、ＤＦＦ（Delay Flip-Flop）１３４４及び１３４５、遅延部１２４６を有する。
【００３１】
ＡＮＤゲート１３３５は、信号ＥＱ１と、信号ＡをＮＯＴゲート１３３１により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３３９に供給する。ＡＮＤゲート１３３６は、信号Ａと、信号ＥＱ１をＮＯＴゲート１３３２により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３３９に供給する。ＯＲゲート１３３９は、ＡＮＤゲート１３３５から供給された信号と、ＡＮＤゲート１３３６から供給された信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＡＮＤゲート１３４１及びＮＯＴゲート１３４２に供給する。
【００３２】
ＡＮＤゲート１３３７は、信号ＥＱ４と、信号ＤをＮＯＴゲート１３３３により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３４０に供給する。ＡＮＤゲート１３３８は、信号Ｄと、信号ＥＱ４をＮＯＴゲート１３３４により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３４０に供給する。ＯＲゲート１３４０は、ＡＮＤゲート１３３７から供給された信号と、ＡＮＤゲート１３３８から供給された信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＡＮＤゲート１３４１及びＮＯＴゲート１３４３に供給する。
【００３３】
ＡＮＤゲート１３４１は、ＯＲゲート１３３９の出力信号と、ＯＲゲート１３４０の出力信号の論理積演算を行い、演算結果をＤＦＦ１３４４及び遅延部１３４６に供給する。ＤＦＦ１３４４は、ＡＮＤゲート１３４１からの出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロック（ＣＬＫ１）とするディレイフリップフロップである。ＤＦＦ１３４４は、出力信号を反転した信号ＭＡＳＫ＿ＡをＯＲゲート１３７に供給する。遅延部１３４６は、入力信号を遅延時間ＮＤだけ遅延させて出力する。ＤＦＦ１３４５は、遅延部１３４６からの出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロック（ＣＬＫ２）とするディレイフリップフロップである。ＤＦＦ１３４５は、出力信号を反転した信号ＭＡＳＫ＿ＤをＯＲゲート１３７に供給する。
【００３４】
再び図４を参照し、異常信号検出部１３０の構成について説明する。ＯＲゲート１３７は、マスク信号出力部１３２１及び１３２２から供給される信号ＭＡＳＫ＿Ａ〜ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和演算を行い、演算結果をＮＯＴゲート１３８に供給する。ＯＲゲート１３７の出力信号は、ＮＯＴゲート１３８により反転される。当該反転信号は、ＡＮＤゲート１３９１〜１３９４に供給される。
【００３５】
ＡＮＤゲート１３９１は、信号Ａと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ１を位相比較器１４１に供給する。ＡＮＤゲート１３９２は、信号Ｂと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ２を位相比較器１４１に供給する。ＡＮＤゲート１３９３は、信号Ｂと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ３を位相比較器１４２に供給する。ＡＮＤゲート１３９４は、信号Ｄと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ４を位相比較器１４２に供給する。ＯＲゲート１３７、ＮＯＴゲート１３８、及びＡＮＤゲート１３９１〜１３９４は、マスク信号を用いて信号異常を訂正する処理部（マスク処理部）として機能する。
【００３６】
次に図６を参照して、マスク信号出力部１３２１の動作概念について説明する。まず、信号ＥＱ４の異常検出について説明する。遅延時間ＮＤは入力遅延時間ΔＴＤよりも大きく設定されているため、信号ＥＱ４が正常である場合には信号ＥＱ１、信号ＥＱ４、信号Ａの順序でエッジが検出されるという性質を持つ。信号ＥＱ４の異常検出にはこの性質を用いる。信号ＥＱ１のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ａが検出されるまでの間に信号ＥＱ４のエッジが検出された場合、信号ＥＱ４は正常と判定される。信号ＥＱ４が正常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。一方、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ａが検出されるまでの間に信号ＥＱ４のエッジが検出されない場合、信号ＥＱ４は異常と判定される。信号ＥＱ４が異常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ａはハイレベルに切り替わる。
【００３７】
続いて、信号ＥＱ１の異常検出について説明する。遅延時間ＮＤは入力遅延時間ΔＴＤよりも大きく設定されているため、信号ＥＱ１が正常である場合には信号ＥＱ４、信号Ａ、信号Ｄの順序でエッジが検出されるという性質を持つ。信号ＥＱ１の異常検出にはこの性質を用いる。信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ｄが検出されるまでの間に信号Ａのエッジが検出された場合、信号ＥＱ１は正常と判定される。信号ＥＱ１が正常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはロウレベルから変化しない。一方、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ｄが検出されるまでの間に信号Ａのエッジが検出されない場合、信号ＥＱ１は異常と判定される。信号ＥＱ１が異常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはハイレベルに切り替わる。
【００３８】
続いて、図７を参照して位相比較器１４１の構成について説明する。なお、位相比較器１４２は、位相比較器１４１と略同一の構成を持つため詳細な説明は省略する。位相比較器１４１は、ＮＡＮＤゲート１４１１、ＯＲゲート１４１２、１４１３、ＮＡＮＤゲート１４１４、１４１５、ＸＯＲゲート１４１６、１４１７、ＮＡＮＤゲート１４１８、ＮＯＴゲート１４１９、１４２０を有する。
【００３９】
ＮＡＮＤゲート１４１１は、信号ＰＣ１とＰＣ２との否定論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１４１２に供給する。ＯＲゲート１４１２は、ＮＡＮＤゲート１４１１から供給される信号と、ＮＯＴゲート１４２０から供給される信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１４に供給する。ＯＲゲート１４１３は、信号ＰＣ１と、信号ＰＣ４と、の論理和演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１５に供給する。
【００４０】
ＮＡＮＤゲート１４１４は、ＯＲゲート１４１２から供給される信号と、ＮＡＮＤゲート１４１５から供給される信号と、の否定論理積演算を行い、演算結果をＸＯＲゲート１４１６、１４１７、及びＮＡＮＤゲート１４１５に供給する。ＮＡＮＤゲート１４１５は、ＯＲゲート１４１３から供給される信号と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の否定論理積演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１４に供給する。
【００４１】
ＸＯＲゲート１４１６は、信号ＰＣ１と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の排他論理和演算を行い、演算結果信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２をＮＡＮＤゲート１４１８に供給するとともに、ＯＲゲート１５１に供給する。ＸＯＲゲート１４１７は、信号ＰＣ２と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の排他論理和演算を行い、演算結果信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２をＮＡＮＤゲート１４１８に供給するとともに、ＯＲゲート１５１に供給する。
【００４２】
ＮＡＮＤゲート１４１８は、ＸＯＲゲート１４１６及び１４１７から供給された信号の否定論理積演算を行い、演算結果をＮＯＴゲート１４１９及び１４２０を介してＯＲゲート１４１２及び１４１３に供給する。
【００４３】
なお、位相比較器１４２は、位相比較器１４１と略同一の構成を有する。位相比較器１４２は、信号ＰＣ３及びＰＣ４が入力される位相比較器１４２は、信号ＯＵＴ_ＵＰ３４をＯＲゲート１５１に供給すると共に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ３４をＯＲゲート１５２に供給する。
【００４４】
再び、図１に戻り、トラッキングエラー信号生成装置１０の構成を説明する。ＯＲゲート１５１は、位相比較器１４１の出力信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２と、位相比較器１４２の出力信号ＯＵＴ＿ＵＰ３４と、を論理和演算し、演算結果信号を減算器１６０に供給する。ＯＲゲート１５２は、位相比較器１４１の出力信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２と、位相比較器１４２の出力信号ＯＵＴ＿ＤＮ３４と、を論理和演算し、演算結果信号を減算器１６０に供給する。
【００４５】
減算器１６０は、ＯＲゲート１５１、１５２から供給された信号を相互に減算する。減算器１６０は、減算結果を信号としてＬＰＦ１７０に供給する。ＬＰＦ１７０は、供給された信号の高周波成分を除去し、トラッキングエラー信号（ＴＥ）を出力する。
【００４６】
続いて、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を図８〜図１３のタイミングチャートを参照して説明する。
【００４７】
信号ＥＱ４に異常が含まれる場合の動作を図８に示すタイミングチャートを参照して説明する。まず、信号ＥＱ１がｔ１１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、遅延部１３１１により信号ＥＱ１を任意遅延時間ＮＤだけ遅延した信号である。信号Ａは、ｔ１１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ１１から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ１５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、遅延部１３１４により信号ＥＱ４を任意遅延時間ＮＤだけ遅延した信号である。信号Ｄは、ｔ１５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。
【００４８】
ここで、ｔ１１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ロウレベルからハイレベルに遷移）されている。そのため、信号ＥＱ４の異常検出信号（マスク信号）であるＭＡＳＫ＿Ａは、ロウレベルから変化しない。ｔ１５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＥＱ１の異常検出信号（マスク信号）であるＭＡＳＫ＿Ｄは、ロウレベルから変化しない。
【００４９】
信号ＥＱ１は、ｔ１３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ１３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ１３から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ１７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ１７からＮＤだけ後のｔ１８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００５０】
ｔ１３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ハイレベルからロウレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。ｔ１７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ロウレベルから変化しない。
【００５１】
信号ＥＱ１は、ｔ２１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ２１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４及び信号Ｄは、ｔ２１からｔ２２の間にはロウレベルから変化しない。信号ＥＱ１は、ｔ２３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ２３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４及び信号Ｄは、ｔ２３からｔ２４の間にはロウレベルから変化しない。
【００５２】
ｔ２１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＥＱ４は異常と判定され、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ２３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２４までの間にも、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＥＱ４は依然として異常であると判定され、信号ＭＡＳＫ＿Ａはｔ２４にはハイレベルから変化しない。
【００５３】
信号ＥＱ１は、ｔ３１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ３１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ３１から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ３５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ３５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。
【００５４】
ここで、ｔ３１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ロウレベルからハイレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ３５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ３６にはロウレベルから変化しない。
【００５５】
信号ＥＱ１は、ｔ３３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ３３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ３３から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ３７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ３７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００５６】
ｔ３３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ハイレベルからロウレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。ｔ３７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ３８にはロウレベルから変化しない。
【００５７】
信号ＰＣ１は、信号ＭＡＳＫ＿Ａと信号ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）の反転出力と、信号Ａと、の論理積である。そのため、信号ＰＣ１は、ｔ１２にハイレベルに切り替わり、ｔ１４にロウレベルに切り替わり、ｔ３２にハイレベルに切り替わり、ｔ３４にロウレベルに切り替わる。信号ＰＣ４は、信号ＭＡＳＫ＿Ａと信号ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）の反転出力と、信号Ｄと、の論理積である。そのため、信号ＰＣ４は、ｔ１６にハイレベルに切り替わり、ｔ１８にロウレベルに切り替わり、ｔ３６にハイレベルに切り替わり、ｔ３８にロウレベルに切り替わる。
【００５８】
このように、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間に信号ＰＣ１及びＰＣ４を不活性化する（ロウレベルに固定される）ことにより、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置は、信号異常の訂正処理を行う。
【００５９】
信号ＥＱ４に異常が含まれる場合の信号遷移について、図９のタイミングチャートを参照してさらに説明する。図９は、ＯＲゲート１３３９、１３４０、ＡＮＤゲート１３４１、及び遅延部１３４６の出力信号の遷移を示している。
【００６０】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ２１〜ｔ２２、ｔ２３〜ｔ２４、ｔ３１〜ｔ３２、ｔ３３〜ｔ３４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ３５〜ｔ３６、ｔ３７〜ｔ３８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ３５〜ｔ３２、ｔ３７〜ｔ３４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ３６〜ｔ３９、ｔ３８〜ｔ４０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ２２からｔ３２の間はハイレベルとなる。
【００６１】
上述の動作を換言すると、ＯＲゲート１３３９の出力信号（第３の信号）がハイレベルとなっている間にＯＲゲート１３４０の出力信号のエッジが検出されない場合、またはＯＲゲート１３４０の出力信号（第４の信号）がハイレベルとなっている間にＯＲゲート１３４０の出力信号のエッジが検出されない場合、異常信号検出部１３０は、信号異常が生じたと判定する。
【００６２】
次に、ＥＱ１に異常になった後に信号ＥＱ４が異常となる場合の動作を図１０に示すタイミングチャートを参照して説明する。ｔ１１〜ｔ１４、ｔ１５〜ｔ１８、ｔ３１〜ｔ３４、ｔ３５〜ｔ３８の期間は、図８に示す動作と同じであるため、説明は省略する。
【００６３】
信号ＥＱ１は、ｔ４１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ４１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ４３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ４３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００６４】
信号ＥＱ４は、ｔ４５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ４５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ４７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ４７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００６５】
ｔ４１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ４３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４４にはハイレベルから変化しない。
【００６６】
ｔ４５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４６までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。また、ｔ４７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４８までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４８にはハイレベルから切り替わらない。
【００６７】
信号ＰＣ１及びＰＣ４は、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間にはロウレベルに固定される。信号異常が生じている期間に、信号ＰＣ１及びＰＣ４をロウレベルに固定することにより、トラッキングエラー信号生成装置は信号異常を除去している。
【００６８】
ＥＱ１に異常になった後に信号ＥＱ４が異常となる場合の信号遷移について、図１１のタイミングチャートを参照してさらに説明する。
【００６９】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ４１〜ｔ４２、ｔ４３〜ｔ４４、ｔ３１〜ｔ３２、ｔ３３〜ｔ３４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ４５〜ｔ４６、ｔ４７〜ｔ４８、ｔ３５〜ｔ３６、ｔ３７〜ｔ３８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ３５〜ｔ３２、ｔ３７〜ｔ３４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ３６〜ｔ３９、ｔ３８〜ｔ４０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４２からｔ３２の間はハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、遅延部１３４６の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４５の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４６からｔ３６の間はハイレベルとなる。
【００７０】
次に、ＥＱ４に異常になった後に信号ＥＱ１が異常となる場合の動作を図１２に示すタイミングチャートを参照して説明する。ｔ１１〜ｔ１４、ｔ１５〜ｔ１８の期間は、図８に示す動作と同じであるため、説明は省略する。
【００７１】
信号ＥＱ１は、ｔ５１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ５１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ５３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ５３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７２】
信号ＥＱ４は、ｔ５５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ５５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ５７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ５７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７３】
ｔ５１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ５３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５４にはハイレベルから変化しない。
【００７４】
ｔ５５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５６までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはｔ５６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ５７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５８までの間に信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ５８にはハイレベルから変化しない。
【００７５】
信号ＥＱ１は、ｔ６１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ６１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ６３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ６３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７６】
信号ＥＱ４は、ｔ６５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ６５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ６７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ６７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７７】
ｔ６１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ６２にハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ６３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ６４ではロウレベルから変化しない。
【００７８】
ｔ６５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ６６にハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ６７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ６６ではロウレベルから変化しない。
【００７９】
ＥＱ４に異常になった後に信号ＥＱ１が異常となる場合の信号遷移について、図１３のタイミングチャートを参照してさらに説明する。
【００８０】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ５１〜ｔ５２、ｔ５３〜ｔ５４、ｔ６１〜ｔ６２、ｔ６３〜ｔ６４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ５５〜ｔ５６、ｔ５７〜ｔ５８、ｔ６５〜ｔ６６、ｔ６７〜ｔ６８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ６５〜ｔ６２、ｔ６７〜ｔ６４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ６６〜ｔ６９、ｔ６８〜ｔ７０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５２からｔ６２の間はハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、遅延部１３４６の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４５の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ５６からｔ６６の間はハイレベルとなる。
【００８１】
信号ＰＣ１及びＰＣ４は、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間にはロウレベルに固定される。信号異常が生じている期間に、信号ＰＣ１及びＰＣ４をロウレベルに固定することにより、トラッキングエラー信号生成装置は信号異常を除去している。
【００８２】
次に、図１４のタイミングチャートを用いて位相比較器１４１の動作を説明する。ｔ１０１の時点に、信号ＰＣ１がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０２の時点に、信号ＰＣ２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０１からｔ１０２の間に、信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０３の時点に、信号ＰＣ１がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１０４の時点に、信号ＰＣ２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１０３からｔ１０４の間に、信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００８３】
ｔ１１１の時点に、信号ＰＣ２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１２の時点に、信号ＰＣ１がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１１からｔ１１２の間に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１３の時点に、信号ＰＣ２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１１４の時点に、信号ＰＣ１がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１１３からｔ１１４の間に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００８４】
続いて、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の効果について説明する。上述したように、入力信号ＥＱ１のエッジ検出（ハイレベルからロウレベルへの切り替わり、またはロウレベルからハイレベルへの切り替わり）から任意の遅延時間（本例では、入力遅延時間ΔＴＤ＜任意遅延時間ＮＤ＜光ディスクの最短ピット幅）に入力信号ＥＱ４のエッジが検出されるか、または、入力信号ＥＱ４のエッジ検出から任意の遅延時間内に入力信号Ａのエッジが検出されるか、により信号異常を検出している。換言すると、正常時動作のエッジ検出順序及びエッジ検出間隔に対して、実際のエッジの検出タイミングがずれているか否かにより信号異常の検出を行っている。エッジ検出タイミングのずれは、検出信号の一方または双方に異常が生じた際に生じる。そのため、図８〜図１３に示したように、信号ＥＱ１及び信号ＥＱ４の一方または双方に信号異常が生じていたとしても、両信号の信号異常を検出できる。
【００８５】
さらに、上述のように信号ＭＡＳＫ＿Ａ及び信号ＭＡＳＫ＿Ｄを生成し、これらの信号を用いて信号異常を訂正する。そのため、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置は、信号異常の訂正した高品質のトラッキングエラー信号を生成することができる。
【００８６】
また、１の検出信号（たとえばＥＱ１）に異常が検出された場合、異常と判定されている期間に信号Ｐ１〜Ｐ４を全てロウレベルに固定し、信号異常の訂正処理を行っている。これにより、信号異常がトラッキングエラー信号の生成に与える影響をより小さくすることが可能である。
【００８７】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態において、検出信号（例えばＥＱ４）のエッジの検出時点から任意遅延時間ＮＤを経過するまでに他の検出信号にかかるエッジが有るか否かにより信号異常を検出したがこれに限られない。検出信号（例えばＥＱ４）のエッジの検出時点から任意遅延時間ＮＤだけ以前の間に他の検出信号にかかるエッジが有るか否かにより信号異常を検出してもよい。この概念の概略図を図１５に示す。
【００８８】
図１５は、上述の図９、図１１、図１３と略同一の構成を持つタイミングチャートである。ここで、ＥＱ４の検出タイミングｔ１から任意時間（例えば任意遅延時間ＮＤ）だけ前の期間内に信号ＥＱ１のエッジが検出されたか否かにより信号異常の判定を行ってもよい。この場合においても、入力遅延時間ΔＴＤよりも遅延時間ＮＤを大きくすることにより、当該期間内にＥＱ１のエッジが検出されなければ信号異常が生じたと判定することができる。すなわち、異常信号判定部は、１の検出信号（例えばＥＱ１）のエッジを検出した時点を基準とする所定の期間（任意の遅延時間だけ前の期間、または任意の遅延時間だけ後の期間）の間に他の検出信号（例えばＥＱ４）のエッジを検出したか否かにより信号異常の判定を行えばよい。
【符号の説明】
【００８９】
１０ トラッキングエラー信号生成装置
１１０ 光検出器
１２１〜１２４ ２値化部
１３０ 異常信号検出部
１４１、１４２ 位相比較器
１５１、１５２ ＯＲゲート
１６０ 減算器
１７０ ＬＰＦ
【技術分野】
【０００１】
本発明はトラッキングエラー信号生成装置及びトラッキングエラー信号生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
トラッキングエラー信号の生成方式としてＤＰＤ（Differential Phase Detection）方式が挙げられる。ＤＰＤ方式は、複数の受光素子からの受光信号の位相差を検出し、検出結果に基づいてトラッキングエラー信号を生成する方式である。ＤＰＤ方式は、高密度化された近年の光ディスク記憶媒体を扱う場合であっても他の方式（プッシュプル方式、３ビーム方式）と比べて良好なトラッキング信号を生成できる。そのため、ＤＰＤ方式は、高密度化された光ディスク記憶媒体を扱う光ディスク装置に多く採用されている。
【０００３】
トラッキングエラー信号のばらつきは、再生エラーレートの低下、メディア判別誤操作等の原因となる。そのため、トラッキングエラー信号の信号精度の向上が求められている。トラッキングエラー信号の信号精度の向上のために、ピット幅信号のノイズを除去する必要性が高まっている。
【０００４】
特許文献１には、受光素子からの受光信号の信号歪みの訂正機能を持つトラッキングエラー信号生成装置が開示されている。図１６は、特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【０００５】
トラッキングエラー信号生成装置は、受光素子Ｐ１〜Ｐ４、第１〜４のＧＣＡ（Gain Control Amplifier）３２０〜３２３、第１〜４の比較部３３０〜３３３、第１のエラー訂正部３４０、第２のエラー訂正部３４１、第１の位相差検出部３５０、第２の位相差検出部３５１、ＯＲゲート３６０、３６１、減算器３７０、ＬＰＦ３８０、を有する。
【０００６】
受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、光ディスク記録媒体の記録面からの反射光を受光する。受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、それぞれ第１〜第４のＧＣＡ３２０〜３２３に受光信号を出力する。第１〜第４のＧＣＡ３２０〜３２３は、入力信号を一定振幅に調整し、調整信号Ａ１〜Ａ４をそれぞれ第１〜４の比較器３３０〜３３３に出力する。第１〜４の比較器３３０〜３３３は、入力信号Ａ１〜Ａ４を基準レベルと比較し、比較結果に応じて２進化した信号Ｂ１〜Ｂ４を出力先のエラー訂正部（第１のエラー訂正部３４０または第２のエラー訂正部３４１）に出力する。
【０００７】
第１のエラー訂正部３４０は、入力信号Ｂ１及びＢ２のいずれか一方のレベルが異常に一定幅以上に延長する場合に信号歪みが生じたと判定する。そして、第１のエラー訂正部３４０は、異常が生じた信号を他方の信号と同一レベルに変換して第１の位相差検出部３５０に供給する。第２のエラー訂正部３４１は、第１のエラー訂正部３４０と略同一の動作を行う。
【０００８】
図１７は、第１のエラー訂正部３４０の構成を示すブロック図である。第１のエラー訂正部３４０は、第１のＭＵＸ３４０１、第２のＭＵＸ３４０２、ＸＯＲゲート３４０３、ＯＲゲート３４０４、及びパルス比較部３４０５を有する。第１のエラー訂正部３４０では、入力信号Ｂ１、及びＢ２を用いた論理和演算、排他的論理和演算の演算結果がパルス比較部３４０５に供給される。パルス比較部３４０５は、入力された両信号が同一レベルに保持される区間に対しては、第１のＭＵＸ３４０１及び第２のＭＵＸ３４０２からロウレベルの信号が出力されるように指示する指示信号を出力する。第１のＭＵＸ３４０１及び第２のＭＵＸ３４０２は、供給された信号Ｂ１、Ｂ２をそのまま信号Ｃ１として第１の位相差検出部３５０に出力するか、信号Ｃ１としてロウレベルの信号を第１の位相差検出部３５０に出力する。
【０００９】
図１８は、各信号の変化を示すタイミングチャートである。本例では、区間Ｘ１において信号Ｂ２に信号歪みは生じ、区間Ｘ２において信号Ｂ１に信号歪みは生じている。図示したように、第１のエラー訂正部３４０からの出力信号Ｃ１及びＣ２は、同一波形を持つ。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００４−７１１４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、特許文献１に記載のトラッキングエラー信号生成装置では、第１のエラー訂正部３４０において比較を行う２つの信号の両方に異常が生じた場合に、適切にエラーの検出ができないという問題がある。以下に、詳細を説明する。
【００１２】
符号Ｓ１により示した部分において、信号Ｂ２がロウレベルの間に、信号Ｂ１がロウレベル、ハイレベル、ロウレベルと変化することにより第１のエラー訂正部３４０は異常を検出できる。しかし、信号Ｂ１がハイレベルである期間内に信号Ｂ２がハイレベルとなるような異常が発生する場合には、第１のエラー訂正部３４０は、両信号の異常を検出できない。なぜならば、第１のエラー訂正部３４０内のＸＯＲゲート３４０３の出力及びＯＲゲート３４０４の出力が不一致となるため、第１のエラー訂正部３４０は両信号を正常と判定するためである。
【００１３】
これは、第１のエラー訂正部３４０が、比較対象の信号Ｂ１、Ｂ２を相互に比較し、いずれか一方のレベルが異常に一定幅以上に延長する場合に信号歪みが生じたと判定することに起因する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明にかかるトラッキングエラー信号生成装置の一態様は、
光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する第１の受光素子と、
前記光ディスクの反射光を第２のタイミングで受光する第２の受光素子と、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する異常信号検出部と、を有するものである。
【００１５】
本発明にかかるトラッキングエラー信号生成方法の一態様は、
光ディスクの反射光を第１の受光素子が第１のタイミングで受光し、
前記光ディスクの反射光を第２の受光素子が第２のタイミングで受光し、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する、ものである。
【００１６】
本発明においては、第１及び第２の信号の正常時のエッジ検出順序及びエッジ検出間隔に対して、エッジ検出タイミングがずれているか否かにより信号異常の判定を行う。エッジ検出タイミングのずれは、第１の信号、第２の信号の一方または双方に異常が生じた際に生じる。そのため、第１の信号、第２の信号の双方に信号異常が生じていたとしても、本発明にかかるトラッキングエラー信号生成装置は適切に信号異常の検出を行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、比較対象の２つの信号の両方に信号異常が生じている場合に、適切に異常の検出を行うことができるトラッキングエラー信号生成装置、トラッキングエラー信号生成方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１にかかる２値化部の詳細を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１にかかる２値化部の出力信号を示すタイミングチャートである。
【図４】実施の形態１にかかる異常信号検出部の構成を示すブロック図である。
【図５】実施の形態１にかかるマスク信号出力部の構成を示すブロック図である。
【図６】実施の形態１にかかるマスク信号出力部の動作概念を示す図である。
【図７】実施の形態１にかかる位相比較器の構成を示すブロック図である。
【図８】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図９】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１０】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１１】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１２】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１３】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【図１４】実施の形態１にかかる位相比較器の動作を示すタイミングチャートである。
【図１５】実施の形態１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の異常検出の動作概念を示すタイミングチャートである。
【図１６】特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。
【図１７】特許文献１にかかるエラー訂正部の構成を示すブロック図である。
【図１８】特許文献１にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を示すタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
＜実施の形態１＞
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図１は、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の構成を示すブロック図である。トラッキングエラー信号生成装置１０は、光検出器１１０、２値化部１２１〜１２４、異常信号検出部１３０、位相比較器１４１及び１４２、ＯＲゲート１５１及び１５２、減算器１６０、及びＬＰＦ（Low-Pass Filter）１７０を有する。
【００２０】
光検出器１１０は、光ディスク記録媒体の記録面からの反射光を受光する４分割のディテクターであり、受光素子Ｐ１〜Ｐ４を有する。受光素子Ｐ１（第１の受光素子）は、光ディスクトラックの進行方向の関係から受光素子Ｐ４（第２の受光素子）よりも速く光検出を行う。受光素子Ｐ４は、Ｐ１の光検出（第１のタイミング）から所定の時間（本例では入力遅延時間ΔＴＤ）だけ遅れたタイミング（第２のタイミング）に光検出を行う。同様に、受光素子Ｐ２は、光ディスクトラックの進行方向の関係から受光素子Ｐ３よりも速く光検出を行う。受光素子Ｐ３は、Ｐ２の光検出から入力遅延時間ΔＴＤだけ遅れて光検出を行う。受光素子Ｐ１〜Ｐ４は、受光信号をそれぞれ２値化部１２１〜１２４に供給する。
【００２１】
２値化部１２１は、受光素子Ｐ１の出力信号を調整した後に２値化し、２値化した信号ＥＱ１を異常信号検出部１３０に供給する処理部である。同様に２値化部１２２、１２３、１２４は、それぞれ受光素子Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４の出力信号を２値化した信号ＥＱ２〜４を異常信号検出部１３０に供給する。
【００２２】
２値化部１２１の詳細な構成を図２を参照して説明する。２値化部１２１は、アンプ１２１１と、イコライザ１２１２と、スライサ１２１３と、を有する。受光素子Ｐ１から出力信号が供給されたアンプ１２１１は、当該信号の増幅し、増幅した信号をイコライザ１２１２に供給する。イコライザ１２１２は、アンプ１２１１から供給された信号の増幅率を調整し、調整した信号をスライサ１２１３に供給する。スライサ１２１３は、イコライザ１２１２から供給された信号を２値化した信号ＥＱ１を生成し、生成した２値化信号を異常信号検出部１３０に供給する。
【００２３】
図３は、２値化部１２１の各処理部から出力される信号の信号波形を表わすタイミングチャートである。図３では、出力電圧はＶＨ＞ＶＨ１＞ＶＭ＞ＶＬ１＞ＶＬという関係となる。
【００２４】
信号ＡＭＰ１は、アンプ１２１１の出力信号である。ＡＭＰ１は、Ｔ１に出力電圧ＶＭ、Ｔ２に出力電圧ＶＨ、Ｔ３に出力電圧ＶＭ、Ｔ４に出力電圧ＶＬ、Ｔ５に出力電圧ＶＭ、Ｔ６に出力電圧ＶＨ１、Ｔ７に出力電圧ＶＭ、Ｔ８に出力電圧ＶＬ１、Ｔ９に出力電圧ＶＭ、と遷移する。Ｔ１〜Ｔ５の最短ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬであり、Ｔ５〜Ｔ９の最長ピット幅出力振幅はＶＨ１−ＶＬ１である。最短ピット幅出力振幅は、最長ピット幅出力振幅の約５０％程度となる。
【００２５】
信号Ａ１は、イコライザ１２１２の出力信号である。信号Ａ１は、信号ＡＭＰ１の長周期の増幅率と等しくなるように短周期の増幅率を上げた信号である。信号Ａ１は、Ｔ１に出力電圧ＶＭ、Ｔ２に出力電圧ＶＨ、Ｔ３に出力電圧ＶＭ、Ｔ４に出力電圧ＶＬ、Ｔ５に出力電圧ＶＭ、Ｔ６に出力電圧ＶＨ、Ｔ７に出力電圧ＶＭ、Ｔ８に出力電圧ＶＬ、Ｔ９に出力電圧ＶＭ、と遷移する。Ｔ１〜Ｔ５の最短ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬであり、Ｔ５〜Ｔ９の最長ピット幅出力振幅はＶＨ−ＶＬである。最短ピット幅出力振幅は、最長ピット幅出力振幅と等しくなる。
【００２６】
信号ＥＱ１は、スライサ１２１３の出力信号であり、信号Ａ１を２値化した信号である。信号ＥＱ１は、Ｔ１にＶＤＤに立ち上がり、Ｔ３にＧＮＤに立ち下がり、Ｔ５にＶＤＤに立ち上がり、Ｔ７にＧＮＤに立ち下がり、Ｔ９にＶＤＤに立ち上がる。
【００２７】
続いて、図１及び図４、図５を用いて異常信号検出部１３０の構成について説明する。異常信号検出部１３０は、遅延部１３１１〜１３１４、マスク信号出力部１３２１及び１３２２、ＯＲゲート１３７、ＮＯＴゲート１３８、ＡＮＤゲート１３９１〜１３９４を有する。
【００２８】
遅延部１３１１は、入力信号ＥＱ１（第１の信号）を所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ａ（第１の遅延信号）を生成し、信号Ａをマスク信号出力部１３２１に出力する。同様に遅延部１３１２は、入力信号ＥＱ４（第２の信号）を所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ｄ（第２の遅延信号）を生成し、信号Ｄをマスク信号出力部１３２１に出力する。遅延部１３１３及び１３１４は、それぞれ入力信号ＥＱ２、ＥＱ３所望の遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号Ｂ、Ｃを生成し、信号Ｂ、Ｃをマスク信号出力部１３２１に出力する。
【００２９】
マスク信号出力部１３２１及び１３２２は、入力信号ＥＱ１〜ＥＱ４の異常を検出し、信号異常時に活性化（ハイレベル）となるマスク信号（ＭＡＳＫ＿Ａ〜ＭＡＳＫ＿Ｄ）を生成する処理部である。マスク信号出力部１３２１の詳細な構成を図５を参照して説明する。なお、マスク信号出力部１３２２は、マスク信号出力部１３２１と略同一の機能を有する。
【００３０】
マスク信号出力部１３２１は、ＮＯＴゲート１３３１〜１３３４、ＡＮＤゲート１３３５〜１３３８、ＯＲゲート１３３９及び１３４０、ＡＮＤゲート１３４１、ＮＯＴゲート１３４２及び１３４３、ＤＦＦ（Delay Flip-Flop）１３４４及び１３４５、遅延部１２４６を有する。
【００３１】
ＡＮＤゲート１３３５は、信号ＥＱ１と、信号ＡをＮＯＴゲート１３３１により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３３９に供給する。ＡＮＤゲート１３３６は、信号Ａと、信号ＥＱ１をＮＯＴゲート１３３２により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３３９に供給する。ＯＲゲート１３３９は、ＡＮＤゲート１３３５から供給された信号と、ＡＮＤゲート１３３６から供給された信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＡＮＤゲート１３４１及びＮＯＴゲート１３４２に供給する。
【００３２】
ＡＮＤゲート１３３７は、信号ＥＱ４と、信号ＤをＮＯＴゲート１３３３により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３４０に供給する。ＡＮＤゲート１３３８は、信号Ｄと、信号ＥＱ４をＮＯＴゲート１３３４により反転させた信号と、の論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１３４０に供給する。ＯＲゲート１３４０は、ＡＮＤゲート１３３７から供給された信号と、ＡＮＤゲート１３３８から供給された信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＡＮＤゲート１３４１及びＮＯＴゲート１３４３に供給する。
【００３３】
ＡＮＤゲート１３４１は、ＯＲゲート１３３９の出力信号と、ＯＲゲート１３４０の出力信号の論理積演算を行い、演算結果をＤＦＦ１３４４及び遅延部１３４６に供給する。ＤＦＦ１３４４は、ＡＮＤゲート１３４１からの出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロック（ＣＬＫ１）とするディレイフリップフロップである。ＤＦＦ１３４４は、出力信号を反転した信号ＭＡＳＫ＿ＡをＯＲゲート１３７に供給する。遅延部１３４６は、入力信号を遅延時間ＮＤだけ遅延させて出力する。ＤＦＦ１３４５は、遅延部１３４６からの出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロック（ＣＬＫ２）とするディレイフリップフロップである。ＤＦＦ１３４５は、出力信号を反転した信号ＭＡＳＫ＿ＤをＯＲゲート１３７に供給する。
【００３４】
再び図４を参照し、異常信号検出部１３０の構成について説明する。ＯＲゲート１３７は、マスク信号出力部１３２１及び１３２２から供給される信号ＭＡＳＫ＿Ａ〜ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和演算を行い、演算結果をＮＯＴゲート１３８に供給する。ＯＲゲート１３７の出力信号は、ＮＯＴゲート１３８により反転される。当該反転信号は、ＡＮＤゲート１３９１〜１３９４に供給される。
【００３５】
ＡＮＤゲート１３９１は、信号Ａと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ１を位相比較器１４１に供給する。ＡＮＤゲート１３９２は、信号Ｂと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ２を位相比較器１４１に供給する。ＡＮＤゲート１３９３は、信号Ｂと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ３を位相比較器１４２に供給する。ＡＮＤゲート１３９４は、信号Ｄと、ＮＯＴゲート１３８の出力信号と、の論理積演算を行い、演算結果信号ＰＣ４を位相比較器１４２に供給する。ＯＲゲート１３７、ＮＯＴゲート１３８、及びＡＮＤゲート１３９１〜１３９４は、マスク信号を用いて信号異常を訂正する処理部（マスク処理部）として機能する。
【００３６】
次に図６を参照して、マスク信号出力部１３２１の動作概念について説明する。まず、信号ＥＱ４の異常検出について説明する。遅延時間ＮＤは入力遅延時間ΔＴＤよりも大きく設定されているため、信号ＥＱ４が正常である場合には信号ＥＱ１、信号ＥＱ４、信号Ａの順序でエッジが検出されるという性質を持つ。信号ＥＱ４の異常検出にはこの性質を用いる。信号ＥＱ１のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ａが検出されるまでの間に信号ＥＱ４のエッジが検出された場合、信号ＥＱ４は正常と判定される。信号ＥＱ４が正常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。一方、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ａが検出されるまでの間に信号ＥＱ４のエッジが検出されない場合、信号ＥＱ４は異常と判定される。信号ＥＱ４が異常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ａはハイレベルに切り替わる。
【００３７】
続いて、信号ＥＱ１の異常検出について説明する。遅延時間ＮＤは入力遅延時間ΔＴＤよりも大きく設定されているため、信号ＥＱ１が正常である場合には信号ＥＱ４、信号Ａ、信号Ｄの順序でエッジが検出されるという性質を持つ。信号ＥＱ１の異常検出にはこの性質を用いる。信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ｄが検出されるまでの間に信号Ａのエッジが検出された場合、信号ＥＱ１は正常と判定される。信号ＥＱ１が正常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはロウレベルから変化しない。一方、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから遅延時間ＮＤだけ後に信号Ｄが検出されるまでの間に信号Ａのエッジが検出されない場合、信号ＥＱ１は異常と判定される。信号ＥＱ１が異常と判定された場合、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはハイレベルに切り替わる。
【００３８】
続いて、図７を参照して位相比較器１４１の構成について説明する。なお、位相比較器１４２は、位相比較器１４１と略同一の構成を持つため詳細な説明は省略する。位相比較器１４１は、ＮＡＮＤゲート１４１１、ＯＲゲート１４１２、１４１３、ＮＡＮＤゲート１４１４、１４１５、ＸＯＲゲート１４１６、１４１７、ＮＡＮＤゲート１４１８、ＮＯＴゲート１４１９、１４２０を有する。
【００３９】
ＮＡＮＤゲート１４１１は、信号ＰＣ１とＰＣ２との否定論理積演算を行い、演算結果をＯＲゲート１４１２に供給する。ＯＲゲート１４１２は、ＮＡＮＤゲート１４１１から供給される信号と、ＮＯＴゲート１４２０から供給される信号と、の論理和演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１４に供給する。ＯＲゲート１４１３は、信号ＰＣ１と、信号ＰＣ４と、の論理和演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１５に供給する。
【００４０】
ＮＡＮＤゲート１４１４は、ＯＲゲート１４１２から供給される信号と、ＮＡＮＤゲート１４１５から供給される信号と、の否定論理積演算を行い、演算結果をＸＯＲゲート１４１６、１４１７、及びＮＡＮＤゲート１４１５に供給する。ＮＡＮＤゲート１４１５は、ＯＲゲート１４１３から供給される信号と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の否定論理積演算を行い、演算結果をＮＡＮＤゲート１４１４に供給する。
【００４１】
ＸＯＲゲート１４１６は、信号ＰＣ１と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の排他論理和演算を行い、演算結果信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２をＮＡＮＤゲート１４１８に供給するとともに、ＯＲゲート１５１に供給する。ＸＯＲゲート１４１７は、信号ＰＣ２と、ＮＡＮＤゲート１４１４から供給される信号と、の排他論理和演算を行い、演算結果信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２をＮＡＮＤゲート１４１８に供給するとともに、ＯＲゲート１５１に供給する。
【００４２】
ＮＡＮＤゲート１４１８は、ＸＯＲゲート１４１６及び１４１７から供給された信号の否定論理積演算を行い、演算結果をＮＯＴゲート１４１９及び１４２０を介してＯＲゲート１４１２及び１４１３に供給する。
【００４３】
なお、位相比較器１４２は、位相比較器１４１と略同一の構成を有する。位相比較器１４２は、信号ＰＣ３及びＰＣ４が入力される位相比較器１４２は、信号ＯＵＴ_ＵＰ３４をＯＲゲート１５１に供給すると共に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ３４をＯＲゲート１５２に供給する。
【００４４】
再び、図１に戻り、トラッキングエラー信号生成装置１０の構成を説明する。ＯＲゲート１５１は、位相比較器１４１の出力信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２と、位相比較器１４２の出力信号ＯＵＴ＿ＵＰ３４と、を論理和演算し、演算結果信号を減算器１６０に供給する。ＯＲゲート１５２は、位相比較器１４１の出力信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２と、位相比較器１４２の出力信号ＯＵＴ＿ＤＮ３４と、を論理和演算し、演算結果信号を減算器１６０に供給する。
【００４５】
減算器１６０は、ＯＲゲート１５１、１５２から供給された信号を相互に減算する。減算器１６０は、減算結果を信号としてＬＰＦ１７０に供給する。ＬＰＦ１７０は、供給された信号の高周波成分を除去し、トラッキングエラー信号（ＴＥ）を出力する。
【００４６】
続いて、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の動作を図８〜図１３のタイミングチャートを参照して説明する。
【００４７】
信号ＥＱ４に異常が含まれる場合の動作を図８に示すタイミングチャートを参照して説明する。まず、信号ＥＱ１がｔ１１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、遅延部１３１１により信号ＥＱ１を任意遅延時間ＮＤだけ遅延した信号である。信号Ａは、ｔ１１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ１１から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ１５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、遅延部１３１４により信号ＥＱ４を任意遅延時間ＮＤだけ遅延した信号である。信号Ｄは、ｔ１５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。
【００４８】
ここで、ｔ１１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ロウレベルからハイレベルに遷移）されている。そのため、信号ＥＱ４の異常検出信号（マスク信号）であるＭＡＳＫ＿Ａは、ロウレベルから変化しない。ｔ１５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＥＱ１の異常検出信号（マスク信号）であるＭＡＳＫ＿Ｄは、ロウレベルから変化しない。
【００４９】
信号ＥＱ１は、ｔ１３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ１３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ１３から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ１７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ１７からＮＤだけ後のｔ１８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００５０】
ｔ１３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ハイレベルからロウレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。ｔ１７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ１８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ロウレベルから変化しない。
【００５１】
信号ＥＱ１は、ｔ２１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ２１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４及び信号Ｄは、ｔ２１からｔ２２の間にはロウレベルから変化しない。信号ＥＱ１は、ｔ２３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ２３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４及び信号Ｄは、ｔ２３からｔ２４の間にはロウレベルから変化しない。
【００５２】
ｔ２１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＥＱ４は異常と判定され、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ２３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ２４までの間にも、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＥＱ４は依然として異常であると判定され、信号ＭＡＳＫ＿Ａはｔ２４にはハイレベルから変化しない。
【００５３】
信号ＥＱ１は、ｔ３１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ３１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ３１から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ３５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ３５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。
【００５４】
ここで、ｔ３１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ロウレベルからハイレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ３５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ３６にはロウレベルから変化しない。
【００５５】
信号ＥＱ１は、ｔ３３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ３３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ３３から入力遅延時間ΔＴＤだけ後のｔ３７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ３７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００５６】
ｔ３３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出（ハイレベルからロウレベルに遷移）されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａはロウレベルから変化しない。ｔ３７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ３８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ３８にはロウレベルから変化しない。
【００５７】
信号ＰＣ１は、信号ＭＡＳＫ＿Ａと信号ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）の反転出力と、信号Ａと、の論理積である。そのため、信号ＰＣ１は、ｔ１２にハイレベルに切り替わり、ｔ１４にロウレベルに切り替わり、ｔ３２にハイレベルに切り替わり、ｔ３４にロウレベルに切り替わる。信号ＰＣ４は、信号ＭＡＳＫ＿Ａと信号ＭＡＳＫ＿Ｄの論理和（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）の反転出力と、信号Ｄと、の論理積である。そのため、信号ＰＣ４は、ｔ１６にハイレベルに切り替わり、ｔ１８にロウレベルに切り替わり、ｔ３６にハイレベルに切り替わり、ｔ３８にロウレベルに切り替わる。
【００５８】
このように、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間に信号ＰＣ１及びＰＣ４を不活性化する（ロウレベルに固定される）ことにより、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置は、信号異常の訂正処理を行う。
【００５９】
信号ＥＱ４に異常が含まれる場合の信号遷移について、図９のタイミングチャートを参照してさらに説明する。図９は、ＯＲゲート１３３９、１３４０、ＡＮＤゲート１３４１、及び遅延部１３４６の出力信号の遷移を示している。
【００６０】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ２１〜ｔ２２、ｔ２３〜ｔ２４、ｔ３１〜ｔ３２、ｔ３３〜ｔ３４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ３５〜ｔ３６、ｔ３７〜ｔ３８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ３５〜ｔ３２、ｔ３７〜ｔ３４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ３６〜ｔ３９、ｔ３８〜ｔ４０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ２２からｔ３２の間はハイレベルとなる。
【００６１】
上述の動作を換言すると、ＯＲゲート１３３９の出力信号（第３の信号）がハイレベルとなっている間にＯＲゲート１３４０の出力信号のエッジが検出されない場合、またはＯＲゲート１３４０の出力信号（第４の信号）がハイレベルとなっている間にＯＲゲート１３４０の出力信号のエッジが検出されない場合、異常信号検出部１３０は、信号異常が生じたと判定する。
【００６２】
次に、ＥＱ１に異常になった後に信号ＥＱ４が異常となる場合の動作を図１０に示すタイミングチャートを参照して説明する。ｔ１１〜ｔ１４、ｔ１５〜ｔ１８、ｔ３１〜ｔ３４、ｔ３５〜ｔ３８の期間は、図８に示す動作と同じであるため、説明は省略する。
【００６３】
信号ＥＱ１は、ｔ４１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ４１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ４３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ４３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００６４】
信号ＥＱ４は、ｔ４５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ４５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ４７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ４７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００６５】
ｔ４１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ４３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４４にはハイレベルから変化しない。
【００６６】
ｔ４５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４６までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。また、ｔ４７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ４８までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４８にはハイレベルから切り替わらない。
【００６７】
信号ＰＣ１及びＰＣ４は、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間にはロウレベルに固定される。信号異常が生じている期間に、信号ＰＣ１及びＰＣ４をロウレベルに固定することにより、トラッキングエラー信号生成装置は信号異常を除去している。
【００６８】
ＥＱ１に異常になった後に信号ＥＱ４が異常となる場合の信号遷移について、図１１のタイミングチャートを参照してさらに説明する。
【００６９】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ４１〜ｔ４２、ｔ４３〜ｔ４４、ｔ３１〜ｔ３２、ｔ３３〜ｔ３４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ４５〜ｔ４６、ｔ４７〜ｔ４８、ｔ３５〜ｔ３６、ｔ３７〜ｔ３８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ３５〜ｔ３２、ｔ３７〜ｔ３４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ３６〜ｔ３９、ｔ３８〜ｔ４０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ４２からｔ３２の間はハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、遅延部１３４６の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４５の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ４６からｔ３６の間はハイレベルとなる。
【００７０】
次に、ＥＱ４に異常になった後に信号ＥＱ１が異常となる場合の動作を図１２に示すタイミングチャートを参照して説明する。ｔ１１〜ｔ１４、ｔ１５〜ｔ１８の期間は、図８に示す動作と同じであるため、説明は省略する。
【００７１】
信号ＥＱ１は、ｔ５１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ５１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ５３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ５３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７２】
信号ＥＱ４は、ｔ５５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ５５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ５７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ５７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７３】
ｔ５１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ５３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５４にはハイレベルから変化しない。
【００７４】
ｔ５５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５６までの間に、信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄはｔ５６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ５７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ５８までの間に信号Ａのエッジが検出されていない。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ５８にはハイレベルから変化しない。
【００７５】
信号ＥＱ１は、ｔ６１にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ６１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６２にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ１は、ｔ６３にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ａは、ｔ６３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６４にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７６】
信号ＥＱ４は、ｔ６５にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ６５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６６にロウレベルからハイレベルに切り替わる。信号ＥＱ４は、ｔ６７にハイレベルからロウレベルに切り替わる。信号Ｄは、ｔ６７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６８にハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００７７】
ｔ６１から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６２までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ６２にハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ６３から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６４までの間に、信号ＥＱ４のエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ６４ではロウレベルから変化しない。
【００７８】
ｔ６５から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６６までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ６６にハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ６７から任意遅延時間ＮＤだけ後のｔ６８までの間に、信号Ａのエッジが検出されている。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ６６ではロウレベルから変化しない。
【００７９】
ＥＱ４に異常になった後に信号ＥＱ１が異常となる場合の信号遷移について、図１３のタイミングチャートを参照してさらに説明する。
【００８０】
ＯＲゲート１３３９の出力信号は、信号ＥＱ１のエッジが検出されてから信号Ａのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１１〜ｔ１２、ｔ１３〜ｔ１４、ｔ５１〜ｔ５２、ｔ５３〜ｔ５４、ｔ６１〜ｔ６２、ｔ６３〜ｔ６４）。ＯＲゲート１３４０の出力信号は、信号ＥＱ４のエッジが検出されてから信号Ｄのエッジが検出されるまでの間にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１６、ｔ１７〜ｔ１８、ｔ５５〜ｔ５６、ｔ５７〜ｔ５８、ｔ６５〜ｔ６６、ｔ６７〜ｔ６８）。ＡＮＤゲート１３４１の出力信号は、ＯＲゲート１３３９の出力信号及びＯＲゲート１３４０の出力信号がともにハイレベルの場合にハイレベルとなる（ｔ１５〜ｔ１２、ｔ１７〜ｔ１４、ｔ６５〜ｔ６２、ｔ６７〜ｔ６４）。遅延部１３４６の出力信号は、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を任意遅延時間ＮＤだけ遅延させた信号であり、ｔ１６〜ｔ１９、ｔ１８〜ｔ２０、ｔ６６〜ｔ６９、ｔ６８〜ｔ７０の期間にハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ＡＮＤゲート１３４１の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３３９の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４４の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ａは、ｔ５２からｔ６２の間はハイレベルとなる。信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、遅延部１３４６の出力信号を入力とし、ＯＲゲート１３４０の反転信号をクロックとするＤＦＦ１３４５の反転出力信号である。そのため、信号ＭＡＳＫ＿Ｄは、ｔ５６からｔ６６の間はハイレベルとなる。
【００８１】
信号ＰＣ１及びＰＣ４は、ＭＡＳＫ信号（ＭＡＳＫ＿Ａ＋ＭＡＳＫ＿Ｄ）が活性化されている期間にはロウレベルに固定される。信号異常が生じている期間に、信号ＰＣ１及びＰＣ４をロウレベルに固定することにより、トラッキングエラー信号生成装置は信号異常を除去している。
【００８２】
次に、図１４のタイミングチャートを用いて位相比較器１４１の動作を説明する。ｔ１０１の時点に、信号ＰＣ１がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０２の時点に、信号ＰＣ２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０１からｔ１０２の間に、信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１０３の時点に、信号ＰＣ１がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１０４の時点に、信号ＰＣ２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１０３からｔ１０４の間に、信号ＯＵＴ＿ＵＰ１２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００８３】
ｔ１１１の時点に、信号ＰＣ２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１２の時点に、信号ＰＣ１がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１１からｔ１１２の間に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２がロウレベルからハイレベルに切り替わる。ｔ１１３の時点に、信号ＰＣ２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１１４の時点に、信号ＰＣ１がハイレベルからロウレベルに切り替わる。ｔ１１３からｔ１１４の間に、信号ＯＵＴ＿ＤＮ１２がハイレベルからロウレベルに切り替わる。
【００８４】
続いて、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置の効果について説明する。上述したように、入力信号ＥＱ１のエッジ検出（ハイレベルからロウレベルへの切り替わり、またはロウレベルからハイレベルへの切り替わり）から任意の遅延時間（本例では、入力遅延時間ΔＴＤ＜任意遅延時間ＮＤ＜光ディスクの最短ピット幅）に入力信号ＥＱ４のエッジが検出されるか、または、入力信号ＥＱ４のエッジ検出から任意の遅延時間内に入力信号Ａのエッジが検出されるか、により信号異常を検出している。換言すると、正常時動作のエッジ検出順序及びエッジ検出間隔に対して、実際のエッジの検出タイミングがずれているか否かにより信号異常の検出を行っている。エッジ検出タイミングのずれは、検出信号の一方または双方に異常が生じた際に生じる。そのため、図８〜図１３に示したように、信号ＥＱ１及び信号ＥＱ４の一方または双方に信号異常が生じていたとしても、両信号の信号異常を検出できる。
【００８５】
さらに、上述のように信号ＭＡＳＫ＿Ａ及び信号ＭＡＳＫ＿Ｄを生成し、これらの信号を用いて信号異常を訂正する。そのため、本実施の形態にかかるトラッキングエラー信号生成装置は、信号異常の訂正した高品質のトラッキングエラー信号を生成することができる。
【００８６】
また、１の検出信号（たとえばＥＱ１）に異常が検出された場合、異常と判定されている期間に信号Ｐ１〜Ｐ４を全てロウレベルに固定し、信号異常の訂正処理を行っている。これにより、信号異常がトラッキングエラー信号の生成に与える影響をより小さくすることが可能である。
【００８７】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態において、検出信号（例えばＥＱ４）のエッジの検出時点から任意遅延時間ＮＤを経過するまでに他の検出信号にかかるエッジが有るか否かにより信号異常を検出したがこれに限られない。検出信号（例えばＥＱ４）のエッジの検出時点から任意遅延時間ＮＤだけ以前の間に他の検出信号にかかるエッジが有るか否かにより信号異常を検出してもよい。この概念の概略図を図１５に示す。
【００８８】
図１５は、上述の図９、図１１、図１３と略同一の構成を持つタイミングチャートである。ここで、ＥＱ４の検出タイミングｔ１から任意時間（例えば任意遅延時間ＮＤ）だけ前の期間内に信号ＥＱ１のエッジが検出されたか否かにより信号異常の判定を行ってもよい。この場合においても、入力遅延時間ΔＴＤよりも遅延時間ＮＤを大きくすることにより、当該期間内にＥＱ１のエッジが検出されなければ信号異常が生じたと判定することができる。すなわち、異常信号判定部は、１の検出信号（例えばＥＱ１）のエッジを検出した時点を基準とする所定の期間（任意の遅延時間だけ前の期間、または任意の遅延時間だけ後の期間）の間に他の検出信号（例えばＥＱ４）のエッジを検出したか否かにより信号異常の判定を行えばよい。
【符号の説明】
【００８９】
１０ トラッキングエラー信号生成装置
１１０ 光検出器
１２１〜１２４ ２値化部
１３０ 異常信号検出部
１４１、１４２ 位相比較器
１５１、１５２ ＯＲゲート
１６０ 減算器
１７０ ＬＰＦ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する第１の受光素子と、
前記光ディスクの反射光を第２のタイミングで受光する第２の受光素子と、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジが検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する異常信号検出部と、を有するトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項２】
前記所定の期間は、前記第１のタイミングから前記第２のタイミングまでの時間に該当する入力遅延時間よりも長く、前記光ディスクの最短ピット幅よりも短いことを特徴とする請求項１に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項３】
前記異常信号検出部は、
前記第１の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成する第１遅延部と、
前記第２の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成する第２遅延部と、
前記第１の信号のエッジ検出から前記第１の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第２の信号のエッジが検出されない場合に前記第２の信号に信号異常が生じていることを示す第２マスク信号を活性化し、
前記第２の信号のエッジ検出から前記第２の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第１の遅延信号のエッジが検出されない場合に前記第１の信号に信号異常が生じていることを示す第１マスク信号を活性化するマスク信号生成部と、
を備えることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項４】
前記異常信号検出部は、
前記第１または前記第２のマスク信号が活性化されている期間に応じて、前記第１の信号及び前記第２の信号を不活性化するマスク部を備えることを特徴とする請求項３に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項５】
前記第１の受光素子の出力信号を増幅する第１のアンプと、
前記第１のアンプが増幅した信号の振幅を調整する第１のイコライザと、
前記第１のイコライザからの出力信号を２値化することにより前記第１の検出信号を生成する第１のスライサと、
前記第２の受光素子の出力信号を増幅する第２のアンプと、
前記第２のアンプが増幅した信号の振幅を調整する第２のイコライザと、
前記第２のイコライザからの出力信号を２値化することにより前記第２の検出信号を生成する第２のスライサと、を有することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項６】
光ディスクに記録されたパルスを検出した第１の信号と、前記第１の信号と異なるタイミングで前記パルスを検出した第２の信号と、が入力され、
前記第１の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第３の信号と、前記第２の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第４の信号と、を生成し、
前記第３の信号、前記第４の信号のいずれか一方のエッジ検出から前記所定の期間内に他方のエッジが検出されない場合には、信号異常が生じていると判定するトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項７】
光ディスクの反射光を第１の受光素子が第１のタイミングで受光し、
前記光ディスクの反射光を第２の受光素子が第２のタイミングで受光し、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する、トラッキングエラー信号生成方法。
【請求項８】
前記所定の期間は、前記第１のタイミングから前記第２のタイミングまでの時間に該当する入力遅延時間よりも長く、前記光ディスクの最短ピット幅よりも短いことを特徴とする請求項７に記載のトラッキングエラー信号生成方法。
【請求項９】
前記信号異常の判定処理では、
前記第１の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成し、
前記第２の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第２の遅延信号を生成し、
前記第１の信号のエッジ検出から前記第１の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第２の信号のエッジが検出されない場合に前記第２の信号に信号異常が生じていることを示す第２マスク信号を活性化し、
前記第２の信号のエッジ検出から前記第２の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第１の遅延信号のエッジが検出されない場合に前記第１の信号に信号異常が生じていることを示す第１マスク信号を活性化することを特徴とする請求項７または請求項８に記載のトラキングエラー信号生成装置。
【請求項１０】
前記第１または前記第２のマスク信号が活性化されている期間に応じて、前記第１の信号及び前記第２の信号を不活性化することを特徴とする請求項９に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項１１】
前記第１の受光素子の出力信号を増幅し、当該増幅した信号の振幅を調整し、当該調整信号を２値化することにより前記第１の信号を生成し、
前記第２の受光素子の出力信号を増幅し、当該増幅した信号の振幅を調整し、当該調整信号を２値化することにより前記第２の信号を生成することを特徴とする請求項７乃至請求項１０のいずれか１項に記載のトラッキングエラー信号生成方法。
【請求項１２】
光ディスクに記録されたパルスを検出した第１の信号と、前記第１の信号と異なるタイミングで前記パルスを検出した第２の信号と、が入力され、
前記第１の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第３の信号と、前記第２の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第４の信号と、を生成し、
前記第３の信号、前記第４の信号のいずれか一方のエッジ検出から前記所定の期間内に他方のエッジが検出されない場合には、信号異常が生じていると判定するトラッキングエラー信号生成方法。
【請求項１】
光ディスクの反射光を第１のタイミングで受光する第１の受光素子と、
前記光ディスクの反射光を第２のタイミングで受光する第２の受光素子と、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジが検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する異常信号検出部と、を有するトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項２】
前記所定の期間は、前記第１のタイミングから前記第２のタイミングまでの時間に該当する入力遅延時間よりも長く、前記光ディスクの最短ピット幅よりも短いことを特徴とする請求項１に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項３】
前記異常信号検出部は、
前記第１の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成する第１遅延部と、
前記第２の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成する第２遅延部と、
前記第１の信号のエッジ検出から前記第１の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第２の信号のエッジが検出されない場合に前記第２の信号に信号異常が生じていることを示す第２マスク信号を活性化し、
前記第２の信号のエッジ検出から前記第２の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第１の遅延信号のエッジが検出されない場合に前記第１の信号に信号異常が生じていることを示す第１マスク信号を活性化するマスク信号生成部と、
を備えることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項４】
前記異常信号検出部は、
前記第１または前記第２のマスク信号が活性化されている期間に応じて、前記第１の信号及び前記第２の信号を不活性化するマスク部を備えることを特徴とする請求項３に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項５】
前記第１の受光素子の出力信号を増幅する第１のアンプと、
前記第１のアンプが増幅した信号の振幅を調整する第１のイコライザと、
前記第１のイコライザからの出力信号を２値化することにより前記第１の検出信号を生成する第１のスライサと、
前記第２の受光素子の出力信号を増幅する第２のアンプと、
前記第２のアンプが増幅した信号の振幅を調整する第２のイコライザと、
前記第２のイコライザからの出力信号を２値化することにより前記第２の検出信号を生成する第２のスライサと、を有することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項６】
光ディスクに記録されたパルスを検出した第１の信号と、前記第１の信号と異なるタイミングで前記パルスを検出した第２の信号と、が入力され、
前記第１の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第３の信号と、前記第２の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第４の信号と、を生成し、
前記第３の信号、前記第４の信号のいずれか一方のエッジ検出から前記所定の期間内に他方のエッジが検出されない場合には、信号異常が生じていると判定するトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項７】
光ディスクの反射光を第１の受光素子が第１のタイミングで受光し、
前記光ディスクの反射光を第２の受光素子が第２のタイミングで受光し、
前記第１の受光素子の出力信号に基づく第１の信号、及び前記第２の受光素子の出力信号に基づく第２の信号、のいずれか一方のエッジを検出した時点を基準として所定の期間だけ前後する期間内に他方のエッジを検出されるか否かに基づいて信号異常が生じているかを判定する、トラッキングエラー信号生成方法。
【請求項８】
前記所定の期間は、前記第１のタイミングから前記第２のタイミングまでの時間に該当する入力遅延時間よりも長く、前記光ディスクの最短ピット幅よりも短いことを特徴とする請求項７に記載のトラッキングエラー信号生成方法。
【請求項９】
前記信号異常の判定処理では、
前記第１の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第１の遅延信号を生成し、
前記第２の信号を前記所定の期間だけ遅延させた第２の遅延信号を生成し、
前記第１の信号のエッジ検出から前記第１の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第２の信号のエッジが検出されない場合に前記第２の信号に信号異常が生じていることを示す第２マスク信号を活性化し、
前記第２の信号のエッジ検出から前記第２の遅延信号のエッジ検出までの間に前記第１の遅延信号のエッジが検出されない場合に前記第１の信号に信号異常が生じていることを示す第１マスク信号を活性化することを特徴とする請求項７または請求項８に記載のトラキングエラー信号生成装置。
【請求項１０】
前記第１または前記第２のマスク信号が活性化されている期間に応じて、前記第１の信号及び前記第２の信号を不活性化することを特徴とする請求項９に記載のトラッキングエラー信号生成装置。
【請求項１１】
前記第１の受光素子の出力信号を増幅し、当該増幅した信号の振幅を調整し、当該調整信号を２値化することにより前記第１の信号を生成し、
前記第２の受光素子の出力信号を増幅し、当該増幅した信号の振幅を調整し、当該調整信号を２値化することにより前記第２の信号を生成することを特徴とする請求項７乃至請求項１０のいずれか１項に記載のトラッキングエラー信号生成方法。
【請求項１２】
光ディスクに記録されたパルスを検出した第１の信号と、前記第１の信号と異なるタイミングで前記パルスを検出した第２の信号と、が入力され、
前記第１の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第３の信号と、前記第２の信号のエッジ検出から所定の期間だけ活性化される第４の信号と、を生成し、
前記第３の信号、前記第４の信号のいずれか一方のエッジ検出から前記所定の期間内に他方のエッジが検出されない場合には、信号異常が生じていると判定するトラッキングエラー信号生成方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【公開番号】特開２０１２−６４２５６（Ｐ２０１２−６４２５６Ａ）
【公開日】平成２４年３月２９日（２０１２．３．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２０５３４０（Ｐ２０１０−２０５３４０）
【出願日】平成２２年９月１４日（２０１０．９．１４）
【出願人】（３０２０６２９３１）ルネサスエレクトロニクス株式会社 (8,021)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年３月２９日（２０１２．３．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年９月１４日（２０１０．９．１４）
【出願人】（３０２０６２９３１）ルネサスエレクトロニクス株式会社 (8,021)
【Ｆターム（参考）】
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