説明

レーザ光源を用いた分光計およびキュベット

【課題】光源にコヒーレント光を発するレーザ光源を用いても、干渉の起こりにくい分光計およびキュベットを提供する。
【解決手段】(1)コヒーレント光を発生するレーザ光源、(2)内部に被分析物を入れる試料空間を備え、前記コヒーレント光をレーザ光源側から該試料空間を通って透過させるキュベット、(3)前記キュベットを透過したコヒーレント光を受光する受光部、を備えた分光計において、前記キュベットの光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜させた。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、レーザ光源を用いた分光計およびそれに用いて好適なキュベットに関する。
【背景技術】
【0002】
分光計は、試料による光の吸収を測定する装置である。分光計は、一般に図1に示すように、光源(発光部)1と検出器(受光部)2との間に反応セルやマイクロプレートなどのキュベット3に入れられた血液や尿などの試料4を設置し、試料4による所定の波長の光の吸収量を吸光度として観測する。
【0003】
最近、この光源1にレーザ光源を用いた分光計が開発されている。レーザ光源には、半導体レーザ、色素レーザ、ガスレーザ、固体レーザ、色中心レーザ等を用いることができるが、高精度で波長選択が可能であることや、小型かつ安価に入手可能であることから、好ましくは半導体レーザが用いられる。
【0004】
また、検出器2には、小型かつ安価に入手可能であることから、フォトダイオードが汎用されている。
【0005】
また、キュベット3には、ガラス(石英など)、あるいは透明樹脂(ポリカーボネート、ポリスチレン、PMMA、COPなど)が素材として用いられ、光学特性向上のため、透過面に鏡面仕上げを施すことが一般的である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開2002−181706号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
従来技術の構成では、光源としてレーザ光源のようなコヒーレント光を使用した場合、その光路上の多重反射などにより干渉を起こし、出力光の不安定要因のひとつとなる。特に反応セルの外壁面と内壁面が平行で、表面粗度が良好なほど、壁面で反射する光と直接進行する光の間で強い干渉が起こる。
【0008】
これは透過光と反射光との位相差が透過面内で一様になるためであり、したがって、干渉の程度は平行度、表面粗度によってまちまちとなり、出力光の不安定化につながる。
【0009】
この問題のために、吸光光度法分析装置の光源としてコヒーレント光を用いることは、技術的に困難であった。
【0010】
本発明は、上述した点に鑑み、光源にコヒーレント光を発するレーザ光源を用いても、干渉の起こりにくい分光計およびキュベットを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0011】
この目的を達成するため、本発明にかかるレーザ光源を用いた分光計は、
(1)コヒーレント光を発生するレーザ光源、
(2)内部に被分析物を入れる試料空間を備え、前記コヒーレント光をレーザ光源側から該試料空間を通って透過させるキュベット、
(3)前記キュベットを透過したコヒーレント光を受光する受光部、
を備えた分光計において、
前記キュベットの光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜させたことを特徴としている。
【0012】
また、前記レーザ光源は、半導体レーザであることを特徴としている。
【0013】
また、前記受光部は、フォトダイオードであることを特徴としている。
【0014】
また、前記光軸に対する傾斜角度は、2〜3°であることを特徴としている。
【0015】
また、本発明にかかるキュベットは、
コヒーレント光の透過光と反射光が干渉を起こさないように、光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜されたことを特徴としている。
【0016】
また、前記傾斜角度は、2〜3°であることを特徴としている。
【0017】
また、前記光が透過する部分の外側側面は、光が入射する側の面と光が出射する側の面とが互いに平行ではないことを特徴としている。
【発明の効果】
【0018】
本発明のレーザ光源を用いた分光計によれば、
(1)コヒーレント光を発生するレーザ光源、
(2)内部に被分析物を入れる試料空間を備え、前記コヒーレント光をレーザ光源側から該試料空間を通って透過させるキュベット、
(3)前記キュベットを透過したコヒーレント光を受光する受光部、
を備えた分光計において、
前記キュベットの光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜させたので、
光源にコヒーレント光を発するレーザ光源を用いても、干渉の起こりにくい分光計を提供することができる。
【0019】
また、本発明のキュベットによれば、
コヒーレント光の透過光と反射光が干渉を起こさないように、光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜されているので、
光源にコヒーレント光を発するレーザ光源を用いても、干渉の起こりにくいキュベットを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】従来の分光計の一例を示す図である。
【図2】本発明にかかる分光計の一実施例を示す全体図である。
【図3】本発明にかかる分光計の別の実施例を示す全体図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
【実施例1】
【0022】
図2に本発明にかかる分光計の一実施例を示す。図中aは、半導体レーザなどのレーザ光源とレンズなどとで構成された発光部である。発光部aから出射したコヒーレント光bは、反応セル、マイクロプレートなどでできたキュベットcに入射する。その際に、数%のコヒーレント光がセル外壁面fのテーパー1で反射される。
【0023】
キュベットcに入射したコヒーレント光bは、液体の被分析物dを透過し、セル外壁面gのテーパー2から出射する。その際にも、数%のコヒーレント光がセル外壁面gのテーパー2で反射される。
【0024】
被分析物dを透過したコヒーレント光bは、フォトダイオードなどで構成された受光部eに入射するが、コヒーレント光bの反射は、発光部aや受光部eなどの構成部品上でも起こる。
【0025】
ところが、本実施例では、透過光と、セル外壁面fのテーパー1で反射された光と、セル外壁面gのテーパー2で反射された光とは、キュベットcの表面が斜めに加工されているために、透過面において反射光と透過光との位相差が一様にならないので、干渉は見かけ上起こらない。さらに、テーパー1とテーパー2が互いに平行ではないため、テーパー面の間での反射光の干渉も起こらない。
【0026】
このように、キュベットcの外壁面に傾きを設けたために、透過光と外壁面での反射光との間で干渉が起こらず、出力光を安定させることが可能になった。
【0027】
なお、セル外壁面fのテーパー1と、セル外壁面gのテーパー2のテーパー角度は、光軸が大きく傾かない程度に十分小さくて良く、2〜3°程度が加工上も妥当である。
【0028】
ただ、同様の効果は、壁面にテーパーを設けるのではなく、無反射マルチコーティング技術を用いても得られると考えられる。しかしながら、その方法は、製造コストが高いという欠点がある。
【実施例2】
【0029】
図3に本発明にかかる分光計の別の実施例を示す。図中aは、半導体レーザなどのレーザ光源とレンズなどとで構成された発光部である。発光部aから出射したコヒーレント光bは、反応セル、マイクロプレートなどでできたキュベットcに入射する。その際に、数%のコヒーレント光がセル外壁面fで反射される。
【0030】
キュベットcに入射したコヒーレント光bは、液体の被分析物dを透過し、セル外壁面gから出射する。その際にも、数%のコヒーレント光がセル外壁面gで反射される。
【0031】
被分析物dを透過したコヒーレント光bは、フォトダイオードなどで構成された受光部eに入射するが、コヒーレント光bの反射は、発光部aや受光部eなどの構成部品上でも起こる。
【0032】
本実施例では、発光部aと受光部eを結ぶ光軸をキュベットcの入射面および出射面に対して2〜3°傾斜させている。このため、透過面において反射光と透過光との位相差が一様にならないので、干渉は見かけ上起こらない。
【0033】
本実施例の場合、キュベットc側に特別な加工は必要ないので、実施例1に比べ、より低コストでコヒーレント光の干渉を防止することができる。
【産業上の利用可能性】
【0034】
分光計に広く利用できる。
【符号の説明】
【0035】
1:光源、2:検出器、3:キュベット、4:試料、a:発光部、b:コヒーレント光、c:キュベット、d:被分析物、e:受光部、f:セル外壁面テーパー1、g:セル外壁面テーパー2

【特許請求の範囲】
【請求項1】
(1)コヒーレント光を発生するレーザ光源、
(2)内部に被分析物を入れる試料空間を備え、前記コヒーレント光をレーザ光源側から該試料空間を通って透過させるキュベット、
(3)前記キュベットを透過したコヒーレント光を受光する受光部、
を備えた分光計において、
前記キュベットの光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜させたことを特徴とするレーザ光源を用いた分光計。
【請求項2】
前記レーザ光源は、半導体レーザであることを特徴とする請求項1記載のレーザ光源を用いた分光計。
【請求項3】
前記受光部は、フォトダイオードであることを特徴とする請求項1記載のレーザ光源を用いた分光計。
【請求項4】
前記光軸に対する傾斜角度は、2〜3°であることを特徴とする請求項1記載のレーザ光源を用いた分光計。
【請求項5】
コヒーレント光の透過光と反射光が干渉を起こさないように、光が透過する部分の外側側面を、コヒーレント光の光軸と直交する面に対して所定の角度で傾斜されたキュベット。
【請求項6】
前記傾斜角度は、2〜3°であることを特徴とする請求項5記載のキュベット。
【請求項7】
前記光が透過する部分の外側側面は、光が入射する側の面と光が出射する側の面とが互いに平行ではないことを特徴とする請求項5記載のキュベット。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【公開番号】特開2010−243311(P2010−243311A)
【公開日】平成22年10月28日(2010.10.28)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−91810(P2009−91810)
【出願日】平成21年4月6日(2009.4.6)
【出願人】(000004271)日本電子株式会社 (811)
【Fターム(参考)】