説明

分光測定装置

【課題】LEDを選別しなくても、LEDが測定試料を照射したときの、LEDの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度のずれを精度良く補正する。
【解決手段】LED制御部41は、LED1〜LED3が白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度が所定の基準反射強度E0R0となるように、LED1〜LED3の駆動電流を調節する。PDは、LED1,LED2が基準発光強度E0で傾斜分光ターゲットTGを照射したときのLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21を検出する。波長算出部42は、PDにより検出されたLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21を、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときに得られる反射特性を規定する関数に代入し、LED1,2の実波長を求める。LED1,2の実波長と、LED1,2の設計値の波長とのずれから反射強度R1L11,R1L21を補正する。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、複数のLEDを用いて測定試料の分光特性を測定する分光測定装置に関するものである。
【背景技術】
【0002】
LEDを用いた簡易型の分光測定装置では、LEDの強度と波長とのばらつきが大きいため、これらのばらつきによる測定試料の反射強度又は透過強度のずれを補正する必要がある。この個体ばらつきに対応するために、設計値に対するばらつきの小さなLEDを選別することが行われている。しかしながら、このようにLEDを選別すると、コストが嵩むという問題がある。また、LEDは環境温度によって、強度と波長とが変化する。精度よく測定するには、この変化を補正する必要がある。
【0003】
特許文献1には、LEDから照射される光の分光特性を測定することによって、LEDの個体差に関わらず、一定濃度の画像を得る露光装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2004−249723号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、特許文献1は、露光装置であり、分光測定装置ではないため、既知の分光特性を持つ分光ターゲットをLEDで照射して得られた透過強度又は反射強度を測定し、測定した透過強度又は反射強度を用いて、測定試料をLEDで照射したときの反射強度又は透過強度を補正することは行われていない。
【0006】
本発明の目的は、LEDを選別しなくても、LEDが測定試料を照射したときの、LEDの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度又は透過強度のずれを精度良く補正することができる分光測定装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0007】
(1)本発明による分光測定装置は、LEDを備える反射型の分光測定装置であって、既知の第1分光特性を持つ第1分光ターゲットと、既知の第2分光特性を持つ第2分光ターゲットと、前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの第1反射強度を検出し、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの第2反射強度を検出し、前記LEDが測定試料を照射したときの試料反射強度を検出する検出部と、前記検出部により検出された前記第1反射強度及び前記第2反射強度を用いて前記LEDの実波長を求める波長算出部と、前記波長算出部により算出された前記実波長を用いて前記試料反射強度を補正して、前記LEDが既知の設計波長で前記測定試料を照射したときの反射強度を求める補正部とを備える。
【0008】
この構成によれば、まず、LEDが第1分光ターゲットを照射し、第1反射強度が検出される。次に、LEDが第2分光ターゲットを照射し、第2反射強度が検出される。
【0009】
次に、第1反射強度及び第2反射強度を用いてLEDの実際の波長である実波長が求められる。次に、LEDが測定試料を照射し、試料反射強度が検出される。次に、LEDの実波長を用いて、試料反射強度が補正され、LEDが設計波長で測定試料を照射したときの反射強度が求められる。
【0010】
これにより、LEDを選別しなくても、LEDの波長及び設計値からのずれにより反射強度のずれを補正することができる。
【0011】
(2)前記第1,第2分光ターゲットは、異なる線形特性を持ち、前記波長算出部は、前記第1反射強度を、前記第1分光ターゲットを前記LEDで照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、かつ、前記第2反射強度を、前記第2分光ターゲットを前記LEDで照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの発光強度及び前記実波長を求めることが好ましい。
【0012】
この構成によれば、LEDの発光強度を基準発光強度に調整するような処理を実行しなくても、LEDの実波長を求め、試料反射強度を補正することができる。したがって、LEDの発光強度を調節するためのAPC等の回路が不要となり、装置の低コスト化を図ることができる。
【0013】
(3)前記第1分光特性は、波長に対する反射率が一定の特性を持ち、前記第2分光特性は、線形特性を持ち、前記LEDの前記第1反射強度が所定の基準反射強度となるように前記LEDを駆動させる駆動制御部を更に備え、前記第2反射強度は、前記LEDが前記基準反射強度を得るための基準発光強度で前記第2分光ターゲットを照射したときの反射強度であり、前記試料反射強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記測定試料を照射したときの反射強度であり、前記波長算出部は、前記第2反射強度を、前記第2分光ターゲットを前記基準発光強度で照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの前記実波長を求めることが好ましい。
【0014】
この構成によれば、まず、LEDが波長に対する反射率が一定の第1分光特性を持つ第1分光ターゲットを照射し、LEDの発光強度が基準発光強度に調整される。次に、LEDが、基準発光特性で線形特性である第2分光特性を持つ第2分光ターゲットを照射し、LEDの反射強度が検出され、LEDの実波長が求められる。そのため、LEDを選別しなくても、LEDが測定試料を照射したときの反射特性を精度良く補正することができる。
【0015】
(4)前記測定試料が載置される載置部を更に備え、前記第1分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す、又は、前記第2分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す引出部とを備えることが好ましい。
【0016】
この構成によれば、第1,第2分光ターゲットを引き出して載置部に載置することで、第1,第2LEDに第1,第2分光ターゲットを照射させることができる。そのため、第1,第2分光ターゲットが、装置とは別に設けられた構成に比べて、測定の煩わしさを抑制することができる。また、第1,第2分光ターゲットの紛失を防止することもできる。
【0017】
(5)本発明による別の分光測定装置は、LEDを備える透過型の分光測定装置であって、既知の第1分光特性を持つ第1分光ターゲットと、前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの第1透過強度を検出し、前記LEDが測定試料を照射したときの試料透過強度を検出する検出部と、前記検出部により検出された前記第1透過強度を用いて、前記LEDの実波長を求める波長算出部と、前記波長算出部により算出された前記実波長を用いて前記試料透過強度を補正して、前記LEDが既知の設計波長で前記測定試料を照射したときの透過強度を求める補正部とを備える。
【0018】
この構成によれば、透過型の分光測定装置において、(1)と同様の効果を得ることができる。
【0019】
(6)既知の第2分光特性を持つ前記第2分光ターゲットを更に備え、前記第1,第2分光ターゲットは、異なる線形特性を持ち、前記検出部は、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの第2透過強度を更に検出し、前記波長算出部は、前記第1透過強度を、前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、かつ、前記第2透過強度を、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの発光強度及び前記実波長を求めることが好ましい。
【0020】
この構成によれば、透過型の分光測定装置において、(2)と同様の効果を得ることができる。
【0021】
(7)前記第1分光ターゲットは、線形特性を持ち、前記検出部は、前記LEDの発光強度を更に検出し、前記LEDの発光強度が所定の基準発光強度となるように前記LEDを駆動させる駆動制御部を更に備え、前記第1透過強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記第1分光ターゲットを照射したときの透過強度であり、前記試料透過強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記測定試料を照射したときの前記の透過強度であり、前記波長算出部は、前記第1透過強度を、前記第1分光ターゲットを前記基準発光強度で照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの前記実波長を求めることが好ましい。
【0022】
この構成によれば、透過型の分光測定装置において、(3)と同様の効果を得ることができる。
【0023】
(8)前記測定試料が載置される載置部を更に備え、前記第1分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す引出部を備えることが好ましい。
【0024】
この構成によれば、透過型の分光測定装置において、(4)と同様の効果を得ることができる。
【0025】
(9)前記LEDは、緑葉のレッドエッジの波長帯域の光を照射することが好ましい。
【0026】
この構成によれば、緑葉のレッドエッジの分光特性を精度良く求めることができる。
【発明の効果】
【0027】
本発明によれば、LEDを選別しなくても、LEDが測定試料を照射したときの、LEDの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度のずれを精度良く補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【0028】
【図1】本発明の実施の形態1による分光測定装置のセンサヘッドの構造を示した図である。
【図2】図2(A)は図1に示すセンサヘッドの下面図であり、図2(B)は図1に示すセンサヘッドの上面図である。
【図3】図1、図2に示す分光測定装置の全体構成図であり、(A)は測定試料を把持する前の状態を示し、(B)は測定試料を把持した状態を示している。
【図4】LEDの発光強度分布のばらつきを示したグラフである。
【図5】緑葉のクロロフィル吸収帯の分光特性を示している。
【図6】緑葉のレッドエッジの分光特性を示している。
【図7】レッドエッジの分光特性の変化の他の指標を算出する場合のグラフである。
【図8】本発明の実施の形態1による分光測定装置のブロック図である。
【図9】LED1,LED2が白色分光ターゲットを照射したときの発光強度分布である。
【図10】傾斜分光ターゲットの分光特性を示したグラフである。
【図11】試料分光特性を示したグラフである。
【図12】試料分光特性を示したグラフである。
【図13】図8に示す分光測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図14】傾斜分光ターゲットTG1,TG2の分光特性を示したグラフである。
【図15】本発明の実施の形態2による分光測定装置の処理を示すフローチャートである。
【図16】本発明の実施の形態3の分光測定装置を示している。
【図17】本発明の実施の形態4の分光測定装置の全体構成図である。
【発明を実施するための形態】
【0029】
(実施の形態1)
実施の形態1による分光測定装置は、反射型であり、LED1〜LED3の放射光を測定試料Sで反射し、PDに導く構成を持つ。図1は、本発明の実施の形態1による分光測定装置のセンサヘッド10の構造を示した図である。図2(A)は図1に示すセンサヘッド10の下面図であり、図2(B)は図1に示すセンサヘッド10の上面図である。以下、LED1〜LED3を特に区別しない場合は、LEDと記述する。
【0030】
センサヘッド10は、LED取付孔12、PD取付孔13、空間部14を備えている。LED取付孔12は、LED1〜LED3に対応して3個存在する。LED取付孔12は、センサヘッド10の上面15から中心線CLに対して所定角度(例えば35度)傾斜したほぼ円筒状の孔であり、先端部にLEDが取り付けられる。中心線CLは、PDの受光面の中心を通り、かつ、PDの受光面と直交する直線である。また、LED取付孔12は、LEDの放射面SFよりも空間部14側に多少突出しており、LEDのフードとしての機能を果たしている。これにより、LEDの放射光が散乱して測定試料Sに導かれることを防止することができる。また、LED取付孔12は空間部14と連通し、LEDからの光が測定試料Sへと導かれる。
【0031】
PD取付孔13は、センサヘッド10の上面15から中心線CLに沿って下方向に向けて穿設されたほぼ円筒状の孔であり、先端に位置する段差部131においてPDが取り付けられる。また、PD取付孔13の先端は空間部14と連通している。
【0032】
空間部14は、センサヘッド10の下面11から中心線CLに沿って上方向に向けて穿設されたほぼ円筒状の孔であり、LED1〜LED3の光を測定試料Sに導き、かつ、測定試料Sの反射光をPDに導く。
【0033】
センサヘッド10の下面11は平面状になっており、測定台30とで測定試料Sを挟持する。センサヘッド10の下面11の中央は測定窓Wが形成されている。図2(A)に示すように、測定窓Wは下面11から見ると円形である。測定窓Wの中心よりもやや右側には、PD取付孔13の開口部132が位置している。そして、開口部132は、測定試料Sの反射光をPDの受光面に導く。
【0034】
LED1〜LED3は、下面11から見ると、中心線CLを中心として、一定の直径を持つ円周上に等間隔で配置されている。LED開口部121〜123は、下面11から見ると、中心線CLを中心として、一定の半径を持ち、かつ、LED1〜LED3が配置されている円周よりも直径の小さな円周上に等間隔で設けられている。そして、LED開口部121〜123は、それぞれ、LED1〜LED3の放射光を測定試料Sに導く。
【0035】
LED1〜LED3は、上面15から見ると、中心線CLを中心として、一定の半径を持つ円周上に等間隔で配置されている。PDは、上面15から見ると上面15の中心よりもやや右側に配置されている。
【0036】
測定試料Sは、波長により反射率の異なる分光特性を持っている。そして、本分光測定装置は、ある波長域における測定試料Sの反射強度の変化を検出し、測定試料Sの分光特性の変化から測定試料Sの状態変化を把握する。
【0037】
なお、図1では、LEDの個数は3個としたが、本発明はこれに限定されず、2個であってもよいし、4,5,6個以上の所定個数であってもよい。また、図1では、PDの個数は1個としたが、本発明はこれに限定されず、複数個にしてもよく、この場合、各LEDに1個ずつPDを対応させてもよい。
【0038】
LED1〜LED3は、各光軸が測定試料Sにおいて同一位置に位置し、かつ、中心線CLから一定の角度(例えば35度)となるように配置されている。
【0039】
本実施の形態では、LED1〜LED3のピーク波長は、それぞれ、720nm,735nm,LED780nmとする。
【0040】
図3は、図1、図2に示す分光測定装置の全体構成図であり、(A)は測定試料Sを把持する前の状態を示し、(B)は測定試料Sを把持した状態を示している。図3の例では、測定試料Sとして例えば緑葉が採用されている。
【0041】
図3(A)に示すように、分光測定装置は、センサヘッド10、把持部20、測定台30、制御部40、回転軸50、及び固定台60を備えている。センサヘッド10は、図1、図2で示したセンサヘッド10であり、把持部20の先端側に設けられている。
【0042】
把持部20は、基端側に回転軸50が取り付けられ、例えば平板形状を持ち、回転軸50を中心として、紙面において時計回り、又は反時計回りの方向に回転可能に取り付けられている。
【0043】
測定台30は、平板形状を持ち、測定時においては、図3(B)に示すように、把持部20とで測定試料Sを挟む。制御部40は、測定台30の内部に設けられ、例えば、CPU、ROM、RAM等を含むマイクロコンピュータや専用のハードウェア回路により構成され、分光測定装置の全体制御を司る。回転軸50は、固定台60に対して紙面と直交する方向に取り付けられ、把持部20を軸支する。固定台60は、測定台30の基端側において、上側に向けて立設して取り付けられている。バッテリ70は、例えば二次電池により構成され、測定台30の内部に設けられ、制御部40、LED1〜LED3、PD等に電力を供給する。
【0044】
緑葉や果樹においては、結実してからのある時期に灌水量を調節すると、糖度が増すことが確認されている。つまり、樹体に与える水分量を調節して、樹体に有る程度の水分ストレス(樹体の渇き)をかけると、糖度が増すのである。そして、緑葉や果樹にかかっている水分ストレス量は、例えば、特開2005−308733号公報に開示されているように緑葉や果樹の測定試料の分光特性の変化を検出することで把握することができる。
【0045】
図4は、LEDの発光強度分布のばらつきを示したグラフであり、縦軸は発光強度(E)を示し、横軸は波長(λ)を示している。
【0046】
本分光測定装置は、コストダウンのため、光源としてLEDを採用し、プリズムや回折格子のように高価な光学部品は用いていない。そのため、測定試料Sの反射光をPDで検出するのみとなり、LEDの発光強度及び波長の設計値からのずれが測定精度に影響を及ぼしてしまう。
【0047】
図4の例では、ある1つのLEDは、ピークの発光強度とピーク波長の設計値が(E0,λ0)であるにも関わらず、実際には、ピークの発光強度とピーク波長とが(E1,λ1)となっている。以下、LEDのピークの発光強度をLEDの発光強度と記述し、LEDのピーク波長をLEDの波長と記述する。
【0048】
別のLEDは、波長と発光強度との設計値が(E0,λ0)であるにも関わらず、実際には、(E2,λ2)となっている。
【0049】
現状、LEDは、波長のばらつきが±20nm程度、発光強度のばらつきが−50%〜+200%程度である。従来、LEDのばらつき対策として、LEDの選別を行っていたが、コストがかかるという問題があった。
【0050】
そこで、本分光測定装置では、LEDを選別することなく、LEDが測定試料を照射したときのLEDの波長及び発光強度の設計値からのずれに起因する反射強度のずれを精度良く補正する手法を提供する。また、LEDは、環境温度によっても波長と発光強度とが変化する。本分光測定装置による手法では、環境温度によるLEDの発光強度と波長との変化による反射強度のずれも補正することができる。
【0051】
図5は、緑葉のクロロフィル吸収帯の分光特性を示し、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。クロロフィル吸収帯とは、緑葉の分光特性のうち、600nm〜700nmの波長帯を指す。図5において、グラフG41は、前回測定した緑葉の分光特性を示し、グラフG42は、今回測定した緑葉の分光特性を示している。また、グラフC41はLEDの設計値の発光強度分布であり、グラフC42はLEDの実際の発光強度分布であり、グラフC43はLEDの実際の発光強度E1を所定の基準発光強度E0に調整したときのLEDの発光強度分布である。
【0052】
クロロフィル吸収帯では、図5に示すように、測定試料Sの分光特性の変化として△Rを測定することが行われる。ΔRは、グラフG41の波長λ0における反射強度とグラフG42における波長λ0の反射強度との差である。以下、ΔRを求める場合の処理の概要を示す。
【0053】
グラフC41で示すように、LEDの波長及び発光強度の設計値は(λ0,E0)である。LEDのばらつき補正は、反射強度補正、波長補正の順番で行う。まず、LEDの発光強度が所定の基準発光強度E0となるように、LEDの駆動電流を調整する。これにより、LEDの発光強度分布は、グラフC42からグラフC43へと変化する。
【0054】
LEDの発光強度をE1から基準発光強度E0に調整後にLEDの波長がλ1にずれているのは、LEDの自己発熱によるものである。よって、LEDの補正は、第一に発光強度補正、第二に波長補正の順番で行う必要がある。
【0055】
次に、グラフC43で示すLEDの波長λ1を測定する。次に、波長λ0と波長λ1との差△λを算出する。次に、グラフC43で示す発光強度分布を持つLED、つまり、基準発光強度E0及び波長λ1のLEDで測定試料Sを照射したときの反射強度をPDで検出し、この反射強度を差Δλを用いて補正し、グラフC41で示す発光強度分布を持つLED、つまり、波長λ0のLEDで測定試料Sを照射したときの反射強度を求める。そして、前回の測定時に得られた波長λ0の反射強度と、今回の測定時に得られた波長λ0の反射強度との差を求め、ΔRを得る。
【0056】
図6は、緑葉のレッドエッジの分光特性を示し、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。レッドエッジとは、緑葉の分光特性のうち、700nm〜800nmの波長帯を指す。図6において、グラフG51は、前回測定したレッドエッジの分光特性を示し、グラフG52は、今回測定したレッドエッジの分光特性を示している。
【0057】
また、グラフC51はLEDAの実際の発光強度分布であり、グラフC52はLEDAの発光強度を所定の基準発光強度E0に調整したときのLEDAの発光強度分布である。グラフC53はLEDBの実際の発光強度分布であり、グラフC54はLEDBの発光強度を所定の基準発光強度E0に調整したときのLEDBの発光強度分布である。
【0058】
レッドエッジの分光特性はほぼ線形であるため、図6に示すように、測定試料Sの分光特性の変化として△θを測定し、レッドエッジの分光特性の評価が行われる。Δθは、グラフG51の傾きとグラフG52の傾きとの差である。よって、レッドエッジの分光特性の評価では、少なくとも2個のLEDA,LEDBが必要となる。LEDAの波長及び発光強度の設計値は(λL10,E0)である。また、LEDBの波長及び発光強度の設計値は(λL20,E0)である。
【0059】
以下、Δθを得るまでの処理の概要を示す。レッドエッジの分光特性を測定する場合においても、図5と同様、LEDのばらつき補正は、発光強度補正、波長補正の順番で行う。
【0060】
まず、LEDA,LEDBの発光強度がE0となるように、LEDA,LEDBの駆動電流を調整する。これにより、LEDAの発光強度分布はグラフC51からグラフC52に変化し、LEDBの発光強度分布はグラフC53からグラフC54に変化する。
【0061】
次に、LEDAの波長λL11及びLEDBの波長λL21を測定する。次に、波長λL11及び波長λL10の差Δλ1を求める。また、波長λL21及び波長λL20の差Δλ2を求める。次に、グラフC52の発光強度分布を持つLEDA、つまり、波長λL11のLEDAで測定試料Sを照射したときの反射強度をPDで検出し、検出した反射強度を差Δλ1を用いて補正し、波長λL10の反射強度を求める。また、グラフC54で示す発光強度分布を持つLEDB、つまり、波長λL21のLEDBで測定試料Sを照射したときの反射強度をPDで検出し、検出した反射強度を差Δλ2を用いて補正し、波長λL20の反射強度を求める。次に、波長λL10の反射強度と波長λL20の反射強度とからグラフG52に示す分光特性の傾きを求める。次に、前回測定時のグラフG51で示す分光特性の傾きと、今回測定時のグラフG52で示す分光特性の傾きとからΔθを得る。なお、図6では、レッドエッジの分光特性の評価の指標としてΔθを採用したが、他の指標を採用してもよい。
【0062】
図7は、レッドエッジの分光特性の変化の他の指標を算出する場合のグラフである。図7において、LEDBは、レッドエッジよりも長波長側のフラットの近赤外帯域FRの波長を持つ。そして、近赤外帯域FRの反射強度を基準にとり、別の波長帯の反射強度の変化を測定する。
【0063】
図7の場合も、LEDA,LEDBの波長及び発光強度の設計値は(λL10,E0)、(λL20,E0)である。図7の場合も図6と同様にして、グラフC52で示す発光強度分布を持つLEDA、つまり、波長λL11のLEDAで測定試料Sを照射したときにPDで検出される試料反射強度RsL11を、差Δλ1で補正し、波長λL10の試料反射強度RsL10を求める。また、グラフC54で示す発光強度分布を持つLEDB、つまり、波長λL21のLEDBで測定試料Sを照射したときにPDで検出される試料反射強度RsL21を、差Δλ2で補正し、波長λL20の試料反射強度RsL20を求める。そして、△R=RsL10/RsL20により、分光特性の変化を求める。或いは、△R=(RsL20−RsL10)/(RsL20+RsL10)により、分光特性の変化を求める。
【0064】
図8は、本発明の実施の形態1による分光測定装置のブロック図である。分光測定装置は、LED1〜LED3、制御部40、及びPD(検出部の一例)を備えている。制御部40は、LED制御部41(駆動制御部の一例)、波長算出部42、試料特性算出部43、強度算出部44、及び評価部45を備えている。なお、試料特性算出部43及び強度算出部44で補正部400を構成する。
【0065】
LED1〜LED3は、LED制御部41の制御の下、白色分光ターゲット(第1分光ターゲットの一例)TW、傾斜分光ターゲットTG(第2分光ターゲットの一例)、及び測定試料Sを順次に照射する。
【0066】
白色分光ターゲットTWは、波長に対する反射率が一定である既知の分光特性を持つ。傾斜分光ターゲットTGは波長に対する反射率が一定の傾きを持つ既知の分光特性を持つ。つまり、傾斜分光ターゲットTGは、線形特性を持つ。
【0067】
PDは、LED1,LED2が白色分光ターゲットTWを照射したときの各LEDの反射強度(第1反射強度の一例)を検出する。また、PDは、LED1,LED2が基準発光強度E0で傾斜分光ターゲットTGを照射したときのLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21(第2反射強度の一例)を検出する。また、PDは、LED3が基準発光強度E0で傾斜分光ターゲットTGを照射したときのLED3の反射強度R1L31を検出する。
【0068】
LED制御部41は、LED1〜LED3が白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度が所定の基準反射強度E0R0となるように、LED1〜LED3の駆動電流を調節する。
【0069】
図9は、LED1,LED2が白色分光ターゲットTWを照射したときの発光強度分布であり、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。図9において、グラフC7Wは、白色分光ターゲットTWの分光特性である。また、グラフC71は調整前のLED1の発光強度分布である。グラフC72は、LED1が白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度が基準反射強度E0R0となるように調整したときのLED1の発光強度分布である。グラフC73は調整前のLED2の発光強度分布である。グラフC74は、LED2が白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度がE0R0となるように調整したときのLED2の発光強度分布である。
【0070】
白色分光ターゲットTWの分光特性はR=R0の直線で表される。よって、基準発光強度E0で白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度はE0R0となる。
【0071】
したがって、LED制御部41は、LED1に白色分光ターゲットTWを照射させ、白色分光ターゲットTWの反射強度のPDの検出値をモニタし、反射強度が基準反射強度E0R0となるように、LED1の駆動電流を調整し、LED1の発光強度を基準発光強度E0にする。
【0072】
このとき、駆動電流を増すと発熱によりLED1の波長は長い方にシフトする。一方、駆動電流が減ると発熱が抑えられ、LED1の波長は短い方にシフトする。LED制御部41は、LED2,LED3についてもLED1と同様にして駆動電流を調整する。これにより、LED1の分光分布はグラフC71からグラフC72へと変化し、LED2の分光分布はグラフC73からグラフC74へと変化する。
【0073】
波長算出部42は、PDにより検出されたLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21を、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときに得られる反射特性を規定する関数に代入し、LED1,2の実波長を求める。
【0074】
図10は、傾斜分光ターゲットTGの分光特性を示したグラフであり、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。グラフG91は、傾斜分光ターゲットTGの分光特性を示す。この分光特性は、傾きA、切片Bが既知であり、R=Aλ+Bで表される。
【0075】
グラフG92は、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときの分光特性を示している。この分光特性を規定する関数は、R=E0(Aλ+B)で表される。グラフC72,C74は、図7と同様、LED1,LED2が、基準発光強度E0で白色分光ターゲットTWを照射したときのLED1,LED2の発光強度分布を示している。グラフC75は、LED1が、基準発光強度E0で傾斜分光ターゲットTGを照射したときのLED1の反射特性を示している。グラフC76は、LED2が、基準発光強度E0で傾斜ターゲットTGを照射したときのLED2の反射特性を示している。
【0076】
傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときの分光特性を規定する関数は式(1)で表される。
【0077】
R=E0(Aλ+B) (1)
ここで、LED1が傾斜分光ターゲットTGを照射したときの反射強度がR1L11であるため、LED1の実波長λL11は、式(1)により、λL11=(R1L11/E0−B)/Aとなる。
【0078】
また、LED2が傾斜分光ターゲットTGを照射したときの反射強度がR1L21であるため、LED2の実波長λL21は、式(1)により、λL21=(R1L21/E0−B)/Aとなる。
【0079】
したがって、波長算出部42は、反射強度R1L11,R1L21を式(1)に代入し、LED1,LED2の実波長λL11,λL21を求める。
【0080】
図8に戻り、補正部400は、波長算出部42により算出された実波長λL11,λL21を用いて試料反射強度RsL11,RsL21を補正して、LED1,LED2が既知の設計波長λL10,λL20で測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL10,RsL20を求める。具体的には、補正部400は下記の処理を行う。
【0081】
試料特性算出部43は、実波長λL11,λL21と、LED1,LED2が測定試料を照射したときの反射強度である試料反射強度RsL11,RsL21とを用いて、測定試料Sの分光特性である試料分光特性を求める。
【0082】
図11は、試料分光特性を示したグラフであり、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。図11において、グラフG111は、試料分光特性を示し、R=Asλ+Bsで規定される。ここで、試料分光特性は未知であるが、レッドエッジの分光特性は線形であるため、R=Asλ+Bsと仮定できる。グラフG112は、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの分光特性を示している。
【0083】
グラフC111は、LED1が基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの反射特性を示している。グラフC112は、LED2が基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの反射特性を示している。グラフC113は、LED1が波長λL10、かつ、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの反射特性を示している。グラフC114は、LED2が波長λL20、かつ、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの反射特性を示している。
【0084】
試料分光特性はR=Asλ+Bsで表されるため、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの試料分光特性を規定する関数は式(2)で表される。
【0085】
R=E0(Asλ+Bs) (2)
基準発光強度E0、波長λL11のLED1が測定試料Sを照射したときの反射強度である試料反射強度をRsL11とすると、式(2)からRsL11=E0(AsλL11+Bs)が得られる。
【0086】
基準発光強度E0、波長λL21のLED2が測定試料Sを照射したときの反射強度である試料反射強度をRsL21とすると、式(2)からRsL21=E0(AsλL21+Bs)が得られる。
【0087】
したがって、As,Bsは、式(3)、(4)で表される。
【0088】
As=(RsL21−RsL11)/(λL21−λL11) (3)
Bs=R/E0−Asλ (4)
これにより、As、Bsが求まり、試料分光特性が得られる。
【0089】
強度算出部44は、試料特性算出部43でAs,Bsが求められた式(2)で示す試料分光特性に、LED1の波長の設計値であるλL10を代入し、試料反射強度RsL10を求める。これにより、試料反射強度RsL11が補正され、LED1が波長λL10、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL10が得られる。
【0090】
また、強度算出部44は、試料特性算出部43でAs,Bsが求められた式(2)で示す試料分光特性に、LED2の波長の設計値であるλL20を代入し、試料反射強度RsL20を求める。これにより、試料反射強度RsL21が補正され、LED2が波長λL20、基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL20が得られる。
【0091】
評価部45は、強度算出部44により求められた試料反射強度RsL10,RsL20を用いて、測定試料Sの状態を評価する。具体的には、評価部45は、式(5)又は(6)を用いて、測定試料Sの分光特性の変化を評価するための指標Yを算出する。
【0092】
Y=RsL10/RsL31 (5)
Y=(RsL31−RsL10)/(RsL31+RsL10) (6)
ここで、RsL31は、LED3が基準発光強度E0で測定試料Sを照射したときの反射強度である。なお、LED3は、LED1,LED2と同様、白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度が基準反射強度E0R0となるようにLED制御部41により駆動電流が調整されている。これにより、LED3は基準発光強度E0で測定試料Sを照射する。
【0093】
図12は、試料分光特性を示したグラフであり、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。グラフG121は、前回測定時の試料分光特性を示している。グラフG122は、今回測定時の試料分光特性を示している。グラフC121は、発光強度をE0としたときのLED1の発光強度分布を示している。グラフC122は、発光強度をE0としたときのLED2の発光強度分布を示している。グラフC123は、発光強度をE0としたときのLED3の発光強度分布を示している。
【0094】
グラフG121,G122に示すように、試料分光特性は、レッドエッジの帯域よりも長波長側の近赤外帯域FRでは反射強度が変化せず、フラットな特性を持つ。よって、レッドエッジの指標Yとして、近赤外帯域FRにおける反射強度を基準とする式(5)、(6)で示す指標Yが採用されている。
【0095】
なお、試料分光特性は、レッドエッジの帯域よりも短波長側の帯域では反射強度が変化せず、フラットな特性を持つ。LED3は、近赤外帯域FRの波長を持っている。LED1,LED2は、レッドエッジの帯域の波長を持っている。
【0096】
そして、評価部45により算出された今回測定時の指標Yと、この指標Yと同様にして得られた前回測定時の測定試料Sの指標Yとを比較することで、測定試料Sの状態の変化を認識することができる。
【0097】
図13は、図8に示す分光測定装置の動作を示すフローチャートである。まず、LED制御部41は、LED1に白色分光ターゲットTWを照射させ、PDで検出された反射強度が基準反射強度E0R0となるように、LED1の駆動電流を調整する(ステップS1)。
【0098】
次に、LED制御部41は、LED2に白色分光ターゲットTWを照射させ、PDで検出された反射強度が基準反射強度E0R0となるように、LED1の駆動電流を調整する(ステップS2)。
【0099】
次に、LED制御部41は、LED3に白色分光ターゲットTWを照射させ、PDで検出された反射強度が基準反射強度E0R0となるように、LED3の駆動電流を調整する(ステップS3)。
【0100】
次に、LED1が傾斜分光ターゲートTGを照射し、PDが反射強度R1L11を検出する(ステップS4)。次に、LED2が傾斜分光ターゲットTGを照射し、PDが反射強度R1L21を検出する(ステップS5)。
【0101】
次に、波長算出部42は、反射強度R1L11,R1L21を式(1)に代入し、LED1,LED2の実波長λL11,λL21を求める(ステップS6)。
【0102】
次に、LED1が基準発光強度E0で測定試料Sを照射し、PDが試料反射強度RsL11を検出する(ステップS7)。
【0103】
次に、LED2が基準発光強度E0で測定試料Sを照射し、PDが試料反射強度RsL21を検出する(ステップS8)。
【0104】
次に、LED3が基準発光強度E0で測定試料Sを照射し、PDが試料反射強度RsL31を検出する(ステップS9)。
【0105】
次に、試料特性算出部43は、試料反射強度RsL11,RsL21を式(3)、(4)に代入し、As,Bsを算出し、試料分光特性を算出する(ステップS10)。
【0106】
次に、強度算出部44は、ステップS9で得られた試料分光特性を規定する関数に波長λL10,λL20を代入し、試料反射強度RsL10,RsL20を算出する(ステップS11)。
【0107】
次に、評価部45は、試料反射強度RsL10,RsL20と、試料反射強度RsL31とを式(5)、(6)に代入し、指標Yを算出する(ステップS12)。
【0108】
このように、本実施の形態による分光測定装置によれば、まず、LED1,LED2に、白色分光ターゲットTWを照射させ、LED1,LED2の発光強度が基準発光強度E0に調整される。次に、LED1,LED2に、傾斜分光ターゲットTGを照射させ、LED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21が検出され、実波長λL11,λL21が算出される。次に、LED1,LED2に、測定試料Sを照射させ、試料反射強度RsL11,RsL21が検出される。次に、試料反射強度RsL11,RsL21及び実波長λL11,λL21を用いて、測定試料Sの反射特性が求められる。そして、反射特性を規定する関数にLED1,LED2の設計波長であるλL10,λL20が代入され、試料反射強度RsL10,RsL20が算出される。これにより、LEDを選別しなくても、LEDが測定試料Sを照射したときの、LEDの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度のずれを精度良く補正することができる。
【0109】
(実施の形態2)
実施の形態2の分光測定装置は、2つの傾斜分光ターゲットTG1(第1分光ターゲットの一例)、傾斜分光ターゲットTG2(第2分光ターゲットの一例)を用いて測定試料Sの分光特性を求めることを特徴とする。なお、本実施の形態において、実施の形態1と同一のものは同一の符号を用いて説明を省く。
【0110】
傾斜分光ターゲットTG1は、波長に対する反射率が一定の傾きを持つ既知の分光特性を持つ。また、傾斜分光ターゲットTG2は、波長に対する反射率が一定の傾きを持ち、かつ、傾斜分光ターゲットTG1の分光特性とは傾きが異なる既知の分光特性を持つ。つまり、傾斜分光ターゲットTG1,TG2は、線形特性を持つ。
【0111】
図14は、傾斜分光ターゲットTG1,TG2の分光特性を示したグラフであり、縦軸は反射強度(R)を示し、横軸は波長(λ)を示している。グラフG141は、傾斜分光ターゲットTG1の分光特性(第1分光特性の一例)を示す。グラフG142は、傾斜分光ターゲットTG2の分光特性(第2分光特性の一例)を示す。グラフG143は、傾斜分光ターゲットTG1を、発光強度がαのLED1で照射したときの分光特性を示す。グラフG144は、傾斜分光ターゲットTG2を発光強度がαのLED1で照射したときの分光特性を示す。グラフG145は、傾斜分光ターゲットTG1を発光強度がβのLED2で照射したときの分光特性を示す。グラフG146は、傾斜分光ターゲットTG2を発光強度がβのLED2で照射したときの分光特性を示している。
【0112】
グラフG141に示すように、傾斜分光ターゲットTG1の分光特性は、式(7)で表される。グラフG142に示すように、傾斜分光ターゲットTG2の分光特性は、式(8)で表される。
【0113】
R=Aλ+B (7)
R=Cλ+D (8)
本実施の形態において、図8に示すPDは、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG1を照射したときの各LEDの反射強度R1L11,R1L21(第1反射強度の一例)を検出する。また、PDは、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG2を照射したときの各LEDの反射強度R2L11,R2L21(第2反射強度の一例)を検出する。また、PDは、LED1,LED2が測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL11,RsL21を検出する。
【0114】
LED1の発光強度はαであるため、傾斜分光ターゲットTG1,TG2をLED1で照射したときの分光特性は、式(9),(10)で表される。
【0115】
R=α(Aλ+B) (9)
R=α(Cλ+D) (10)
したがって、LED1の実波長をλL11とすると、反射強度R1L11は、式(12)で表され、反射強度R2L11は、式(13)で表される。
【0116】
R1L11=α(AλL11+B) (12)
R2L11=α(CλL11+D) (13)
ここで、反射強度R1L11,R2L11はPDの検出値であり、A〜Dは既知であるため、式(12)、(13)により、α,λL11を求めることができる。
【0117】
同様に、LED2の発光強度はβであるため、傾斜分光ターゲットTG1,TG2をLED2で照射したときの分光特性は、式(14),(15)で表される。
【0118】
R=β(Aλ+B) (14)
R=β(Cλ+D) (15)
したがって、LED2の実波長をλL21とすると、反射強度R1L21は、式(16)で表され、反射強度R2L21は、式(17)で表される。
【0119】
R1L21=β(AλL21+B) (16)
R2L21=β(CλL21+D) (17)
ここで、反射強度R1L21,R2L21はPDの検出値であり、A〜Dは既知であるため、式(16)、(17)により、β,λL21を求めることができる。
【0120】
したがって、本実施の形態では、図8に示す波長算出部42は、LED1の反射強度R1L11を、傾斜分光ターゲットTG1をLED1で照射したときの分光特性を規定する関数(式(9))に代入し、かつ、LED1の反射強度R2L11を、傾斜分光ターゲットTG2をLED2で照射したときの分光特性を規定する関数(式(10))に代入し、LED1の発光強度α及び実波長λL11を求める。
【0121】
また、波長算出部42は、LED2の反射強度R1L21を、傾斜分光ターゲットTG1をLED2で照射したときの分光特性を規定する関数(式(14))に代入し、かつ、LED2の反射強度R1L21を、傾斜分光ターゲットTG2をLED2で照射したときの分光特性を規定する関数(式(15))に代入し、LED2の発光強度β及び実波長λL21を求める。
【0122】
実施の形態1と同様、測定試料Sの未知の分光特性をR=Asλ+Bsとおく。測定試料SをLED1,LED2で照射したときの分光特性は、式(18),(19)で表される。
【0123】
R=α(Asλ+Bs) (18)
R=β(Asλ+Bs) (19)
測定試料SをLED1,LED2で照射したときの反射強度はRsL11,RsL21であるため、式(18),(19)は、式(20),(21)で表される。
【0124】
RsL11=α(AsλL11+Bs) (20)
RsL21=β(AsλL21+Bs) (21)
ここで、RsL11,RsL21はPDの検出値であり、α,β,λL11,λL21は算出値であるため、式(20),(21)からAs,Bsを求めることができる。
【0125】
よって、試料特性算出部43は、式(20),(21)を用いて、As,Bsを求め、試料分光特性(R=Asλ+Bs)を求める。
【0126】
図15は、本発明の実施の形態2による分光測定装置の処理を示すフローチャートである。まず、LED1,LED2が順次に傾斜分光ターゲットTG1を照射する(ステップS21)。次に、PDが、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG1を照射したときの反射強度R1L11,R1L21を順次に検出する(ステップS22)。
【0127】
次に、LED1,LED2が順次に傾斜分光ターゲットTG2を照射する(ステップS23)。次に、PDが、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG2を照射したときの反射強度R2L11,R2L21を順次に検出する(ステップS24)。
【0128】
次に、波長算出部42は、反射強度R1L11を式(9)に代入し、かつ、反射強度R2L11を式(10)に代入し、LED1の発光強度α、実波長λL11を求める(ステップS25)。
【0129】
次に、波長算出部42は、反射強度R1L21を式(14)に代入し、かつ、反射強度R2L21を式(15)に代入し、LED2の発光強度β、実波長λL21を求める(ステップS26)。
【0130】
次に、LED1,LED2が、測定試料Sを順次照射する(ステップS27)。次に、PDが、LED1,LED2が測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL11,RsL21を順次に検出する(ステップS28)。
【0131】
次に、試料特性算出部43は、式(20)、(21)から試料分光特性(R=Asλ+Bs)を求める(ステップS29)。次に、強度算出部44は、LED1,LED2の波長の設計値であるλL10,λL20をR=Asλ+Bsに代入し、試料反射強度RsL10,RsL20を求める(ステップS30)。これにより、LED1,LED2の試料反射強度RsL11,RsL21が補正され、LED1,LED2が波長λL10,λL20で測定試料Sを照射したときの試料反射強度RsL10,RsL20が得られる。
【0132】
次に、LED3により測定試料Sが照射され、PDにより試料反射強度RsL31が検出される(ステップS30)。次に、評価部45は、試料反射強度RsL10,RsL20,RsL31を式(5)、(6)に代入し、指標Yを求める(ステップS32)。
【0133】
このように、本実施の形態では、傾斜分光ターゲットTG1,TG2を用いているため、LED1,LED2の発光強度を基準発光強度E0に調整しなくても、試料反射強度RsL11,RsL21を補正することができる。これにより、LEDの発光強度を一定に保つためのAPCをLED制御部41に組み込まなくても、試料反射強度RsL11,RsL21を補正することができる。その結果、分光測定装置の小型化及び低コスト化を図ることができる。
【0134】
(実施の形態3)
実施の形態3による分光測定装置は、2つの分光ターゲットを切り替える構成を採用したことを特徴としている。本実施の形態において、実施の形態1,2と同一のものは同一の符号を付し、説明を省く。図16は、本発明の実施の形態3の分光測定装置を示し、(A)は分光ターゲット91が引き出された状態を示し、(B)は分光ターゲット92が引き出された状態を示している。
【0135】
図16に示すように、分光測定装置はレバー81,82を備えている。レバー81は、把持部20の上面から上端が露出し、かつ、把持部20の長手方向に沿ってスライド可能に取り付けられている。レバー81は、下端に分光ターゲット91の後端が接続されている。そして、ユーザによりレバー81がセンサヘッド10側にスライドされると、図16(A)に示すように、把持部20の下面に設けられた開口部21から分光ターゲット91が現れ、分光ターゲット91は、先端がセンサヘッド10の先端まで進出する。一方、ユーザによりレバー81が回転軸50側にスライドされると、分光ターゲット91が開口部21から把持部20の内部に収納される。
【0136】
また、レバー82もレバー81と同様にして、把持部20の上面から上端が露出し、かつ、把持部の長手方向に沿ってスライド可能に取り付けられている。そして、ユーザによりレバー82がセンサヘッド10側にスライドされると、図16(B)に示すように、開口部21から分光ターゲット92が現れ、分光ターゲット92は、先端がセンサヘッド10の先端まで進出する。一方、ユーザによりレバー82が回転軸50側にスライドされると、分光ターゲット92が開口部21から把持部20の内部に収納される。
【0137】
このように、本実施の形態によれば、分光ターゲット91,92は把持部20の内部に収納され、必要に応じて、分光ターゲット91,92を載置部31に引き出すことができる。そのため、別体の分光ターゲット91,92を載置部31に載置させる構成に比べて、測定の煩わしさを軽減することができる。また、分光ターゲット91,92を紛失することも防止することができる。
【0138】
なお、分光ターゲット91,92としては、実施の形態1の手法を採用する場合は、白色分光ターゲットTW、傾斜分光ターゲットTGを採用し、実施の形態2の手法を採用する場合は、傾斜分光ターゲットTG1,TG2を採用すればよい。
【0139】
(実施の形態4)
実施の形態4は、透過型の分光測定装置としたことを特徴とする。本実施の形態において、実施の形態1〜3と同一のものは同一の符号を付し、説明を省く。図17は、本発明の実施の形態4の分光測定装置の全体構成図である。反射型との相違点は、測定台30の上面側にPDを設けた点にある。PDは、LEDが測定試料Sを照射したときの透過光を検出する。よって、本実施の形態の分光測定装置において、実施の形態1の手法を適用する場合、以下のようにすればよい。この場合、白色ターゲットTWは不要となる。したがって、まず、載置部31に何も載せない状態で、把持部20を閉じる。そして、LED1〜LED3を順次に点灯させ、PDに発光強度を検出させる。
【0140】
次に、LED制御部41は、発光強度が基準発光強度E0となるように、LED1〜LED3の駆動電流を調整する。
【0141】
次に、傾斜分光ターゲットTGを載置部31に載せ、把持部20と測定台30とで傾斜分光ターゲットTGを把持する。そして、LED1,LED2を基準発光強度E0で順次に点灯させ、PDにより透過強度T1L11,T1L21(第1透過強度の一例)を順次に検出させる。
【0142】
次に、波長算出部42は、透過強度T1L11,T1L21を、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときの分光特性を規定する関数に代入し、LED1,LED2の実波長λL11,λL21を求める。
【0143】
具体的には、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときの分光特性を規定する関数は、式(1)と同様、R=E0(Aλ+B)で表される。
【0144】
よって、波長算出部42は、透過強度T1L11,T1L21を式(1)のRに代入し、実波長λL11,λL21を求める。
【0145】
次に、PDは、LED1,LED2が測定試料Sを照射したときの試料透過強度TsL11,TsL21を検出する。
【0146】
次に、試料特性算出部43は、実波長λL11,λ21を式(2)のλ、透過強度TsL11,TsL21を式(2)のRに代入し、As,Bsを求め、試料分光特性を求める。以下、実施の形態1と同様にして、透過強度TsL11,TsL21が補正され、指標Yが求められる。
【0147】
透過型の分光測定装置において、実施の形態2の手法を適用する場合、以下のようにすればよい。
【0148】
まず、傾斜分光ターゲットTG1を載置部31に載置し、把持部20と測定台30とで挟持する。次に、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG1を順次に照射し、PDが透過強度T1L11,T1L21(第1透過強度の一例)を検出する。
【0149】
次に、傾斜分光ターゲットTGを載置部31に載置し、把持部20と測定台30とで挟持する。次に、LED1,LED2が傾斜分光ターゲットTG2を順次に照射し、PDが透過強度T2L11,T2L21を検出する。
【0150】
次に、波長算出部42は、透過強度T1L11,T2L11を式(9)、(10)のRに代入し、実波長λL11及び発光強度αを求める。
【0151】
次に、波長算出部42は、透過強度T1L21,T2L21を式(14)、(15)のRに代入し、実波長λL21及び発光強度βを求める。
【0152】
次に、LED1,LED2が測定試料Sを照射したときの透過強度TsL11,TsL21をPDが検出する。
【0153】
次に、波長算出部42は、透過強度TsL11を式(18)のR、実波長λL11を式(18)のλ、発光強度αを式(18)に代入し、透過強度TsL21を式(19)のR、実波長λL21を式(19)のλ、発光強度βを式(19)に代入し、As,Bsを求め、測定分光特性(R=Asλ+Bs)を求める。以降、実施の形態1と同様にして、指標Yを算出する。
【0154】
このように、本実施の形態の分光測定装置によれば、透過型であっても実施の形態1、2と同様にして、LEDを選別しなくても、測定試料の分光特性を精度良く求めることができる。
【符号の説明】
【0155】
E0 基準発光強度
E0R0 基準反射強度
E1 発光強度
FR 近赤外帯域
R1L11,R1L21,R1L31,R2L11,R2L21 反射強度
RsL10,RsL11,RsL20,RsL21,RsL31 試料反射強度
S 測定試料
T1L11,T1L21,T2L11,T2L21 透過強度
Y 指標
α,β 発光強度
λL1,λL11,λL2,λL21 実波長
1,2,3 LED
10 センサヘッド
20 把持部
30 測定台
40 制御部
41 LED制御部
42 波長算出部
43 試料特性算出部
44 強度算出部
45 評価部
81 レバー
82 レバー
91 分光ターゲット,92 分光ターゲット

【特許請求の範囲】
【請求項1】
LEDを備える反射型の分光測定装置であって、
既知の第1分光特性を持つ第1分光ターゲットと、
既知の第2分光特性を持つ第2分光ターゲットと、
前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの第1反射強度を検出し、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの第2反射強度を検出し、前記LEDが測定試料を照射したときの試料反射強度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された前記第1反射強度及び前記第2反射強度を用いて前記LEDの実波長を求める波長算出部と、
前記波長算出部により算出された前記実波長を用いて前記試料反射強度を補正して、前記LEDが既知の設計波長で前記測定試料を照射したときの反射強度を求める補正部とを備える分光測定装置。
【請求項2】
前記第1,第2分光ターゲットは、異なる線形特性を持ち、
前記波長算出部は、前記第1反射強度を、前記第1分光ターゲットを前記LEDで照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、かつ、前記第2反射強度を、前記第2分光ターゲットを前記LEDで照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの発光強度及び前記実波長を求める請求項1記載の分光測定装置。
【請求項3】
前記第1分光特性は、波長に対する反射率が一定の特性を持ち、
前記第2分光特性は、線形特性を持ち、
前記LEDの前記第1反射強度が所定の基準反射強度となるように前記LEDを駆動させる駆動制御部を更に備え、
前記第2反射強度は、前記LEDが前記基準反射強度を得るための基準発光強度で前記第2分光ターゲットを照射したときの反射強度であり、
前記試料反射強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記測定試料を照射したときの反射強度であり、
前記波長算出部は、前記第2反射強度を、前記第2分光ターゲットを前記基準発光強度で照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの前記実波長を求める請求項1記載の分光測定装置。
【請求項4】
前記測定試料が載置される載置部を更に備え、
前記第1分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す、又は、前記第2分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す引出部とを備える請求項1〜3のいずれかに記載の分光測定装置。
【請求項5】
LEDを備える透過型の分光測定装置であって、
既知の第1分光特性を持つ第1分光ターゲットと、
前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの第1透過強度を検出し、前記LEDが測定試料を照射したときの試料透過強度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された前記第1透過強度を用いて、前記LEDの実波長を求める波長算出部と、
前記波長算出部により算出された前記実波長を用いて前記試料透過強度を補正して、前記LEDが既知の設計波長で前記測定試料を照射したときの透過強度を求める補正部とを備える分光測定装置。
【請求項6】
既知の第2分光特性を持つ前記第2分光ターゲットを更に備え、
前記第1,第2分光ターゲットは、異なる線形特性を持ち、
前記検出部は、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの第2透過強度を更に検出し、
前記波長算出部は、
前記第1透過強度を、前記LEDが前記第1分光ターゲットを照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、かつ、前記第2透過強度を、前記LEDが前記第2分光ターゲットを照射したときの前記第2分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの発光強度及び前記実波長を求める請求項5記載の分光測定装置。
【請求項7】
前記第1分光ターゲットは、線形特性を持ち、
前記検出部は、前記LEDの発光強度を更に検出し、
前記LEDの発光強度が所定の基準発光強度となるように前記LEDを駆動させる駆動制御部を更に備え、
前記第1透過強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記第1分光ターゲットを照射したときの透過強度であり、
前記試料透過強度は、前記LEDが前記基準発光強度で前記測定試料を照射したときの前記の透過強度であり、
前記波長算出部は、
前記第1透過強度を、前記第1分光ターゲットを前記基準発光強度で照射したときの前記第1分光特性を規定する関数に代入し、前記LEDの前記実波長を求める請求項5記載の分光測定装置。
【請求項8】
前記測定試料が載置される載置部を更に備え、
前記第1分光ターゲットを装置内部から前記載置部に引き出す引出部を備える請求項5〜7のいずれかに記載の分光測定装置。
【請求項9】
前記LEDは、緑葉のレッドエッジの波長帯域の光を照射する請求項1〜8のいずれかに記載の分光測定装置。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate

【図6】
image rotate

【図7】
image rotate

【図8】
image rotate

【図9】
image rotate

【図10】
image rotate

【図11】
image rotate

【図12】
image rotate

【図13】
image rotate

【図14】
image rotate

【図15】
image rotate

【図16】
image rotate

【図17】
image rotate


【公開番号】特開2012−149938(P2012−149938A)
【公開日】平成24年8月9日(2012.8.9)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−7655(P2011−7655)
【出願日】平成23年1月18日(2011.1.18)
【出願人】(303000408)コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 (3,255)
【Fターム(参考)】