微粒子標識を使用した分析物アッセイ。
【課題】微粒子標識を使用した分析物アッセイの提供。
【解決手段】散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団であって、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、各前記集団が、０．１粒子／平方ミクロン未満の粒子密度である表面に存在し、そして白色光で照射されるとき、各前記集団の前記粒子の少なくとも９０％により散乱された散乱光の色は、電子増幅なしのしかし５００倍未満の倍率で見たとき肉眼で区別できず、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団。
【解決手段】散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団であって、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、各前記集団が、０．１粒子／平方ミクロン未満の粒子密度である表面に存在し、そして白色光で照射されるとき、各前記集団の前記粒子の少なくとも９０％により散乱された散乱光の色は、電子増幅なしのしかし５００倍未満の倍率で見たとき肉眼で区別できず、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
【数１】
【０００２】
【数２】
【０００３】
【数３】
【０００４】
【数４】
【０００５】
【数５】
【０００６】
【数６】
【０００７】
【数７】
【０００８】
【数８】
【０００９】
【数９】
【００１０】
【数１０】
【００１１】
【数１１】
【００１２】
【数１２】
【００１３】
【数１３】
【００１４】
【数１４−１】
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明によって以下が提供される：
【００１６】
【数１９８】
【００１７】
【数１９９】
【００１８】
【数２００】
【００１９】
【数２０１】
【００２０】
【数２０２】
【００２１】
【数１４−２】
【００２２】
【数１５】
【００２３】
【数１６】
【００２４】
【数１７】
【００２５】
【数１８】
【００２６】
【数１９】
【００２７】
【数２０】
【００２８】
【数２１】
【００２９】
【数２２】
【００３０】
【数２３】
【００３１】
【数２４】
【００３２】
【数２５】
【００３３】
【数２６】
【００３４】
【数２７】
【００３５】
【数２８】
【００３６】
【数２９】
【００３７】
【数３０】
【００３８】
【数３１】
【００３９】
【数３２】
【００４０】
【数３３】
【００４１】
【数３４】
【００４２】
【数３５】
【００４３】
【数３６】
【００４４】
【数３７】
【００４５】
【数３８】
【００４６】
【数３９】
【００４７】
【数４０】
【００４８】
【数４１】
【００４９】
【数４２】
【００５０】
【数４３】
【００５１】
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【数４５】
【００５３】
【数４６】
【００５４】
【数４７】
【００５５】
【数４８】
【００５６】
【数４９】
【００５７】
【数５０】
【００５８】
【数５１】
【００５９】
【数５２】
【００６０】
【数５３】
【００６１】
【数５４】
【００６２】
【数５５】
【００６３】
【数５６】
【００６４】
【数５７】
【００６５】
【数５８】
【００６６】
【数５９】
【００６７】
【数６０】
【００６８】
【数６１】
【００６９】
【数６２】
【００７０】
【数６３】
【００７１】
【数６４】
【００７２】
【数６５】
【００７３】
【数６６】
【００７４】
【数６７】
【００７５】
【数６８】
【００７６】
【数６９】
【００７７】
【数７０】
【００７８】
【数７１】
【００７９】
【数７２】
【００８０】
【数７３】
【００８１】
【数７４】
【００８２】
【数７５】
【００８３】
【数７６】
【００８４】
【数７７】
【００８５】
【数７８】
【００８６】
【数７９】
【００８７】
【数８０】
【００８８】
【数８１】
【００８９】
【数８２】
【００９０】
【数８３】
【００９１】
【数８４】
【００９２】
【数８５】
【００９３】
【数８６】
【００９４】
【数８７】
【００９５】
【数８８】
【００９６】
【数８９】
【００９７】
【数９０】
【００９８】
【数９１】
【００９９】
【数９２】
【０１００】
【数９３】
【０１０１】
【数９４】
【０１０２】
【数９５】
【０１０３】
【数９６】
【０１０４】
【数９７】
【０１０５】
【数９８】
【０１０６】
【数９９】
【０１０７】
【数１００】
【０１０８】
【数１０１】
【０１０９】
【数１０２】
【０１１０】
【数１０３】
【０１１１】
【数１０４】
【０１１２】
【数１０５】
【０１１３】
【数１０６】
【０１１４】
【数１０７】
【０１１５】
【数１０８】
【０１１６】
【数１０９】
【０１１７】
【数１１０】
【０１１８】
【数１１１】
【０１１９】
【数１１２】
【０１２０】
【数１１３】
【０１２１】
【数１１４】
【０１２２】
【数１１５】
【０１２３】
【数１１６】
【０１２４】
【数１１７】
【０１２５】
【数１１８】
【０１２６】
【数１１９】
【０１２７】
【数１２０】
【０１２８】
【数１２１】
【０１２９】
【数１２２】
【０１３０】
【数１２３】
【０１３１】
【数１２４】
【０１３２】
【数１２５】
【０１３３】
【数１２６】
【０１３４】
【数１２７】
【０１３５】
【数１２８】
【０１３６】
【数１２９】
【０１３７】
【数１３０】
【０１３８】
【数１３１】
【０１３９】
【数１３２】
【０１４０】
【数１３３】
【０１４１】
【数１３４】
【０１４２】
【数１３５】
【０１４３】
【数１３６】
【０１４４】
【数１３７】
【０１４５】
【数１３８】
【０１４６】
【数１３９】
【０１４７】
【数１４０】
【０１４８】
【数１６４】
【０１４９】
【数１６５】
【０１５０】
【数１６６】
【０１５１】
【数１６７】
【０１５２】
【数１６８】
【０１５３】
【数１６９】
【０１５４】
【数１７０】
【０１５５】
【数１７１】
【０１５６】
【数１７２】
【０１５７】
【数１７３】
【０１５８】
【数１７４】
【０１５９】
【数１７５】
【０１６０】
【数１７６】
【０１６１】
【数１７７】
【０１６２】
【数１７８】
【０１６３】
【数１７９】
【０１６４】
【数１８０】
【０１６５】
【数１８１】
【０１６６】
【数１８２】
【０１６７】
【数１８３】
【０１６８】
【数１８４】
【０１６９】
【数１８５】
【０１７０】
【数１８６】
【０１７１】
【数１８７】
【０１７２】
【数１８８】
【０１７３】
【数１８９】
【０１７４】
【数１９０】
【０１７５】
【数１９１】
【０１７６】
【数１９２】
【０１７７】
【数１９３】
【０１７８】
【数１９４】
【０１７９】
【数１９５】
【０１８０】
【数１９６】
【０１８１】
【数１９７】
【図面の簡単な説明】
【０１８２】
【図１】第１図は、下からの試料の照射を図示する。Ｌはレンズ、Ｄはレンズの口径、Ｏは検出される表面Ｓの面積、ＣはＬが集光する角度を示す円錐である。
【図２】第２図は、レンズの集光角度を図示する。Ｄはレンズの口径、ｆは焦点距離、Ｏは検出される面積、θHは集光円錐の平面半角である。
【図３】第３図は、表面での反射と屈折を表すのに使用する角度を明確にする線図である。Ｓは表面、ｎｉとｎｔはそれぞれ入射媒体と表面媒体の屈折率、ＲＦＲＢとＲＦＬＢはそれぞれ屈折光ビームと反射光ビーム、ＩＢは入射光ビーム、θi、θrおよびθtは光ビームの入射角、反射角および屈折角である。
【図４Ａ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図４Ｂ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図４Ｃ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図５−１】第５Ａ図および第５Ｂ図は、様々な出典から得られたｎi＞ｎtに対する光反射グラフである。
【図５−２】第５Ａ図および第５Ｂ図は、様々な出典から得られたｎi＞ｎtに対する光反射グラフである。
【図６】第６図は、空気中の乾燥表面上の粒子の照射に関与する屈折と反射を図示する。
【図７】第７図は、ｎ2＝１．５＋ｎ3＝１に対するθi2対θi1のプロットのグラフである。
【図８】第８図は、表面アーチファクトまたは粒子によって散乱された光の角度分布を図示する。破線は粒子によって散乱された光を表し、矢印の付いた実線は入射白色光ビームと、表面アーチファクトによる散乱光の１本のビームであり、円は前方に散乱された光の強さの包絡線である。
【図９】第９図は、顕微鏡スライド状にあり、カバーグラスで覆われた薄膜状の水の形の試料を示す。照射ビームはＳ１(空気−ガラス)、Ｓ２(ガラス−水)，Ｓ３(水−ガラス)、Ｓ４（ガラス−空気）の４つの媒体境界面に行き当たる。粒子は表面Ｓ２上のＯにあるか、表面Ｓ２上を自由に移動する。入射光は表面Ｓに当たる。
【図１０】第１０図は、上からの試料の照射を示す。Ｌはレンズ、Ｃは集光円錐である。
【図１１】第１１図は、プリズム配置構成を使用した照射を示す(下からの照射)。Ｓ１は光が入射するプリズム表面、Ｓ２およびＳ３はそれぞれプラスチック片基材の下面と上面である。
【図１２Ａ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｂ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｃ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｄ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｅ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１３】第１３図は、ローダミン・プラスチック・ブロックによって見た照射光ビームを示す。
【図１４】第１４図は、第１５図を説明する目的の表面および関連した平面を示し、Ｓ１は光透過性または光非透過性の固体基板であり、ＳＰ２は表面Ｓ１の平面上の３次元空間である。ＳＰＩ平面の表面Ｓ１またはその付近に光散乱粒子または光散乱物質がある。
【図１５Ａ】第１５図は、様々なＤＬＡＳＬＰＤ照射検出法をまとめたものである。
【図１５Ｂ】第１５図は、様々なＤＬＡＳＬＰＤ照射検出法をまとめたものである。
【図１６】第１６図は、被覆された直径１００ｎｍの金粒子と、被覆されていない直径１００ｎｍの金粒子の実験的に測定した散乱光の強さ対入射光波長スペクトルを示す。
【図１７】第１７図、第１８図、第１９図は、非特異的な光バックグラウンドのレベルを低減する種々の試料チャンバの設計を示す。これらの試料チャンバは、液体試料と 固定化試料を両方とも検査し得る。第１７図では、Ｓ１は光ビームが試料チャンバに当たる表面であり、Ｓ２は（固定化試料について）光散乱物質を含む表面である。Ｓ３は別の斜面であり、表面Ｓ１と表面Ｓ３とは、照射角度に応じて約２０度から７０度の角度で傾斜し、表面Ｓ１の面は光ビームがＳ１に垂直に対して０度の角度で当たるように角度を付けるべきである。Ｓ４は開口部があってもなくてもよい光透過性の表面であり、Ｓ５は表面Ｓ２の反対側である。チャンバが密閉されている（すなわちＳ４が開口部のない固体である）場合、必要に応じ、試料導入と洗浄のため小さな開口部が設けられる。
【図１８】第１８図は、傾斜した側面が湾曲した側面に置き換わったことを除いて第１７図と同様に設計されている。他のすべては第１７図と同一である。
【図１９】第１９図は、Ｓ１が平坦で傾斜した光透過性の表面であり、光ビームが試料チャンバに当たる。表面Ｓ１の面は、光ビームが０度の角度でＳ１に当たるように角度を付けるべきであり、Ｓ２は光散乱物質が固定化されている場合にその物質を含む表面であり、Ｓ３は別の湾曲もしくは傾斜した表面である。Ｓ４は密閉された試料チャンバ用の光透過性の表面である。あるいは別法として、Ｓ４は試料の導入および洗浄と検出用の種々のサイズおよび形状の開口部を有し、Ｓ５は表面Ｓ２の反対側である。チャンバが密閉されている場合、導入および／またはのため、洗浄表面の１つに小さな開口部が必要となる。
【図２０】第２０図は、粒子の偏光との相互作用を表わすのに使用する座標系である。光はｙ軸に沿って進み、ｚ軸方向に偏光される。Ｄは散乱光の強さの検出器である。γは観察の方向である。θおよびψはそれぞれコア角と偏光角である。
【図２１】第２１図は、液体試料分析用の機器の概略図である。フィラメントないし放電灯がレンズＬ１に代表されるレンズ系によりモノクロメーターの入口スリット上に合焦され、モノクロメーターに存在する単色光がレンズＬ２により集光され、レンズＬ３により透明な試料キュベット（ＳＴ）上に合焦され、試料キュベットが蛍光性分子の溶液または光散乱粒子の懸濁液を含み、 試料キュベットの側壁から反射された光が下方に回折して光検出器から遠ざかるように試料キュベットに角度を付けるか傾斜させ、試料により散乱もしくは放射された光が、平面Ｍに試料キュベットと液体内容物の拡大像を結ぶレンズ１４によって集光され、液体によりキュベットの中心で放射もしくは散乱された光は光 検出器に到達させるが試料キュベットの側壁により放射もしくは散乱された光は遮蔽するように平面Ｍに小さな開口部を配置し、液体内容物の中心のＭにある拡大像が、傾斜した試料キュベットの屈折率効果により、レンズＬ４の光軸から移 動し、それにより放射もしくは散乱された光が検出され、移動した液体中心の像が開口部と光検出器の上に位置するように光検出器と開口部がレンズＬ４の光軸の片側に配置され、光学フィルターおよび／または偏光子を照射光および散乱光の光路へ導入するためのホルダー（Ｈ１，Ｈ２）が設けられ、光検出器の前部に光シャッターが配置される。光検出器が小さな感光領域を有する場合、レンズＬ５を使用して、感光領域に向かってＭで開口部を横切る光に焦点が合わされる。単色光の必要がない場合、モノクロメーターは容易に取り外すことができ、フィラメントまたは放電灯からの光をレンズＬ１、Ｌ２およびＬ３によって直接試料容器に送ることができる。
【図２２】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２３】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２４】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２５】第２５図は、装置およびアッセイの開発プロセスの概略を示す。
【図２６−１】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２６−２】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２６−３】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２７】第２７Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図、Ｆ図は、種々のサイズの金に対する散乱光の強さの計算値対入射光の波長を示す。Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆはそれぞれ直径１０、２０、４０、６０、８０および１００ｎｍの球状金粒子に対応する。ＲＥＬＣＳＣＡは相対光散乱断面積であり、ＷＡＶＥ，ＮＭは波長である。
【図２８】第２８図は、球状の被覆された粒子の線図である。（１）は粒子表面上のポリマー、結合剤その他の物質の被覆であり、（２）はコア粒子である。
【図２９】第２９Ａ図、Ｂ図、Ｃ図は、ＭＳＬＰ（処理が可能な光散乱粒子）混合組成粒子の線図を示す。Ａ（１）は、（２）所望の光散乱材料で被覆された、コアの磁性材料または強誘電性材料であり、Ｂは、（３）磁性材料または強誘電性材料で被覆された、（４）光散乱材料のコアを示し、Ｃは（５）光散乱材料の（６）磁性材料または強誘電性材料との混合物を示す。
【図３０】第３０Ａ図、Ｂ図、Ｃ図は、それぞれ適応可能なＭＬＳＰ粒子のための二量体、四量体、またはそれよりも高次の粒子構造体を示す。
【背景技術】
【０００１】
【数１】
【０００２】
【数２】
【０００３】
【数３】
【０００４】
【数４】
【０００５】
【数５】
【０００６】
【数６】
【０００７】
【数７】
【０００８】
【数８】
【０００９】
【数９】
【００１０】
【数１０】
【００１１】
【数１１】
【００１２】
【数１２】
【００１３】
【数１３】
【００１４】
【数１４−１】
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明によって以下が提供される：
【００１６】
【数１９８】
【００１７】
【数１９９】
【００１８】
【数２００】
【００１９】
【数２０１】
【００２０】
【数２０２】
【００２１】
【数１４−２】
【００２２】
【数１５】
【００２３】
【数１６】
【００２４】
【数１７】
【００２５】
【数１８】
【００２６】
【数１９】
【００２７】
【数２０】
【００２８】
【数２１】
【００２９】
【数２２】
【００３０】
【数２３】
【００３１】
【数２４】
【００３２】
【数２５】
【００３３】
【数２６】
【００３４】
【数２７】
【００３５】
【数２８】
【００３６】
【数２９】
【００３７】
【数３０】
【００３８】
【数３１】
【００３９】
【数３２】
【００４０】
【数３３】
【００４１】
【数３４】
【００４２】
【数３５】
【００４３】
【数３６】
【００４４】
【数３７】
【００４５】
【数３８】
【００４６】
【数３９】
【００４７】
【数４０】
【００４８】
【数４１】
【００４９】
【数４２】
【００５０】
【数４３】
【００５１】
【数４４】
【００５２】
【数４５】
【００５３】
【数４６】
【００５４】
【数４７】
【００５５】
【数４８】
【００５６】
【数４９】
【００５７】
【数５０】
【００５８】
【数５１】
【００５９】
【数５２】
【００６０】
【数５３】
【００６１】
【数５４】
【００６２】
【数５５】
【００６３】
【数５６】
【００６４】
【数５７】
【００６５】
【数５８】
【００６６】
【数５９】
【００６７】
【数６０】
【００６８】
【数６１】
【００６９】
【数６２】
【００７０】
【数６３】
【００７１】
【数６４】
【００７２】
【数６５】
【００７３】
【数６６】
【００７４】
【数６７】
【００７５】
【数６８】
【００７６】
【数６９】
【００７７】
【数７０】
【００７８】
【数７１】
【００７９】
【数７２】
【００８０】
【数７３】
【００８１】
【数７４】
【００８２】
【数７５】
【００８３】
【数７６】
【００８４】
【数７７】
【００８５】
【数７８】
【００８６】
【数７９】
【００８７】
【数８０】
【００８８】
【数８１】
【００８９】
【数８２】
【００９０】
【数８３】
【００９１】
【数８４】
【００９２】
【数８５】
【００９３】
【数８６】
【００９４】
【数８７】
【００９５】
【数８８】
【００９６】
【数８９】
【００９７】
【数９０】
【００９８】
【数９１】
【００９９】
【数９２】
【０１００】
【数９３】
【０１０１】
【数９４】
【０１０２】
【数９５】
【０１０３】
【数９６】
【０１０４】
【数９７】
【０１０５】
【数９８】
【０１０６】
【数９９】
【０１０７】
【数１００】
【０１０８】
【数１０１】
【０１０９】
【数１０２】
【０１１０】
【数１０３】
【０１１１】
【数１０４】
【０１１２】
【数１０５】
【０１１３】
【数１０６】
【０１１４】
【数１０７】
【０１１５】
【数１０８】
【０１１６】
【数１０９】
【０１１７】
【数１１０】
【０１１８】
【数１１１】
【０１１９】
【数１１２】
【０１２０】
【数１１３】
【０１２１】
【数１１４】
【０１２２】
【数１１５】
【０１２３】
【数１１６】
【０１２４】
【数１１７】
【０１２５】
【数１１８】
【０１２６】
【数１１９】
【０１２７】
【数１２０】
【０１２８】
【数１２１】
【０１２９】
【数１２２】
【０１３０】
【数１２３】
【０１３１】
【数１２４】
【０１３２】
【数１２５】
【０１３３】
【数１２６】
【０１３４】
【数１２７】
【０１３５】
【数１２８】
【０１３６】
【数１２９】
【０１３７】
【数１３０】
【０１３８】
【数１３１】
【０１３９】
【数１３２】
【０１４０】
【数１３３】
【０１４１】
【数１３４】
【０１４２】
【数１３５】
【０１４３】
【数１３６】
【０１４４】
【数１３７】
【０１４５】
【数１３８】
【０１４６】
【数１３９】
【０１４７】
【数１４０】
【０１４８】
【数１６４】
【０１４９】
【数１６５】
【０１５０】
【数１６６】
【０１５１】
【数１６７】
【０１５２】
【数１６８】
【０１５３】
【数１６９】
【０１５４】
【数１７０】
【０１５５】
【数１７１】
【０１５６】
【数１７２】
【０１５７】
【数１７３】
【０１５８】
【数１７４】
【０１５９】
【数１７５】
【０１６０】
【数１７６】
【０１６１】
【数１７７】
【０１６２】
【数１７８】
【０１６３】
【数１７９】
【０１６４】
【数１８０】
【０１６５】
【数１８１】
【０１６６】
【数１８２】
【０１６７】
【数１８３】
【０１６８】
【数１８４】
【０１６９】
【数１８５】
【０１７０】
【数１８６】
【０１７１】
【数１８７】
【０１７２】
【数１８８】
【０１７３】
【数１８９】
【０１７４】
【数１９０】
【０１７５】
【数１９１】
【０１７６】
【数１９２】
【０１７７】
【数１９３】
【０１７８】
【数１９４】
【０１７９】
【数１９５】
【０１８０】
【数１９６】
【０１８１】
【数１９７】
【図面の簡単な説明】
【０１８２】
【図１】第１図は、下からの試料の照射を図示する。Ｌはレンズ、Ｄはレンズの口径、Ｏは検出される表面Ｓの面積、ＣはＬが集光する角度を示す円錐である。
【図２】第２図は、レンズの集光角度を図示する。Ｄはレンズの口径、ｆは焦点距離、Ｏは検出される面積、θHは集光円錐の平面半角である。
【図３】第３図は、表面での反射と屈折を表すのに使用する角度を明確にする線図である。Ｓは表面、ｎｉとｎｔはそれぞれ入射媒体と表面媒体の屈折率、ＲＦＲＢとＲＦＬＢはそれぞれ屈折光ビームと反射光ビーム、ＩＢは入射光ビーム、θi、θrおよびθtは光ビームの入射角、反射角および屈折角である。
【図４Ａ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図４Ｂ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図４Ｃ】第４Ａ図、第４Ｂ図および第４Ｃ図は、様々な出典から得られたｎi＜ｎtに対する光反射グラフである。
【図５−１】第５Ａ図および第５Ｂ図は、様々な出典から得られたｎi＞ｎtに対する光反射グラフである。
【図５−２】第５Ａ図および第５Ｂ図は、様々な出典から得られたｎi＞ｎtに対する光反射グラフである。
【図６】第６図は、空気中の乾燥表面上の粒子の照射に関与する屈折と反射を図示する。
【図７】第７図は、ｎ2＝１．５＋ｎ3＝１に対するθi2対θi1のプロットのグラフである。
【図８】第８図は、表面アーチファクトまたは粒子によって散乱された光の角度分布を図示する。破線は粒子によって散乱された光を表し、矢印の付いた実線は入射白色光ビームと、表面アーチファクトによる散乱光の１本のビームであり、円は前方に散乱された光の強さの包絡線である。
【図９】第９図は、顕微鏡スライド状にあり、カバーグラスで覆われた薄膜状の水の形の試料を示す。照射ビームはＳ１(空気−ガラス)、Ｓ２(ガラス−水)，Ｓ３(水−ガラス)、Ｓ４（ガラス−空気）の４つの媒体境界面に行き当たる。粒子は表面Ｓ２上のＯにあるか、表面Ｓ２上を自由に移動する。入射光は表面Ｓに当たる。
【図１０】第１０図は、上からの試料の照射を示す。Ｌはレンズ、Ｃは集光円錐である。
【図１１】第１１図は、プリズム配置構成を使用した照射を示す(下からの照射)。Ｓ１は光が入射するプリズム表面、Ｓ２およびＳ３はそれぞれプラスチック片基材の下面と上面である。
【図１２Ａ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｂ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｃ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｄ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１２Ｅ】第１２Ａ図、第１２Ｂ図、第１２Ｃ図、第１２Ｄ図および第１２Ｅ図は、それぞれポアプリズム(１２Ａ)、等辺プリズム(１２Ｂ)、自家製プリズム(１２Ｃおよび１２Ｄ)、および平面凸レンズを表す。
【図１３】第１３図は、ローダミン・プラスチック・ブロックによって見た照射光ビームを示す。
【図１４】第１４図は、第１５図を説明する目的の表面および関連した平面を示し、Ｓ１は光透過性または光非透過性の固体基板であり、ＳＰ２は表面Ｓ１の平面上の３次元空間である。ＳＰＩ平面の表面Ｓ１またはその付近に光散乱粒子または光散乱物質がある。
【図１５Ａ】第１５図は、様々なＤＬＡＳＬＰＤ照射検出法をまとめたものである。
【図１５Ｂ】第１５図は、様々なＤＬＡＳＬＰＤ照射検出法をまとめたものである。
【図１６】第１６図は、被覆された直径１００ｎｍの金粒子と、被覆されていない直径１００ｎｍの金粒子の実験的に測定した散乱光の強さ対入射光波長スペクトルを示す。
【図１７】第１７図、第１８図、第１９図は、非特異的な光バックグラウンドのレベルを低減する種々の試料チャンバの設計を示す。これらの試料チャンバは、液体試料と 固定化試料を両方とも検査し得る。第１７図では、Ｓ１は光ビームが試料チャンバに当たる表面であり、Ｓ２は（固定化試料について）光散乱物質を含む表面である。Ｓ３は別の斜面であり、表面Ｓ１と表面Ｓ３とは、照射角度に応じて約２０度から７０度の角度で傾斜し、表面Ｓ１の面は光ビームがＳ１に垂直に対して０度の角度で当たるように角度を付けるべきである。Ｓ４は開口部があってもなくてもよい光透過性の表面であり、Ｓ５は表面Ｓ２の反対側である。チャンバが密閉されている（すなわちＳ４が開口部のない固体である）場合、必要に応じ、試料導入と洗浄のため小さな開口部が設けられる。
【図１８】第１８図は、傾斜した側面が湾曲した側面に置き換わったことを除いて第１７図と同様に設計されている。他のすべては第１７図と同一である。
【図１９】第１９図は、Ｓ１が平坦で傾斜した光透過性の表面であり、光ビームが試料チャンバに当たる。表面Ｓ１の面は、光ビームが０度の角度でＳ１に当たるように角度を付けるべきであり、Ｓ２は光散乱物質が固定化されている場合にその物質を含む表面であり、Ｓ３は別の湾曲もしくは傾斜した表面である。Ｓ４は密閉された試料チャンバ用の光透過性の表面である。あるいは別法として、Ｓ４は試料の導入および洗浄と検出用の種々のサイズおよび形状の開口部を有し、Ｓ５は表面Ｓ２の反対側である。チャンバが密閉されている場合、導入および／またはのため、洗浄表面の１つに小さな開口部が必要となる。
【図２０】第２０図は、粒子の偏光との相互作用を表わすのに使用する座標系である。光はｙ軸に沿って進み、ｚ軸方向に偏光される。Ｄは散乱光の強さの検出器である。γは観察の方向である。θおよびψはそれぞれコア角と偏光角である。
【図２１】第２１図は、液体試料分析用の機器の概略図である。フィラメントないし放電灯がレンズＬ１に代表されるレンズ系によりモノクロメーターの入口スリット上に合焦され、モノクロメーターに存在する単色光がレンズＬ２により集光され、レンズＬ３により透明な試料キュベット（ＳＴ）上に合焦され、試料キュベットが蛍光性分子の溶液または光散乱粒子の懸濁液を含み、 試料キュベットの側壁から反射された光が下方に回折して光検出器から遠ざかるように試料キュベットに角度を付けるか傾斜させ、試料により散乱もしくは放射された光が、平面Ｍに試料キュベットと液体内容物の拡大像を結ぶレンズ１４によって集光され、液体によりキュベットの中心で放射もしくは散乱された光は光 検出器に到達させるが試料キュベットの側壁により放射もしくは散乱された光は遮蔽するように平面Ｍに小さな開口部を配置し、液体内容物の中心のＭにある拡大像が、傾斜した試料キュベットの屈折率効果により、レンズＬ４の光軸から移 動し、それにより放射もしくは散乱された光が検出され、移動した液体中心の像が開口部と光検出器の上に位置するように光検出器と開口部がレンズＬ４の光軸の片側に配置され、光学フィルターおよび／または偏光子を照射光および散乱光の光路へ導入するためのホルダー（Ｈ１，Ｈ２）が設けられ、光検出器の前部に光シャッターが配置される。光検出器が小さな感光領域を有する場合、レンズＬ５を使用して、感光領域に向かってＭで開口部を横切る光に焦点が合わされる。単色光の必要がない場合、モノクロメーターは容易に取り外すことができ、フィラメントまたは放電灯からの光をレンズＬ１、Ｌ２およびＬ３によって直接試料容器に送ることができる。
【図２２】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２３】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２４】第２２図、第２３図、第２４図は、具体的な検査キットおよび装置に結びつくＰＤ法の概略を示す。
【図２５】第２５図は、装置およびアッセイの開発プロセスの概略を示す。
【図２６−１】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２６−２】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２６−３】第２６Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図およびＦ図は、それぞれ直径１０ｎｍの球状の金、銀、アルミニウム、銅、セレニウム、ポリスチレン粒子に対する散乱光の強さの計算値対入射波長のプロフィルを示す。Ｌkは波長、Ｃscaは断面を横切る光である。
【図２７】第２７Ａ図、Ｂ図、Ｃ図、Ｄ図、Ｅ図、Ｆ図は、種々のサイズの金に対する散乱光の強さの計算値対入射光の波長を示す。Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆはそれぞれ直径１０、２０、４０、６０、８０および１００ｎｍの球状金粒子に対応する。ＲＥＬＣＳＣＡは相対光散乱断面積であり、ＷＡＶＥ，ＮＭは波長である。
【図２８】第２８図は、球状の被覆された粒子の線図である。（１）は粒子表面上のポリマー、結合剤その他の物質の被覆であり、（２）はコア粒子である。
【図２９】第２９Ａ図、Ｂ図、Ｃ図は、ＭＳＬＰ（処理が可能な光散乱粒子）混合組成粒子の線図を示す。Ａ（１）は、（２）所望の光散乱材料で被覆された、コアの磁性材料または強誘電性材料であり、Ｂは、（３）磁性材料または強誘電性材料で被覆された、（４）光散乱材料のコアを示し、Ｃは（５）光散乱材料の（６）磁性材料または強誘電性材料との混合物を示す。
【図３０】第３０Ａ図、Ｂ図、Ｃ図は、それぞれ適応可能なＭＬＳＰ粒子のための二量体、四量体、またはそれよりも高次の粒子構造体を示す。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団であって、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、各前記集団が、０．１粒子／平方ミクロン未満の粒子密度である表面に存在し、そして白色光で照射されるとき、各前記集団の前記粒子の少なくとも９０％により散乱された散乱光の色は、電子増幅なしのしかし５００倍未満の倍率で見たとき肉眼で区別できず、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団。
【請求項２】
散乱光検出可能な粒子の１個以上の集団において、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、前記集団における大きさの分布は、５％未満の変動係数を特徴とし、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光検出可能な粒子の１個以上の集団。
【請求項３】
１個以上の前記集団では、前記粒子は、金、銀又は金及び銀である、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項４】
１個以上の集団では、前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤に結合できる基礎分子及び予定された分析物に結合できる結合剤を含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項５】
１個以上の集団では、前記少なくとも１種の追加の物質は、ポリマー、無機材料、有機材料、蛋白質材料、基礎分子材料、又は結合剤を含む、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項６】
１個以上の集団では、前記粒子が球状、卵形または楕円体である、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項７】
１個以上の集団では、前記粒子は、５％未満の変動係数を持った大きさ分布を有する、請求項１、３または４に記載の集団。
【請求項８】
１個以上の集団では、前記粒子は、金又は銀の表面被覆を含む請求項１又は２に記載に記載の集団。
【請求項９】
１個以上の集団では、前記粒子は、磁性材料または強誘電性材料をさらに含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１０】
前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤であり、２以上の前記集団により散乱されたその散乱光は、区別できるように異なり、そして各前記２以上の集団の前記結合剤は、異なる予定した分析物を結合できる請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１１】
前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤であり、そして１個以上の前記集団にとって、前記結合剤は、ビオチン、アビジン、スプレプタビジン、核酸、蛋白質、ペプチド、抗体、抗原性物質、レセプタ、ホルモン、ジゴキシゲニン、フルオレシン、抗ビオチン抗体、抗ジゴキシゲニン抗体、抗フルオレシン抗体、又は薬物を含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１２】
１個以上の前記集団にとって、前記追加の物質は、ゼラチン、ポリエチレングリコール、カルボハイドレート、ポリアミノ酸又は蛋白質である請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１３】
前記１個以上の集団にとって、前記粒子は、１０、１６、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、１００、１２０、１４０、１５０、１６０、２００又は３００ナノメートルの大きさである請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１４】
固体相表面上の試料の分析装置において、
（ａ）固体相表面上の試料上の試料に光を到達するように向けられた光源、前記試料は、１個以上の分析物及び１個以上の散乱光検出可能な粒子を含み、
（ｂ）前記固体相試料により散乱された光を検出するための検出器、ここにおいて（ｉ）前記照射及び前記検出は、互いに前記試料の表面の反対側に位置するか、又は（ｉｉ）前記検出器は、前記試料の表面に立てた垂線をなす角度の臨界角未満で向けられており、そして前記光源及び前記検出器は、バックグランド散乱光を減少するように配置されており、
前記試料と結合された前記光散乱粒子は、前記粒子から散乱光を生じさせる条件のもとで前記光により照射され、そして前記散乱光は、電子増幅なしにしかし５００倍未満の倍率で肉眼で検出可能であるように、前記装置は、配置されている、装置。
【請求項１５】
前記固体相を含む試料デバイスを更に含む請求項１４に記載の装置。
【請求項１６】
前記試料デバイスは、アレイスライド、アレイチップ、アレイプレート、ミクロアレイ、チップ、スライド、ミクロタイター（ｍｉｃｒｏｔｉｔｅｒ），テストチューブ、毛細管、フローセル、ミクロチャンネルデバイス、キュベット、ヂップスチック、又は液体又は固体相試料を保持するための容器である請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記検出器は、カメラ、ビデオカメラ、電荷対デバイス、及び電荷射出デバイスからなる群から選ばれた光検出器である請求項１４に記載の装置。
【請求項１８】
前記検出器は、その散乱光を集めそして増幅するための収集オプティクス（ｏｐｔｉｃｓ）を含む請求項９に記載の装置。
【請求項１】
散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団であって、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、各前記集団が、０．１粒子／平方ミクロン未満の粒子密度である表面に存在し、そして白色光で照射されるとき、各前記集団の前記粒子の少なくとも９０％により散乱された散乱光の色は、電子増幅なしのしかし５００倍未満の倍率で見たとき肉眼で区別できず、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光により検出可能な粒子の１個以上の集団。
【請求項２】
散乱光検出可能な粒子の１個以上の集団において、前記粒子は、金属を含み、そして１〜５００ナノメートルの大きさを有し、前記集団における大きさの分布は、５％未満の変動係数を特徴とし、そして前記粒子は、その表面に少なくとも１種の追加の物質を含む、散乱光検出可能な粒子の１個以上の集団。
【請求項３】
１個以上の前記集団では、前記粒子は、金、銀又は金及び銀である、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項４】
１個以上の集団では、前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤に結合できる基礎分子及び予定された分析物に結合できる結合剤を含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項５】
１個以上の集団では、前記少なくとも１種の追加の物質は、ポリマー、無機材料、有機材料、蛋白質材料、基礎分子材料、又は結合剤を含む、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項６】
１個以上の集団では、前記粒子が球状、卵形または楕円体である、請求項１又は２に記載の集団。
【請求項７】
１個以上の集団では、前記粒子は、５％未満の変動係数を持った大きさ分布を有する、請求項１、３または４に記載の集団。
【請求項８】
１個以上の集団では、前記粒子は、金又は銀の表面被覆を含む請求項１又は２に記載に記載の集団。
【請求項９】
１個以上の集団では、前記粒子は、磁性材料または強誘電性材料をさらに含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１０】
前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤であり、２以上の前記集団により散乱されたその散乱光は、区別できるように異なり、そして各前記２以上の集団の前記結合剤は、異なる予定した分析物を結合できる請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１１】
前記少なくとも１種の追加の物質は、結合剤であり、そして１個以上の前記集団にとって、前記結合剤は、ビオチン、アビジン、スプレプタビジン、核酸、蛋白質、ペプチド、抗体、抗原性物質、レセプタ、ホルモン、ジゴキシゲニン、フルオレシン、抗ビオチン抗体、抗ジゴキシゲニン抗体、抗フルオレシン抗体、又は薬物を含む請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１２】
１個以上の前記集団にとって、前記追加の物質は、ゼラチン、ポリエチレングリコール、カルボハイドレート、ポリアミノ酸又は蛋白質である請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１３】
前記１個以上の集団にとって、前記粒子は、１０、１６、２０、３０、４０、５０、６０、７０、８０、１００、１２０、１４０、１５０、１６０、２００又は３００ナノメートルの大きさである請求項１又は２に記載の集団。
【請求項１４】
固体相表面上の試料の分析装置において、
（ａ）固体相表面上の試料上の試料に光を到達するように向けられた光源、前記試料は、１個以上の分析物及び１個以上の散乱光検出可能な粒子を含み、
（ｂ）前記固体相試料により散乱された光を検出するための検出器、ここにおいて（ｉ）前記照射及び前記検出は、互いに前記試料の表面の反対側に位置するか、又は（ｉｉ）前記検出器は、前記試料の表面に立てた垂線をなす角度の臨界角未満で向けられており、そして前記光源及び前記検出器は、バックグランド散乱光を減少するように配置されており、
前記試料と結合された前記光散乱粒子は、前記粒子から散乱光を生じさせる条件のもとで前記光により照射され、そして前記散乱光は、電子増幅なしにしかし５００倍未満の倍率で肉眼で検出可能であるように、前記装置は、配置されている、装置。
【請求項１５】
前記固体相を含む試料デバイスを更に含む請求項１４に記載の装置。
【請求項１６】
前記試料デバイスは、アレイスライド、アレイチップ、アレイプレート、ミクロアレイ、チップ、スライド、ミクロタイター（ｍｉｃｒｏｔｉｔｅｒ），テストチューブ、毛細管、フローセル、ミクロチャンネルデバイス、キュベット、ヂップスチック、又は液体又は固体相試料を保持するための容器である請求項１５に記載の装置。
【請求項１７】
前記検出器は、カメラ、ビデオカメラ、電荷対デバイス、及び電荷射出デバイスからなる群から選ばれた光検出器である請求項１４に記載の装置。
【請求項１８】
前記検出器は、その散乱光を集めそして増幅するための収集オプティクス（ｏｐｔｉｃｓ）を含む請求項９に記載の装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４Ａ】
【図４Ｂ】
【図４Ｃ】
【図５−１】
【図５−２】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２Ａ】
【図１２Ｂ】
【図１２Ｃ】
【図１２Ｄ】
【図１２Ｅ】
【図１３】
【図１４】
【図１５Ａ】
【図１５Ｂ】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６−１】
【図２６−２】
【図２６−３】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【図２】
【図３】
【図４Ａ】
【図４Ｂ】
【図４Ｃ】
【図５−１】
【図５−２】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２Ａ】
【図１２Ｂ】
【図１２Ｃ】
【図１２Ｄ】
【図１２Ｅ】
【図１３】
【図１４】
【図１５Ａ】
【図１５Ｂ】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２１】
【図２２】
【図２３】
【図２４】
【図２５】
【図２６−１】
【図２６−２】
【図２６−３】
【図２７】
【図２８】
【図２９】
【図３０】
【公開番号】特開２００７−２６３９７４（Ｐ２００７−２６３９７４Ａ）
【公開日】平成１９年１０月１１日（２００７．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−１４９８２７（Ｐ２００７−１４９８２７）
【出願日】平成１９年６月５日（２００７．６．５）
【分割の表示】特願平９−５３８２２７の分割
【原出願日】平成９年４月１７日（１９９７．４．１７）
【出願人】（５０２２２１２８２）インヴィトロジェン コーポレーション (113)
【出願人】（５９２１３０６９９）ザ・レジェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・カリフォルニア (364)
【氏名又は名称原語表記】Ｔｈｅ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年１０月１１日（２００７．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年６月５日（２００７．６．５）
【分割の表示】特願平９−５３８２２７の分割
【原出願日】平成９年４月１７日（１９９７．４．１７）
【出願人】（５０２２２１２８２）インヴィトロジェン コーポレーション (113)
【出願人】（５９２１３０６９９）ザ・レジェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・カリフォルニア (364)
【氏名又は名称原語表記】Ｔｈｅ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ
【Ｆターム（参考）】
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