検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置
【課題】簡単な構成によりスキューを調整する。
【解決手段】
【請求項１】信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、信号発生装置が出力する、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを備える検出装置を提供する。検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部を更に備えてよい。
【解決手段】
【請求項１】信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、信号発生装置が出力する、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを備える検出装置を提供する。検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部を更に備えてよい。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置に関する。特に本発明は、信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
受信装置を試験する試験装置は、一例として、信号発生装置と、直交変調器とを備える。信号発生装置は、受信装置に送信する２チャンネルの送信信号を生成する。直交変調器は、２チャンネルの送信信号をローカル信号により直交変調した変調信号を生成する。そして、試験装置は、直交変調器により生成された変調信号を試験信号として受信装置に供給して、当該受信装置を試験する。
【０００３】
ここで、試験装置は、信号発生装置から発生された２チャンネルの送信信号を互いに位相ずれなく直交変調器に到達させるように、キャリブレーションにより信号発生装置のチャンネル間のスキューを調整していた。試験装置は、一例として、信号発生装置から直交変調器までの第１のチャンネルと第２のチャンネルとの間の遅延差を例えばネットワークアナライザにより解析し、解析結果に応じてスキュー調整をしていた。
【０００４】
なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、信号発生装置から発生された２チャンネルの送信信号のスキューをネットワークアナライザを用いて調整する方法は、手間がかかり、装置構成も大きい。従って、この方法は、コストが高かった。
【０００６】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、信号発生装置が出力する、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを備える検出装置を提供する。
【０００８】
本発明の第２形態においては、生成した送信信号を変調して出力するアナログ変調回路であって、送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、信号発生装置から送信信号を受け取り、送信信号を変調して出力する信号処理装置とを備え、信号処理装置は、第１の入力端子を介して受け取ったＩ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、第２の入力端子を介して受け取ったＱ信号に、シフト部が出力するローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、Ｉ側乗算部が出力する信号とＱ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、第１の入力端子が受け取ったＩ信号と、第２の入力端子が受け取ったＱ信号とのスキューを検出する検出装置とを有し、検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、第１の入力端子から分岐して第１のアナログ信号を受け取り、第２の入力端子から分岐して第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを含むアナログ変調回路を提供する。
【０００９】
本発明の第３形態においては、被試験受信回路を試験する試験装置であって、生成した送信信号を変調して被試験受信回路に出力するアナログ変調回路と、アナログ変調回路から出力された信号に応じて被試験受信回路が出力した信号を判定する判定部とを備え、アナログ変調回路は、送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、信号発生装置から送信信号を受け取り、送信信号を変調して出力する信号処理装置とを有し、信号処理装置は、第１の入力端子を介して受け取ったＩ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、第２の入力端子を介して受け取ったＱ信号に、シフト部が出力するローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、Ｉ側乗算部が出力する信号とＱ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、第１の入力端子が受け取ったＩ信号と、第２の入力端子が受け取ったＱ信号とのスキューを検出する検出装置とを含み、検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、第１の入力端子から分岐して第１のアナログ信号を受け取り、第２の入力端子から分岐して第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを含む試験装置を提供する。
【００１０】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１２】
図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を被試験受信回路１００とともに示す。試験装置１０は、波形データ発生部１２と、アナログ変調回路２０と、判定部１４とを備え、被試験受信回路１００を試験する。
【００１３】
波形データ発生部１２は、被試験受信回路１００に対して送信する２チャンネルの送信信号である第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の波形データを発生する。アナログ変調回路２０は、波形データ発生部１２により発生された波形データに応じて、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を生成する。そして、アナログ変調回路２０は、生成した送信信号である第１及び第２のアナログ信号を変調して被試験受信回路１００に出力する。アナログ変調回路２０は、一例として、第１及び第２のアナログ信号をローカル信号により直交変調した変調信号を被試験受信回路１００に出力してよい。
【００１４】
判定部１４は、アナログ変調回路２０から出力された信号に応じて被試験受信回路１００が出力した信号を判定する。判定部１４は、一例として、アナログ変調回路２０から供給された変調信号に応じて被試験受信回路１００から出力された出力信号と、期待値信号とを比較して、被試験受信回路１００の良否を判定してよい。
【００１５】
図２は、本実施形態に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。アナログ変調回路２０は、信号発生装置３０と、信号処理装置４０とを有する。信号発生装置３０は、送信信号の第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を生成する。信号処理装置４０は、信号発生装置３０から送信信号である第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を受け取り、送信信号を変調して出力する。信号処理装置４０は、一例として、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号をローカル信号により直交変調した変調信号を出力する。
【００１６】
信号処理装置４０は、第１の入力端子４２と、第２の入力端子４４と、動作回路５０と、検出装置７０とを含む。第１の入力端子４２は、信号発生装置３０から出力された第１のアナログ信号を受け取る。第２の入力端子４４は、信号発生装置３０から出力された第２のアナログ信号を受け取る。
【００１７】
動作回路５０は、第１の入力端子４２から第１のアナログ信号及び第２の入力端子４４から第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号に応じて動作する。動作回路５０は、一例として、第１の入力端子４２が受け取った第１のアナログ信号及び第２の入力端子４４が受け取った第２のアナログ信号を所定のローカル信号により変調して被試験受信回路１００に出力してよい。
【００１８】
動作回路５０は、一例として、ローカル信号発生器５２と、Ｉ側乗算部５４と、シフト部５６と、Ｑ側乗算部５８と、出力部６０とを含んでよい。ローカル信号発生器５２は、所定周波数の所定のローカル信号を発生する。Ｉ側乗算部５４は、第１の入力端子４２を介して受け取った第１のアナログ信号に、ローカル信号発生器５２から発生された所定のローカル信号を乗算する。
【００１９】
シフト部５６は、ローカル信号発生器５２から発生されたローカル信号の位相を略９０度シフトする。Ｑ側乗算部５８は、第２の入力端子４４を介して受け取った第２のアナログ信号に、シフト部５６が出力するローカル信号を乗算する。出力部６０は、例えば加算器を含み、Ｉ側乗算部５４が出力する信号とＱ側乗算部５８が出力する信号とを加算して出力する。このような動作回路５０によれば、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を所定のローカル信号により直交変調することができる。
【００２０】
検出装置７０は、例えばキャリブレーション時において、第１の入力端子４２が受け取った第１のアナログ信号と、第２の入力端子４４が受け取った第２のアナログ信号とのスキューを検出する。すなわち、検出装置７０は、信号発生装置３０から信号処理装置４０対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する。これに加えて、検出装置７０は、検出したスキューに応じて、当該スキューが略０となるように信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。なお、検出装置７０は、信号処理装置４０の内部に設けられてもよいし、信号処理装置４０の外部に設けられてもよい。なお、検出装置７０は、キャリブレーション以外の時において、第１および第２のアナログ信号の入力がスイッチにより切断されてよい。
【００２１】
検出装置７０は、信号制御部７２と、乗算部７４と、検出部７６と、スキュー調整部７８とを含む。信号制御部７２は、信号発生装置３０に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる。信号制御部７２は、一例として、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させるとともに、第２のアナログ信号としてサイン波信号と略同一の位相を有するコサイン波信号（すなわち、サイン波信号の位相を９０度シフトした信号）を出力させてよい。
【００２２】
乗算部７４は、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する。乗算部７４は、一例として、第１のアナログ信号として信号発生装置３０から出力されたサイン波信号と、第２のアナログ信号として信号発生装置３０から出力されたコサイン波信号とを乗算してよい。乗算部７４は、一例として、第１の入力端子４２から分岐して第１のアナログ信号（例えばサイン波信号）を受け取り、第２の入力端子４４から分岐して第２のアナログ信号（例えばコサイン波信号）を受け取り、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算してよい。
【００２３】
検出部７６は、乗算部７４における乗算結果に基づいて、第１及び第２のアナログ信号（例えばサイン波信号及びコサイン波信号）のスキューの値に応じたレベルの信号を出力する。検出部７６は、一例として、積分部８２を含んでよい。積分部８２は、乗算部７４における乗算結果を積分した積分信号をスキューの値に応じたレベルの信号として出力する。
【００２４】
スキュー調整部７８は、検出部７６から出力されたスキューの値に応じたレベルの信号（例えば積分信号）に基づき、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する。スキュー調整部７８は、一例として、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューが小さくなるように（例えば第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューが略０となるように）、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００２５】
スキュー調整部７８は、一例として、信号発生装置３０と信号処理装置４０との間の第１及び第２のアナログ信号を伝送する伝送線路の遅延量を調整することにより、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。また、スキュー調整部７８は、一例として、信号発生装置３０内における第１のアナログ信号を生成する回路の動作クロックまたは第２のアナログ信号を生成する回路の動作クロックを遅延することにより、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００２６】
そして、キャリブレーション完了後、信号発生装置３０は、スキュー調整部７８により位相が調整された状態で、波形データ発生部１２から出力された波形データに応じた第１及び第２のアナログ信号を出力する。これにより、信号発生装置３０は、スキューの小さい第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を信号処理装置４０に供給することができる。従って、信号処理装置４０は、スキューの小さい第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号をローカル信号により変調した変調信号を被試験受信回路１００に供給することができる。
【００２７】
このようなアナログ変調回路２０によれば、信号発生装置３０から信号処理装置４０に対して並列に供給される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを、ネットワークアナライザ等を用いることなく調整することができる。これにより、アナログ変調回路２０によれば、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを、簡単な構成で調整することができる。そして、このようなアナログ変調回路２０を備える試験装置１０によれば、低いコストで精度良く被試験受信回路１００を試験することができる。
【００２８】
図３（Ａ）は第１のアナログ信号（サイン波信号）の一例を示し、図３（Ｂ）は第２のアナログ信号（コサイン波信号）の一例を示す。また、図３（Ｃ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが有る場合の乗算結果を示し、図３（Ｄ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが無い場合の乗算結果の一例を示す。
【００２９】
ここで、信号制御部７２による制御に応じて、信号発生装置３０は、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力し、第２のアナログ信号としてコサイン波信号を出力したとする。この場合、信号処理装置４０に入力したサイン波信号及びコサイン波信号のスキューによって生じる位相差をθとすると、乗算部７４による乗算結果Ｖｒは、下記式（１）のように表される。
【００３０】
【数１】
【００３１】
この場合において、積分部８２は、式（１）を積分した積分信号を出力する。すなわち、積分部８２は、式（１）を平均した下記式（２）に表されるような積分信号Ｖｏを出力する。
【００３２】
【数２】
【００３３】
式（２）を参照すると、積分信号Ｖｏは、スキューによって生じる位相差θの増加に応じて単純減少し、スキューによって生じる位相差θが０の場合に値が０となる。すなわち、スキューによって生じる位相差θは、積分信号Ｖｏのレベルが増加するに応じて小さくなり、積分信号Ｖｏが０の場合に０となる。
【００３４】
このことから、スキュー調整部７８は、一例として、第１のアナログ信号としてサイン波信号が出力され、第２のアナログ信号としてコサイン波信号が出力された場合、検出部７６から出力された積分信号Ｖｏのレベルの絶対値が最小となるように、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。これにより、スキュー調整部７８は、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とのスキューを略０とすることができる。
【００３５】
図４は、本実施形態の信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第１例（矩形波信号）を示す。図５は、本実施形態の信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第２例（三角波信号）を示す。
【００３６】
信号制御部７２は、サイン波信号及びコサイン波信号に限らず、信号発生装置３０から略同一の波形を有する周期信号の第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させてよい。信号制御部７２は、一例として、図４に示すような、略同一周期で略９０度の位相差を有する矩形波信号を第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として出力させてよい。また、信号制御部７２は、一例として、図５に示すような、略同一周期で９０度の位相差を有する略同一の三角波信号を第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として出力させてよい。
【００３７】
また、信号制御部７２は、一例として、略同一周期の波形を有する第１のアナログ信号と第２のアナログ信号との位相シフト量を、９０度以外の位相差としてもよい。信号制御部７２は、一例として、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号との位相シフト量を、０度または１８０度としてもよい。
【００３８】
そして、スキュー調整部７８は、一例として、検出部７６から出力されたスキューに応じた値が、信号制御部７２により設定された位相シフト量に応じた値となるように、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。スキュー調整部７８は、一例として、乗算部７４の乗算結果を積分した値が、信号制御部７２により設定された位相シフト量に応じた値となるように（例えば、乗算部７４の乗算結果を積分した値が最大値、最小値または０となるように）、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。なお、波形生成が簡易であり、高周波数成分を含まず、乗算結果の平均値が０の場合にスキューが０となるのでスキューを小さくする制御が簡単であることから、信号制御部７２は、信号発生装置３０からサイン波信号及びコサイン波信号を第１及び第２のアナログ信号として出力させるのが好ましい。
【００３９】
図６は、本実施形態の第１変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４０】
まず、スキュー調整部７８は、信号発生装置３０から出力される第１及び第２のアナログ信号を停止して、すなわち、第１及び第２のアナログ信号のレベルを０として、検出部７６から出力される信号の値（オフセット値）を検出する（Ｓ１００１）。そして、スキュー調整部７８は、検出したオフセット値を記憶する。
【００４１】
次に、信号制御部７２は、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させるとともに、第２のアナログ信号としてコサイン波信号を出力させて、検出部７６に第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間のスキューに応じた値を検出させる。これに代えて、信号制御部７２は、サイン波信号およびコサイン波信号以外の信号を第１及び第２のアナログ信号として出力させてもよい。そして、スキュー調整部７８は、検出部７６により検出された信号から、ステップＳ１００１において検出したオフセット値を減算し、減算した値に基づき信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する（Ｓ１００２）。
【００４２】
乗算部７４及び検出部７６等は、第１及び第２のアナログ信号が０であっても出力値が０とならず、オフセット値を出力する場合がある。このような場合であっても、本変形例に係るアナログ変調回路２０によれば、オフセット値の影響を除去することができるので、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを精度良く測定することができる。
【００４３】
図７は、第１のアナログ信号がサイン波信号であり、第２のアナログ信号がコサイン波信号である場合における、スキューによって生じる位相差θに対する積分信号Ｖｏを示す。次に本実施形態の第３変形例を説明する。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４４】
サイン波信号及びコサイン波信号を信号発生装置３０に出力させ、スキューによって生じる位相差θを横軸にとった場合における、スキューによって生じる位相差θに対する積分信号Ｖｏの傾き（微分値）は、図７に表すように、位相差θ＝０（すなわち、サイン波信号とコサイン波信号との間の位相シフト量が９０度の場合）に最大となり、位相差θが０から遠ざかるに従って徐々に小さくなる。従って、スキュー調整部７８は、積分信号Ｖｏのレベルを位相差θで微分した微分値が最大となるように制御することによって、スキューが０となるようにサイン波信号およびコサイン波信号の位相を調整することができる。
【００４５】
このことから、本変形例に係る信号制御部７２は、信号発生装置３０に、位相差θが順次変化する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる。信号制御部７２は、一例として、位相差θが順次変化するサイン波信号及びコサイン波信号を出力させてよい。そして、本変形例に係るスキュー調整部７８は、位相差θ毎に積分信号Ｖｏのレベルを測定し、積分信号Ｖｏのレベルを位相差で微分した微分値に基づいて、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する。位相差θが順次変化するサイン波信号及びコサイン波信号が信号発生装置３０から出力された場合であれば、スキュー調整部７８は、微分値が最大となるように、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００４６】
これにより、スキュー調整部７８は、スキューが０となるように、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号（例えばサイン波信号）および第２のアナログ信号（例えばコサイン波信号）の位相を調整することができる。さらに、積分信号Ｖｏのレベルを位相差で微分した微分値は、検出部７６から出力される信号にオフセットが含まれていても、値は変わらない。従って、このようなアナログ変調回路２０によれば、検出部７６から出力される信号にオフセットが含まれていても、精度良くスキューを測定することができる。
【００４７】
図８は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、略同一の構成及び機能を有する部材については図８中に同一の符号を付け、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４８】
本変形例に係る検出装置７０は、ローカル信号調整部９２と、レジスタ９４とを更に含む。ローカル信号調整部９２は、動作回路５０におけるＩ側乗算部５４が出力する信号と、動作回路５０におけるＱ側乗算部５８が出力する信号との位相差が所定の位相となるように、シフト部５６における位相シフト量を調整する。レジスタ９４は、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、検出部７６が出力する信号のレベルを格納する。レジスタ９４は、一例として、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、積分部８２が出力する積分信号のレベルを格納してよい。
【００４９】
図９は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。図１０は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０における、出力信号の周波数特性を示す。
【００５０】
まず、第３変形例に係るアナログ変調回路２０は、第１調整フェーズにおいて、シフト部５６の位相シフト量を調整する（Ｓ１１０１）。より詳しくは、信号制御部７２は、信号発生装置３０に、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力させる。これにより、信号発生装置３０は、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力することができる。ここで、Ｉ信号は、所定の周波数の正弦波信号であってよく、Ｑ信号は、Ｉ信号を９０度位相がシフトした信号であってよい。
【００５１】
信号発生装置３０からＩ信号及びＱ信号が出力された場合、Ｉ側乗算部５４は、Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算し、Ｑ側乗算部５８は、Ｑ信号に、シフト部５６が出力するローカル信号を乗算する。そして、出力部６０は、Ｉ側乗算部５４が出力する信号とＱ側乗算部５８が出力する信号とを加算して変調信号を出力する。そして、ローカル信号調整部９２は、出力部６０から出力された変調信号に基づき、Ｉ信号及びＱ信号がローカル信号により精度良く直交性を保って変調されるように、シフト部５６のシフト量を調整する。
【００５２】
ここで、Ｉ信号及びＱ信号がローカル信号により精度良く直交に変調された場合、変調信号における低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分と、変調信号における高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分との差が大きくなる。直交性が良い場合には、好ましくは、低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分または高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分の一方が略０となる。なお、低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分は、ローカル信号の周波数（ｆＬＯ）からＩ信号の周波数（ｆＸ）を減算した周波数の信号成分を含み、高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分は、ローカル信号の周波数（ｆＬＯ）にＩ信号の周波数（ｆＸ）を加算した周波数の信号成分を含んでよい。
【００５３】
従って、ローカル信号調整部９２は、出力部６０から出力された変調信号における低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分と、変調信号における高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分とのレベル差がより大きくなるように、シフト部５６の位相シフト量を調整してよい。これにより、ローカル信号調整部９２は、Ｉ信号及びＱ信号をローカル信号により精度良く直交変調させることができる。
【００５４】
アナログ変調回路２０は、第１調整フェーズにおいて、以上のようにシフト部５６の位相シフト量を調整することにより、信号発生装置３０により第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号が生成されてから、出力部６０から変調信号が出力されるまで経路において生じるスキューおよびキャリア位相差等を総合的に補正して、第１及び第２のアナログ信号をローカル信号により精度良く直交変調した変調信号を出力することができる。
【００５５】
次に、記憶フェーズにおいて、レジスタ９４は、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、検出部７６が出力する信号のレベルを格納する（Ｓ１１０２）。一例として、レジスタ９４は、積分部８２が出力する積分信号のレベルを格納してよい。すなわち、レジスタ９４は、最終段の出力信号（変調信号）が調整された状態における、信号発生装置３０から出力された第１及び第２のアナログ信号のスキューに応じた値を記憶する。
【００５６】
次に、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した後の第２調整フェーズにおいて、アナログ変調回路２０は、信号発生装置３０が出力する第１及び第２のアナログ信号の位相を調整する（Ｓ１１０３）。アナログ変調回路２０は、一例として、信号処理装置４０が取り外されて、他のピンリソースに対応する信号発生装置３０に取り付けられた場合、及び、第１調整フェーズにおける調整が完了した後に時間が経過したり温度が変化した場合等において、第２調整フェーズにおける位相調整を実行してよい。
【００５７】
より詳細には、第２調整フェーズにおいて、スキュー調整部７８は、検出部７６（例えば積分部８２）が出力する積分信号のレベルと、ローカル信号調整部９２が格納した積分信号のレベルとを比較し、信号発生装置３０がＩ信号及びＱ信号を出力するタイミングを調整する。すなわち、スキュー調整部７８は、記憶フェーズにおいて記憶した値からずれた量に応じて、信号発生装置３０がＩ信号及びＱ信号を出力するタイミングを調整する。
【００５８】
このようなアナログ変調回路２０によれば、装置全体として精度良く変調信号を出力できる場合における、信号発生装置３０から出力される第１及び第２のアナログ信号のスキューに応じた値をレジスタ９４に記憶する。従って、本変形例に係るアナログ変調回路２０によれば、信号処理装置４０の前段（例えば信号発生装置３０）において誤差が生じた場合、シフト部５６の位相シフト量を変化させずに、信号発生装置３０から出力された信号をローカル信号により精度良く直交変調させることができる。
【００５９】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を被試験受信回路１００とともに示す。
【図２】本発明の実施形態に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。
【図３】（Ａ）は第１のアナログ信号（サイン波信号）の一例を示し、（Ｂ）は第２のアナログ信号（コサイン波信号）の一例を示し、（Ｃ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが有る場合の乗算結果を示し、（Ｄ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが無い場合の乗算結果の一例を示す。
【図４】本実施形態に係る信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第１例（矩形波信号）を示す。
【図５】本実施形態に係る信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第２例（三角波信号）を示す。
【図６】本実施形態の第１変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。
【図７】第１のアナログ信号がサイン波信号であり、第２のアナログ信号がコサイン波信号である場合における、位相差θに対する積分信号Ｖｏを示す。
【図８】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。
【図９】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。
【図１０】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０における、出力信号の周波数特性を示す。
【符号の説明】
【００６１】
１０ 試験装置
１２ 波形データ発生部
１４ 判定部
２０ アナログ変調回路
３０ 信号発生装置
４０ 信号処理装置
４２ 第１の入力端子
４４ 第２の入力端子
５０ 動作回路
５２ ローカル信号発生器
５４ Ｉ側乗算部
５６ シフト部
５８ Ｑ側乗算部
６０ 出力部
７０ 検出装置
７２ 信号制御部
７４ 乗算部
７６ 検出部
７８ スキュー調整部
８２ 積分部
９２ ローカル信号調整部
９４ レジスタ
１００ 被試験受信回路
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置に関する。特に本発明は、信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
受信装置を試験する試験装置は、一例として、信号発生装置と、直交変調器とを備える。信号発生装置は、受信装置に送信する２チャンネルの送信信号を生成する。直交変調器は、２チャンネルの送信信号をローカル信号により直交変調した変調信号を生成する。そして、試験装置は、直交変調器により生成された変調信号を試験信号として受信装置に供給して、当該受信装置を試験する。
【０００３】
ここで、試験装置は、信号発生装置から発生された２チャンネルの送信信号を互いに位相ずれなく直交変調器に到達させるように、キャリブレーションにより信号発生装置のチャンネル間のスキューを調整していた。試験装置は、一例として、信号発生装置から直交変調器までの第１のチャンネルと第２のチャンネルとの間の遅延差を例えばネットワークアナライザにより解析し、解析結果に応じてスキュー調整をしていた。
【０００４】
なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、信号発生装置から発生された２チャンネルの送信信号のスキューをネットワークアナライザを用いて調整する方法は、手間がかかり、装置構成も大きい。従って、この方法は、コストが高かった。
【０００６】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる検出装置、アナログ変調回路、及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、信号発生装置が出力する、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを備える検出装置を提供する。
【０００８】
本発明の第２形態においては、生成した送信信号を変調して出力するアナログ変調回路であって、送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、信号発生装置から送信信号を受け取り、送信信号を変調して出力する信号処理装置とを備え、信号処理装置は、第１の入力端子を介して受け取ったＩ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、第２の入力端子を介して受け取ったＱ信号に、シフト部が出力するローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、Ｉ側乗算部が出力する信号とＱ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、第１の入力端子が受け取ったＩ信号と、第２の入力端子が受け取ったＱ信号とのスキューを検出する検出装置とを有し、検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、第１の入力端子から分岐して第１のアナログ信号を受け取り、第２の入力端子から分岐して第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを含むアナログ変調回路を提供する。
【０００９】
本発明の第３形態においては、被試験受信回路を試験する試験装置であって、生成した送信信号を変調して被試験受信回路に出力するアナログ変調回路と、アナログ変調回路から出力された信号に応じて被試験受信回路が出力した信号を判定する判定部とを備え、アナログ変調回路は、送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、信号発生装置から送信信号を受け取り、送信信号を変調して出力する信号処理装置とを有し、信号処理装置は、第１の入力端子を介して受け取ったＩ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、第２の入力端子を介して受け取ったＱ信号に、シフト部が出力するローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、Ｉ側乗算部が出力する信号とＱ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、第１の入力端子が受け取ったＩ信号と、第２の入力端子が受け取ったＱ信号とのスキューを検出する検出装置とを含み、検出装置は、信号発生装置に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、第１の入力端子から分岐して第１のアナログ信号を受け取り、第２の入力端子から分岐して第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、乗算部における乗算結果に基づいて、スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部とを含む試験装置を提供する。
【００１０】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１２】
図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を被試験受信回路１００とともに示す。試験装置１０は、波形データ発生部１２と、アナログ変調回路２０と、判定部１４とを備え、被試験受信回路１００を試験する。
【００１３】
波形データ発生部１２は、被試験受信回路１００に対して送信する２チャンネルの送信信号である第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の波形データを発生する。アナログ変調回路２０は、波形データ発生部１２により発生された波形データに応じて、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を生成する。そして、アナログ変調回路２０は、生成した送信信号である第１及び第２のアナログ信号を変調して被試験受信回路１００に出力する。アナログ変調回路２０は、一例として、第１及び第２のアナログ信号をローカル信号により直交変調した変調信号を被試験受信回路１００に出力してよい。
【００１４】
判定部１４は、アナログ変調回路２０から出力された信号に応じて被試験受信回路１００が出力した信号を判定する。判定部１４は、一例として、アナログ変調回路２０から供給された変調信号に応じて被試験受信回路１００から出力された出力信号と、期待値信号とを比較して、被試験受信回路１００の良否を判定してよい。
【００１５】
図２は、本実施形態に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。アナログ変調回路２０は、信号発生装置３０と、信号処理装置４０とを有する。信号発生装置３０は、送信信号の第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を生成する。信号処理装置４０は、信号発生装置３０から送信信号である第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を受け取り、送信信号を変調して出力する。信号処理装置４０は、一例として、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号をローカル信号により直交変調した変調信号を出力する。
【００１６】
信号処理装置４０は、第１の入力端子４２と、第２の入力端子４４と、動作回路５０と、検出装置７０とを含む。第１の入力端子４２は、信号発生装置３０から出力された第１のアナログ信号を受け取る。第２の入力端子４４は、信号発生装置３０から出力された第２のアナログ信号を受け取る。
【００１７】
動作回路５０は、第１の入力端子４２から第１のアナログ信号及び第２の入力端子４４から第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号に応じて動作する。動作回路５０は、一例として、第１の入力端子４２が受け取った第１のアナログ信号及び第２の入力端子４４が受け取った第２のアナログ信号を所定のローカル信号により変調して被試験受信回路１００に出力してよい。
【００１８】
動作回路５０は、一例として、ローカル信号発生器５２と、Ｉ側乗算部５４と、シフト部５６と、Ｑ側乗算部５８と、出力部６０とを含んでよい。ローカル信号発生器５２は、所定周波数の所定のローカル信号を発生する。Ｉ側乗算部５４は、第１の入力端子４２を介して受け取った第１のアナログ信号に、ローカル信号発生器５２から発生された所定のローカル信号を乗算する。
【００１９】
シフト部５６は、ローカル信号発生器５２から発生されたローカル信号の位相を略９０度シフトする。Ｑ側乗算部５８は、第２の入力端子４４を介して受け取った第２のアナログ信号に、シフト部５６が出力するローカル信号を乗算する。出力部６０は、例えば加算器を含み、Ｉ側乗算部５４が出力する信号とＱ側乗算部５８が出力する信号とを加算して出力する。このような動作回路５０によれば、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を所定のローカル信号により直交変調することができる。
【００２０】
検出装置７０は、例えばキャリブレーション時において、第１の入力端子４２が受け取った第１のアナログ信号と、第２の入力端子４４が受け取った第２のアナログ信号とのスキューを検出する。すなわち、検出装置７０は、信号発生装置３０から信号処理装置４０対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する。これに加えて、検出装置７０は、検出したスキューに応じて、当該スキューが略０となるように信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。なお、検出装置７０は、信号処理装置４０の内部に設けられてもよいし、信号処理装置４０の外部に設けられてもよい。なお、検出装置７０は、キャリブレーション以外の時において、第１および第２のアナログ信号の入力がスイッチにより切断されてよい。
【００２１】
検出装置７０は、信号制御部７２と、乗算部７４と、検出部７６と、スキュー調整部７８とを含む。信号制御部７２は、信号発生装置３０に、略同一の周期を有する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる。信号制御部７２は、一例として、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させるとともに、第２のアナログ信号としてサイン波信号と略同一の位相を有するコサイン波信号（すなわち、サイン波信号の位相を９０度シフトした信号）を出力させてよい。
【００２２】
乗算部７４は、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算する。乗算部７４は、一例として、第１のアナログ信号として信号発生装置３０から出力されたサイン波信号と、第２のアナログ信号として信号発生装置３０から出力されたコサイン波信号とを乗算してよい。乗算部７４は、一例として、第１の入力端子４２から分岐して第１のアナログ信号（例えばサイン波信号）を受け取り、第２の入力端子４４から分岐して第２のアナログ信号（例えばコサイン波信号）を受け取り、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とを乗算してよい。
【００２３】
検出部７６は、乗算部７４における乗算結果に基づいて、第１及び第２のアナログ信号（例えばサイン波信号及びコサイン波信号）のスキューの値に応じたレベルの信号を出力する。検出部７６は、一例として、積分部８２を含んでよい。積分部８２は、乗算部７４における乗算結果を積分した積分信号をスキューの値に応じたレベルの信号として出力する。
【００２４】
スキュー調整部７８は、検出部７６から出力されたスキューの値に応じたレベルの信号（例えば積分信号）に基づき、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する。スキュー調整部７８は、一例として、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューが小さくなるように（例えば第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューが略０となるように）、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００２５】
スキュー調整部７８は、一例として、信号発生装置３０と信号処理装置４０との間の第１及び第２のアナログ信号を伝送する伝送線路の遅延量を調整することにより、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。また、スキュー調整部７８は、一例として、信号発生装置３０内における第１のアナログ信号を生成する回路の動作クロックまたは第２のアナログ信号を生成する回路の動作クロックを遅延することにより、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００２６】
そして、キャリブレーション完了後、信号発生装置３０は、スキュー調整部７８により位相が調整された状態で、波形データ発生部１２から出力された波形データに応じた第１及び第２のアナログ信号を出力する。これにより、信号発生装置３０は、スキューの小さい第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を信号処理装置４０に供給することができる。従って、信号処理装置４０は、スキューの小さい第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号をローカル信号により変調した変調信号を被試験受信回路１００に供給することができる。
【００２７】
このようなアナログ変調回路２０によれば、信号発生装置３０から信号処理装置４０に対して並列に供給される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを、ネットワークアナライザ等を用いることなく調整することができる。これにより、アナログ変調回路２０によれば、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを、簡単な構成で調整することができる。そして、このようなアナログ変調回路２０を備える試験装置１０によれば、低いコストで精度良く被試験受信回路１００を試験することができる。
【００２８】
図３（Ａ）は第１のアナログ信号（サイン波信号）の一例を示し、図３（Ｂ）は第２のアナログ信号（コサイン波信号）の一例を示す。また、図３（Ｃ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが有る場合の乗算結果を示し、図３（Ｄ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが無い場合の乗算結果の一例を示す。
【００２９】
ここで、信号制御部７２による制御に応じて、信号発生装置３０は、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力し、第２のアナログ信号としてコサイン波信号を出力したとする。この場合、信号処理装置４０に入力したサイン波信号及びコサイン波信号のスキューによって生じる位相差をθとすると、乗算部７４による乗算結果Ｖｒは、下記式（１）のように表される。
【００３０】
【数１】
【００３１】
この場合において、積分部８２は、式（１）を積分した積分信号を出力する。すなわち、積分部８２は、式（１）を平均した下記式（２）に表されるような積分信号Ｖｏを出力する。
【００３２】
【数２】
【００３３】
式（２）を参照すると、積分信号Ｖｏは、スキューによって生じる位相差θの増加に応じて単純減少し、スキューによって生じる位相差θが０の場合に値が０となる。すなわち、スキューによって生じる位相差θは、積分信号Ｖｏのレベルが増加するに応じて小さくなり、積分信号Ｖｏが０の場合に０となる。
【００３４】
このことから、スキュー調整部７８は、一例として、第１のアナログ信号としてサイン波信号が出力され、第２のアナログ信号としてコサイン波信号が出力された場合、検出部７６から出力された積分信号Ｖｏのレベルの絶対値が最小となるように、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。これにより、スキュー調整部７８は、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号とのスキューを略０とすることができる。
【００３５】
図４は、本実施形態の信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第１例（矩形波信号）を示す。図５は、本実施形態の信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第２例（三角波信号）を示す。
【００３６】
信号制御部７２は、サイン波信号及びコサイン波信号に限らず、信号発生装置３０から略同一の波形を有する周期信号の第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させてよい。信号制御部７２は、一例として、図４に示すような、略同一周期で略９０度の位相差を有する矩形波信号を第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として出力させてよい。また、信号制御部７２は、一例として、図５に示すような、略同一周期で９０度の位相差を有する略同一の三角波信号を第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として出力させてよい。
【００３７】
また、信号制御部７２は、一例として、略同一周期の波形を有する第１のアナログ信号と第２のアナログ信号との位相シフト量を、９０度以外の位相差としてもよい。信号制御部７２は、一例として、第１のアナログ信号と第２のアナログ信号との位相シフト量を、０度または１８０度としてもよい。
【００３８】
そして、スキュー調整部７８は、一例として、検出部７６から出力されたスキューに応じた値が、信号制御部７２により設定された位相シフト量に応じた値となるように、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。スキュー調整部７８は、一例として、乗算部７４の乗算結果を積分した値が、信号制御部７２により設定された位相シフト量に応じた値となるように（例えば、乗算部７４の乗算結果を積分した値が最大値、最小値または０となるように）、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。なお、波形生成が簡易であり、高周波数成分を含まず、乗算結果の平均値が０の場合にスキューが０となるのでスキューを小さくする制御が簡単であることから、信号制御部７２は、信号発生装置３０からサイン波信号及びコサイン波信号を第１及び第２のアナログ信号として出力させるのが好ましい。
【００３９】
図６は、本実施形態の第１変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４０】
まず、スキュー調整部７８は、信号発生装置３０から出力される第１及び第２のアナログ信号を停止して、すなわち、第１及び第２のアナログ信号のレベルを０として、検出部７６から出力される信号の値（オフセット値）を検出する（Ｓ１００１）。そして、スキュー調整部７８は、検出したオフセット値を記憶する。
【００４１】
次に、信号制御部７２は、第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させるとともに、第２のアナログ信号としてコサイン波信号を出力させて、検出部７６に第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間のスキューに応じた値を検出させる。これに代えて、信号制御部７２は、サイン波信号およびコサイン波信号以外の信号を第１及び第２のアナログ信号として出力させてもよい。そして、スキュー調整部７８は、検出部７６により検出された信号から、ステップＳ１００１において検出したオフセット値を減算し、減算した値に基づき信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する（Ｓ１００２）。
【００４２】
乗算部７４及び検出部７６等は、第１及び第２のアナログ信号が０であっても出力値が０とならず、オフセット値を出力する場合がある。このような場合であっても、本変形例に係るアナログ変調回路２０によれば、オフセット値の影響を除去することができるので、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号のスキューを精度良く測定することができる。
【００４３】
図７は、第１のアナログ信号がサイン波信号であり、第２のアナログ信号がコサイン波信号である場合における、スキューによって生じる位相差θに対する積分信号Ｖｏを示す。次に本実施形態の第３変形例を説明する。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４４】
サイン波信号及びコサイン波信号を信号発生装置３０に出力させ、スキューによって生じる位相差θを横軸にとった場合における、スキューによって生じる位相差θに対する積分信号Ｖｏの傾き（微分値）は、図７に表すように、位相差θ＝０（すなわち、サイン波信号とコサイン波信号との間の位相シフト量が９０度の場合）に最大となり、位相差θが０から遠ざかるに従って徐々に小さくなる。従って、スキュー調整部７８は、積分信号Ｖｏのレベルを位相差θで微分した微分値が最大となるように制御することによって、スキューが０となるようにサイン波信号およびコサイン波信号の位相を調整することができる。
【００４５】
このことから、本変形例に係る信号制御部７２は、信号発生装置３０に、位相差θが順次変化する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号を出力させる。信号制御部７２は、一例として、位相差θが順次変化するサイン波信号及びコサイン波信号を出力させてよい。そして、本変形例に係るスキュー調整部７８は、位相差θ毎に積分信号Ｖｏのレベルを測定し、積分信号Ｖｏのレベルを位相差で微分した微分値に基づいて、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整する。位相差θが順次変化するサイン波信号及びコサイン波信号が信号発生装置３０から出力された場合であれば、スキュー調整部７８は、微分値が最大となるように、信号発生装置３０が出力する第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の位相を調整してよい。
【００４６】
これにより、スキュー調整部７８は、スキューが０となるように、信号発生装置３０から出力される第１のアナログ信号（例えばサイン波信号）および第２のアナログ信号（例えばコサイン波信号）の位相を調整することができる。さらに、積分信号Ｖｏのレベルを位相差で微分した微分値は、検出部７６から出力される信号にオフセットが含まれていても、値は変わらない。従って、このようなアナログ変調回路２０によれば、検出部７６から出力される信号にオフセットが含まれていても、精度良くスキューを測定することができる。
【００４７】
図８は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。本変形例に係るアナログ変調回路２０は、図２に示したアナログ変調回路２０と略同一の構成及び機能を採るので、略同一の構成及び機能を有する部材については図８中に同一の符号を付け、以下相違点を除き説明を省略する。
【００４８】
本変形例に係る検出装置７０は、ローカル信号調整部９２と、レジスタ９４とを更に含む。ローカル信号調整部９２は、動作回路５０におけるＩ側乗算部５４が出力する信号と、動作回路５０におけるＱ側乗算部５８が出力する信号との位相差が所定の位相となるように、シフト部５６における位相シフト量を調整する。レジスタ９４は、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、検出部７６が出力する信号のレベルを格納する。レジスタ９４は、一例として、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、積分部８２が出力する積分信号のレベルを格納してよい。
【００４９】
図９は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。図１０は、本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０における、出力信号の周波数特性を示す。
【００５０】
まず、第３変形例に係るアナログ変調回路２０は、第１調整フェーズにおいて、シフト部５６の位相シフト量を調整する（Ｓ１１０１）。より詳しくは、信号制御部７２は、信号発生装置３０に、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力させる。これにより、信号発生装置３０は、第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力することができる。ここで、Ｉ信号は、所定の周波数の正弦波信号であってよく、Ｑ信号は、Ｉ信号を９０度位相がシフトした信号であってよい。
【００５１】
信号発生装置３０からＩ信号及びＱ信号が出力された場合、Ｉ側乗算部５４は、Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算し、Ｑ側乗算部５８は、Ｑ信号に、シフト部５６が出力するローカル信号を乗算する。そして、出力部６０は、Ｉ側乗算部５４が出力する信号とＱ側乗算部５８が出力する信号とを加算して変調信号を出力する。そして、ローカル信号調整部９２は、出力部６０から出力された変調信号に基づき、Ｉ信号及びＱ信号がローカル信号により精度良く直交性を保って変調されるように、シフト部５６のシフト量を調整する。
【００５２】
ここで、Ｉ信号及びＱ信号がローカル信号により精度良く直交に変調された場合、変調信号における低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分と、変調信号における高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分との差が大きくなる。直交性が良い場合には、好ましくは、低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分または高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分の一方が略０となる。なお、低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分は、ローカル信号の周波数（ｆＬＯ）からＩ信号の周波数（ｆＸ）を減算した周波数の信号成分を含み、高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分は、ローカル信号の周波数（ｆＬＯ）にＩ信号の周波数（ｆＸ）を加算した周波数の信号成分を含んでよい。
【００５３】
従って、ローカル信号調整部９２は、出力部６０から出力された変調信号における低域側周波数（ｆＬＯ−ｆＸ）の信号成分と、変調信号における高域側周波数（ｆＬＯ＋ｆＸ）の信号成分とのレベル差がより大きくなるように、シフト部５６の位相シフト量を調整してよい。これにより、ローカル信号調整部９２は、Ｉ信号及びＱ信号をローカル信号により精度良く直交変調させることができる。
【００５４】
アナログ変調回路２０は、第１調整フェーズにおいて、以上のようにシフト部５６の位相シフト量を調整することにより、信号発生装置３０により第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号が生成されてから、出力部６０から変調信号が出力されるまで経路において生じるスキューおよびキャリア位相差等を総合的に補正して、第１及び第２のアナログ信号をローカル信号により精度良く直交変調した変調信号を出力することができる。
【００５５】
次に、記憶フェーズにおいて、レジスタ９４は、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した状態において、検出部７６が出力する信号のレベルを格納する（Ｓ１１０２）。一例として、レジスタ９４は、積分部８２が出力する積分信号のレベルを格納してよい。すなわち、レジスタ９４は、最終段の出力信号（変調信号）が調整された状態における、信号発生装置３０から出力された第１及び第２のアナログ信号のスキューに応じた値を記憶する。
【００５６】
次に、ローカル信号調整部９２がシフト部５６における位相シフト量を調整した後の第２調整フェーズにおいて、アナログ変調回路２０は、信号発生装置３０が出力する第１及び第２のアナログ信号の位相を調整する（Ｓ１１０３）。アナログ変調回路２０は、一例として、信号処理装置４０が取り外されて、他のピンリソースに対応する信号発生装置３０に取り付けられた場合、及び、第１調整フェーズにおける調整が完了した後に時間が経過したり温度が変化した場合等において、第２調整フェーズにおける位相調整を実行してよい。
【００５７】
より詳細には、第２調整フェーズにおいて、スキュー調整部７８は、検出部７６（例えば積分部８２）が出力する積分信号のレベルと、ローカル信号調整部９２が格納した積分信号のレベルとを比較し、信号発生装置３０がＩ信号及びＱ信号を出力するタイミングを調整する。すなわち、スキュー調整部７８は、記憶フェーズにおいて記憶した値からずれた量に応じて、信号発生装置３０がＩ信号及びＱ信号を出力するタイミングを調整する。
【００５８】
このようなアナログ変調回路２０によれば、装置全体として精度良く変調信号を出力できる場合における、信号発生装置３０から出力される第１及び第２のアナログ信号のスキューに応じた値をレジスタ９４に記憶する。従って、本変形例に係るアナログ変調回路２０によれば、信号処理装置４０の前段（例えば信号発生装置３０）において誤差が生じた場合、シフト部５６の位相シフト量を変化させずに、信号発生装置３０から出力された信号をローカル信号により精度良く直交変調させることができる。
【００５９】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を被試験受信回路１００とともに示す。
【図２】本発明の実施形態に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。
【図３】（Ａ）は第１のアナログ信号（サイン波信号）の一例を示し、（Ｂ）は第２のアナログ信号（コサイン波信号）の一例を示し、（Ｃ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが有る場合の乗算結果を示し、（Ｄ）は第１のアナログ信号及び第２のアナログ信号の間にスキューが無い場合の乗算結果の一例を示す。
【図４】本実施形態に係る信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第１例（矩形波信号）を示す。
【図５】本実施形態に係る信号発生装置３０から、信号制御部７２の制御に応じて出力される第１及び第２アナログ信号の第２例（三角波信号）を示す。
【図６】本実施形態の第１変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。
【図７】第１のアナログ信号がサイン波信号であり、第２のアナログ信号がコサイン波信号である場合における、位相差θに対する積分信号Ｖｏを示す。
【図８】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の構成を示す。
【図９】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０の処理フローを示す。
【図１０】本実施形態の第３変形例に係るアナログ変調回路２０における、出力信号の周波数特性を示す。
【符号の説明】
【００６１】
１０ 試験装置
１２ 波形データ発生部
１４ 判定部
２０ アナログ変調回路
３０ 信号発生装置
４０ 信号処理装置
４２ 第１の入力端子
４４ 第２の入力端子
５０ 動作回路
５２ ローカル信号発生器
５４ Ｉ側乗算部
５６ シフト部
５８ Ｑ側乗算部
６０ 出力部
７０ 検出装置
７２ 信号制御部
７４ 乗算部
７６ 検出部
７８ スキュー調整部
８２ 積分部
９２ ローカル信号調整部
９４ レジスタ
１００ 被試験受信回路
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、
前記信号発生装置が出力する、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を備える検出装置。
【請求項２】
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部を更に備える請求項１に記載の検出装置。
【請求項３】
前記検出部は、前記乗算部における乗算結果を積分した積分信号を出力する積分部を有する請求項２に記載の検出装置。
【請求項４】
前記信号制御部は、前記第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させ、前記第２のアナログ信号として、前記サイン波信号と略同一の位相を有するコサイン波信号を出力させる
請求項３に記載の検出装置。
【請求項５】
前記積分信号のレベルの絶対値が最小となるように、前記信号発生装置が出力する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号の位相を調整するスキュー調整部を更に備える
請求項４に記載の検出装置。
【請求項６】
前記信号制御部は、前記信号発生装置に、位相差が順次変化する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させ、
前記スキュー調整部は、前記位相差毎に前記積分信号のレベルを測定し、前記積分信号のレベルを前記位相差で微分した微分値に基づいて、前記信号発生装置が出力する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号の位相を調整する
請求項４に記載の検出装置。
【請求項７】
前記信号制御部は、略同一の波形を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる
請求項３に記載の検出装置。
【請求項８】
前記検出装置は、前記信号処理装置に設けられ、
前記信号処理装置は、
前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取る入力端子と、
前記入力端子から前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号に応じて動作する動作回路と
を備え、
前記乗算部は、前記入力端子から前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取る
請求項３に記載の検出装置。
【請求項９】
前記信号発生装置は、前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力し、
前記動作回路は、
前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と
を有し、
前記検出装置は、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と、前記Ｑ側乗算部が出力する信号との位相差が所定の位相となるように、前記シフト部における位相シフト量を調整するローカル信号調整部と、
前記ローカル信号調整部が前記シフト部における位相シフト量を調整した状態において、前記積分部が出力する積分信号のレベルを格納するレジスタと
を更に備える
請求項８に記載の検出装置。
【請求項１０】
前記ローカル信号調整部が前記シフト部における位相シフト量を調整した後に、前記積分部が出力する積分信号のレベルと、前記レジスタが格納した前記積分信号のレベルとを比較し、前記信号発生装置が前記Ｉ信号及び前記Ｑ信号を出力するタイミングを調整するスキュー調整部を更に備える
請求項９に記載の検出装置。
【請求項１１】
生成した送信信号を変調して出力するアナログ変調回路であって、
前記送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、
前記信号発生装置から前記送信信号を受け取り、前記送信信号を変調して出力する信号処理装置と
を備え、
前記信号処理装置は、
第１の入力端子を介して受け取った前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
第２の入力端子を介して受け取った前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、
前記第１の入力端子が受け取った前記Ｉ信号と、前記第２の入力端子が受け取った前記Ｑ信号とのスキューを検出する検出装置と
を有し、
前記検出装置は、
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、
前記第１の入力端子から分岐して前記第１のアナログ信号を受け取り、前記第２の入力端子から分岐して前記第２のアナログ信号を受け取り、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を含むアナログ変調回路。
【請求項１２】
被試験受信回路を試験する試験装置であって、
生成した送信信号を変調して前記被試験受信回路に出力するアナログ変調回路と、
前記アナログ変調回路から出力された信号に応じて前記被試験受信回路が出力した信号を判定する判定部とを備え、
前記アナログ変調回路は、
前記送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、
前記信号発生装置から前記送信信号を受け取り、前記送信信号を変調して出力する信号処理装置と
を有し、
前記信号処理装置は、
第１の入力端子を介して受け取った前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
第２の入力端子を介して受け取った前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、
前記第１の入力端子が受け取った前記Ｉ信号と、前記第２の入力端子が受け取った前記Ｑ信号とのスキューを検出する検出装置と
を含み、
前記検出装置は、
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、
前記第１の入力端子から分岐して前記第１のアナログ信号を受け取り、前記第２の入力端子から分岐して前記第２のアナログ信号を受け取り、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を含む試験装置。
【請求項１】
信号発生装置から信号処理装置に対して並列に供給する第１及び第２のアナログ信号のスキューを検出する検出装置であって、
前記信号発生装置が出力する、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を備える検出装置。
【請求項２】
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部を更に備える請求項１に記載の検出装置。
【請求項３】
前記検出部は、前記乗算部における乗算結果を積分した積分信号を出力する積分部を有する請求項２に記載の検出装置。
【請求項４】
前記信号制御部は、前記第１のアナログ信号としてサイン波信号を出力させ、前記第２のアナログ信号として、前記サイン波信号と略同一の位相を有するコサイン波信号を出力させる
請求項３に記載の検出装置。
【請求項５】
前記積分信号のレベルの絶対値が最小となるように、前記信号発生装置が出力する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号の位相を調整するスキュー調整部を更に備える
請求項４に記載の検出装置。
【請求項６】
前記信号制御部は、前記信号発生装置に、位相差が順次変化する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させ、
前記スキュー調整部は、前記位相差毎に前記積分信号のレベルを測定し、前記積分信号のレベルを前記位相差で微分した微分値に基づいて、前記信号発生装置が出力する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号の位相を調整する
請求項４に記載の検出装置。
【請求項７】
前記信号制御部は、略同一の波形を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる
請求項３に記載の検出装置。
【請求項８】
前記検出装置は、前記信号処理装置に設けられ、
前記信号処理装置は、
前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取る入力端子と、
前記入力端子から前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取り、第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号に応じて動作する動作回路と
を備え、
前記乗算部は、前記入力端子から前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を受け取る
請求項３に記載の検出装置。
【請求項９】
前記信号発生装置は、前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号として、Ｉ信号及びＱ信号を出力し、
前記動作回路は、
前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と
を有し、
前記検出装置は、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と、前記Ｑ側乗算部が出力する信号との位相差が所定の位相となるように、前記シフト部における位相シフト量を調整するローカル信号調整部と、
前記ローカル信号調整部が前記シフト部における位相シフト量を調整した状態において、前記積分部が出力する積分信号のレベルを格納するレジスタと
を更に備える
請求項８に記載の検出装置。
【請求項１０】
前記ローカル信号調整部が前記シフト部における位相シフト量を調整した後に、前記積分部が出力する積分信号のレベルと、前記レジスタが格納した前記積分信号のレベルとを比較し、前記信号発生装置が前記Ｉ信号及び前記Ｑ信号を出力するタイミングを調整するスキュー調整部を更に備える
請求項９に記載の検出装置。
【請求項１１】
生成した送信信号を変調して出力するアナログ変調回路であって、
前記送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、
前記信号発生装置から前記送信信号を受け取り、前記送信信号を変調して出力する信号処理装置と
を備え、
前記信号処理装置は、
第１の入力端子を介して受け取った前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
第２の入力端子を介して受け取った前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、
前記第１の入力端子が受け取った前記Ｉ信号と、前記第２の入力端子が受け取った前記Ｑ信号とのスキューを検出する検出装置と
を有し、
前記検出装置は、
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、
前記第１の入力端子から分岐して前記第１のアナログ信号を受け取り、前記第２の入力端子から分岐して前記第２のアナログ信号を受け取り、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を含むアナログ変調回路。
【請求項１２】
被試験受信回路を試験する試験装置であって、
生成した送信信号を変調して前記被試験受信回路に出力するアナログ変調回路と、
前記アナログ変調回路から出力された信号に応じて前記被試験受信回路が出力した信号を判定する判定部とを備え、
前記アナログ変調回路は、
前記送信信号のＩ信号及びＱ信号を生成する信号発生装置と、
前記信号発生装置から前記送信信号を受け取り、前記送信信号を変調して出力する信号処理装置と
を有し、
前記信号処理装置は、
第１の入力端子を介して受け取った前記Ｉ信号に所定のローカル信号を乗算するＩ側乗算部と、
前記ローカル信号の位相を略９０度シフトするシフト部と、
第２の入力端子を介して受け取った前記Ｑ信号に、前記シフト部が出力する前記ローカル信号を乗算するＱ側乗算部と、
前記Ｉ側乗算部が出力する信号と前記Ｑ側乗算部が出力する信号とを加算して出力する出力部と、
前記第１の入力端子が受け取った前記Ｉ信号と、前記第２の入力端子が受け取った前記Ｑ信号とのスキューを検出する検出装置と
を含み、
前記検出装置は、
前記信号発生装置に、略同一の周期を有する前記第１のアナログ信号及び前記第２のアナログ信号を出力させる信号制御部と、
前記第１の入力端子から分岐して前記第１のアナログ信号を受け取り、前記第２の入力端子から分岐して前記第２のアナログ信号を受け取り、前記第１のアナログ信号と前記第２のアナログ信号とを乗算する乗算部と、
前記乗算部における乗算結果に基づいて、前記スキューの値に応じたレベルの信号を出力する検出部と
を含む試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【公開番号】特開２００８−１０４０６５（Ｐ２００８−１０４０６５Ａ）
【公開日】平成２０年５月１日（２００８．５．１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２８６３０３（Ｐ２００６−２８６３０３）
【出願日】平成１８年１０月２０日（２００６．１０．２０）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年５月１日（２００８．５．１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年１０月２０日（２００６．１０．２０）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
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