環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガ
【課題】環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行う。
【解決手段】サイクルタイマ２１の記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。また、センサ入力部５が操作入力データを取得した場合、又は制御部４が制御データを出力した場合、この取得時又は出力時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時においてセンサ入力部５が取得した環境状態データと、操作入力データ又は制御データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【解決手段】サイクルタイマ２１の記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。また、センサ入力部５が操作入力データを取得した場合、又は制御部４が制御データを出力した場合、この取得時又は出力時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時においてセンサ入力部５が取得した環境状態データと、操作入力データ又は制御データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器や電子部品等の性能や耐久性等を評価する技術として、下記特許文献１のように、高温環境、低温環境、高湿度環境等の人工的な環境を装置の試験槽内において作りだし、この試験槽内に被試験物を置いて評価を行う環境試験装置が従来から知られている。試験槽内の環境は、ユーザからの操作入力や、コントローラに格納されたシーケンスプログラム等を基にして、加熱器や冷却器などの制御対象機器を制御することで作り出される。
【０００３】
また、この特許文献１の環境試験装置では、試験槽内の温度や湿度などの環境状態を検出する環境センサを備え、この環境センサから取得した環境状態データをログとして記憶している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２２５１５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、環境試験装置において試験槽内の温度や湿度が異常に高くなる等の不具合が発生する場合がある。
【０００６】
しかしながら、特許文献１の環境試験装置では、ログとして記憶されているのは環境状態データのみであるため、この不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器の誤動作により発生したのか、シーケンスプログラムに問題があるのかなどの不具合の原因を特定することはできなかった。従って、不具合の原因の特定を行うためには、不具合の原因の仮説を多く立て、その仮説を一つ一つ検証する他なく、多大な手間を要していた。
【０００７】
本発明は、上記の問題点に鑑みてされたものであり、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができるログを記憶可能な環境試験装置用コントローラ、及びこの環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールとを備え、前記複数のサブモジュールは、前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリとを各サブモジュールに有し、前記入力サブモジュール及び前記Ｉ／Ｏサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、前記メインモジュールは、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリとを有し、前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする。
【０００９】
上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
また、メインモジュールは処理に余裕があるときに、サブモジュールからサブモジュールログを受信してメインメモリにログを記憶するようにされているので、環境試験装置全体のログの記憶動作がメインモジュールのシーケンス制御に支障をきたすことはない。
【００１０】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行ってもよい。上記の構成によれば、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。
【００１１】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ及び、環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている環境状態ログデータを残して、その他の環境状態ログデータは消去される。従って、メインメモリに記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリの記憶容量を節約することができる。
【００１２】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置に不具合が発生した場合に、この不具合発生時から所定期間の間は、環境試験装置全体のログの記憶は継続されるため、不具合原因の特定をより正確に行うことができる。また、所定期間経過後はこの記録動作は停止されるので、不具合からコントローラを保全することができる。
【００１３】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶してもよい。上記の構成によれば、不具合発生前の一定期間の環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１４】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールの前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更してもよい。上記の構成によれば、環境状態データを取得する時間間隔を変更することができる。
【００１５】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１６】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件ときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置において不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１７】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していてもよい。上記の構成によれば、コントローラへの操作入力手順をマクロにすることができるので、ユーザ各々が有する環境試験装置の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。
【００１８】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていてもよい。上記の構成によれば、遠隔地に設置された環境試験装置のコントローラのメインメモリに記憶された環境試験装置全体のログを取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置の不具合の原因をその設置場所に行かずとも特定することができる。また、環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。
【００１９】
また、本発明の環境試験装置は、前記環境試験装置用コントローラを有している。
【００２０】
また、本発明の環境試験装置用デバッガは、前記環境試験装置と、前記環境試験装置をシーケンス制御可能なＰＬＣ処理手段とを有する環境試験装置用デバッガであって、前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする。上記環境試験装置全体のログを用いて環境試験装置の運転を再現することができるため、環境試験装置の不具合の原因をより容易に特定することができる。
【００２１】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であってもよい。上記の構成によれば、環境試験装置全体のログを用いて制御対象機器のシーケンス制御の再現が可能であると共に、環境試験装置全体のログを用いた理論式により環境試験装置の槽内の環境状態をシミュレートすることができる。従って、実際に環境センサにより取得して前記メインメモリに記憶された環境状態ログデータの槽内環境データと、環境試験装置全体のログを用いた理論式によりシミュレートされた槽内環境とを比較することで、環境試験装置の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【００２２】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されてもよい。
【００２３】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であってもよい。上記の構成によれば、環境再現装置により環境試験装置の外部環境状態も再現してデバッグを行うことができるので、環境試験装置の不具合原因をより容易に特定することができる。
【００２４】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されてもよい。
【００２５】
また、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と、前記環境試験装置の制御対象機器に対して制御データを出力する制御手段と、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段とを有し、前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする。
【００２６】
上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の、不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第一実施形態に係る環境試験装置の構成図である。
【図２】本発明の第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。
【図３】環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図４】本発明の第二実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。
【図５】ログメモリに記憶されるサブモジュールログ、メインメモリに記憶される環境試験全体ログについて説明する説明図である。
【図６】環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図７】リングメモリに記憶するログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図８】イベント取得調整時刻データの算出方法について説明する説明図である。
【図９】イベントデータと環境状態データとの対応付けの方法について説明する説明図である。
【図１０】環境状態データの記録方法について説明する説明図である。
【図１１】メインモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１２】入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１３】Ｉ／Ｏサブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１４】センサ入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１５】環境試験装置用デバッガの構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
（第一実施形態）
本発明の第一実施形態を、図１〜図３を参照して説明する。
【００３０】
（環境試験装置）
まず、第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置について説明する。
【００３１】
図１に示すように、環境試験装置５０は、データログ機能を有するコントローラ１、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）パネル３１、設定ボタン３２、試験槽５１、複数の制御対象機器８０、及び環境センサ９０を備えている。
【００３２】
ＬＣＤパネル３１は、コントローラ１の後述の操作入力部３から入力された表示データに基づいて、環境試験装置５０の試験条件、制御対象機器８０の設定や制御対象機器８０の現在の状態等をユーザに対して表示するものである。設定ボタン３２は、コントローラ１に対するユーザからの操作入力を受け付けるものであり、受け付けた操作入力データをコントローラ１の操作入力部３へ出力する。なお、操作入力データとは、試験槽５１の環境設定（例えば、試験室５１ａの温度設定）や、制御対象機器８０の設定（例えば、後述の加熱器８２のＯＮ・ＯＦＦ）等のユーザが操作入力して設定するデータである。
【００３３】
（試験槽）
試験槽５１は、槽内に電子機器や電子部品等の被試験物Ｗを置き、この被試験物に対して環境試験を実施する槽である。試験槽５１は、図１に示すように、被試験物Ｗが置かれる試験室５１ａとこれから仕切られた空調室５１ｂとから構成されている。また、空調室５１ｂには、複数の制御対象機器８０が配されている。
【００３４】
（制御対象機器）
制御対象機器８０は、試験槽５１の試験室５１ａにおいて人工的な環境状態を作り出す機器である。制御対象機器８０は、コントローラ１の後述する制御部４から出力される制御データに基づいて機器の設定（能力）の変更等が行われる。
【００３５】
制御対象機器８０は、本実施形態においては、送風機８１、加熱器８２、及び冷却器８３である。送風機８１は、試験室５１ａと空調室５１ｂとの間で空気を循環させることができる。加熱器８２及び冷却器８３は、空調室５１ｂの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器８２及び冷却器８３は、送風機８１の上流側に配されており、これにより、この加熱器８２及び冷却器８３により所定の温度に調整された空調室５１ｂの空気を、試験室５１ａに送り込み、試験室５１ａを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、制御対象機器８０は、送風機８１、加熱器８２、及び冷却器８３であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば試験室５１ａの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、試験槽５１の試験室５１ａにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。
【００３６】
（環境センサ）
環境センサ９０は、環境試験装置５０の環境状態を検出するセンサであり、検出した環境状態データはコントローラ１の後述するセンサ入力部５に出力される。この環境センサ９０は、図１に示すように、試験槽５１の試験室５１ａに配され、試験室５１ａ内の環境状態を検出する槽内環境センサ群９１と、試験槽５１の槽外に配され、環境試験装置５０が設置された場所の環境状態を検出する外部環境センサ群９２とから構成されている。なお、外部環境センサ群９２は省略することができる。
【００３７】
槽内環境センサ群９１は、少なくとも試験室５１ａ内の温度、湿度、圧力、風速のいずれかを検出することができる。なお、槽内環境センサ群９１は、空調室５１ｂ内に配された制御対象機器８０各々の状態を検出できるものでもよい。また、外部環境センサ群９２は、少なくとも環境試験装置の設置場所の温度、湿度、及び圧力や、環境試験装置５０の電源電圧、消費電力、通信情報のいずれかを検出することができる。
【００３８】
（コントローラ）
コントローラ１は、図２に示すように、環境試験装置５０全体のログである後述の環境試験装置全体ログ２４０を記憶するデータログ部２、ユーザからコントローラ１に対して入力される操作入力データを取得する入力取得手段である操作入力部３と、環境試験装置５０の制御対象機器８０に対して制御データを出力する制御手段である制御部４と、環境センサ９０から環境状態データを取得する環境状態取得手段であるセンサ入力部５とを備えている。
【００３９】
（操作入出力部）
操作入力部３は、制御部４から出力された表示制御データ、及びセンサ入力部５が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをＬＣＤパネル３１に出力する。また操作入力部３は、設定ボタン３２から出力された操作入力データを取得し、この取得した操作入力データをデータログ部２、及び制御部４に出力する。
【００４０】
（制御部）
制御部４には、シーケンスプログラムが格納されており、制御部４は、このシーケンスプログラム、操作入力部３が取得した操作入力データ、及びセンサ入力部５が取得した環境状態データに基づいて制御データを作成し、この制御データを制御対象機器８０に対して出力する。この制御データが入力された制御対象機器８０は、制御データに基づいて、能力（設定）が変更されることになる。制御部４は、制御対象機器８０に対する制御データの出力時において、この制御データをデータログ部２に対しても出力する。
【００４１】
（センサ入力部）
センサ入力部５は、環境センサ９０から出力された環境状態データを取得し、この環境状態データを、データログ部２、操作入力部３、及び制御部４に出力する。
【００４２】
（データログ部）
データログ部２は、サイクルタイマ２１、後述の環境試験装置全体ログ２４０を記憶する記憶手段である記憶部２２、及びリアルタイムクロック（ＲＴＣ）２３を有している。
【００４３】
サイクルタイマ２１は、記録トリガを記憶部２２に対して所定の時間間隔毎に出力をするものである。本実施の形態においては、６０秒間隔毎に記録トリガを出力するように設定されている。また、リアルタイムクロック２３は、現在時刻の計時を行うものである。ここで、「現在時刻」とは、本実施形態においては、環境試験装置５０の装置起動時からの経過時間のことをいう。
【００４４】
環境試験装置全体ログ２４０の生成（記憶）タイミングについて、図３を参照して説明する。
【００４５】
記憶部２２は、サイクルタイマ２１から記録トリガが出力された場合、この記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４６】
また、記憶部２２は、操作入力部３から操作入力データ（図中のＳＷ１、ＳＷ２、ＤＳ＝８５（温度を８５℃に設定））を取得した場合、即ち、操作入力部３が設定ボタン３２から入力データを取得した場合、この取得時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データと、操作入力データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４７】
また、記憶部２２は、制御対象機器８０が制御部４からの制御データに基づいて設定が変更された（図中のＨ１（ＯＮ）（加熱器８２がＯＮ））場合、即ち制御部４から制御対象機器８０へ制御データが出力された場合、この出力時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データと、制御データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４８】
以上のように、本実施形態のコントローラ１は、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置５０の環境状態データに加えて、コントローラ１に対するユーザからの操作入力、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置５０の環境状態データ、並びにコントローラ１から制御対象機器８０に対して出力される制御データ及び、制御データが出力された際の環境試験装置５０の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置５０に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器８０の誤動作により発生したのか、或いはシーケンスプログラムに問題があったのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
【００４９】
（第二実施形態）
次に、本発明の第二実施形態について説明する。尚、以下の説明においては、上述した実施形態と同一の箇所については同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
【００５０】
第二実施形態に係るコントローラ１００が第一実施形態のコントローラ１と異なる点は、図４に示すように、コントローラ１００がモジュール構成にされていることである。
【００５１】
（コントローラ）
コントローラ１００は、制御対象機器８０をシーケンス制御するメインモジュール２００、メインモジュール２００と通信可能な複数のサブモジュール３００とから構成されている。
【００５２】
（サブモジュール）
サブモジュール３００は、コントローラ１００に対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュール３３０と、メインモジュール２００から制御対象機器８０へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュール３４０と、環境センサ９０から環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュール３５０とからなる。
【００５３】
各サブモジュール３００は、サブモジュール３００内の内部時刻を計時する内部クロック３１０（３１０ａ、３１０ｂ、３１０ｃ）、サブモジュール３００内のログである後述のサブモジュールログ３６０（３６０ａ、３６０ｂ、３６０ｃ）が記憶されるログメモリ３２０（３２０ａ、３２０ｂ、３２０ｃ）、及び不具合の発生を検知する不具合検知手段である不具合検知部３２７（３２７ａ、３２７ｂ、３２７ｃ）を有している。
【００５４】
内部クロック３１０が計時する内部時刻は、メインモジュール２００との間で通信を行うと初期化（リセット）される（後で説明する図８を参照）。つまり、内部クロック３１０が計時する内部時刻は、メインモジュール２００との間で行われた最後の通信からの経過時間である。
【００５５】
また、不具合検知部３２７は、不具合を検知した場合、メインモジュール２００に対して不具合検知データを出力する。なお、入力サブモジュール３３０及びＩ／Ｏサブモジュール３４０においては、センサ入力サブモジュール３５０に対しても不具合検知データを出力する。
【００５６】
（入力サブモジュール）
入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００から出力された表示制御データ、及びセンサ入力サブモジュール３５０が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをＬＣＤパネル３１に出力する。また入力サブモジュール３３０は、設定ボタン３２から出力された操作入力データをイベントデータとして取得し、この取得時において内部クロック３１０ａが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図５に示すように、イベントデータ（操作入力データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ａをログメモリ３２０ａに記憶する。
【００５７】
（Ｉ／Ｏサブモジュール）
Ｉ／Ｏサブモジュール３４０は、メインモジュール２００から制御対象機器８０に出力される制御データをイベントデータとして取得する。そして、このイベントデータの取得時において、内部クロック３１０ｂが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図５に示すように、イベントデータ（制御データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ｂをログメモリ３２０ｂに記憶する。なお、Ｉ／Ｏサブモジュール３４０の制御データの取得時と、この制御データによる制御対象機器８０の設定（能力）の変更時とは、同じ時刻である。
【００５８】
（センサ入力サブモジュール）
センサ入力サブモジュール３５０は、内部クロック３１０ｃをサイクルタイマとして用い、この内部クロック３１０ｃにより計時される所定の時間間隔毎に環境センサ９０から環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック３１０ｃから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時において、環境センサ９０から環境状態データを取得する。また、この環境状態データの取得時において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、図５に示すように、この環境状態取得時刻データと環境状態データとを含むサブモジュールログ３６０ｃをログメモリ３２０ｃに記憶する。
【００５９】
なお、本実施形態においては、内部クロック３１０ｃから出力される記録トリガは、通常のときにおいては６０秒間隔毎に、特定の条件のときにおいては５秒間隔毎に出力される。つまり、通常のときから特定の条件のときに移行した場合、記録トリガの出力間隔は、６０秒間隔から５秒間隔に変更されることになる。
【００６０】
なお、この特定の条件のときには、環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるとき（予測可能な現象が発生しているとき）と、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているとき（予測不可能な現象が発生しているとき）がある。
【００６１】
環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときとは、図６に示すように、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるとき（例えば、試験室５１ａの温度が設定温度に近づき、その５℃前後にあるとき）や、制御対象機器８０の能力を変更したときなどである。つまり、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるときや、制御対象機器８０の能力を変更するときは、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高いときである。このように、環境試験装置５０が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、予め環境状態データを取得する時間間隔を短くして詳細に（記録密度を高く）ログとして記憶しているので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。なお、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲から外れた場合など、特定の条件のときから通常のときに移行（復帰）した場合は、この移行時、又は移行時から所定の時間（例えば３分後）経過後に、内部クロック３１０ｃから出力される記録トリガの時間間隔は、５秒間隔から６０秒間隔に戻される。
【００６２】
これに対して、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときとは、環境試験装置５０の装置電源の予期せぬ停電や電圧降下、外部環境（例えば、環境試験装置５０が設置された場所の室温や湿度）の急変や、通信制御部２５を介した他の環境試験装置５０との外部通信があり、メインモジュール２００に割込み制御が発生しているときなどがある。このように、不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００６３】
また、センサ入力サブモジュール３５０は、リング構造を有するリングメモリ３２５を有しており、図７に示すように、内部クロック３１０ｃにより計時される所定の時間間隔（６０秒間隔）よりも短い時間間隔で、環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック３１０ｃは、５秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、この出力時において環境センサから環境状態データを取得する。また、この取得時において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログをリングメモリ３２５に記録する。そして、サブモジュール３００の何れかにおいて不具合検知部３２７が不具合を検知した場合、センサ入力サブモジュール３５０は、リングメモリ３２５に記憶された小サイクルログをメインモジュール２００に送信する。
【００６４】
（メインモジュール）
メインモジュール２００は、リアルタイムクロック２３、環境試験装置５０全体のログが記憶されるメインメモリ２４、ネットワークを介して他の環境試験装置５０と通信可能な通信制御手段である通信制御部２５、及びコントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段であるマクロ生成部２７を有している。
【００６５】
通信制御部２５は、メインモジュール２００とサブモジュール３００との間の通信の制御を行う。また、通信制御部２５は、他の環境試験装置５０の通信制御部２５とネットワークを介して通信を行うことで、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０や後述するコントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロの授受、及び他の環境試験装置５０のコントローラ１００の遠隔操作が可能にされている。これにより、遠隔地に設置された環境試験装置５０のコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置全体ログ２４０の不具合の原因をその設置場所に行かずとも解析することができる。また、環境試験装置全体ログ２４０を使用してコントローラ１００の遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。
【００６６】
またさらに、通信制御部２５は、外部記憶メディア２６との間で、環境試験装置全体ログ２４０や後述するコントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロの授受が可能にされている。
【００６７】
マクロ生成部２７は、メインメモリ２４に記憶された、入力サブモジュール３３０から受信したイベントデータ（操作入力データ）、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込み、コントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロを生成することができる。これにより、ユーザ各々が有する環境試験装置５０の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。
【００６８】
なお、操作マクロの生成方法としては、例えば、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０から必要なデータを取り出し、パーソナルコンピュータなどの編集装置により、取り出したデータを編集し、コントローラ１００において実行可能なプログラムとして操作マクロを生成する方法などがある。このように生成した操作マクロはメインメモリ２４に記憶され、ユーザの操作入力により実行可能にされている。なお、操作マクロ自体をメインモジュール２００のシーケンスプログラムに組み込むことが可能にされていてもよい。
【００６９】
なお、本実施形態にはメインメモリ２４に記憶されたイベントデータ、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込んでマクロを生成しているが、入力サブモジュール３３０のログメモリ３２０ａに記憶されているイベントデータ及びイベント取得時刻データを読み込んでマクロを生成するようにされていてもよい。
【００７０】
メインモジュール２００には、シーケンスプログラムが格納されており、このシーケンスプログラム、及び各サブモジュール３００から受信したデータに基づいて制御データを作成し、この制御データをＩ／Ｏサブモジュール３４０を介して制御対象機器８０に出力する。また、入力サブモジュール３３０に対しては、ＬＣＤパネル３１に表示させる情報を含む表示制御データを出力する。
【００７１】
また、メインモジュール２００は、処理に余裕があるとき（タスクの空き時間）に各サブモジュール３００に対してログ送信要求を出力し、サブモジュールログ３６０を受信する。また、メインモジュール２００は、サブモジュールログ３６０を受信した場合、この受信時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻である受信時刻データ、サブモジュールログ３６０に付された送信時内部時刻データ、及びサブモジュールログ３６０が含むイベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、リアルタイムクロック２３を基準としたイベント取得調整時刻データ、又はリアルタイムクロック２３を基準とした環境状態取得調整時刻データを算出する。
【００７２】
以下、入力サブモジュール３３０から受信したサブモジュールログ３６０ａに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法について、図８を参照して具体的に説明する。図８に示すように、メインモジュール２００は、入力サブモジュール３３０から、送信時内部時刻データが付されたサブモジュールログ３６０ａを受信する。送信時内部時刻データとは、入力サブモジュール３３０において、メインモジュール２００への送信時に内部クロック３１０ａが計時した内部時刻である。
【００７３】
まず、メインモジュール２００は、送信時内部時刻データの値からイベント取得時刻データの値を減算して、入力サブモジュール３３０においてイベントデータを取得した時刻からサブモジュールログ３６０ａの送信時までに経過した時間（以下、経過時間）を算出する。次に、メインモジュール２００におけるサブモジュールログ３６０ａの受信時刻と、入力サブモジュール３３０におけるサブモジュールログ３６０ａの送信時刻とは同じ時刻であるとみなし、受信時刻データの値から経過時間を減算した値を、イベント取得調整時刻データとする。このようにすることで、サブモジュールログ３６０ａのイベント取得時刻データを、リアルタイムクロック２３を基準としたイベント取得調整時刻データとすることができる。
【００７４】
なお、Ｉ／Ｏサブモジュール３４０から受信したサブモジュールログ３６０ｂに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法、及びセンサ入力サブモジュール３５０から受信したサブモジュールログ３６０ｃに含まれる環境状態データを用いて環境状態調整時刻データを算出する方法については、上記と同様の方法で算出することができるので説明は省略する。
【００７５】
このようにして算出したイベント取得調整時刻データは、イベントデータに対応付けられて、図５に示すように、イベントログデータ２４１としてメインメモリ２４に記憶される。同様に、環境状態取得調整時刻データは、環境状態データに対応付けられて、環境状態ログデータ２４２としてメインメモリ２４に記憶される。
【００７６】
また、イベントログデータ２４１には、このイベントログデータ２４１に含まれるイベントデータに時間的に対応する環境状態データが含まれている。このイベントデータに時間的に対応する環境状態データは、イベント取得調整時刻データ、及び環境状態取得調整データを用いて求められる。具体的には、図９に示すように、イベント取得調整時刻データに対して、最も時間的に近い環境状態取得調整データを求めて、この環境状態取得調整データに対応する環境状態データをイベントログデータに含ませる。このようにすることで、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。
【００７７】
また、図１０に示すように、メインメモリ２４に記憶されている任意の環境状態ログデータ２４２に含まれる環境状態データの値が、環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の環境状態ログデータ２４２に含まれる環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータ２４２が含む環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、当該環境状態ログデータ２４２をメインメモリ２４から消去する。このようにすることで、環境試験装置５０の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ２４２を残して、その他の環境状態ログデータ２４２は消去されることになる。その結果、メインメモリ２４に記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリ２４の記憶容量を節約することができる。なお『実質的に同じ』とは、環境状態データの値が完全に同じであることを意味するわけではなく、図１０に示すように、ユーザの許容する誤差範囲内にあればよいことを意味する。また、図１０においては、説明の便宜上、イベントログデータ２４１と環境状態ログデータ２４２とを纏めた環境試験装置全体ログ２４０を図示している。
【００７８】
（コントローラの処理動作）
次にコントローラ１００の処理動作について、図１１〜１４を参照しつつ説明する。
【００７９】
（メインモジュールの動作）
まず、メインモジュールの処理動作について、図１１を参照して説明する。
【００８０】
メインモジュール２００は、環境試験装置５０の装置電源が起動された場合、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻を起動時刻データとしてメインメモリ２４に記憶すると共に、各サブモジュール３００と初期通信を行う（Ａ１）。
【００８１】
次に、メインモジュール２００は、処理に余裕があるか否か（タスクの空き時間であるか否か）を判断する（Ａ２）。処理に余裕がないと判断した場合（Ａ２：ＮＯ）には、制御対象機器８０に対してシーケンス制御を行い（Ａ３）、Ａ６の処理に移る。
【００８２】
一方、処理に余裕があると判断した場合（Ａ２：ＹＥＳ）には、各サブモジュール３００に対して、ログ要求を送信する（Ａ４）。次に、各サブモジュール３００から受信したサブモジュールログ３６０から、環境試験装置全体ログ２４０（イベントログデータ２４１及び環境状態ログデータ２４２）を生成し、メインメモリ２４に記憶する（Ａ５）。また、この時、イベントデータに時間的に対応する環境状態データを求めて、この求めた環境状態データをイベントログデータ２４１に含めて記憶する。Ａ５の処理が終了すると、Ａ６の処理に移る。
【００８３】
Ａ６の処理では、サブモジュール３００の何れかから不具合検知データを受信したか否かを判断する。不具合検知データを受信していないと判断した場合（Ａ６：ＮＯ）には、Ａ２の処理に移る。
【００８４】
一方、不具合検知データを受信したと判断した場合（Ａ６：ＹＥＳ）には、メインモジュール２００は、センサ入力サブモジュール３５０から小サイクルログを受信すると共に、サブモジュール３００へのログ要求の送信、各サブモジュール３００からサブモジュールログ３６０の受信、及び上記Ａ５の処理と同様の環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記憶を、所定の時間の間継続する（Ａ７）。その後、サブモジュール３００へ記録停止命令を送信し、且つ環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記録動作を停止して（Ａ８）、本処理動作を終了する。このように、不具合の発生時から所定期間経過後には、環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記録動作は停止されるので、不具合からコントローラ１００を保全することができる。なお、所定時間とは、不具合の原因の特定に必要なサブモジュールログ３６０をサブモジュール３００から受信して、このサブモジュールログ３６０を用いて生成された環境試験装置全体ログ２４０をメインメモリ２４に記憶するまでにかかる時間である。
【００８５】
（入力サブモジュールの処理動作）
次に、入力サブモジュール３３０の処理動作について、図１２を参照して説明する。
【００８６】
入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００からの初期通信時に、内部クロック３１０ａが計時する内部時刻を初期化する（Ｂ１）。次に、設定ボタン３２から操作入力データを取得したか否かを判断する（Ｂ２）。操作入力データを取得したと判断した場合（Ｂ２：ＹＥＳ）には、この取得時において内部クロック３１０ａが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、イベントデータ（操作入力データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ａをログメモリ３２０ａに記憶し（Ｂ３）、Ｂ６の処理に移る。
【００８７】
一方、操作入力データを取得したと判断していないと判断した場合（Ｂ２：ＮＯ）には、不具合検知部３２７ａが不具合を検知したか否かを判断する（Ｂ４）。不具合検知部３２７ａが不具合を検知していないと判断した場合（Ｂ４：ＮＯ）には、Ｂ６の処理に移る。
【００８８】
一方、不具合検知部３２７ａが不具合を検知したと判断した場合（Ｂ４：ＹＥＳ）には、入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００、及びセンサ入力サブモジュール３５０に不具合検知データを送信して（Ｂ５）、Ｂ２の処理に移る。
【００８９】
Ｂ６の処理では、入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合（Ｂ６：ＮＯ）には、Ｂ８の処理に移る。
【００９０】
一方、ログ要求を受信したと判断した場合（Ｂ６：ＹＥＳ）には、入力サブモジュール３３０は、ログメモリ３２０ａに記憶されているサブモジュールログ３６０ａをメインモジュール２００に送信し（Ｂ７）、Ｂ８の処理に移る。なお、メインモジュール２００に送信したサブモジュールログ３６０ａはログメモリ３２０ａから削除してもよい。また、入力サブモジュール３３０が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない（タスクの空き時間ではない）場合には、次にメインモジュール２００からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ３６０ａを送信するようにされていてもよい。
【００９１】
Ｂ８の処理では、メインモジュール２００から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合（Ｂ８：ＮＯ）には、Ｂ２の処理に移る。
【００９２】
一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合（Ｂ８：ＹＥＳ）には、設定ボタン３２からの操作入力データの取得を停止して、サブモジュールログ３６０ａのログメモリ３２０ａへの記録を停止し（Ｂ９）、本処理動作を終了する。
【００９３】
（Ｉ／Ｏサブモジュールの処理動作）
Ｉ／Ｏサブモジュール３４０の処理動作は、図１３に示すように、上記入力サブモジュールの動作と略同様であり、設定ボタン３２から出力された操作入力データをメインモジュール２００から制御対象機器８０に出力される制御データに、内部クロック３１０ａを内部クロック３１０ｂに、ログメモリ３２０ａをログメモリ３２０ｂに、サブモジュールログ３６０ａをサブモジュールログ３６０ｂに、不具合検知部３２７ａを不具合検知部３２７ｂに読み替えるだけなので説明は省略する。
【００９４】
（センサ入力サブモジュールの処理動作）
次に、センサ入力サブモジュール３５０の処理動作について、図１４を参照して説明する。
【００９５】
センサ入力サブモジュール３５０は、メインモジュール２００からの初期通信時に、内部クロック３１０ｃが計時する内部時刻を初期化する（Ｄ１）。次に、内部クロック３１０ｃから所定の時間間隔（通常のとき:６０秒間隔、特定の条件のとき：５秒間隔）毎に出力される記録トリガが出力（サイクルアップ）されたか否かを判断する（Ｄ２）。記録トリガが出力されたと判断した場合（Ｄ２：ＹＥＳ）には、この記録トリガの出力時（環境状態データの取得時）において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この記録トリガの出力時に環境センサ９０から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ｃをログメモリ３２０ｃに記憶し（Ｄ３）、Ｄ８の処理に移る。なお、内部クロック３１０ｃは、５秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、小記録トリガの出力時（環境状態データの取得時）において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この小記録トリガの出力時において、環境センサ９０から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含む小サイクルログがリングメモリ３２５に記憶される。
【００９６】
一方、記録トリガが出力されていないと判断した場合（Ｄ２：ＮＯ）には、環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態にあるか（又は予測可能な現象が発生したか）否かを判断する（Ｄ４）。不具合が発生する可能性が高い状態にあるか、又は予測可能な現象が発生したと判断した場合（Ｄ４：ＹＥＳ）には、内部クロック３１０ｃが出力する記録トリガの時間間隔を５秒に変更し（Ｄ５）、Ｄ７の処理に移る。
【００９７】
一方で予測可能な現象が発生していない場合（Ｄ４：ＮＯ）には、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生したか否かを判断する（Ｄ６）。具体的には、不具合検知部３２７ｃが不具合を検知したと判断した場合、又は他のサブモジュール３００から不具合検知データを受信したと判断した場合には、環境試験装置５０に不具合が発生したと判断する。それ以外の場合には、環境試験装置５０に不具合が発生していないと判断する。
【００９８】
不具合が発生したと判断した場合（Ｄ６：ＹＥＳ）には、内部クロック３１０ｃが出力する記録トリガの時間間隔を５秒に変更し、リングメモリ３２５に記憶されている小サイクルログをメインモジュール２００に送信し（Ｄ７）、Ｄ２の処理に移る。一方で、不具合が発生していないと判断した場合（Ｄ６：ＮＯ）には、Ｄ８の処理に移る。なお、不具合検知部３２７ｃが不具合を検知したと判断した場合には、メインモジュール２００に不具合検知データを送信する。
【００９９】
Ｄ８の処理では、センサ入力サブモジュール３５０は、メインモジュール２００からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合（Ｄ８：ＮＯ）には、Ｄ１０の処理に移る。
【０１００】
ログ要求を受信したと判断した場合（Ｄ８：ＹＥＳ）には、センサ入力サブモジュール３５０は、ログメモリ３２０ｃに記憶されているサブモジュールログ３６０ｃをメインモジュール２００に送信し（Ｄ９）、Ｄ１０の処理に移る。なお、メインモジュール２００に送信したサブモジュールログ３６０ｃはログメモリ３２０ｃから削除してもよい。また、センサ入力サブモジュール３５０が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない（タスクの空き時間ではない）場合には、次にメインモジュール２００からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ３６０ｃを送信するようにされていてもよい。
【０１０１】
Ｄ１０の処理では、メインモジュール２００から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合（Ｄ１０：ＮＯ）には、Ｄ２の処理に移る。
【０１０２】
一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合（Ｄ１０：ＹＥＳ）には、環境センサ９０からの環境状態データの取得を停止して、サブモジュールログ３６０ｃのログメモリ３２０ｃへの記録を停止し（Ｄ１１）、本処理動作を終了する。
【０１０３】
（環境試験装置用デバッガ）
次に、環境試験装置用デバッガについて説明する。
【０１０４】
環境試験装置用デバッガとして、編集装置を用いたデバッガがある。編集装置を用いたデバッガとは、ＰＬＣの編集装置（パーソナルコンピュータなど）にシーケンスプログラム、及びメインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０を格納し、このシーケンスプログラムに基づいて、環境試験装置全体ログ２４０をステップ実行させて確認するデバッガである。このデバッガは、編集装置により、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０のイベントデータ及び環境状態データを、イベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、リアルタイムクロック２３を基準とした記憶（取得）順序にソートし、時間的に隣り合うイベントデータ又は環境状態データとの取得調整時刻データの時間間隔は考慮せずに、連続的にステップ実行して、シーケンスプログラムの動作を確認するものである。この編集装置を用いたデバッガは、極めて単純であり、実行時間は関係ないため非常に短時間でシーケンスプログラムの動作を確認することができる。
【０１０５】
また、その他の環境試験装置用デバッガとして、環境再現装置を用いたデバッガがある。この環境再現装置を用いたデバッガについて、図１５を参照して説明する。
【０１０６】
デバッガ５００は、環境試験装置５０、環境試験装置５０をシーケンス制御するＰＬＣ処理手段であるＰＬＣ処理部５１０、及び環境再現装置５２０を有している。
【０１０７】
環境再現装置５２０は、環境試験装置５０を収容する再現槽５３０、及びデバッガ用制御対象機器５４０を有している。
【０１０８】
再現槽５３０は、環境試験装置５０の外部環境状態を再現するための槽であり、環境試験装置５０が置かれる再現室５３０ａとこれから仕切られた空調室５３０ｂとから構成されている。空調室５３０ｂには、複数のデバッガ用制御対象機器５４０が配されている。
【０１０９】
（デバッガ用制御対象機器）
デバッガ用制御対象機器５４０は、再現槽５３０の再現室５３０ａにおいて、環境試験装置５０の外部環境状態を再現することが可能な機器である。デバッガ用制御対象機器５４０は、ＰＬＣ処理部５１０から出力される制御データに基づいて機器の設定（能力）が変更される。
【０１１０】
デバッガ用制御対象機器５４０は、本実施形態においては、送風機５４１、加熱器５４２、及び冷却器５４３である。送風機５４１は、再現室５３０ａと空調室５３０ｂとの間で空気を循環させることができる。加熱器５４２及び冷却器５４３は、空調室５３０ｂの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器５４２及び冷却器５４３は、送風機５４１の上流側に配されており、これにより、この加熱器５４２及び冷却器５４３により所定の温度に調整された空調室５３０ｂの空気を、再現室５３０ａに送り込み、再現室５３０ａを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、デバッガ用制御対象機器５４０は、送風機５４１、加熱器５４２、及び冷却器５４３であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば再現室５３０ａの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、再現槽５３０の再現室５３０ａにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。
【０１１１】
ＰＬＣ処理部５１０は、環境試験装置５０をシーケンス制御するためのシーケンスプログラムが格納されている。ＰＬＣ処理部５１０は、このシーケンスプログラム、及びコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を用いて、環境試験装置全体ログ２４０の運転の再現を行うことができる。
【０１１２】
具体的には、ＰＬＣ処理部５１０は、環境試験装置５０のコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を用いて、メインモジュール２００の制御対象機器８０に対するシーケンス制御の再現を行うことができる。
【０１１３】
また、環境試験装置５０の試験槽５１の槽内の環境状態は、予め設計により選択された制御対象機器８０の動作により作り出されているので、この設計に基づく試験槽５１の槽内の環境状態をシミュレートすることが可能な理論式が存在する。ＰＬＣ処理部５１０は、この理論式により環境試験装置５０の試験室５１ａの環境状態（槽内の環境状態）をシミュレートすることができる。これにより、実際に環境センサ９０により取得してメインメモリ２４に記憶された環境状態ログデータ２４２の槽内環境データと、環境試験装置全体ログ２４０を用いた理論式によりシミュレートされた試験室５１ａの環境状態とを比較することで、環境試験装置５０の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【０１１４】
また、ＰＬＣ処理部５１０は、メインメモリ２４に記憶された環境状態ログデータ２４２に含まれる外部環境データを用いて、デバッガ用制御対象機器５４０を制御する。これにより、環境試験装置５０の外部環境状態を再現することができるため、環境試験装置５０の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【０１１５】
以上、本発明の実施例を説明したが、具体例を例示したに過ぎず、特に本発明を限定するものではなく、具体的構成などは、適宜設計変更可能である。また、発明の実施の形態に記載された、作用及び効果は、本発明から生じる最も好適な作用及び効果を列挙したに過ぎず、本発明による作用及び効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。
【符号の説明】
【０１１６】
１ コントローラ
３ 操作入力部（入力取得手段）
４ 制御部（制御手段）
５ センサ入力部（環境状態取得手段）
２１ サイクルタイマ
２２ 記憶部（記憶手段）
２３ リアルタイムクロック
２４ メインメモリ
２５ 通信制御部（通信制御手段）
２７ マクロ生成部（マクロ生成手段）
５０ 環境試験装置
８０ 制御対象機器
９０ 環境センサ
１００ コントローラ
２００ メインモジュール
２４０ 環境試験装置全体ログ
２４１ イベントログデータ
２４２ 環境状態ログデータ
３００ サブモジュール
３１０ 内部クロック
３２０ ログメモリ
３２５ リングメモリ
３２７ 不具合検知部（不具合検知手段）
３３０ 入力サブモジュール
３４０ Ｉ／Ｏサブモジュール
３５０ センサ入力サブモジュール
３６０ サブモジュールログ
５００ 環境試験装置用デバッガ
５１０ ＰＬＣ処理部（ＰＬＣ処理手段）
５２０ 環境再現装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器や電子部品等の性能や耐久性等を評価する技術として、下記特許文献１のように、高温環境、低温環境、高湿度環境等の人工的な環境を装置の試験槽内において作りだし、この試験槽内に被試験物を置いて評価を行う環境試験装置が従来から知られている。試験槽内の環境は、ユーザからの操作入力や、コントローラに格納されたシーケンスプログラム等を基にして、加熱器や冷却器などの制御対象機器を制御することで作り出される。
【０００３】
また、この特許文献１の環境試験装置では、試験槽内の温度や湿度などの環境状態を検出する環境センサを備え、この環境センサから取得した環境状態データをログとして記憶している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２２５１５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、環境試験装置において試験槽内の温度や湿度が異常に高くなる等の不具合が発生する場合がある。
【０００６】
しかしながら、特許文献１の環境試験装置では、ログとして記憶されているのは環境状態データのみであるため、この不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器の誤動作により発生したのか、シーケンスプログラムに問題があるのかなどの不具合の原因を特定することはできなかった。従って、不具合の原因の特定を行うためには、不具合の原因の仮説を多く立て、その仮説を一つ一つ検証する他なく、多大な手間を要していた。
【０００７】
本発明は、上記の問題点に鑑みてされたものであり、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができるログを記憶可能な環境試験装置用コントローラ、及びこの環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールとを備え、前記複数のサブモジュールは、前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリとを各サブモジュールに有し、前記入力サブモジュール及び前記Ｉ／Ｏサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、前記メインモジュールは、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリとを有し、前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする。
【０００９】
上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
また、メインモジュールは処理に余裕があるときに、サブモジュールからサブモジュールログを受信してメインメモリにログを記憶するようにされているので、環境試験装置全体のログの記憶動作がメインモジュールのシーケンス制御に支障をきたすことはない。
【００１０】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行ってもよい。上記の構成によれば、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。
【００１１】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ及び、環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている環境状態ログデータを残して、その他の環境状態ログデータは消去される。従って、メインメモリに記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリの記憶容量を節約することができる。
【００１２】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止してもよい。上記の構成によれば、環境試験装置に不具合が発生した場合に、この不具合発生時から所定期間の間は、環境試験装置全体のログの記憶は継続されるため、不具合原因の特定をより正確に行うことができる。また、所定期間経過後はこの記録動作は停止されるので、不具合からコントローラを保全することができる。
【００１３】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶してもよい。上記の構成によれば、不具合発生前の一定期間の環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１４】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記センサ入力モジュールの前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更してもよい。上記の構成によれば、環境状態データを取得する時間間隔を変更することができる。
【００１５】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１６】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件ときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くしてもよい。上記の構成によれば、環境試験装置において不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００１７】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していてもよい。上記の構成によれば、コントローラへの操作入力手順をマクロにすることができるので、ユーザ各々が有する環境試験装置の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。
【００１８】
また、本発明の環境試験装置用コントローラにおいて、ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていてもよい。上記の構成によれば、遠隔地に設置された環境試験装置のコントローラのメインメモリに記憶された環境試験装置全体のログを取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置の不具合の原因をその設置場所に行かずとも特定することができる。また、環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。
【００１９】
また、本発明の環境試験装置は、前記環境試験装置用コントローラを有している。
【００２０】
また、本発明の環境試験装置用デバッガは、前記環境試験装置と、前記環境試験装置をシーケンス制御可能なＰＬＣ処理手段とを有する環境試験装置用デバッガであって、前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする。上記環境試験装置全体のログを用いて環境試験装置の運転を再現することができるため、環境試験装置の不具合の原因をより容易に特定することができる。
【００２１】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であってもよい。上記の構成によれば、環境試験装置全体のログを用いて制御対象機器のシーケンス制御の再現が可能であると共に、環境試験装置全体のログを用いた理論式により環境試験装置の槽内の環境状態をシミュレートすることができる。従って、実際に環境センサにより取得して前記メインメモリに記憶された環境状態ログデータの槽内環境データと、環境試験装置全体のログを用いた理論式によりシミュレートされた槽内環境とを比較することで、環境試験装置の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【００２２】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されてもよい。
【００２３】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であってもよい。上記の構成によれば、環境再現装置により環境試験装置の外部環境状態も再現してデバッグを行うことができるので、環境試験装置の不具合原因をより容易に特定することができる。
【００２４】
また、本発明の環境試験装置用デバッガにおいて、前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されてもよい。
【００２５】
また、本発明の環境試験装置用コントローラは、データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と、前記環境試験装置の制御対象機器に対して制御データを出力する制御手段と、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段とを有し、前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする。
【００２６】
上記の構成によれば、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置の環境状態データに加えて、コントローラに対するユーザの操作入力データ、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置の環境状態データ、並びに環境試験装置の制御対象機器に対して出力される制御データ、及び制御データが出力された際の環境試験装置の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、或いは制御対象機器の誤動作により発生したのか等の、不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、環境試験装置において発生した不具合の原因の特定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第一実施形態に係る環境試験装置の構成図である。
【図２】本発明の第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。
【図３】環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図４】本発明の第二実施形態に係る環境試験装置用コントローラの構成図である。
【図５】ログメモリに記憶されるサブモジュールログ、メインメモリに記憶される環境試験全体ログについて説明する説明図である。
【図６】環境試験装置全体ログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図７】リングメモリに記憶するログの生成タイミングを表すタイムチャートである。
【図８】イベント取得調整時刻データの算出方法について説明する説明図である。
【図９】イベントデータと環境状態データとの対応付けの方法について説明する説明図である。
【図１０】環境状態データの記録方法について説明する説明図である。
【図１１】メインモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１２】入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１３】Ｉ／Ｏサブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１４】センサ入力サブモジュールの処理動作についてのフローチャートである。
【図１５】環境試験装置用デバッガの構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
（第一実施形態）
本発明の第一実施形態を、図１〜図３を参照して説明する。
【００３０】
（環境試験装置）
まず、第一実施形態に係る環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置について説明する。
【００３１】
図１に示すように、環境試験装置５０は、データログ機能を有するコントローラ１、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）パネル３１、設定ボタン３２、試験槽５１、複数の制御対象機器８０、及び環境センサ９０を備えている。
【００３２】
ＬＣＤパネル３１は、コントローラ１の後述の操作入力部３から入力された表示データに基づいて、環境試験装置５０の試験条件、制御対象機器８０の設定や制御対象機器８０の現在の状態等をユーザに対して表示するものである。設定ボタン３２は、コントローラ１に対するユーザからの操作入力を受け付けるものであり、受け付けた操作入力データをコントローラ１の操作入力部３へ出力する。なお、操作入力データとは、試験槽５１の環境設定（例えば、試験室５１ａの温度設定）や、制御対象機器８０の設定（例えば、後述の加熱器８２のＯＮ・ＯＦＦ）等のユーザが操作入力して設定するデータである。
【００３３】
（試験槽）
試験槽５１は、槽内に電子機器や電子部品等の被試験物Ｗを置き、この被試験物に対して環境試験を実施する槽である。試験槽５１は、図１に示すように、被試験物Ｗが置かれる試験室５１ａとこれから仕切られた空調室５１ｂとから構成されている。また、空調室５１ｂには、複数の制御対象機器８０が配されている。
【００３４】
（制御対象機器）
制御対象機器８０は、試験槽５１の試験室５１ａにおいて人工的な環境状態を作り出す機器である。制御対象機器８０は、コントローラ１の後述する制御部４から出力される制御データに基づいて機器の設定（能力）の変更等が行われる。
【００３５】
制御対象機器８０は、本実施形態においては、送風機８１、加熱器８２、及び冷却器８３である。送風機８１は、試験室５１ａと空調室５１ｂとの間で空気を循環させることができる。加熱器８２及び冷却器８３は、空調室５１ｂの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器８２及び冷却器８３は、送風機８１の上流側に配されており、これにより、この加熱器８２及び冷却器８３により所定の温度に調整された空調室５１ｂの空気を、試験室５１ａに送り込み、試験室５１ａを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、制御対象機器８０は、送風機８１、加熱器８２、及び冷却器８３であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば試験室５１ａの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、試験槽５１の試験室５１ａにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。
【００３６】
（環境センサ）
環境センサ９０は、環境試験装置５０の環境状態を検出するセンサであり、検出した環境状態データはコントローラ１の後述するセンサ入力部５に出力される。この環境センサ９０は、図１に示すように、試験槽５１の試験室５１ａに配され、試験室５１ａ内の環境状態を検出する槽内環境センサ群９１と、試験槽５１の槽外に配され、環境試験装置５０が設置された場所の環境状態を検出する外部環境センサ群９２とから構成されている。なお、外部環境センサ群９２は省略することができる。
【００３７】
槽内環境センサ群９１は、少なくとも試験室５１ａ内の温度、湿度、圧力、風速のいずれかを検出することができる。なお、槽内環境センサ群９１は、空調室５１ｂ内に配された制御対象機器８０各々の状態を検出できるものでもよい。また、外部環境センサ群９２は、少なくとも環境試験装置の設置場所の温度、湿度、及び圧力や、環境試験装置５０の電源電圧、消費電力、通信情報のいずれかを検出することができる。
【００３８】
（コントローラ）
コントローラ１は、図２に示すように、環境試験装置５０全体のログである後述の環境試験装置全体ログ２４０を記憶するデータログ部２、ユーザからコントローラ１に対して入力される操作入力データを取得する入力取得手段である操作入力部３と、環境試験装置５０の制御対象機器８０に対して制御データを出力する制御手段である制御部４と、環境センサ９０から環境状態データを取得する環境状態取得手段であるセンサ入力部５とを備えている。
【００３９】
（操作入出力部）
操作入力部３は、制御部４から出力された表示制御データ、及びセンサ入力部５が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをＬＣＤパネル３１に出力する。また操作入力部３は、設定ボタン３２から出力された操作入力データを取得し、この取得した操作入力データをデータログ部２、及び制御部４に出力する。
【００４０】
（制御部）
制御部４には、シーケンスプログラムが格納されており、制御部４は、このシーケンスプログラム、操作入力部３が取得した操作入力データ、及びセンサ入力部５が取得した環境状態データに基づいて制御データを作成し、この制御データを制御対象機器８０に対して出力する。この制御データが入力された制御対象機器８０は、制御データに基づいて、能力（設定）が変更されることになる。制御部４は、制御対象機器８０に対する制御データの出力時において、この制御データをデータログ部２に対しても出力する。
【００４１】
（センサ入力部）
センサ入力部５は、環境センサ９０から出力された環境状態データを取得し、この環境状態データを、データログ部２、操作入力部３、及び制御部４に出力する。
【００４２】
（データログ部）
データログ部２は、サイクルタイマ２１、後述の環境試験装置全体ログ２４０を記憶する記憶手段である記憶部２２、及びリアルタイムクロック（ＲＴＣ）２３を有している。
【００４３】
サイクルタイマ２１は、記録トリガを記憶部２２に対して所定の時間間隔毎に出力をするものである。本実施の形態においては、６０秒間隔毎に記録トリガを出力するように設定されている。また、リアルタイムクロック２３は、現在時刻の計時を行うものである。ここで、「現在時刻」とは、本実施形態においては、環境試験装置５０の装置起動時からの経過時間のことをいう。
【００４４】
環境試験装置全体ログ２４０の生成（記憶）タイミングについて、図３を参照して説明する。
【００４５】
記憶部２２は、サイクルタイマ２１から記録トリガが出力された場合、この記録トリガの出力時において、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４６】
また、記憶部２２は、操作入力部３から操作入力データ（図中のＳＷ１、ＳＷ２、ＤＳ＝８５（温度を８５℃に設定））を取得した場合、即ち、操作入力部３が設定ボタン３２から入力データを取得した場合、この取得時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データと、操作入力データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４７】
また、記憶部２２は、制御対象機器８０が制御部４からの制御データに基づいて設定が変更された（図中のＨ１（ＯＮ）（加熱器８２がＯＮ））場合、即ち制御部４から制御対象機器８０へ制御データが出力された場合、この出力時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻データと、センサ入力部５が取得した環境状態データと、制御データとを対応付けて記憶部２２に記憶する。
【００４８】
以上のように、本実施形態のコントローラ１は、所定の時間間隔毎に記憶される環境試験装置５０の環境状態データに加えて、コントローラ１に対するユーザからの操作入力、及びこの操作入力が行われた際の環境試験装置５０の環境状態データ、並びにコントローラ１から制御対象機器８０に対して出力される制御データ及び、制御データが出力された際の環境試験装置５０の環境状態データもログとして記憶することができる。これにより、環境試験装置５０に不具合が発生した場合でも、このログを調べることで、不具合がユーザの誤操作により発生したのか、制御対象機器８０の誤動作により発生したのか、或いはシーケンスプログラムに問題があったのか等の不具合原因の特定を従来装置に比べて容易に行うことができる。
【００４９】
（第二実施形態）
次に、本発明の第二実施形態について説明する。尚、以下の説明においては、上述した実施形態と同一の箇所については同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
【００５０】
第二実施形態に係るコントローラ１００が第一実施形態のコントローラ１と異なる点は、図４に示すように、コントローラ１００がモジュール構成にされていることである。
【００５１】
（コントローラ）
コントローラ１００は、制御対象機器８０をシーケンス制御するメインモジュール２００、メインモジュール２００と通信可能な複数のサブモジュール３００とから構成されている。
【００５２】
（サブモジュール）
サブモジュール３００は、コントローラ１００に対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュール３３０と、メインモジュール２００から制御対象機器８０へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュール３４０と、環境センサ９０から環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュール３５０とからなる。
【００５３】
各サブモジュール３００は、サブモジュール３００内の内部時刻を計時する内部クロック３１０（３１０ａ、３１０ｂ、３１０ｃ）、サブモジュール３００内のログである後述のサブモジュールログ３６０（３６０ａ、３６０ｂ、３６０ｃ）が記憶されるログメモリ３２０（３２０ａ、３２０ｂ、３２０ｃ）、及び不具合の発生を検知する不具合検知手段である不具合検知部３２７（３２７ａ、３２７ｂ、３２７ｃ）を有している。
【００５４】
内部クロック３１０が計時する内部時刻は、メインモジュール２００との間で通信を行うと初期化（リセット）される（後で説明する図８を参照）。つまり、内部クロック３１０が計時する内部時刻は、メインモジュール２００との間で行われた最後の通信からの経過時間である。
【００５５】
また、不具合検知部３２７は、不具合を検知した場合、メインモジュール２００に対して不具合検知データを出力する。なお、入力サブモジュール３３０及びＩ／Ｏサブモジュール３４０においては、センサ入力サブモジュール３５０に対しても不具合検知データを出力する。
【００５６】
（入力サブモジュール）
入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００から出力された表示制御データ、及びセンサ入力サブモジュール３５０が取得した環境状態データ等を基に表示データを作成し、この表示データをＬＣＤパネル３１に出力する。また入力サブモジュール３３０は、設定ボタン３２から出力された操作入力データをイベントデータとして取得し、この取得時において内部クロック３１０ａが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図５に示すように、イベントデータ（操作入力データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ａをログメモリ３２０ａに記憶する。
【００５７】
（Ｉ／Ｏサブモジュール）
Ｉ／Ｏサブモジュール３４０は、メインモジュール２００から制御対象機器８０に出力される制御データをイベントデータとして取得する。そして、このイベントデータの取得時において、内部クロック３１０ｂが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、図５に示すように、イベントデータ（制御データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ｂをログメモリ３２０ｂに記憶する。なお、Ｉ／Ｏサブモジュール３４０の制御データの取得時と、この制御データによる制御対象機器８０の設定（能力）の変更時とは、同じ時刻である。
【００５８】
（センサ入力サブモジュール）
センサ入力サブモジュール３５０は、内部クロック３１０ｃをサイクルタイマとして用い、この内部クロック３１０ｃにより計時される所定の時間間隔毎に環境センサ９０から環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック３１０ｃから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時において、環境センサ９０から環境状態データを取得する。また、この環境状態データの取得時において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、図５に示すように、この環境状態取得時刻データと環境状態データとを含むサブモジュールログ３６０ｃをログメモリ３２０ｃに記憶する。
【００５９】
なお、本実施形態においては、内部クロック３１０ｃから出力される記録トリガは、通常のときにおいては６０秒間隔毎に、特定の条件のときにおいては５秒間隔毎に出力される。つまり、通常のときから特定の条件のときに移行した場合、記録トリガの出力間隔は、６０秒間隔から５秒間隔に変更されることになる。
【００６０】
なお、この特定の条件のときには、環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるとき（予測可能な現象が発生しているとき）と、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているとき（予測不可能な現象が発生しているとき）がある。
【００６１】
環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときとは、図６に示すように、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるとき（例えば、試験室５１ａの温度が設定温度に近づき、その５℃前後にあるとき）や、制御対象機器８０の能力を変更したときなどである。つまり、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲にあるときや、制御対象機器８０の能力を変更するときは、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高いときである。このように、環境試験装置５０が不具合を発生する可能性が高い状態にあるときに、予め環境状態データを取得する時間間隔を短くして詳細に（記録密度を高く）ログとして記憶しているので、不具合が発生した場合において、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。なお、試験室５１ａの環境状態が設定環境の所定の範囲から外れた場合など、特定の条件のときから通常のときに移行（復帰）した場合は、この移行時、又は移行時から所定の時間（例えば３分後）経過後に、内部クロック３１０ｃから出力される記録トリガの時間間隔は、５秒間隔から６０秒間隔に戻される。
【００６２】
これに対して、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときとは、環境試験装置５０の装置電源の予期せぬ停電や電圧降下、外部環境（例えば、環境試験装置５０が設置された場所の室温や湿度）の急変や、通信制御部２５を介した他の環境試験装置５０との外部通信があり、メインモジュール２００に割込み制御が発生しているときなどがある。このように、不具合が発生しているときに、環境状態データを詳細にログとして記憶することができるので、このログを確認することで、不具合原因の特定をより容易に行うことができる。
【００６３】
また、センサ入力サブモジュール３５０は、リング構造を有するリングメモリ３２５を有しており、図７に示すように、内部クロック３１０ｃにより計時される所定の時間間隔（６０秒間隔）よりも短い時間間隔で、環境状態データを取得する。具体的には、内部クロック３１０ｃは、５秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、この出力時において環境センサから環境状態データを取得する。また、この取得時において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログをリングメモリ３２５に記録する。そして、サブモジュール３００の何れかにおいて不具合検知部３２７が不具合を検知した場合、センサ入力サブモジュール３５０は、リングメモリ３２５に記憶された小サイクルログをメインモジュール２００に送信する。
【００６４】
（メインモジュール）
メインモジュール２００は、リアルタイムクロック２３、環境試験装置５０全体のログが記憶されるメインメモリ２４、ネットワークを介して他の環境試験装置５０と通信可能な通信制御手段である通信制御部２５、及びコントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段であるマクロ生成部２７を有している。
【００６５】
通信制御部２５は、メインモジュール２００とサブモジュール３００との間の通信の制御を行う。また、通信制御部２５は、他の環境試験装置５０の通信制御部２５とネットワークを介して通信を行うことで、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０や後述するコントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロの授受、及び他の環境試験装置５０のコントローラ１００の遠隔操作が可能にされている。これにより、遠隔地に設置された環境試験装置５０のコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を取得することができるので、その結果、遠隔地に設置された環境試験装置全体ログ２４０の不具合の原因をその設置場所に行かずとも解析することができる。また、環境試験装置全体ログ２４０を使用してコントローラ１００の遠隔操作が可能であるため、遠隔地からリモートメンテナンスを行うことができる。
【００６６】
またさらに、通信制御部２５は、外部記憶メディア２６との間で、環境試験装置全体ログ２４０や後述するコントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロの授受が可能にされている。
【００６７】
マクロ生成部２７は、メインメモリ２４に記憶された、入力サブモジュール３３０から受信したイベントデータ（操作入力データ）、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込み、コントローラ１００の操作入力手順を再現可能なマクロを生成することができる。これにより、ユーザ各々が有する環境試験装置５０の操作のノウハウや技能等の共有化を図ることができる。
【００６８】
なお、操作マクロの生成方法としては、例えば、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０から必要なデータを取り出し、パーソナルコンピュータなどの編集装置により、取り出したデータを編集し、コントローラ１００において実行可能なプログラムとして操作マクロを生成する方法などがある。このように生成した操作マクロはメインメモリ２４に記憶され、ユーザの操作入力により実行可能にされている。なお、操作マクロ自体をメインモジュール２００のシーケンスプログラムに組み込むことが可能にされていてもよい。
【００６９】
なお、本実施形態にはメインメモリ２４に記憶されたイベントデータ、及び後述のイベント取得調整時刻データを読み込んでマクロを生成しているが、入力サブモジュール３３０のログメモリ３２０ａに記憶されているイベントデータ及びイベント取得時刻データを読み込んでマクロを生成するようにされていてもよい。
【００７０】
メインモジュール２００には、シーケンスプログラムが格納されており、このシーケンスプログラム、及び各サブモジュール３００から受信したデータに基づいて制御データを作成し、この制御データをＩ／Ｏサブモジュール３４０を介して制御対象機器８０に出力する。また、入力サブモジュール３３０に対しては、ＬＣＤパネル３１に表示させる情報を含む表示制御データを出力する。
【００７１】
また、メインモジュール２００は、処理に余裕があるとき（タスクの空き時間）に各サブモジュール３００に対してログ送信要求を出力し、サブモジュールログ３６０を受信する。また、メインモジュール２００は、サブモジュールログ３６０を受信した場合、この受信時においてリアルタイムクロック２３が計時した現在時刻である受信時刻データ、サブモジュールログ３６０に付された送信時内部時刻データ、及びサブモジュールログ３６０が含むイベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、リアルタイムクロック２３を基準としたイベント取得調整時刻データ、又はリアルタイムクロック２３を基準とした環境状態取得調整時刻データを算出する。
【００７２】
以下、入力サブモジュール３３０から受信したサブモジュールログ３６０ａに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法について、図８を参照して具体的に説明する。図８に示すように、メインモジュール２００は、入力サブモジュール３３０から、送信時内部時刻データが付されたサブモジュールログ３６０ａを受信する。送信時内部時刻データとは、入力サブモジュール３３０において、メインモジュール２００への送信時に内部クロック３１０ａが計時した内部時刻である。
【００７３】
まず、メインモジュール２００は、送信時内部時刻データの値からイベント取得時刻データの値を減算して、入力サブモジュール３３０においてイベントデータを取得した時刻からサブモジュールログ３６０ａの送信時までに経過した時間（以下、経過時間）を算出する。次に、メインモジュール２００におけるサブモジュールログ３６０ａの受信時刻と、入力サブモジュール３３０におけるサブモジュールログ３６０ａの送信時刻とは同じ時刻であるとみなし、受信時刻データの値から経過時間を減算した値を、イベント取得調整時刻データとする。このようにすることで、サブモジュールログ３６０ａのイベント取得時刻データを、リアルタイムクロック２３を基準としたイベント取得調整時刻データとすることができる。
【００７４】
なお、Ｉ／Ｏサブモジュール３４０から受信したサブモジュールログ３６０ｂに含まれるイベントデータを用いてイベント取得調整時刻データを算出する方法、及びセンサ入力サブモジュール３５０から受信したサブモジュールログ３６０ｃに含まれる環境状態データを用いて環境状態調整時刻データを算出する方法については、上記と同様の方法で算出することができるので説明は省略する。
【００７５】
このようにして算出したイベント取得調整時刻データは、イベントデータに対応付けられて、図５に示すように、イベントログデータ２４１としてメインメモリ２４に記憶される。同様に、環境状態取得調整時刻データは、環境状態データに対応付けられて、環境状態ログデータ２４２としてメインメモリ２４に記憶される。
【００７６】
また、イベントログデータ２４１には、このイベントログデータ２４１に含まれるイベントデータに時間的に対応する環境状態データが含まれている。このイベントデータに時間的に対応する環境状態データは、イベント取得調整時刻データ、及び環境状態取得調整データを用いて求められる。具体的には、図９に示すように、イベント取得調整時刻データに対して、最も時間的に近い環境状態取得調整データを求めて、この環境状態取得調整データに対応する環境状態データをイベントログデータに含ませる。このようにすることで、イベントデータの取得時刻と同じ時刻に環境状態データが取得されていない場合においても、イベントデータと環境状態データとの対応付けを行うことができる。
【００７７】
また、図１０に示すように、メインメモリ２４に記憶されている任意の環境状態ログデータ２４２に含まれる環境状態データの値が、環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の環境状態ログデータ２４２に含まれる環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータ２４２が含む環境状態データがイベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、当該環境状態ログデータ２４２をメインメモリ２４から消去する。このようにすることで、環境試験装置５０の環境状態が安定しており、環境状態データの値に変化がない期間において、この期間の最初と最後の環境状態ログデータ２４２を残して、その他の環境状態ログデータ２４２は消去されることになる。その結果、メインメモリ２４に記憶させるデータ量を少なくすることができ、メインメモリ２４の記憶容量を節約することができる。なお『実質的に同じ』とは、環境状態データの値が完全に同じであることを意味するわけではなく、図１０に示すように、ユーザの許容する誤差範囲内にあればよいことを意味する。また、図１０においては、説明の便宜上、イベントログデータ２４１と環境状態ログデータ２４２とを纏めた環境試験装置全体ログ２４０を図示している。
【００７８】
（コントローラの処理動作）
次にコントローラ１００の処理動作について、図１１〜１４を参照しつつ説明する。
【００７９】
（メインモジュールの動作）
まず、メインモジュールの処理動作について、図１１を参照して説明する。
【００８０】
メインモジュール２００は、環境試験装置５０の装置電源が起動された場合、リアルタイムクロック２３が計時した現在時刻を起動時刻データとしてメインメモリ２４に記憶すると共に、各サブモジュール３００と初期通信を行う（Ａ１）。
【００８１】
次に、メインモジュール２００は、処理に余裕があるか否か（タスクの空き時間であるか否か）を判断する（Ａ２）。処理に余裕がないと判断した場合（Ａ２：ＮＯ）には、制御対象機器８０に対してシーケンス制御を行い（Ａ３）、Ａ６の処理に移る。
【００８２】
一方、処理に余裕があると判断した場合（Ａ２：ＹＥＳ）には、各サブモジュール３００に対して、ログ要求を送信する（Ａ４）。次に、各サブモジュール３００から受信したサブモジュールログ３６０から、環境試験装置全体ログ２４０（イベントログデータ２４１及び環境状態ログデータ２４２）を生成し、メインメモリ２４に記憶する（Ａ５）。また、この時、イベントデータに時間的に対応する環境状態データを求めて、この求めた環境状態データをイベントログデータ２４１に含めて記憶する。Ａ５の処理が終了すると、Ａ６の処理に移る。
【００８３】
Ａ６の処理では、サブモジュール３００の何れかから不具合検知データを受信したか否かを判断する。不具合検知データを受信していないと判断した場合（Ａ６：ＮＯ）には、Ａ２の処理に移る。
【００８４】
一方、不具合検知データを受信したと判断した場合（Ａ６：ＹＥＳ）には、メインモジュール２００は、センサ入力サブモジュール３５０から小サイクルログを受信すると共に、サブモジュール３００へのログ要求の送信、各サブモジュール３００からサブモジュールログ３６０の受信、及び上記Ａ５の処理と同様の環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記憶を、所定の時間の間継続する（Ａ７）。その後、サブモジュール３００へ記録停止命令を送信し、且つ環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記録動作を停止して（Ａ８）、本処理動作を終了する。このように、不具合の発生時から所定期間経過後には、環境試験装置全体ログ２４０のメインメモリ２４への記録動作は停止されるので、不具合からコントローラ１００を保全することができる。なお、所定時間とは、不具合の原因の特定に必要なサブモジュールログ３６０をサブモジュール３００から受信して、このサブモジュールログ３６０を用いて生成された環境試験装置全体ログ２４０をメインメモリ２４に記憶するまでにかかる時間である。
【００８５】
（入力サブモジュールの処理動作）
次に、入力サブモジュール３３０の処理動作について、図１２を参照して説明する。
【００８６】
入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００からの初期通信時に、内部クロック３１０ａが計時する内部時刻を初期化する（Ｂ１）。次に、設定ボタン３２から操作入力データを取得したか否かを判断する（Ｂ２）。操作入力データを取得したと判断した場合（Ｂ２：ＹＥＳ）には、この取得時において内部クロック３１０ａが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、イベントデータ（操作入力データ）とイベント取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ａをログメモリ３２０ａに記憶し（Ｂ３）、Ｂ６の処理に移る。
【００８７】
一方、操作入力データを取得したと判断していないと判断した場合（Ｂ２：ＮＯ）には、不具合検知部３２７ａが不具合を検知したか否かを判断する（Ｂ４）。不具合検知部３２７ａが不具合を検知していないと判断した場合（Ｂ４：ＮＯ）には、Ｂ６の処理に移る。
【００８８】
一方、不具合検知部３２７ａが不具合を検知したと判断した場合（Ｂ４：ＹＥＳ）には、入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００、及びセンサ入力サブモジュール３５０に不具合検知データを送信して（Ｂ５）、Ｂ２の処理に移る。
【００８９】
Ｂ６の処理では、入力サブモジュール３３０は、メインモジュール２００からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合（Ｂ６：ＮＯ）には、Ｂ８の処理に移る。
【００９０】
一方、ログ要求を受信したと判断した場合（Ｂ６：ＹＥＳ）には、入力サブモジュール３３０は、ログメモリ３２０ａに記憶されているサブモジュールログ３６０ａをメインモジュール２００に送信し（Ｂ７）、Ｂ８の処理に移る。なお、メインモジュール２００に送信したサブモジュールログ３６０ａはログメモリ３２０ａから削除してもよい。また、入力サブモジュール３３０が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない（タスクの空き時間ではない）場合には、次にメインモジュール２００からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ３６０ａを送信するようにされていてもよい。
【００９１】
Ｂ８の処理では、メインモジュール２００から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合（Ｂ８：ＮＯ）には、Ｂ２の処理に移る。
【００９２】
一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合（Ｂ８：ＹＥＳ）には、設定ボタン３２からの操作入力データの取得を停止して、サブモジュールログ３６０ａのログメモリ３２０ａへの記録を停止し（Ｂ９）、本処理動作を終了する。
【００９３】
（Ｉ／Ｏサブモジュールの処理動作）
Ｉ／Ｏサブモジュール３４０の処理動作は、図１３に示すように、上記入力サブモジュールの動作と略同様であり、設定ボタン３２から出力された操作入力データをメインモジュール２００から制御対象機器８０に出力される制御データに、内部クロック３１０ａを内部クロック３１０ｂに、ログメモリ３２０ａをログメモリ３２０ｂに、サブモジュールログ３６０ａをサブモジュールログ３６０ｂに、不具合検知部３２７ａを不具合検知部３２７ｂに読み替えるだけなので説明は省略する。
【００９４】
（センサ入力サブモジュールの処理動作）
次に、センサ入力サブモジュール３５０の処理動作について、図１４を参照して説明する。
【００９５】
センサ入力サブモジュール３５０は、メインモジュール２００からの初期通信時に、内部クロック３１０ｃが計時する内部時刻を初期化する（Ｄ１）。次に、内部クロック３１０ｃから所定の時間間隔（通常のとき:６０秒間隔、特定の条件のとき：５秒間隔）毎に出力される記録トリガが出力（サイクルアップ）されたか否かを判断する（Ｄ２）。記録トリガが出力されたと判断した場合（Ｄ２：ＹＥＳ）には、この記録トリガの出力時（環境状態データの取得時）において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この記録トリガの出力時に環境センサ９０から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含むサブモジュールログ３６０ｃをログメモリ３２０ｃに記憶し（Ｄ３）、Ｄ８の処理に移る。なお、内部クロック３１０ｃは、５秒間隔毎に小記録トリガを出力しており、小記録トリガの出力時（環境状態データの取得時）において内部クロック３１０ｃが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、この小記録トリガの出力時において、環境センサ９０から取得した環境状態データと環境状態取得時刻データとを含む小サイクルログがリングメモリ３２５に記憶される。
【００９６】
一方、記録トリガが出力されていないと判断した場合（Ｄ２：ＮＯ）には、環境試験装置５０の状態が、環境試験装置５０において不具合が発生する可能性が高い状態にあるか（又は予測可能な現象が発生したか）否かを判断する（Ｄ４）。不具合が発生する可能性が高い状態にあるか、又は予測可能な現象が発生したと判断した場合（Ｄ４：ＹＥＳ）には、内部クロック３１０ｃが出力する記録トリガの時間間隔を５秒に変更し（Ｄ５）、Ｄ７の処理に移る。
【００９７】
一方で予測可能な現象が発生していない場合（Ｄ４：ＮＯ）には、環境試験装置５０において、ユーザが予測することができない不具合が発生したか否かを判断する（Ｄ６）。具体的には、不具合検知部３２７ｃが不具合を検知したと判断した場合、又は他のサブモジュール３００から不具合検知データを受信したと判断した場合には、環境試験装置５０に不具合が発生したと判断する。それ以外の場合には、環境試験装置５０に不具合が発生していないと判断する。
【００９８】
不具合が発生したと判断した場合（Ｄ６：ＹＥＳ）には、内部クロック３１０ｃが出力する記録トリガの時間間隔を５秒に変更し、リングメモリ３２５に記憶されている小サイクルログをメインモジュール２００に送信し（Ｄ７）、Ｄ２の処理に移る。一方で、不具合が発生していないと判断した場合（Ｄ６：ＮＯ）には、Ｄ８の処理に移る。なお、不具合検知部３２７ｃが不具合を検知したと判断した場合には、メインモジュール２００に不具合検知データを送信する。
【００９９】
Ｄ８の処理では、センサ入力サブモジュール３５０は、メインモジュール２００からログ要求を受信したか否かを判断する。ログ要求を受信していないと判断した場合（Ｄ８：ＮＯ）には、Ｄ１０の処理に移る。
【０１００】
ログ要求を受信したと判断した場合（Ｄ８：ＹＥＳ）には、センサ入力サブモジュール３５０は、ログメモリ３２０ｃに記憶されているサブモジュールログ３６０ｃをメインモジュール２００に送信し（Ｄ９）、Ｄ１０の処理に移る。なお、メインモジュール２００に送信したサブモジュールログ３６０ｃはログメモリ３２０ｃから削除してもよい。また、センサ入力サブモジュール３５０が、ログ要求を受信した時において、処理に余裕がない（タスクの空き時間ではない）場合には、次にメインモジュール２００からログ要求を受信した際に、サブモジュールログ３６０ｃを送信するようにされていてもよい。
【０１０１】
Ｄ１０の処理では、メインモジュール２００から記録停止命令を受信したか否かを判断する。記録停止命令を受信していないと判断した場合（Ｄ１０：ＮＯ）には、Ｄ２の処理に移る。
【０１０２】
一方で、記録停止命令を受信したと判断した場合（Ｄ１０：ＹＥＳ）には、環境センサ９０からの環境状態データの取得を停止して、サブモジュールログ３６０ｃのログメモリ３２０ｃへの記録を停止し（Ｄ１１）、本処理動作を終了する。
【０１０３】
（環境試験装置用デバッガ）
次に、環境試験装置用デバッガについて説明する。
【０１０４】
環境試験装置用デバッガとして、編集装置を用いたデバッガがある。編集装置を用いたデバッガとは、ＰＬＣの編集装置（パーソナルコンピュータなど）にシーケンスプログラム、及びメインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０を格納し、このシーケンスプログラムに基づいて、環境試験装置全体ログ２４０をステップ実行させて確認するデバッガである。このデバッガは、編集装置により、メインメモリ２４に記憶されている環境試験装置全体ログ２４０のイベントデータ及び環境状態データを、イベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、リアルタイムクロック２３を基準とした記憶（取得）順序にソートし、時間的に隣り合うイベントデータ又は環境状態データとの取得調整時刻データの時間間隔は考慮せずに、連続的にステップ実行して、シーケンスプログラムの動作を確認するものである。この編集装置を用いたデバッガは、極めて単純であり、実行時間は関係ないため非常に短時間でシーケンスプログラムの動作を確認することができる。
【０１０５】
また、その他の環境試験装置用デバッガとして、環境再現装置を用いたデバッガがある。この環境再現装置を用いたデバッガについて、図１５を参照して説明する。
【０１０６】
デバッガ５００は、環境試験装置５０、環境試験装置５０をシーケンス制御するＰＬＣ処理手段であるＰＬＣ処理部５１０、及び環境再現装置５２０を有している。
【０１０７】
環境再現装置５２０は、環境試験装置５０を収容する再現槽５３０、及びデバッガ用制御対象機器５４０を有している。
【０１０８】
再現槽５３０は、環境試験装置５０の外部環境状態を再現するための槽であり、環境試験装置５０が置かれる再現室５３０ａとこれから仕切られた空調室５３０ｂとから構成されている。空調室５３０ｂには、複数のデバッガ用制御対象機器５４０が配されている。
【０１０９】
（デバッガ用制御対象機器）
デバッガ用制御対象機器５４０は、再現槽５３０の再現室５３０ａにおいて、環境試験装置５０の外部環境状態を再現することが可能な機器である。デバッガ用制御対象機器５４０は、ＰＬＣ処理部５１０から出力される制御データに基づいて機器の設定（能力）が変更される。
【０１１０】
デバッガ用制御対象機器５４０は、本実施形態においては、送風機５４１、加熱器５４２、及び冷却器５４３である。送風機５４１は、再現室５３０ａと空調室５３０ｂとの間で空気を循環させることができる。加熱器５４２及び冷却器５４３は、空調室５３０ｂの温度を所定の温度に加熱・冷却することができる。また、加熱器５４２及び冷却器５４３は、送風機５４１の上流側に配されており、これにより、この加熱器５４２及び冷却器５４３により所定の温度に調整された空調室５３０ｂの空気を、再現室５３０ａに送り込み、再現室５３０ａを所定の温度に調整することができる。なお、本実施形態においては、デバッガ用制御対象機器５４０は、送風機５４１、加熱器５４２、及び冷却器５４３であるが、特にこれに限定されるものではなく、例えば再現室５３０ａの空気を加湿することができる加湿器等でもよく、再現槽５３０の再現室５３０ａにおいて人工的な環境状態を作り出すことが可能な機器であればよい。
【０１１１】
ＰＬＣ処理部５１０は、環境試験装置５０をシーケンス制御するためのシーケンスプログラムが格納されている。ＰＬＣ処理部５１０は、このシーケンスプログラム、及びコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を用いて、環境試験装置全体ログ２４０の運転の再現を行うことができる。
【０１１２】
具体的には、ＰＬＣ処理部５１０は、環境試験装置５０のコントローラ１００のメインメモリ２４に記憶された環境試験装置全体ログ２４０を用いて、メインモジュール２００の制御対象機器８０に対するシーケンス制御の再現を行うことができる。
【０１１３】
また、環境試験装置５０の試験槽５１の槽内の環境状態は、予め設計により選択された制御対象機器８０の動作により作り出されているので、この設計に基づく試験槽５１の槽内の環境状態をシミュレートすることが可能な理論式が存在する。ＰＬＣ処理部５１０は、この理論式により環境試験装置５０の試験室５１ａの環境状態（槽内の環境状態）をシミュレートすることができる。これにより、実際に環境センサ９０により取得してメインメモリ２４に記憶された環境状態ログデータ２４２の槽内環境データと、環境試験装置全体ログ２４０を用いた理論式によりシミュレートされた試験室５１ａの環境状態とを比較することで、環境試験装置５０の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【０１１４】
また、ＰＬＣ処理部５１０は、メインメモリ２４に記憶された環境状態ログデータ２４２に含まれる外部環境データを用いて、デバッガ用制御対象機器５４０を制御する。これにより、環境試験装置５０の外部環境状態を再現することができるため、環境試験装置５０の不具合の原因の特定をより容易に行うことができる。
【０１１５】
以上、本発明の実施例を説明したが、具体例を例示したに過ぎず、特に本発明を限定するものではなく、具体的構成などは、適宜設計変更可能である。また、発明の実施の形態に記載された、作用及び効果は、本発明から生じる最も好適な作用及び効果を列挙したに過ぎず、本発明による作用及び効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。
【符号の説明】
【０１１６】
１ コントローラ
３ 操作入力部（入力取得手段）
４ 制御部（制御手段）
５ センサ入力部（環境状態取得手段）
２１ サイクルタイマ
２２ 記憶部（記憶手段）
２３ リアルタイムクロック
２４ メインメモリ
２５ 通信制御部（通信制御手段）
２７ マクロ生成部（マクロ生成手段）
５０ 環境試験装置
８０ 制御対象機器
９０ 環境センサ
１００ コントローラ
２００ メインモジュール
２４０ 環境試験装置全体ログ
２４１ イベントログデータ
２４２ 環境状態ログデータ
３００ サブモジュール
３１０ 内部クロック
３２０ ログメモリ
３２５ リングメモリ
３２７ 不具合検知部（不具合検知手段）
３３０ 入力サブモジュール
３４０ Ｉ／Ｏサブモジュール
３５０ センサ入力サブモジュール
３６０ サブモジュールログ
５００ 環境試験装置用デバッガ
５１０ ＰＬＣ処理部（ＰＬＣ処理手段）
５２０ 環境再現装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、
前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールと
を備え、
前記複数のサブモジュールは、
前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、
前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリと
を各サブモジュールに有し、
前記入力サブモジュール及び前記Ｉ／Ｏサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、
前記メインモジュールは、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリと
を有し、
前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
【請求項２】
前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行うことを特徴とする請求項１に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項３】
前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去することを特徴とする請求項１又は２に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項４】
前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、
前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、
前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項５】
前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、
前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶することを特徴とする請求項４に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項６】
前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項７】
前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項６に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項８】
前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項６に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項９】
前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していることを特徴とする請求項１〜８の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項１０】
ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、
前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていること特徴とする請求項１〜９の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項１１】
請求項１〜１０の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の環境試験装置と、
前記環境試験装置をシーケンス制御可能なＰＬＣ処理手段と
を有する環境試験装置用デバッガであって、
前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする環境試験装置用デバッガ。
【請求項１３】
前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、
前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であることを特徴とする請求項１２に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１４】
前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されることを特徴とする請求項１３に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１５】
前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、
前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であることを特徴とする請求項１２〜１４の何れか一項に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１６】
前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されることを特徴とする請求項１５に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１７】
データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、
前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、
前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と、
前記環境試験装置の制御対象機器に対して制御データを出力する制御手段と、
前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段と
を有し、
前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、
前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
【請求項１】
データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
前記環境試験装置の制御対象機器をシーケンス制御するメインモジュールと、
前記コントローラに対するユーザの操作入力をイベントデータとして取得する入力サブモジュールと、前記メインモジュールから前記制御対象機器へ出力される制御データをイベントデータとして取得するＩ／Ｏサブモジュールと、前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得するセンサ入力サブモジュールとを含む、前記メインモジュールと通信可能な複数のサブモジュールと
を備え、
前記複数のサブモジュールは、
前記サブモジュール内の内部時刻を計時する内部クロックと、
前記サブモジュールのログであるサブモジュールログが記憶されるログメモリと
を各サブモジュールに有し、
前記入力サブモジュール及び前記Ｉ／Ｏサブモジュールは、前記イベントデータを取得した場合に、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻をイベント取得時刻データとし、前記イベントデータと前記イベント取得時刻データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記センサ入力サブモジュールは、前記内部クロックから所定の時間間隔毎に出力される記録トリガの出力時に、前記環境センサから環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと前記環境状態データとを含むサブモジュールログを前記ログメモリに記憶し、
前記サブモジュール各々における、前記ログメモリに記憶されたサブモジュールログの前記メインモジュールへの送信は、前記メインモジュールが処理に余裕があるときに、この送信時において前記内部クロックが計時した内部時刻を送信時内部時刻データとして前記サブモジュールログに付して行うものであり、
前記メインモジュールは、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
前記環境試験装置全体のログが記憶されるメインメモリと
を有し、
前記サブモジュール各々から前記サブモジュールログを受信した場合に、この受信時において前記リアルタイムクロックが計時した前記サブモジュールログの受信時刻データ、前記サブモジュールログに付された前記送信時内部時刻データ、及び前記サブモジュールログに含まれる前記イベント取得時刻データ又は環境状態取得時刻データを用いて、前記リアルタイムクロックを基準としたイベント取得調整時刻データ、又は前記リアルタイムクロックを基準とした環境状態取得調整時刻データを算出し、算出したイベント取得調整時刻データと前記イベントデータとを対応付けてイベントログデータとして、又は算出した環境状態取得調整時刻データと前記環境状態データとを対応付けて環境状態ログデータとして前記メインメモリに記憶すると共に、このイベント取得調整時刻データ及び環境状態取得調整時刻データを用いて、前記イベントデータに時間的に対応する前記環境状態データを求めて、前記メインメモリに記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
【請求項２】
前記メインモジュールにおける前記イベントデータと前記環境状態データとの対応付けは、前記イベント取得調整時刻データに対して時間的に最も近い前記環境状態取得調整時刻データを求めて行うことを特徴とする請求項１に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項３】
前記メインメモリに記憶されている任意の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値が、前記環境状態取得調整時刻データにおいて1つ前及び1つ後の前記環境状態ログデータに含まれる前記環境状態データの値と実質的に同じ場合には、この任意の環境状態ログデータに含まれる環境状態データが前記イベントデータと時間的に対応付けられている場合を除いて、前記任意の環境状態ログデータを前記メインメモリから消去することを特徴とする請求項１又は２に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項４】
前記サブモジュール各々は、不具合の発生を検知する不具合検知手段を更に有しており、
前記不具合検知手段が不具合を検知した場合、前記サブモジュールは前記メインモジュールに不具合検知データを送信し、
前記メインモジュールは、前記サブモジュールから前記不具合検知データを受信した場合、前記環境試験装置全体のログの前記メインメモリへの記憶を所定の時間継続した後に、この記憶動作を停止することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項５】
前記センサ入力モジュールは、リングメモリを更に有し、前記内部クロックが計時する所定の時間間隔よりも短い時間間隔毎に、前記環境センサから前記環境状態データを取得し、この取得時において前記内部クロックが計時した内部時刻を環境状態取得時刻データとし、前記環境状態取得時刻データと取得した環境状態データとを含む小サイクルログを前記リングメモリに記録しており、前記サブモジュールの何れかにおいて前記不具合検知手段が不具合を検知した場合に、前記リングメモリに記憶された前記小サイクルログを前記メインモジュールに送信し、
前記メインモジュールは、前記入力サブモジュールから受信した前記小サイクルログを前記メインメモリに記憶することを特徴とする請求項４に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項６】
前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を、特定の条件のときに、変更することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項７】
前記特定の条件のときは、前記環境試験装置の状態が、前記環境試験装置において不具合が発生する可能性が高い状態であるとユーザが予め設定した状態にあるときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項６に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項８】
前記特定の条件のときは、前記環境試験装置において、ユーザが予測することができない不具合が発生しているときであり、この特定の条件のときにおいて、前記センサ入力モジュールにおける前記内部クロックが前記記録トリガを出力する時間間隔を短くすることを特徴とする請求項６に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項９】
前記入力サブモジュールの前記ログメモリから、又は前記メインモジュールの前記メインメモリから、前記入力サブモジュールが取得した前記イベントデータ、及び前記イベント取得調整時刻データ又は前記イベント取得時刻データを読み込み、前記コントローラの操作入力手順を再現可能なマクロを生成可能なマクロ生成手段を更に有していることを特徴とする請求項１〜８の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項１０】
ネットワークを介して他の環境試験装置と通信可能な通信制御手段を更に有し、
前記通信制御手段により、他の環境試験装置との間で前記メインメモリに記憶されている前記環境試験装置全体のログの授受が可能にされていると共に、他の環境試験装置のコントローラの遠隔操作が可能にされていること特徴とする請求項１〜９の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラ。
【請求項１１】
請求項１〜１０の何れか一項に記載の環境試験装置用コントローラを有する環境試験装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の環境試験装置と、
前記環境試験装置をシーケンス制御可能なＰＬＣ処理手段と
を有する環境試験装置用デバッガであって、
前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記環境試験装置の運転の再現が可能であることを特徴とする環境試験装置用デバッガ。
【請求項１３】
前記環境センサは、前記環境試験装置の槽内に備えられており、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の槽内環境データを含むものであり、
前記ＰＬＣ処理手段は、前記メインメモリに記憶された前記環境試験装置全体のログを用いて、前記メインモジュールの前記制御対象機器に対するシーケンス制御の再現が可能である共に、前記環境試験装置全体のログを用いた理論式により前記環境試験装置の槽内の環境状態のシミュレートが可能であることを特徴とする請求項１２に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１４】
前記槽内環境データは、前記環境試験装置の槽内の、温度、湿度、圧力、風速から選択的に採用されることを特徴とする請求項１３に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１５】
前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能な環境再現装置を更に有し、
前記環境状態データは、前記環境試験装置の外部環境データを含むものであり、
前記メインメモリに記憶された前記環境状態ログデータに含まれる前記外部環境データを用いて、前記環境再現装置が前記環境試験装置の外部環境状態の再現が可能であることを特徴とする請求項１２〜１４の何れか一項に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１６】
前記外部環境データは、前記環境試験装置の外部の、温度、湿度、及び圧力、並びに前記環境試験装置の電源電圧、消費電力、及び通信情報から選択的に採用されることを特徴とする請求項１５に記載の環境試験装置用デバッガ。
【請求項１７】
データログ機能を有する環境試験装置用コントローラであって、
現在時刻を計時するリアルタイムクロックと、
所定の時間間隔毎に記録トリガを出力するサイクルタイマと、
前記環境試験装置全体のログが記憶される記憶手段と、
前記コントローラに対してユーザから操作入力される操作入力データを取得する入力取得手段と、
前記環境試験装置の制御対象機器に対して制御データを出力する制御手段と、
前記環境試験装置の環境状態を検出する環境センサから環境状態データを取得する環境状態取得手段と
を有し、
前記サイクルタイマの記録トリガの出力時において、前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、環境状態取得手段が取得した環境状態データとを対応付けて前記記憶手段に記憶し、
前記入力取得手段が前記操作入力データを取得した場合、又は前記制御手段が前記制御データを出力した場合、この取得時又は出力時において前記リアルタイムクロックが計時した現在時刻データと、この取得時又は出力時において前記環境状態取得手段が取得した環境状態データと、前記操作入力データ又は前記制御データとを対応付けて前記記憶手段に記憶することを特徴とする環境試験装置用コントローラ。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【公開番号】特開２０１２−６３８１８（Ｐ２０１２−６３８１８Ａ）
【公開日】平成２４年３月２９日（２０１２．３．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１０−２０５２５６（Ｐ２０１０−２０５２５６）
【出願日】平成２２年９月１４日（２０１０．９．１４）
【出願人】（０００１０８７９７）エスペック株式会社 (282)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２４年３月２９日（２０１２．３．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成２２年９月１４日（２０１０．９．１４）
【出願人】（０００１０８７９７）エスペック株式会社 (282)
【Ｆターム（参考）】
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