画像処理回路
【課題】簡単なテスト装置を用意するだけで、そのテストが行える、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な画像処理回路を、提供する。
【解決手段】画像処理回路１０を、圧縮・伸張回路１１等のデータ処理回路と、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを回路的に生成して出力するテストデータ生成回路１２ａと、テストデータを入力したときに，正常に機能しているデータ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、回路的に生成して出力する比較データ生成回路１２ｂと、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路１２ｂが出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路１３とを、備えた回路としておく。
【解決手段】画像処理回路１０を、圧縮・伸張回路１１等のデータ処理回路と、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを回路的に生成して出力するテストデータ生成回路１２ａと、テストデータを入力したときに，正常に機能しているデータ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、回路的に生成して出力する比較データ生成回路１２ｂと、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路１２ｂが出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路１３とを、備えた回路としておく。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像データを処理するための画像処理回路に、関する。
【背景技術】
【０００２】
画像処理回路（画像データに対して特定の処理を行うための半導体集積回路）を備えた装置（プリンタ，ファクシミリ等）の製造時には、画像処理回路を装置に実際に組み込む前に、画像処理回路が正常に機能するものであるか否かのテストが、行われている。
【０００３】
そして、一般的な画像処理回路は、テスト用の回路を備えていないものであるため、一般的な画像処理回路に対する上記テストは、図５に示したような構成のテスト装置、すなわち、テストデータを，テスト対象とされている画像処理回路に供給し、その結果として画像処理回路が出力するデータ（図では、処理結果）が比較データ〔正常に機能する画像処理回路がテストデータ入力時に出力するデータ〕と一致するか否かを比較する機能を有する装置を用意することにより行われている（例えば、特許文献１参照。）が、画像処理回路が，ＤＭＡ転送データを入力とする回路（高速にデータを供給しなければテストを行えない回路）であるため、この種のテスト装置は、その用意（製造，プログラミング等）に、結構、コストがかかるものとなっている。
【０００４】
このため、図６に示した構成を採用した画像処理回路、すなわち、テスト装置としての機能する回路も実装した画像処理回路（例えば、特許文献２参照。）も、提案されているが、この構成は、テストデータ及び比較データを記憶するための回路（図における“内蔵メモリ”）を必要とするものであるため、画像処理回路の回路規模（画像処理回路の総ゲート数）が大きくならざるをえないという問題を有するものとなっている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２５９３５６号公報
【特許文献２】特開２００６−７１３７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の課題は、簡単なテスト装置を用意するだけで、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な回路構成を有する画像処理回路を、提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明では、画像処理回路を、入力されたデータに対して所定の処理を施すことによって処理済データを出力するデータ処理回路と、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成して出力するテストデータ生成回路と、テストデータを入力したときに，正常に機能しているデータ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、生成して出力する比較データ生成回路と、外部から入力されたデータ，或いは，テストデータ生成回路が出力するテストデータをデータ処理回路に供給するセレクタ回路と、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路とを、備え、テストデータ生成回路が、第１データを出力する第１データ出力回路と、第１データ出力回路を繰り返し動作させるテストデータ生成回路用制御回路とを含む回路であり、比較データ生成回路が、第２データを出力する第２データ出力回路と、第２データ出力回路を繰り返し動作させる比較データ生成回路用制御回路とを含む回路である回路としておく。
【０００８】
すなわち、本発明の画像処理回路は、テストデータ，比較データを記憶させておく（図６参照）代わりに、データ処理回路用のテストデータ，比較データとして，それぞれ，第１データが繰り返される部分を含むデータ，第２データが繰り返される部分を含むデータを特定しておき、そのようなテストデータ，比較データを生成・出力する回路を設けた回路となっている。そして、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成・出力する回路や，第２データが繰り返される部分を含む比較データを生成・出力する回路は、比較的に少数のゲートで実現できるものであるため、本発明の画像処理回路は、簡単なテスト装置を用意するだけで（図５のようなテスト装置を用意する必要がない形で）、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な回路構成を有する画像処理回路となっていると言うことが出来る。
【０００９】
本発明の画像処理回路を実現するに際しては、テストデータ生成回路の第１データ出力回路を、記憶した第１データを出力する回路ではなく，その動作時に第１データを出力するように構成された回路（例えば、出力値を“１”ずつインクリメントさせながら、“00”から“ff”までを出力する回路）としておくことが、出来る。
【００１０】
また、本発明の画像処理回路は、どのような用途の回路としても実現可能であるが、圧縮処理を行う画像処理回路（データ処理回路）は、一般に、上記のようなテストデータ，比較データの組合せを簡単に特定できるものとなっている。このため、本発明の回路構成は、圧縮処理用の画像処理回路に、特に適したものとなっていると言うことも出来る。
【００１１】
また、本発明の画像処理回路を、他機能の回路として実現する場合には、各機能について（機能毎に）、第１データ出力回路，第２データ出力回路，比較データ生成回路等を設けておけば良いが、本発明の画像処理回路を、圧縮機能と伸張機能とを有する回路（圧縮処理と伸張処理とを実行可能なデータ処理回路を備えた回路）として実現する場合には、セレクタ回路を、外部から入力されたデータ，テストデータ生成回路が出力するテストデータ，或いは，比較データ生成回路が出力する比較データをデータ処理回路に供給する回路とし、データ比較回路を、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する圧縮処理用機能と、比較データが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，テストデータ生成回路が出力するテストデータと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する伸張処理用機能とを有する回路（第１データ出力回路及び第２データ出力回路が、圧縮機能のテスト時にも伸張機能のテスト時にも使用される回路）としておくことが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための最良の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
【００１３】
図１に示したように、本発明の一実施形態に係る画像処理回路１０は、圧縮・伸張回路１１とデータ生成回路１２とデータ比較回路１３とセレクタ１４とを備えた回路である。なお、図示は省略してあるが、画像処理回路１０は、外部からデータを書込可能な処理モードレジスタ，動作モードレジスタ及びテスト開始指示用レジスタ（各レジスタの用途は後述）も備えた回路となっている。
【００１４】
この画像処理回路１０は、プリンタや複合機に使用するものとして開発した，１ページ分（或いは１バンド分）の画像データを圧縮／伸張するための回路（ＡＳＩＣ）である。
【００１５】
圧縮・伸張回路１１は、画像データを圧縮／伸張する処理を実際に行う回路である。この圧縮・伸張回路１１は、処理モードレジスタに，圧縮モードで動作すべきことを指示するデータ（以下、圧縮モード指示データと表記する）が記憶されている場合には、圧縮処理を行い、処理モードレジスタに，伸張モードで動作すべきことを指示するデータ（以下、伸張モード指示データと表記する）が記憶されている場合には、伸張処理を行う回路となっている。
【００１６】
セレクタ１４は、画像処理回路１０の端子に入力されているデータ，或いは，データ生成回路１２からのデータ（詳細は後述）を，圧縮・伸張回路１１へ供給することとが可能な回路である。このセレクタ１４は、動作モードレジスタに，通常モードで動作すべきことを示すデータが設定されている場合に、画像処理回路１０の端子に入力されているデータを圧縮・伸張回路１１へ供給し、動作モードレジスタに，テストモードで動作すべきことを示すデータが設定されている場合に、データ生成回路１２からのデータを圧縮・伸張回路１１へ供給する回路となっている。
【００１７】
データ比較回路１３は、圧縮・伸張回路１１が出力するデータとデータ生成回路１２からのデータ（詳細は後述）とを比較し、両データが一致しているか否かを示す検証結果データを出力する回路である。
【００１８】
データ生成回路１２は、テストデータ生成回路１２ａと比較データ生成回路１２ｂとを含む回路である。
【００１９】
このデータ生成回路１２に含まれるテストデータ生成回路１２ａは、図２及び図３（Ａ）に模式的に示してあるように、簡単な回路にて生成可能な回路生成可能データを時系列的にｎ個並べたテストデータであって、正常に機能している圧縮・伸張回路１１に供給した場合、先頭データの後ろに同一データをｍ個並べた後，最終データを並べたデータ（比較データ）が，圧縮・伸張回路１１から出力されることになるテストデータを生成・出力するように構成（設計）された回路である。なお、本実施形態に係る画像処理回路１０のテストデータ生成回路１２ａは、出力値を“１”ずつインクリメントさせながら、“00”（all 0の１バイトデータ）から“ff”（all 1の１バイトデータ）までを出力する回路と、その回路を，ｎ回動作させる回路とを主な構成要素とする回路となっている。
【００２０】
データ生成回路１２に含まれる比較データ生成回路１２ｂは、図２及び図３（Ｂ）に模式的に示してあるように、上記テストデータが供給された圧縮・伸張回路１１（正常に機能するもの）が出力するデータ（先頭データの後ろに同一データをｍ個並べた後，最終データを並べたデータ）を生成・出力するように構成（設計）された回路である。この比較データ生成回路１２ｂは、図３（Ｂ）に模式的に示してあるように、先頭データ（図２における"a21f"）を出力する先頭データ用回路と、先頭データ用回路の動作後に機能する，繰り返しデータ（図２における"02cf63"）をｍ回出力する繰り返し回路〔繰り返しデータを出力する回路と，当該回路をｍ回動作させる回路とからなる繰り返し回路）と，繰り返し回路の動作後に機能する，最終データ（図２における"167489af00"）を出力する回路とを、主な構成要素とする回路となっている。
【００２１】
そして、本実施形態に係る画像処理装置１０に設けられているデータ生成回路１２は、このようなテストデータ生成回路１２ａ及び比較データ生成回路１２ｂを含む回路であると共に、図４に模式的に示してあるように、処理モードレジスタに，圧縮モード指示データが記憶されている場合（圧縮・伸張回路１１が圧縮モードで動作している場合）には、テストデータ生成回路１２ａの出力データ，比較データ生成回路１２ｂの出力データを，それぞれ、セレクタ１４，データ比較回路１３へ出力する状態（図４（Ａ））となり、処理モードレジスタに，伸張モード指示データが記憶されている場合（圧縮・伸張回路１１が伸張モードで動作している場合）には、テストデータ生成回路１２ａの出力データ，比較データ生成回路１２ｂの出力データを，それぞれ、データ比較回路１３，セレクタ１４へ出力する状態（図４（Ｂ））となるように構成された回路となっている。
【００２２】
また、データ生成回路１２は、処理モードレジスタに，圧縮モード指示データが記憶されている状態で、所定内容のテスト開始指示データがテスト開始指示用レジスタに書き込まれた場合には、テストデータ生成回路１２ａの動作を開始させた後、所定時間の経過後に（圧縮・伸張回路１１からの処理結果の出力と同期するタイミングで），比較データ生成回路１２ｂの動作を開始させ、処理モードレジスタに，伸張モード指示データが記憶されている状態で、テスト開始指示データがテスト開始指示用レジスタに書き込まれた場合には、比較データ生成回路１２ｂの動作を開始させた後、所定時間の経過後に、テストデータ生成回路１２ａの動作を開始させるように構成された回路ともなっている。
【００２３】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る画像処理回路１０は、テストデータ，比較データを記憶させておく（図６参照）代わりに、データ処理回路１１用のテストデータ，比較データとして，それぞれ，同一データ（図２，３における“回路生成可能データ）”が繰り返される部分を含むデータ，同一データ（図２，３における“02cf64”，“繰り返しデータ”）が繰り返される部分を含むデータを特定しておき、そのようなテストデータ，比較データを生成・出力するテストデータ生成回路１２ａ，比較データ生成回路１２ｂを設けた回路となっている。そして、同一データが繰り返される部分を含むデータ（テストデータ，比較データ）を生成・出力する各回路１２ａ，１２ｂは、比較的に少数のゲートで実現できるものである。従って、この画像処理回路１０は、簡単なテスト装置を用意するだけで（図５のようなテスト装置を用意する必要がない形で）、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な画像処理回路となっていると言うことが出来る。
【００２４】
《変形形態》
上記した画像処理回路１０は、各種の変形を行うことが出来る。例えば、画像処理回路１０を、圧縮処理のみを行える回路や、他の画像処理を行う回路に変形することが出来る。また、画像処理回路１０を、記憶しているデータを繰り返し出力するテストデータ生成回路１２ａを備えた回路に変形することも出来る。ただし、そのようなテストデータ生成回路１２ａは、回路生成可能データを繰り返し出力するテストデータ生成回路１２ａよりも規模が大きなものとならざるを得ないため、上記構成を採用しておくことが望ましい。
【００２５】
また、上記した画像処理回路１０で用いられている技術に基づき、各種の処理を行える画像処理回路（テストデータ生成回路１２ａ等を実行可能な処理毎に備えた回路）や、複数のテストデータを出力可能なテストデータ生成回路１２ａ（例えば、ｎ値を指定可能な回路）、各テストデータに対する比較データを出力可能な比較データ生成回路１２ｂ等を備えた画像処理回路等を製造しても良いことなどは、当然のことである。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施形態に係る画像処理回路の構成図。
【図２】実施形態に係る画像処理回路が備えるテストデータ生成回路，比較データ生成回路の機能を説明するための図。
【図３】実施形態に係る画像処理回路が備えるテストデータ生成回路，比較データ生成回路の構成を説明するための図。
【図４】実施形態に係る画像処理回路が備えるデータ生成回路の機能の説明図。
【図５】従来の一般的な画像処理回路のテスト方法の説明図。
【図６】従来の，テスト回路を備えた画像処理回路の構成図。
【符号の説明】
【００２７】
１０ 画像処理回路、 １１ 圧縮・伸張回路、 １２ データ生成回路
１２ａ テストデータ生成回路、 １２ｂ 比較データ生成回路
１３ データ比較回路、 １４ セレクタ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像データを処理するための画像処理回路に、関する。
【背景技術】
【０００２】
画像処理回路（画像データに対して特定の処理を行うための半導体集積回路）を備えた装置（プリンタ，ファクシミリ等）の製造時には、画像処理回路を装置に実際に組み込む前に、画像処理回路が正常に機能するものであるか否かのテストが、行われている。
【０００３】
そして、一般的な画像処理回路は、テスト用の回路を備えていないものであるため、一般的な画像処理回路に対する上記テストは、図５に示したような構成のテスト装置、すなわち、テストデータを，テスト対象とされている画像処理回路に供給し、その結果として画像処理回路が出力するデータ（図では、処理結果）が比較データ〔正常に機能する画像処理回路がテストデータ入力時に出力するデータ〕と一致するか否かを比較する機能を有する装置を用意することにより行われている（例えば、特許文献１参照。）が、画像処理回路が，ＤＭＡ転送データを入力とする回路（高速にデータを供給しなければテストを行えない回路）であるため、この種のテスト装置は、その用意（製造，プログラミング等）に、結構、コストがかかるものとなっている。
【０００４】
このため、図６に示した構成を採用した画像処理回路、すなわち、テスト装置としての機能する回路も実装した画像処理回路（例えば、特許文献２参照。）も、提案されているが、この構成は、テストデータ及び比較データを記憶するための回路（図における“内蔵メモリ”）を必要とするものであるため、画像処理回路の回路規模（画像処理回路の総ゲート数）が大きくならざるをえないという問題を有するものとなっている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−２５９３５６号公報
【特許文献２】特開２００６−７１３７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の課題は、簡単なテスト装置を用意するだけで、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な回路構成を有する画像処理回路を、提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明では、画像処理回路を、入力されたデータに対して所定の処理を施すことによって処理済データを出力するデータ処理回路と、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成して出力するテストデータ生成回路と、テストデータを入力したときに，正常に機能しているデータ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、生成して出力する比較データ生成回路と、外部から入力されたデータ，或いは，テストデータ生成回路が出力するテストデータをデータ処理回路に供給するセレクタ回路と、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路とを、備え、テストデータ生成回路が、第１データを出力する第１データ出力回路と、第１データ出力回路を繰り返し動作させるテストデータ生成回路用制御回路とを含む回路であり、比較データ生成回路が、第２データを出力する第２データ出力回路と、第２データ出力回路を繰り返し動作させる比較データ生成回路用制御回路とを含む回路である回路としておく。
【０００８】
すなわち、本発明の画像処理回路は、テストデータ，比較データを記憶させておく（図６参照）代わりに、データ処理回路用のテストデータ，比較データとして，それぞれ，第１データが繰り返される部分を含むデータ，第２データが繰り返される部分を含むデータを特定しておき、そのようなテストデータ，比較データを生成・出力する回路を設けた回路となっている。そして、第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成・出力する回路や，第２データが繰り返される部分を含む比較データを生成・出力する回路は、比較的に少数のゲートで実現できるものであるため、本発明の画像処理回路は、簡単なテスト装置を用意するだけで（図５のようなテスト装置を用意する必要がない形で）、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な回路構成を有する画像処理回路となっていると言うことが出来る。
【０００９】
本発明の画像処理回路を実現するに際しては、テストデータ生成回路の第１データ出力回路を、記憶した第１データを出力する回路ではなく，その動作時に第１データを出力するように構成された回路（例えば、出力値を“１”ずつインクリメントさせながら、“00”から“ff”までを出力する回路）としておくことが、出来る。
【００１０】
また、本発明の画像処理回路は、どのような用途の回路としても実現可能であるが、圧縮処理を行う画像処理回路（データ処理回路）は、一般に、上記のようなテストデータ，比較データの組合せを簡単に特定できるものとなっている。このため、本発明の回路構成は、圧縮処理用の画像処理回路に、特に適したものとなっていると言うことも出来る。
【００１１】
また、本発明の画像処理回路を、他機能の回路として実現する場合には、各機能について（機能毎に）、第１データ出力回路，第２データ出力回路，比較データ生成回路等を設けておけば良いが、本発明の画像処理回路を、圧縮機能と伸張機能とを有する回路（圧縮処理と伸張処理とを実行可能なデータ処理回路を備えた回路）として実現する場合には、セレクタ回路を、外部から入力されたデータ，テストデータ生成回路が出力するテストデータ，或いは，比較データ生成回路が出力する比較データをデータ処理回路に供給する回路とし、データ比較回路を、テストデータが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する圧縮処理用機能と、比較データが供給されているデータ処理回路が出力する処理済データが，テストデータ生成回路が出力するテストデータと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する伸張処理用機能とを有する回路（第１データ出力回路及び第２データ出力回路が、圧縮機能のテスト時にも伸張機能のテスト時にも使用される回路）としておくことが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための最良の形態を、図面を参照して詳細に説明する。
【００１３】
図１に示したように、本発明の一実施形態に係る画像処理回路１０は、圧縮・伸張回路１１とデータ生成回路１２とデータ比較回路１３とセレクタ１４とを備えた回路である。なお、図示は省略してあるが、画像処理回路１０は、外部からデータを書込可能な処理モードレジスタ，動作モードレジスタ及びテスト開始指示用レジスタ（各レジスタの用途は後述）も備えた回路となっている。
【００１４】
この画像処理回路１０は、プリンタや複合機に使用するものとして開発した，１ページ分（或いは１バンド分）の画像データを圧縮／伸張するための回路（ＡＳＩＣ）である。
【００１５】
圧縮・伸張回路１１は、画像データを圧縮／伸張する処理を実際に行う回路である。この圧縮・伸張回路１１は、処理モードレジスタに，圧縮モードで動作すべきことを指示するデータ（以下、圧縮モード指示データと表記する）が記憶されている場合には、圧縮処理を行い、処理モードレジスタに，伸張モードで動作すべきことを指示するデータ（以下、伸張モード指示データと表記する）が記憶されている場合には、伸張処理を行う回路となっている。
【００１６】
セレクタ１４は、画像処理回路１０の端子に入力されているデータ，或いは，データ生成回路１２からのデータ（詳細は後述）を，圧縮・伸張回路１１へ供給することとが可能な回路である。このセレクタ１４は、動作モードレジスタに，通常モードで動作すべきことを示すデータが設定されている場合に、画像処理回路１０の端子に入力されているデータを圧縮・伸張回路１１へ供給し、動作モードレジスタに，テストモードで動作すべきことを示すデータが設定されている場合に、データ生成回路１２からのデータを圧縮・伸張回路１１へ供給する回路となっている。
【００１７】
データ比較回路１３は、圧縮・伸張回路１１が出力するデータとデータ生成回路１２からのデータ（詳細は後述）とを比較し、両データが一致しているか否かを示す検証結果データを出力する回路である。
【００１８】
データ生成回路１２は、テストデータ生成回路１２ａと比較データ生成回路１２ｂとを含む回路である。
【００１９】
このデータ生成回路１２に含まれるテストデータ生成回路１２ａは、図２及び図３（Ａ）に模式的に示してあるように、簡単な回路にて生成可能な回路生成可能データを時系列的にｎ個並べたテストデータであって、正常に機能している圧縮・伸張回路１１に供給した場合、先頭データの後ろに同一データをｍ個並べた後，最終データを並べたデータ（比較データ）が，圧縮・伸張回路１１から出力されることになるテストデータを生成・出力するように構成（設計）された回路である。なお、本実施形態に係る画像処理回路１０のテストデータ生成回路１２ａは、出力値を“１”ずつインクリメントさせながら、“00”（all 0の１バイトデータ）から“ff”（all 1の１バイトデータ）までを出力する回路と、その回路を，ｎ回動作させる回路とを主な構成要素とする回路となっている。
【００２０】
データ生成回路１２に含まれる比較データ生成回路１２ｂは、図２及び図３（Ｂ）に模式的に示してあるように、上記テストデータが供給された圧縮・伸張回路１１（正常に機能するもの）が出力するデータ（先頭データの後ろに同一データをｍ個並べた後，最終データを並べたデータ）を生成・出力するように構成（設計）された回路である。この比較データ生成回路１２ｂは、図３（Ｂ）に模式的に示してあるように、先頭データ（図２における"a21f"）を出力する先頭データ用回路と、先頭データ用回路の動作後に機能する，繰り返しデータ（図２における"02cf63"）をｍ回出力する繰り返し回路〔繰り返しデータを出力する回路と，当該回路をｍ回動作させる回路とからなる繰り返し回路）と，繰り返し回路の動作後に機能する，最終データ（図２における"167489af00"）を出力する回路とを、主な構成要素とする回路となっている。
【００２１】
そして、本実施形態に係る画像処理装置１０に設けられているデータ生成回路１２は、このようなテストデータ生成回路１２ａ及び比較データ生成回路１２ｂを含む回路であると共に、図４に模式的に示してあるように、処理モードレジスタに，圧縮モード指示データが記憶されている場合（圧縮・伸張回路１１が圧縮モードで動作している場合）には、テストデータ生成回路１２ａの出力データ，比較データ生成回路１２ｂの出力データを，それぞれ、セレクタ１４，データ比較回路１３へ出力する状態（図４（Ａ））となり、処理モードレジスタに，伸張モード指示データが記憶されている場合（圧縮・伸張回路１１が伸張モードで動作している場合）には、テストデータ生成回路１２ａの出力データ，比較データ生成回路１２ｂの出力データを，それぞれ、データ比較回路１３，セレクタ１４へ出力する状態（図４（Ｂ））となるように構成された回路となっている。
【００２２】
また、データ生成回路１２は、処理モードレジスタに，圧縮モード指示データが記憶されている状態で、所定内容のテスト開始指示データがテスト開始指示用レジスタに書き込まれた場合には、テストデータ生成回路１２ａの動作を開始させた後、所定時間の経過後に（圧縮・伸張回路１１からの処理結果の出力と同期するタイミングで），比較データ生成回路１２ｂの動作を開始させ、処理モードレジスタに，伸張モード指示データが記憶されている状態で、テスト開始指示データがテスト開始指示用レジスタに書き込まれた場合には、比較データ生成回路１２ｂの動作を開始させた後、所定時間の経過後に、テストデータ生成回路１２ａの動作を開始させるように構成された回路ともなっている。
【００２３】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る画像処理回路１０は、テストデータ，比較データを記憶させておく（図６参照）代わりに、データ処理回路１１用のテストデータ，比較データとして，それぞれ，同一データ（図２，３における“回路生成可能データ）”が繰り返される部分を含むデータ，同一データ（図２，３における“02cf64”，“繰り返しデータ”）が繰り返される部分を含むデータを特定しておき、そのようなテストデータ，比較データを生成・出力するテストデータ生成回路１２ａ，比較データ生成回路１２ｂを設けた回路となっている。そして、同一データが繰り返される部分を含むデータ（テストデータ，比較データ）を生成・出力する各回路１２ａ，１２ｂは、比較的に少数のゲートで実現できるものである。従って、この画像処理回路１０は、簡単なテスト装置を用意するだけで（図５のようなテスト装置を用意する必要がない形で）、そのテストが行える画像処理回路であって、回路規模をさほど大きくすることなく実現可能な画像処理回路となっていると言うことが出来る。
【００２４】
《変形形態》
上記した画像処理回路１０は、各種の変形を行うことが出来る。例えば、画像処理回路１０を、圧縮処理のみを行える回路や、他の画像処理を行う回路に変形することが出来る。また、画像処理回路１０を、記憶しているデータを繰り返し出力するテストデータ生成回路１２ａを備えた回路に変形することも出来る。ただし、そのようなテストデータ生成回路１２ａは、回路生成可能データを繰り返し出力するテストデータ生成回路１２ａよりも規模が大きなものとならざるを得ないため、上記構成を採用しておくことが望ましい。
【００２５】
また、上記した画像処理回路１０で用いられている技術に基づき、各種の処理を行える画像処理回路（テストデータ生成回路１２ａ等を実行可能な処理毎に備えた回路）や、複数のテストデータを出力可能なテストデータ生成回路１２ａ（例えば、ｎ値を指定可能な回路）、各テストデータに対する比較データを出力可能な比較データ生成回路１２ｂ等を備えた画像処理回路等を製造しても良いことなどは、当然のことである。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施形態に係る画像処理回路の構成図。
【図２】実施形態に係る画像処理回路が備えるテストデータ生成回路，比較データ生成回路の機能を説明するための図。
【図３】実施形態に係る画像処理回路が備えるテストデータ生成回路，比較データ生成回路の構成を説明するための図。
【図４】実施形態に係る画像処理回路が備えるデータ生成回路の機能の説明図。
【図５】従来の一般的な画像処理回路のテスト方法の説明図。
【図６】従来の，テスト回路を備えた画像処理回路の構成図。
【符号の説明】
【００２７】
１０ 画像処理回路、 １１ 圧縮・伸張回路、 １２ データ生成回路
１２ａ テストデータ生成回路、 １２ｂ 比較データ生成回路
１３ データ比較回路、 １４ セレクタ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力されたデータに対して所定の処理を施すことによって処理済データを出力するデータ処理回路と、
第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成して出力するテストデータ生成回路と、
前記テストデータを入力したときに，正常に機能している前記データ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、生成して出力する比較データ生成回路と、
外部から入力されたデータ，或いは，前記テストデータ生成回路が出力する前記テストデータを前記データ処理回路に供給するセレクタ回路と、
前記テストデータが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路と
を、備え、
前記テストデータ生成回路が、
前記第１データを出力する第１データ出力回路と、
前記第１データ出力回路を繰り返し動作させるテストデータ生成回路用制御回路とを含む回路であり、
前記比較データ生成回路が、
前記第２データを出力する第２データ出力回路と、
前記第２データ出力回路を繰り返し動作させる比較データ生成回路用制御回路とを含む回路である
ことを、特徴とする画像処理回路。
【請求項２】
前記テストデータ生成回路の前記第１データ出力回路が、
記憶した第１データを出力する回路ではなく、その動作時に前記第１データを出力するように構成された回路である
ことを、特徴とする請求項１記載の画像処理回路。
【請求項３】
前記データ処理回路が、
入力されたデータに対して圧縮処理を施すことによって処理済データを出力する回路である
ことを、特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理回路。
【請求項４】
前記データ処理回路が、
入力されたデータに対して圧縮処理を施すことによって処理済データを出力する機能と、入力されたデータに対して伸張処理を施すことによって処理済データを出力する機能とを有する回路であり、
前記セレクタ回路が、
外部から入力されたデータ，前記テストデータ生成回路が出力する前記テストデータ，或いは，前記比較データ生成回路が出力する前記比較データを前記データ処理回路に供給する回路であり、
前記データ比較回路が、
前記テストデータが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する圧縮処理用機能と、前記比較データが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記テストデータ生成回路が出力するテストデータと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する伸張処理用機能とを有する回路である
ことを、特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理回路。
【請求項１】
入力されたデータに対して所定の処理を施すことによって処理済データを出力するデータ処理回路と、
第１データが繰り返される部分を含むテストデータを生成して出力するテストデータ生成回路と、
前記テストデータを入力したときに，正常に機能している前記データ処理回路が出力するデータと一致する比較データであって、第２データが繰り返される部分を含む比較データを、生成して出力する比較データ生成回路と、
外部から入力されたデータ，或いは，前記テストデータ生成回路が出力する前記テストデータを前記データ処理回路に供給するセレクタ回路と、
前記テストデータが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力するデータ比較回路と
を、備え、
前記テストデータ生成回路が、
前記第１データを出力する第１データ出力回路と、
前記第１データ出力回路を繰り返し動作させるテストデータ生成回路用制御回路とを含む回路であり、
前記比較データ生成回路が、
前記第２データを出力する第２データ出力回路と、
前記第２データ出力回路を繰り返し動作させる比較データ生成回路用制御回路とを含む回路である
ことを、特徴とする画像処理回路。
【請求項２】
前記テストデータ生成回路の前記第１データ出力回路が、
記憶した第１データを出力する回路ではなく、その動作時に前記第１データを出力するように構成された回路である
ことを、特徴とする請求項１記載の画像処理回路。
【請求項３】
前記データ処理回路が、
入力されたデータに対して圧縮処理を施すことによって処理済データを出力する回路である
ことを、特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理回路。
【請求項４】
前記データ処理回路が、
入力されたデータに対して圧縮処理を施すことによって処理済データを出力する機能と、入力されたデータに対して伸張処理を施すことによって処理済データを出力する機能とを有する回路であり、
前記セレクタ回路が、
外部から入力されたデータ，前記テストデータ生成回路が出力する前記テストデータ，或いは，前記比較データ生成回路が出力する前記比較データを前記データ処理回路に供給する回路であり、
前記データ比較回路が、
前記テストデータが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記比較データ生成回路が出力する比較データと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する圧縮処理用機能と、前記比較データが供給されている前記データ処理回路が出力する処理済データが，前記テストデータ生成回路が出力するテストデータと一致しているか否かを示す検証結果データを出力する伸張処理用機能とを有する回路である
ことを、特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理回路。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００８−４０８８１（Ｐ２００８−４０８８１Ａ）
【公開日】平成２０年２月２１日（２００８．２．２１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２１５７９１（Ｐ２００６−２１５７９１）
【出願日】平成１８年８月８日（２００６．８．８）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年２月２１日（２００８．２．２１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年８月８日（２００６．８．８）
【出願人】（０００００２３６９）セイコーエプソン株式会社 (51,324)
【Ｆターム（参考）】
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