画像形成システム、画像形成装置およびその制御方法
【課題】 画像形成装置と光学走査装置との間で通信エラーが発生したとしても画像形成を好適に継続できるようにする。
【解決手段】 光学走査装置は、個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む。画像形成装置は、第１の記憶手段から読み出されたユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段とを含む。そして、第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しなくなると、第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて光学走査装置を制御する。
【解決手段】 光学走査装置は、個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む。画像形成装置は、第１の記憶手段から読み出されたユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段とを含む。そして、第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しなくなると、第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて光学走査装置を制御する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学走査装置を搭載する画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、画像形成装置では、種々のユニットが製造の最終段階で本体に組み込まれることが多い。正しいユニットを本体に搭載するために、各ユニットが備えるメモリにＩＤ情報を記憶しておくことが望ましい。このＩＤ情報を読み出すことで、本体にとって、適切なユニットであるか否かを判断できる（特許文献１）。
【特許文献１】特許第３２４８８４６号の特許掲載公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
特許文献１に記載の発明によれば、ＩＤ情報に基づいて、ユニットの正誤を判定できる。しかしながら、ユニットに記憶されている、ユニットを制御するためのデータを、画像形成装置が、直接読み出すと、読み出しに時間がかかり、制御のボトルネックになる可能性がある。
【０００４】
そこで、起動時などに、画像形成装置のメモリへとデータをコピーしておき、このメモリからデータを読み出して画像を形成する方法が考えられる。この方法により、読出し速度の問題は解決されると考えられる。なぜなら、画像形成装置の内部バスの転送速度は、一般に、画像形成装置とユニット間の転送速度より速いからである。
【０００５】
しかしながら、データの読出し時に、通信エラーが発生すれば、エラーのあるデータに基づいて画像が形成されてしまうおそれがある。
【０００６】
そこで、本発明は、このような課題および他の課題のうち、少なくとも１つを解決することを目的とする。なお、他の課題については明細書の全体を通して理解できよう。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、例えば、光学走査装置と画像形成装置とを含む画像形成システムに適用できる。光学走査装置は、光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む。画像形成装置は、第１の記憶手段から読み出されたユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段とを含む。さらに、画像形成装置は、第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段を含む。さらに、画像形成装置は、ユニットデータらが整合している場合、第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて光学走査装置を制御する制御手段を含む。なお、この制御手段は、ユニットデータらが整合していない場合、第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて光学走査装置を制御する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、画像形成装置と光学走査装置との間で、通信不良が発生したとしても、デフォルトの設定データを用いて、簡易的に画像を形成できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に本発明の一実施形態を示す。もちろん以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
【００１０】
＜第１実施形態＞
図１は、実施形態に係る光学走査装置１と画像形成装置２とを含む画像形成してムの例示的なブロック図である。光学走査装置１には、レーザ駆動部３、半導体レーザ４ａ及び４ｂ、並びに記憶素子（以下、ＥＥＰＲＯＭと略す。）５が含まれている。画像形成装置のレーザ制御部１６から出力されるレーザ駆動部３は、レーザ制御信号１７により、複数の半導体レーザ４ａ及び４ｂを駆動する。
【００１１】
ＥＥＰＲＯＭ５は、光学走査装置１の組立時に入力されるユニットデータを記憶している。ユニットデータは、光学走査装置の個体ごとの特性に関するデータを含んでいる。ユニットデータは、例えば、光学走査装置１の認識データ（機種コードなど）、製造番号（シリアル番号）、半導体レーザ４ａ及び４ｂの光量補正値、主走査書き出し位置および印字倍率のうち、少なくとも一つを含んでいる。
【００１２】
画像形成装置２には、ＥＥＰＲＯＭ制御部８、バックアップメモリ９、デフォルトメモリ１０、およびレーザ制御部１６を含む。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲＡＭやＡＳＩＣなどで構成されうる。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、制御信号６をＥＥＰＲＯＭ５に送信することで、ユニットデータを読み出す。ユニットデータは、データ信号７としてＥＥＰＲＯＭ５から出力される。読み出されたユニットデータは、バックアップメモリ９に記憶される。
【００１３】
ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、電源投入時またはリセット時に、制御信号１１をバックアップメモリ９に送信することで、ユニットデータを読み出す。ユニットデータは、データ信号１２として、ＥＥＰＲＯＭ制御部８に入力される。
【００１４】
デフォルトメモリ１０は、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶するメモリである。この設定データは、光学走査装置の個体に依存しない点で、ユニットデータとは若干異なる。設定データは、例えば、例えば、半導体レーザ４ａ及び４ｂの光学特性及び電気特性に関するデータや、光学走査装置１の光学効率から算出されるデータなどが含まれる。なお設定データとユニットデータとの算出方法をほぼ同一の方法を採用できる。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、制御信号１３をデフォルトメモリ１０に送信することで、設定データを読み出すことができる。なお、設定データは、データ信号１４を介してＥＥＰＲＯＭ制御部８に入力される。
【００１５】
レーザ制御部１６は、ＥＥＰＲＯＭ制御部８から入力される設定信号１５に基づいてレーザ制御信号１７を生成する。レーザ制御部１６は、画像信号１８をレーザ駆動部３に送出することで、複数の半導体レーザ４ａ及び４ｂを変調発光させる。
【００１６】
図２は、実施形態に係る光学走査装置の主要部を示す例示的な構成図である。レーザ駆動部３は、半導体レーザ４ａ及び４ｂを用いて、複数のビームを同時に出射することができる。半導体レーザ４ａ及び４ｂからの光ビームが所定光量となるように、レーザ駆動部３のレーザ駆動回路は、半導体レーザ４ａ及び４ｂに駆動電流を供給する。
【００１７】
合成ユニット２１は、台形状のプリズムであり、内部に偏光ビームスプリッタ３０を備えている。合成ユニット２１のビーム出力面には、偏光フィルタ３２が貼り付けられている。偏光ビームスプリッタ３０は、偏光波の位相によりビームを直進させたり、ビームを反射したりする特性を有している。
【００１８】
半導体レーザ４ｂから出射されたレーザビームＬ１ｂ（Ｌ２ｂ）は合成ユニット２１の斜線部３１で偏向される。レーザビームＬ１ｂは、さらに偏光ビームスプリッタ３０で偏向され、偏光フィルタ３２を通過し、合成ユニット２１の外に出射する。一方、半導体レーザ４ａから出射したレーザビームＬ１ａ（Ｌ２ａ）は、レーザビームＬ１ｂと偏光方向が９０°異なっている。そのため、レーザビームＬ１ａは、偏光ビームスプリッタ３０及び偏光フィルタ３２を直進して、合成ユニット２１から出射する。なお、レーザビームＬ１ａ及びレーザビームＬ１ｂは、その照射位置が、感光ドラム２８上における副走査方向で所定の間隔となるように配置される。感光ドラム２８は、いわゆる像担持体である。
【００１９】
非画像領域のレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、それぞれコリメータレンズ２２及びシリンドリカルレンズ２３を経て、回転多面鏡（ポリゴンミラー）２４に到達する。回転多面鏡２４は、スキャナモータを含む回転多面鏡駆動回路２５によって等角速度で回転している。回転多面鏡２４に到達したレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、回転多面鏡２４によって偏向され、ｆθレンズ２６によって感光ドラム２８の回転方向と直角方向に等速走査となるように変換される。また、変換されたレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、ビーム検出（以下、ＢＤと略す。）センサ２９に受光される。ＢＤセンサ２９によって、レーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂが検出されたタイミングが、画像形成のタイミングに影響を及ぼす。
【００２０】
画像領域のレーザビームＬ２ａ、Ｌ２ｂは、ｆθレンズ２６を出射した後、反射ミラー２７を経由して感光ドラム２８上を照射する。これにより感光ドラム２８上に静電潜像が形成される。感光ドラム２８に形成された潜像は、トナーによって現像された後、用紙に転写・定着される。
【００２１】
図３は、実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部の動作を示す例示的なフローチャートである。この動作は、主に、ユニットデータのバックアップ処理を示している。
【００２２】
＜機種コードの照合＞
ステップＳ３０１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から機種コードを読み出す。ステップＳ３０２において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、搭載する光学走査装置１が画像形成装置２に合致したユニットであるか否かを判定する。例えば、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出した機種コードと、バックアップメモリ９に記憶されている機種コードとを比較する。機種コードが整合すれば、ステップＳ３０５に進む。
【００２３】
機種コードが整合しなければ、ステップＳ３０３に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、再度、機種コードをＥＥＰＲＯＭ５から読み出す。もう一度、機種コードを読み出すのは、通信エラーによって、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出した機種コードが誤っている可能性があるからである。ステップＳ３０４において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、再度、機種コードを比較する。機種コードが整合すれば、ステップＳ３０５に進む。機種コードが整合しなければ、ステップＳ３９０に進む。複数回にわたり機種コードが整合しない場合は、通信エラーが発生したというよりは、むしろ、他の画像形成装置用の光学走査装置が搭載されていることが疑われるからである。いずれにしても、バックアップメモリ９に記憶されているユニットデータの信頼性は相対的に低いといわざるを得ない。
【００２４】
ステップＳ３９０において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、デフォルトメモリ１０から設定データを読み出す。また、ステップＳ３９１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、図示省略の表示部（操作パネルの液晶表示装置など）にエラーが発生したことを表すアラームメッセージを表示する。その後、ステップＳ３９５に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したデフォルトの設定データをレーザ制御部１６のレジスタに設定する。
【００２５】
このように、本実施形態では、機種コードの照合が２回実行され、そのうち１回でも整合した場合は、「シリアル番号照合（Ｓ３０５）」に移行する。
【００２６】
＜シリアル番号の照合＞
本実施形態では、画像形成装置２に搭載されている光学走査装置１が交換されたか否かの判定を行う。例えば、工場出荷時の光学走査装置１に不具合が発生すると、新しい光学走査装置１に交換されることがある。光学走査装置１は、個体（シリアル番号）ごとに、特性が異なることがある。そのため、光学走査装置１が交換されると、バックアップメモリ９のユニットデータを更新することが望ましい。そこで、光学走査装置１のシリアル（製造管理）番号の照合を行う。
【００２７】
ステップＳ３０５において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５からシリアル番号を読み出す。ステップＳ３０６において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したシリアル番号と、バックアップメモリ９に記憶されているシリアル番号とが整合するか否かを判定する。
【００２８】
整合すれば、交換は実行されていないので、ステップＳ３０７に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から照合用のデータであるチェックサムを読み出す。ステップＳ３０８において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ３０８に記憶されている参照データ（例：チェックサム）も読み出す。ステップＳ３０９において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出された双方のチェックサムを比較することで、両者が整合するか否かを判定する。整合すれば、双方のユニットデータも整合すると推定されるので、バックアップメモリ９のユニットデータを更新する必要はない。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００２９】
一方、整合しなければ、ステップＳ３１０に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５からユニットデータを読み出す。ステップＳ３１１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したユニットデータをバックアップメモリ９に書き込む。ステップＳ３１２において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９に書き込んだユニットデータについてチェックサムを算出する。
【００３０】
＜チェックサム算出方法＞
図４は、実施形態に係るユニットデータの一例を示す図である。この図を用いて、チェックサムの算出方法の一例を示す。まず、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、各アドレスに格納されているデータについて、同一列ごとの加算を実行する。なお、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、加算結果について、データ長以上の繰上げは無視するものとする。次に、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、加算結果をビット反転することで、チェックサムとする。
【００３１】
図４の例では、各行のデータ長が２バイトであり、チェックサムのデータ長も２バイトとしている。また、機種コードは、００ＡＡである。アドレス７Ｄ、７Ｅに格納されているデータを「８０００」とし、他のアドレスに格納されているデータは、「００００」とする。よって、加算結果は、「１００ＡＡ」となるが、繰上げを無視すると、「００ＡＡ」となる。最終的に、加算結果「００ＡＡ」をビット反転することで、チェックサム「ＦＦ５５」が算出される。
【００３２】
ステップＳ３１３において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、算出したチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読みだしたチェックサムとが整合するか否かを判定する。整合すれば、ユニットデータは正しく更新されたことになる。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００３３】
一方、整合しなければ、ユニットデータを正しく更新できなかったことになる。よって、ステップＳ３１４に進む。ユニットデータが正しく更新されなかった原因としては、例えば、画像形成装置２と光学走査装置１との間の通信不良などが考えられる。
【００３４】
ステップＳ３１４において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から、再度、ユニットデータを読み出す。ステップＳ３１５において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したユニットデータを、再度、バックアップメモリ９に書き込む。ステップＳ３１６において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９に書き込んだユニットデータについてチェックサムを算出する。ステップＳ３１７において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、算出したチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとを比較し、両者が整合するか否かを判定する。整合すれば、ユニットデータは正しく更新されたことになる。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００３５】
一方、不整合であれば、ユニットデータの更新に２回とも失敗したことになる。この場合、通信不良やさらに深刻な異常が発生している可能性もある。よって、ステップＳ３９０に進む。
【００３６】
ステップＳ３９０において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、デフォルトメモリ１０から、デフォルトの設定データを読み出す。ステップＳ３９１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、操作パネルなどの表示部にエラーが発生していることを表すアラームメッセージを出力する。その後、ステップＳ３９５に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９のユニットデータに代えて、デフォルトメモリ１０の設定データをレーザ制御部１６のレジスタに出力する。
【００３７】
＜ＥＥＰＲＯＭへのユニットデータの書き込み＞
図５は、実施形態に係る工具（治具）の一例を示すブロック図である。この工具５００は、完成した光学走査装置１の各種特性などのデータを測定するための装置である。ＣＰＵ５０１は、制御プログラムに応じて、光学走査装置１などを制御したり、各種の演算を実行したりする制御ユニットである。ＲＯＭ５０２は、制御プログラムなどを格納する記憶ユニットである。ＲＡＭ５０３は、ワークエリアとして機能する記憶ユニットである。インタフェース５０４は、レーザ駆動部３やＥＥＰＲＯＭ５などと接続するための通信回路である。センサ５３０、５３１ａおよび５３１ｂは、主に、光ビームを検出するための素子である。
【００３８】
図６は、実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ５へのユニットデータの書き込み方法を示す例示的なフローチャートである。このフローチャートは、光学走査装置１を画像形成装置２へと組み込む前に実行される。なお、デフォルトの設定データについても、同様の手順で、試作機などから取得される。
【００３９】
＜データ算出＞
ステップＳ６０１において、ＣＰＵ５０１は、光学走査装置１を実際に駆動することで、各種データを測定する。すなわち、ＣＰＵ５０１は、レーザ制御部１６に代わって、各種の制御信号をレーザ駆動部３に出力する。また、ＣＰＵ５０１は、取得した各種データのうち、必要な演算を実行することで、ユニットデータの一部を算出する。算出の具体例については、後述する。なお、ＣＰＵ５０１は、光学走査装置１の機種コード及びシリアル番号も含むよう、ユニットデータを作成する。このユニットデータは、一旦、ＲＡＭ５０３に格納される。
【００４０】
ステップＳ６０２において、ＣＰＵ５０１は、算出したユニットデータからさらに、チェックサムを算出する。チェックサムの算出方法は、既に説明した通りである。このチェックサムは、一旦、ＲＡＭ５０３に格納される。なお、チェックサムは、ユニットデータの一部としてもよいことはいうまでもない。
【００４１】
＜データ書き込み＞
ステップＳ６０３において、ＣＰＵ５０１は、算出したユニットデータ及びチェックサムを、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５に書き込む。
【００４２】
＜データ照合＞
ステップＳ６０４において、ＣＰＵ５０１は、ＥＥＰＲＯＭ５に格納されたユニットデータを読み出す。ステップＳ６０５において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているユニットデータと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたユニットデータとが全て整合するか否かを照合する。全て整合すれば、ステップＳ６０９に進む。
【００４３】
一方、一部でも整合しなければ、ステップＳ６０７に進み、ＣＰＵ５０１は、ＥＥＰＲＯＭ５に格納されているユニットデータを、再度、読み出す。ステップＳ６０８において、ＣＰＵ５０１は、再度、ＲＡＭ５０３に格納されているユニットデータと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたユニットデータとが全て整合するか否かを照合する。全て整合すれば、ステップＳ６０９に進む。もし、２回の照合処理（Ｓ６０５およびＳ６０８）とも失敗すれば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込みエラーとなる。よっと、ＣＰＵ５０１は、工具５００の操作パネル（図示省略）等にエラーメセージを出力する。
【００４４】
ステップＳ６０９において、ＣＰＵ５０１は、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５からチェックサムを読み出す。ステップＳ６１０において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとが整合する否かを照合する。整合すれば、光学走査装置１は画像形成装置２に組み込まれ、出荷されることになる。
【００４５】
一方、不整合であれば、ステップＳ６１１に進み、ＣＰＵ５０１は、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５からチェックサムを、再度、読み出す。ステップＳ６１２において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとが整合する否かを、再度、照合する。整合すれば、光学走査装置１は画像形成装置２に組み込まれ、出荷されることになる。
【００４６】
一方、２回の照合処理（Ｓ６１０およびＳ６１２）とも失敗すれば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込みエラーとなる。よって、ＣＰＵ５０１は、工具５００の操作パネル等にエラーを出力する。
【００４７】
＜ユニットデータおよびデフォルト設定データの設定／算出方法＞
図７は、実施形態に係る光学走査装置のＥＥＰＲＯＭに格納されるユニットデータのアドレスマップ表である。ここでは、一例として、ＥＥＰＲＯＭ５の記憶容量が２Ｋｂｉｔ（１２８×１６ｂｉｔ）であるものとする。ＥＥＰＲＯＭ５に格納される各データは以下の通りである。なお、デフォルトの設定データの算出方法については、試作段階で測定されたサンプルデータから算出されたバラツキデータを元に算出してもよい。例えば、複数の試作機からユニットデータを算出し、これらのユニットデータから平均値を算出し、この平均値をデフォルトの設定データとしてもよい。
【００４８】
＜機種コード＞
例えば、機種コードについては、ユニットデータおよびデフォルトの設定データとも算出方法は同一とする。例えば、機種コードが「Ｓ１２３」であれば、ＣＰＵ５０１は、頭文字の「Ｓ」を削除し、残りの番号をＨＥＸ変換する：
例：Ｓ１２３→１２３（ＤＥＣ）→７Ｂ（ＨＥＸ）。
【００４９】
＜シリアル番号＞
シリアル番号については、ユニットデータのみに設定され、デフォルトの設定データには設定されないものとする。デフォルトの設定データは、全ての個体に共通となるユニットデータだからである。
【００５０】
例えば、ＣＰＵ５０１は、内蔵タイマーから製造年月に関する数値を取得するとともに、その月に製造された各ユニットを識別するためのユニット番号を算出する。また、ＣＰＵ５０１は、製造年月を表す数値と、ユニット番号とを個別に、ＨＥＸ変換して得られた値を所定のアドレスに格納する。
【００５１】
例えば、シリアル番号「０５０６００４５６」については、製造年月「０５年０６月」と、ユニット番号「４５６とに分割する。さらに、製造年月「０５０６（ＤＥＣ）」を「１ＦＡ（ＨＥＸ）」に変換する。同様に、ユニット番号「４５６（ＤＥＣ）」を「２Ｅ（ＨＥＸ）」に変換する。
【００５２】
＜ビーム位相データ＞
図８は、実施形態に係るビーム位相を説明するための図である。半導体レーザ４ａの発光点と、半導体レーザ４ｂの発光点とのビーム間隔Ｌは、画像の品質を維持する上で重要である。ところで、感光ドラム２８上における副走査方向で所定の解像度が得られるように、発光点の間隔を調整すると、各発光点の主走査方向の位置が正しい位置からずれてしまうことが多い。
【００５３】
感光ドラム２８上の照射位置に相当する位置（照射相当位置）に、工具５００の冶具センサ５３０が配置される。ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａのみを発光させたときに冶具センサ３０から出力される信号と、半導体レーザ４ｂのみを発光させたときの冶具センサ５３０から出力される信号との時間間隔を測定する。この測定結果が、ビーム位相データとなる。
【００５４】
光学走査装置１及び画像形成装置２の仕様を以下の通りと仮定して、より具体的な例示を説明する：
副走査解像度：６００＜ｄｐｉ＞
主走査速度：２＜μｍ／ｎｓ＞
主走査倍率：３
ビーム間隔：１００μｍ。
【００５５】
上記各数値をから、半導体レーザ４ａ及び４ｂのピッチ間隔は、次式から算出される：
（デバイス上のピッチ間隔）＝（１００２−４２．４２）１／２
＝９０．６μｍ
ビーム位相＝（デバイス上のピッチ間隔）×（主走査倍率）÷（主走査速度）
＝９０．６＜μｍ＞×３÷２＜μｍ／ｎｓ＞
＝１３５．８＜ｎｓ＞
よって、１３５．８＜ｎｓ＞が求めるべきビーム位相となる。
【００５６】
＜光量補正データ＞
図９は、光量補正を説明するための図である。ここでは、一例として、半導体レーザ４ａ、４ｂから出射される光ビームを回転多面鏡２４の反射面全体に照射するような光学系を考慮する。この光学系では、回転多面鏡２４が回転するため、回転多面鏡２４からの出射角が異なる。よって、感光ドラム２８上での各像高位置で、光量差が発生する。
【００５７】
図９に示す概念図によれば、像高位置と感光ドラム２８上での光量との関係が示されている。像高位置の中央部の光量と比較すると、走査開始及び終了近傍では、相対的に光量が低下している。そこで、光量低下を補償するように、レーザ駆動電流を増大させるような制御がレーザ制御部１６によって実行される。これによって、感光ドラム２８上の各位置で、光量が均一となる。
【００５８】
例えば、感光ドラム２８の表面における有効画像領域を任意の像高位置で３０個のブロックに分割する。そして、各ブロックごとに、好適なレーザ駆動電流を設定する。レーザ制御部１６は、ユニットデータに基づいて、各ブロックごとに好適なレーザ駆動電流が半導体レーザへと出力されるよう、レーザ駆動部３を制御する。
【００５９】
各ブロックに対応する回転多面鏡２４の回転角から、ＣＰＵ５０１は、感光ドラム２８の表面への入射角を算出する。この入射角から入射光量が算出される。算出された入射光量に基づいて、各ブロックにレーザ駆動電流を設定する。
【００６０】
＜倍率補正データ＞
図１０は、倍率補正を説明するための図である。半導体レーザ４ａ、４ｂから出射される各光ビームの発振波長には差がある。この差は、例えば、製造精度が原因で発生する。そして、この波長差により、ｆθレンズ２６の屈折率が変わってしまう。すなわち、ｆθレンズ２６の屈折率は、波長依存性を有している。この光ビームごとの屈折率の違いによって、感光ドラム２８上の照射位置の精度が劣化してしまう。さらに、図１０に示すようにｆθレンズ２６の主走査倍率は、像高位置で均一ではない。
【００６１】
図１０によれば、半導体レーザ４ａおよび４ｂから感光ドラム２８上に出射される各光ビームの位置関係が示されている。この図から、ｆθレンズ２６の屈折率の波長依存性によって、各ビームの主操作方向の位置がずれてしまうことを理解できよう。
【００６２】
ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａのみを発光させ、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂから出力される信号周期を測定する。次に、ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ｂのみを発光させ、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂから出力される信号周期を測定する。
【００６３】
図１１は、像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差との関係を示す図である。まず、像高位置を４０個のブロックに分割する。各像高位置に周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂを移動させる。そして、ＣＰＵ５０１は、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂ用いて、半導体レーザ４ａ、４ｂをそれぞれ発光させたときの周期を測定する。
【００６４】
例えば、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂの距離を主走査速度で除算することで得られる時間を基準周期とする。そして、ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａ、４ｂが各ブロックを照射しているときに、各周期測定センサ５３１ａ、５３１ｂから出力される信号の周期を測定する。さらに、ＣＰＵ５０１は、基準周期に対するこの測定周期の倍率を算出する。この算出された倍率が、倍率補正データとなる。なお、半導体レーザ４ａ、４ｂの発振波長について、中心値での主走査倍率誤差が０であれば、倍率の補正値は１となる。
【００６５】
このように、本実施形態では、図１１に示す像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差の特性分布（理論値）とを考慮して、倍率補正データが算出される。
【００６６】
＜他の実施形態＞
上述の実施形態では、光学走査装置１から正しいユニットデータを得られなくなると、複数の光学走査装置について共通に使用されるデフォルトの設定データを使用していた（Ｓ３９０など）。そこで、本実施形態では、デフォルトの設定データを用いる代わりに、画像形成装置２の動作を停止させる例について説明する。
【００６７】
図１２は、他の実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部８の動作を示す例示的なフローチャートである。なお、図３と共通する処理については、同一の参照符号を付すことで説明を省略する。
【００６８】
機種コードの照合について２度失敗したり、チェックサムの照合について３度失敗したりすると、ステップＳ１２０１に進む。ステップＳ１２０１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、操作パネル等に上述のエラーを出力する。その後、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、画像形成装置２の画像形成動作を停止させる。
【００６９】
この他の実施形態によれば、通信エラー以上の致命的な故障が発生している場合に特に有効である。このような故障が発生している場合は、もはや正常に画像形成を実行できず、無駄に現像剤や用紙を消耗してしまうからである。
【００７０】
以上説明したように、本実施形態によれば、光学走査装置１のＥＥＰＲＯＭ５およびバックアップメモリ９に記憶されているユニットデータを正しく利用できなくなると、デフォルトの設定データを用いて画像形成を実行する。ユニットデータは、光学走査装置１の固有の特性に関する情報が含まれている。一方、デフォルトの設定データには、複数の光学走査装置によって共通に使用される情報が含まれている。両者は、ともに光学走査装置を制御するためのパラメータであるが、前者は、各光学走査装置に固有の情報であるため、より精度良く、光学走査装置を制御できる。後者は、例えば、平均値的な情報であるため、各光学走査装置の性能を完全に引き出すことは難しいが、画像の形成を継続できる利点がある。
【００７１】
また、データユニットの正しさを判定する際には、データユニットよりもサイズの小さい照合データと参照データが使用されてもよい。照合データは、例えば、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたチェックサムである。さらに、参照データは、例えば、バッファメモリ９に記憶されているユニットデータから算出されたチェックサムである。よって、データユニットの全てについて整合性を判定する場合に比べて、通信時間と判定時間とを短くすることができる。また、通信時間を短くすることで、照合データのエラーを抑制できると考えられる。
【００７２】
また、本実施形態によれば、照合データと参照データとが整合しなかった場合に、ＥＥＰＲＯＭ５からユニットデータを再度読み出して、バックアップメモリ９に記憶する。そして、バックアップメモリ９に記憶されたユニットデータから、再度、参照データが算出される。そして、算出され参照データと、読み出した照合データとが再度比較される。よって、バックアップメモリ９のユニットデータとＥＥＰＰＲＯＭ５のユニットデータとが整合しなくなると、バックアップメモリ９のユニットデータを更新することで、当該ユニットデータを正しいデータに維持できる。
【００７３】
なお、バックアップメモリ９のユニットデータの更新は、画像形成装置２の起動時、またはリセット後に実行されることが望ましい。これは、光学走査装置１が新しいものに交換されている可能性があるからである。また、画像形成の開始前に実行しておけば、常に、最新のユニットデータを用いて好適に画像を形成できるからでもある。
【００７４】
さらに、他の実施形態で説明したように、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ユニットデータらが整合していない場合、画像形成装置２の動作を停止してもよい。とりわけ、通信エラー以上の深刻な問題が発生している場合、デフォルトの設定データを用いても、好適な品質で画像形成を実行できない可能性もある。よって、このような場合は、画像形成装置２の動作を停止させることで、現像剤や用紙の無駄な消費を抑えることができよう。
【００７５】
なお、本実施形態に係る画像形成システムは、プリンタ、複写機、ファクシミリ、複合機などとして実現できることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】実施形態に係る光学走査装置１と画像形成装置２とを含む画像形成してムの例示的なブロック図である。
【図２】実施形態に係る光学走査装置の主要部を示す例示的な構成図である。
【図３】実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部の動作を示す例示的なフローチャートである。
【図４】実施形態に係るユニットデータの一例を示す図である。
【図５】実施形態に係る工具（治具）の一例を示すブロック図である。
【図６】実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ５へのユニットデータの書き込み方法を示す例示的なフローチャートである。
【図７】実施形態に係る光学走査装置のＥＥＰＲＯＭに格納されるユニットデータのアドレスマップ表である。
【図８】実施形態に係るビーム位相を説明するための図である。
【図９】光量補正を説明するための図である。
【図１０】倍率補正を説明するための図である。
【図１１】像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差との関係を示す図である。
【図１２】他の実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部８の動作を示す例示的なフローチャートである。
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学走査装置を搭載する画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、画像形成装置では、種々のユニットが製造の最終段階で本体に組み込まれることが多い。正しいユニットを本体に搭載するために、各ユニットが備えるメモリにＩＤ情報を記憶しておくことが望ましい。このＩＤ情報を読み出すことで、本体にとって、適切なユニットであるか否かを判断できる（特許文献１）。
【特許文献１】特許第３２４８８４６号の特許掲載公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
特許文献１に記載の発明によれば、ＩＤ情報に基づいて、ユニットの正誤を判定できる。しかしながら、ユニットに記憶されている、ユニットを制御するためのデータを、画像形成装置が、直接読み出すと、読み出しに時間がかかり、制御のボトルネックになる可能性がある。
【０００４】
そこで、起動時などに、画像形成装置のメモリへとデータをコピーしておき、このメモリからデータを読み出して画像を形成する方法が考えられる。この方法により、読出し速度の問題は解決されると考えられる。なぜなら、画像形成装置の内部バスの転送速度は、一般に、画像形成装置とユニット間の転送速度より速いからである。
【０００５】
しかしながら、データの読出し時に、通信エラーが発生すれば、エラーのあるデータに基づいて画像が形成されてしまうおそれがある。
【０００６】
そこで、本発明は、このような課題および他の課題のうち、少なくとも１つを解決することを目的とする。なお、他の課題については明細書の全体を通して理解できよう。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、例えば、光学走査装置と画像形成装置とを含む画像形成システムに適用できる。光学走査装置は、光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む。画像形成装置は、第１の記憶手段から読み出されたユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段とを含む。さらに、画像形成装置は、第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段を含む。さらに、画像形成装置は、ユニットデータらが整合している場合、第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて光学走査装置を制御する制御手段を含む。なお、この制御手段は、ユニットデータらが整合していない場合、第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて光学走査装置を制御する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、画像形成装置と光学走査装置との間で、通信不良が発生したとしても、デフォルトの設定データを用いて、簡易的に画像を形成できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に本発明の一実施形態を示す。もちろん以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
【００１０】
＜第１実施形態＞
図１は、実施形態に係る光学走査装置１と画像形成装置２とを含む画像形成してムの例示的なブロック図である。光学走査装置１には、レーザ駆動部３、半導体レーザ４ａ及び４ｂ、並びに記憶素子（以下、ＥＥＰＲＯＭと略す。）５が含まれている。画像形成装置のレーザ制御部１６から出力されるレーザ駆動部３は、レーザ制御信号１７により、複数の半導体レーザ４ａ及び４ｂを駆動する。
【００１１】
ＥＥＰＲＯＭ５は、光学走査装置１の組立時に入力されるユニットデータを記憶している。ユニットデータは、光学走査装置の個体ごとの特性に関するデータを含んでいる。ユニットデータは、例えば、光学走査装置１の認識データ（機種コードなど）、製造番号（シリアル番号）、半導体レーザ４ａ及び４ｂの光量補正値、主走査書き出し位置および印字倍率のうち、少なくとも一つを含んでいる。
【００１２】
画像形成装置２には、ＥＥＰＲＯＭ制御部８、バックアップメモリ９、デフォルトメモリ１０、およびレーザ制御部１６を含む。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＣＰＵ、ＲＯＭおよびＲＡＭやＡＳＩＣなどで構成されうる。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、制御信号６をＥＥＰＲＯＭ５に送信することで、ユニットデータを読み出す。ユニットデータは、データ信号７としてＥＥＰＲＯＭ５から出力される。読み出されたユニットデータは、バックアップメモリ９に記憶される。
【００１３】
ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、電源投入時またはリセット時に、制御信号１１をバックアップメモリ９に送信することで、ユニットデータを読み出す。ユニットデータは、データ信号１２として、ＥＥＰＲＯＭ制御部８に入力される。
【００１４】
デフォルトメモリ１０は、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶するメモリである。この設定データは、光学走査装置の個体に依存しない点で、ユニットデータとは若干異なる。設定データは、例えば、例えば、半導体レーザ４ａ及び４ｂの光学特性及び電気特性に関するデータや、光学走査装置１の光学効率から算出されるデータなどが含まれる。なお設定データとユニットデータとの算出方法をほぼ同一の方法を採用できる。ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、制御信号１３をデフォルトメモリ１０に送信することで、設定データを読み出すことができる。なお、設定データは、データ信号１４を介してＥＥＰＲＯＭ制御部８に入力される。
【００１５】
レーザ制御部１６は、ＥＥＰＲＯＭ制御部８から入力される設定信号１５に基づいてレーザ制御信号１７を生成する。レーザ制御部１６は、画像信号１８をレーザ駆動部３に送出することで、複数の半導体レーザ４ａ及び４ｂを変調発光させる。
【００１６】
図２は、実施形態に係る光学走査装置の主要部を示す例示的な構成図である。レーザ駆動部３は、半導体レーザ４ａ及び４ｂを用いて、複数のビームを同時に出射することができる。半導体レーザ４ａ及び４ｂからの光ビームが所定光量となるように、レーザ駆動部３のレーザ駆動回路は、半導体レーザ４ａ及び４ｂに駆動電流を供給する。
【００１７】
合成ユニット２１は、台形状のプリズムであり、内部に偏光ビームスプリッタ３０を備えている。合成ユニット２１のビーム出力面には、偏光フィルタ３２が貼り付けられている。偏光ビームスプリッタ３０は、偏光波の位相によりビームを直進させたり、ビームを反射したりする特性を有している。
【００１８】
半導体レーザ４ｂから出射されたレーザビームＬ１ｂ（Ｌ２ｂ）は合成ユニット２１の斜線部３１で偏向される。レーザビームＬ１ｂは、さらに偏光ビームスプリッタ３０で偏向され、偏光フィルタ３２を通過し、合成ユニット２１の外に出射する。一方、半導体レーザ４ａから出射したレーザビームＬ１ａ（Ｌ２ａ）は、レーザビームＬ１ｂと偏光方向が９０°異なっている。そのため、レーザビームＬ１ａは、偏光ビームスプリッタ３０及び偏光フィルタ３２を直進して、合成ユニット２１から出射する。なお、レーザビームＬ１ａ及びレーザビームＬ１ｂは、その照射位置が、感光ドラム２８上における副走査方向で所定の間隔となるように配置される。感光ドラム２８は、いわゆる像担持体である。
【００１９】
非画像領域のレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、それぞれコリメータレンズ２２及びシリンドリカルレンズ２３を経て、回転多面鏡（ポリゴンミラー）２４に到達する。回転多面鏡２４は、スキャナモータを含む回転多面鏡駆動回路２５によって等角速度で回転している。回転多面鏡２４に到達したレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、回転多面鏡２４によって偏向され、ｆθレンズ２６によって感光ドラム２８の回転方向と直角方向に等速走査となるように変換される。また、変換されたレーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂは、ビーム検出（以下、ＢＤと略す。）センサ２９に受光される。ＢＤセンサ２９によって、レーザビームＬ１ａ、Ｌ１ｂが検出されたタイミングが、画像形成のタイミングに影響を及ぼす。
【００２０】
画像領域のレーザビームＬ２ａ、Ｌ２ｂは、ｆθレンズ２６を出射した後、反射ミラー２７を経由して感光ドラム２８上を照射する。これにより感光ドラム２８上に静電潜像が形成される。感光ドラム２８に形成された潜像は、トナーによって現像された後、用紙に転写・定着される。
【００２１】
図３は、実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部の動作を示す例示的なフローチャートである。この動作は、主に、ユニットデータのバックアップ処理を示している。
【００２２】
＜機種コードの照合＞
ステップＳ３０１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から機種コードを読み出す。ステップＳ３０２において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、搭載する光学走査装置１が画像形成装置２に合致したユニットであるか否かを判定する。例えば、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出した機種コードと、バックアップメモリ９に記憶されている機種コードとを比較する。機種コードが整合すれば、ステップＳ３０５に進む。
【００２３】
機種コードが整合しなければ、ステップＳ３０３に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、再度、機種コードをＥＥＰＲＯＭ５から読み出す。もう一度、機種コードを読み出すのは、通信エラーによって、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出した機種コードが誤っている可能性があるからである。ステップＳ３０４において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、再度、機種コードを比較する。機種コードが整合すれば、ステップＳ３０５に進む。機種コードが整合しなければ、ステップＳ３９０に進む。複数回にわたり機種コードが整合しない場合は、通信エラーが発生したというよりは、むしろ、他の画像形成装置用の光学走査装置が搭載されていることが疑われるからである。いずれにしても、バックアップメモリ９に記憶されているユニットデータの信頼性は相対的に低いといわざるを得ない。
【００２４】
ステップＳ３９０において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、デフォルトメモリ１０から設定データを読み出す。また、ステップＳ３９１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、図示省略の表示部（操作パネルの液晶表示装置など）にエラーが発生したことを表すアラームメッセージを表示する。その後、ステップＳ３９５に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したデフォルトの設定データをレーザ制御部１６のレジスタに設定する。
【００２５】
このように、本実施形態では、機種コードの照合が２回実行され、そのうち１回でも整合した場合は、「シリアル番号照合（Ｓ３０５）」に移行する。
【００２６】
＜シリアル番号の照合＞
本実施形態では、画像形成装置２に搭載されている光学走査装置１が交換されたか否かの判定を行う。例えば、工場出荷時の光学走査装置１に不具合が発生すると、新しい光学走査装置１に交換されることがある。光学走査装置１は、個体（シリアル番号）ごとに、特性が異なることがある。そのため、光学走査装置１が交換されると、バックアップメモリ９のユニットデータを更新することが望ましい。そこで、光学走査装置１のシリアル（製造管理）番号の照合を行う。
【００２７】
ステップＳ３０５において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５からシリアル番号を読み出す。ステップＳ３０６において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したシリアル番号と、バックアップメモリ９に記憶されているシリアル番号とが整合するか否かを判定する。
【００２８】
整合すれば、交換は実行されていないので、ステップＳ３０７に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から照合用のデータであるチェックサムを読み出す。ステップＳ３０８において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ３０８に記憶されている参照データ（例：チェックサム）も読み出す。ステップＳ３０９において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出された双方のチェックサムを比較することで、両者が整合するか否かを判定する。整合すれば、双方のユニットデータも整合すると推定されるので、バックアップメモリ９のユニットデータを更新する必要はない。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００２９】
一方、整合しなければ、ステップＳ３１０に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５からユニットデータを読み出す。ステップＳ３１１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したユニットデータをバックアップメモリ９に書き込む。ステップＳ３１２において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９に書き込んだユニットデータについてチェックサムを算出する。
【００３０】
＜チェックサム算出方法＞
図４は、実施形態に係るユニットデータの一例を示す図である。この図を用いて、チェックサムの算出方法の一例を示す。まず、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、各アドレスに格納されているデータについて、同一列ごとの加算を実行する。なお、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、加算結果について、データ長以上の繰上げは無視するものとする。次に、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、加算結果をビット反転することで、チェックサムとする。
【００３１】
図４の例では、各行のデータ長が２バイトであり、チェックサムのデータ長も２バイトとしている。また、機種コードは、００ＡＡである。アドレス７Ｄ、７Ｅに格納されているデータを「８０００」とし、他のアドレスに格納されているデータは、「００００」とする。よって、加算結果は、「１００ＡＡ」となるが、繰上げを無視すると、「００ＡＡ」となる。最終的に、加算結果「００ＡＡ」をビット反転することで、チェックサム「ＦＦ５５」が算出される。
【００３２】
ステップＳ３１３において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、算出したチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読みだしたチェックサムとが整合するか否かを判定する。整合すれば、ユニットデータは正しく更新されたことになる。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００３３】
一方、整合しなければ、ユニットデータを正しく更新できなかったことになる。よって、ステップＳ３１４に進む。ユニットデータが正しく更新されなかった原因としては、例えば、画像形成装置２と光学走査装置１との間の通信不良などが考えられる。
【００３４】
ステップＳ３１４において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ＥＥＰＲＯＭ５から、再度、ユニットデータを読み出す。ステップＳ３１５において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、読み出したユニットデータを、再度、バックアップメモリ９に書き込む。ステップＳ３１６において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９に書き込んだユニットデータについてチェックサムを算出する。ステップＳ３１７において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、算出したチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとを比較し、両者が整合するか否かを判定する。整合すれば、ユニットデータは正しく更新されたことになる。よって、ステップＳ３９５に進む。
【００３５】
一方、不整合であれば、ユニットデータの更新に２回とも失敗したことになる。この場合、通信不良やさらに深刻な異常が発生している可能性もある。よって、ステップＳ３９０に進む。
【００３６】
ステップＳ３９０において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、デフォルトメモリ１０から、デフォルトの設定データを読み出す。ステップＳ３９１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、操作パネルなどの表示部にエラーが発生していることを表すアラームメッセージを出力する。その後、ステップＳ３９５に進み、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、バックアップメモリ９のユニットデータに代えて、デフォルトメモリ１０の設定データをレーザ制御部１６のレジスタに出力する。
【００３７】
＜ＥＥＰＲＯＭへのユニットデータの書き込み＞
図５は、実施形態に係る工具（治具）の一例を示すブロック図である。この工具５００は、完成した光学走査装置１の各種特性などのデータを測定するための装置である。ＣＰＵ５０１は、制御プログラムに応じて、光学走査装置１などを制御したり、各種の演算を実行したりする制御ユニットである。ＲＯＭ５０２は、制御プログラムなどを格納する記憶ユニットである。ＲＡＭ５０３は、ワークエリアとして機能する記憶ユニットである。インタフェース５０４は、レーザ駆動部３やＥＥＰＲＯＭ５などと接続するための通信回路である。センサ５３０、５３１ａおよび５３１ｂは、主に、光ビームを検出するための素子である。
【００３８】
図６は、実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ５へのユニットデータの書き込み方法を示す例示的なフローチャートである。このフローチャートは、光学走査装置１を画像形成装置２へと組み込む前に実行される。なお、デフォルトの設定データについても、同様の手順で、試作機などから取得される。
【００３９】
＜データ算出＞
ステップＳ６０１において、ＣＰＵ５０１は、光学走査装置１を実際に駆動することで、各種データを測定する。すなわち、ＣＰＵ５０１は、レーザ制御部１６に代わって、各種の制御信号をレーザ駆動部３に出力する。また、ＣＰＵ５０１は、取得した各種データのうち、必要な演算を実行することで、ユニットデータの一部を算出する。算出の具体例については、後述する。なお、ＣＰＵ５０１は、光学走査装置１の機種コード及びシリアル番号も含むよう、ユニットデータを作成する。このユニットデータは、一旦、ＲＡＭ５０３に格納される。
【００４０】
ステップＳ６０２において、ＣＰＵ５０１は、算出したユニットデータからさらに、チェックサムを算出する。チェックサムの算出方法は、既に説明した通りである。このチェックサムは、一旦、ＲＡＭ５０３に格納される。なお、チェックサムは、ユニットデータの一部としてもよいことはいうまでもない。
【００４１】
＜データ書き込み＞
ステップＳ６０３において、ＣＰＵ５０１は、算出したユニットデータ及びチェックサムを、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５に書き込む。
【００４２】
＜データ照合＞
ステップＳ６０４において、ＣＰＵ５０１は、ＥＥＰＲＯＭ５に格納されたユニットデータを読み出す。ステップＳ６０５において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているユニットデータと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたユニットデータとが全て整合するか否かを照合する。全て整合すれば、ステップＳ６０９に進む。
【００４３】
一方、一部でも整合しなければ、ステップＳ６０７に進み、ＣＰＵ５０１は、ＥＥＰＲＯＭ５に格納されているユニットデータを、再度、読み出す。ステップＳ６０８において、ＣＰＵ５０１は、再度、ＲＡＭ５０３に格納されているユニットデータと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたユニットデータとが全て整合するか否かを照合する。全て整合すれば、ステップＳ６０９に進む。もし、２回の照合処理（Ｓ６０５およびＳ６０８）とも失敗すれば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込みエラーとなる。よっと、ＣＰＵ５０１は、工具５００の操作パネル（図示省略）等にエラーメセージを出力する。
【００４４】
ステップＳ６０９において、ＣＰＵ５０１は、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５からチェックサムを読み出す。ステップＳ６１０において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとが整合する否かを照合する。整合すれば、光学走査装置１は画像形成装置２に組み込まれ、出荷されることになる。
【００４５】
一方、不整合であれば、ステップＳ６１１に進み、ＣＰＵ５０１は、インタフェース５０４を介して、ＥＥＰＲＯＭ５からチェックサムを、再度、読み出す。ステップＳ６１２において、ＣＰＵ５０１は、ＲＡＭ５０３に格納されているチェックサムと、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出したチェックサムとが整合する否かを、再度、照合する。整合すれば、光学走査装置１は画像形成装置２に組み込まれ、出荷されることになる。
【００４６】
一方、２回の照合処理（Ｓ６１０およびＳ６１２）とも失敗すれば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込みエラーとなる。よって、ＣＰＵ５０１は、工具５００の操作パネル等にエラーを出力する。
【００４７】
＜ユニットデータおよびデフォルト設定データの設定／算出方法＞
図７は、実施形態に係る光学走査装置のＥＥＰＲＯＭに格納されるユニットデータのアドレスマップ表である。ここでは、一例として、ＥＥＰＲＯＭ５の記憶容量が２Ｋｂｉｔ（１２８×１６ｂｉｔ）であるものとする。ＥＥＰＲＯＭ５に格納される各データは以下の通りである。なお、デフォルトの設定データの算出方法については、試作段階で測定されたサンプルデータから算出されたバラツキデータを元に算出してもよい。例えば、複数の試作機からユニットデータを算出し、これらのユニットデータから平均値を算出し、この平均値をデフォルトの設定データとしてもよい。
【００４８】
＜機種コード＞
例えば、機種コードについては、ユニットデータおよびデフォルトの設定データとも算出方法は同一とする。例えば、機種コードが「Ｓ１２３」であれば、ＣＰＵ５０１は、頭文字の「Ｓ」を削除し、残りの番号をＨＥＸ変換する：
例：Ｓ１２３→１２３（ＤＥＣ）→７Ｂ（ＨＥＸ）。
【００４９】
＜シリアル番号＞
シリアル番号については、ユニットデータのみに設定され、デフォルトの設定データには設定されないものとする。デフォルトの設定データは、全ての個体に共通となるユニットデータだからである。
【００５０】
例えば、ＣＰＵ５０１は、内蔵タイマーから製造年月に関する数値を取得するとともに、その月に製造された各ユニットを識別するためのユニット番号を算出する。また、ＣＰＵ５０１は、製造年月を表す数値と、ユニット番号とを個別に、ＨＥＸ変換して得られた値を所定のアドレスに格納する。
【００５１】
例えば、シリアル番号「０５０６００４５６」については、製造年月「０５年０６月」と、ユニット番号「４５６とに分割する。さらに、製造年月「０５０６（ＤＥＣ）」を「１ＦＡ（ＨＥＸ）」に変換する。同様に、ユニット番号「４５６（ＤＥＣ）」を「２Ｅ（ＨＥＸ）」に変換する。
【００５２】
＜ビーム位相データ＞
図８は、実施形態に係るビーム位相を説明するための図である。半導体レーザ４ａの発光点と、半導体レーザ４ｂの発光点とのビーム間隔Ｌは、画像の品質を維持する上で重要である。ところで、感光ドラム２８上における副走査方向で所定の解像度が得られるように、発光点の間隔を調整すると、各発光点の主走査方向の位置が正しい位置からずれてしまうことが多い。
【００５３】
感光ドラム２８上の照射位置に相当する位置（照射相当位置）に、工具５００の冶具センサ５３０が配置される。ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａのみを発光させたときに冶具センサ３０から出力される信号と、半導体レーザ４ｂのみを発光させたときの冶具センサ５３０から出力される信号との時間間隔を測定する。この測定結果が、ビーム位相データとなる。
【００５４】
光学走査装置１及び画像形成装置２の仕様を以下の通りと仮定して、より具体的な例示を説明する：
副走査解像度：６００＜ｄｐｉ＞
主走査速度：２＜μｍ／ｎｓ＞
主走査倍率：３
ビーム間隔：１００μｍ。
【００５５】
上記各数値をから、半導体レーザ４ａ及び４ｂのピッチ間隔は、次式から算出される：
（デバイス上のピッチ間隔）＝（１００２−４２．４２）１／２
＝９０．６μｍ
ビーム位相＝（デバイス上のピッチ間隔）×（主走査倍率）÷（主走査速度）
＝９０．６＜μｍ＞×３÷２＜μｍ／ｎｓ＞
＝１３５．８＜ｎｓ＞
よって、１３５．８＜ｎｓ＞が求めるべきビーム位相となる。
【００５６】
＜光量補正データ＞
図９は、光量補正を説明するための図である。ここでは、一例として、半導体レーザ４ａ、４ｂから出射される光ビームを回転多面鏡２４の反射面全体に照射するような光学系を考慮する。この光学系では、回転多面鏡２４が回転するため、回転多面鏡２４からの出射角が異なる。よって、感光ドラム２８上での各像高位置で、光量差が発生する。
【００５７】
図９に示す概念図によれば、像高位置と感光ドラム２８上での光量との関係が示されている。像高位置の中央部の光量と比較すると、走査開始及び終了近傍では、相対的に光量が低下している。そこで、光量低下を補償するように、レーザ駆動電流を増大させるような制御がレーザ制御部１６によって実行される。これによって、感光ドラム２８上の各位置で、光量が均一となる。
【００５８】
例えば、感光ドラム２８の表面における有効画像領域を任意の像高位置で３０個のブロックに分割する。そして、各ブロックごとに、好適なレーザ駆動電流を設定する。レーザ制御部１６は、ユニットデータに基づいて、各ブロックごとに好適なレーザ駆動電流が半導体レーザへと出力されるよう、レーザ駆動部３を制御する。
【００５９】
各ブロックに対応する回転多面鏡２４の回転角から、ＣＰＵ５０１は、感光ドラム２８の表面への入射角を算出する。この入射角から入射光量が算出される。算出された入射光量に基づいて、各ブロックにレーザ駆動電流を設定する。
【００６０】
＜倍率補正データ＞
図１０は、倍率補正を説明するための図である。半導体レーザ４ａ、４ｂから出射される各光ビームの発振波長には差がある。この差は、例えば、製造精度が原因で発生する。そして、この波長差により、ｆθレンズ２６の屈折率が変わってしまう。すなわち、ｆθレンズ２６の屈折率は、波長依存性を有している。この光ビームごとの屈折率の違いによって、感光ドラム２８上の照射位置の精度が劣化してしまう。さらに、図１０に示すようにｆθレンズ２６の主走査倍率は、像高位置で均一ではない。
【００６１】
図１０によれば、半導体レーザ４ａおよび４ｂから感光ドラム２８上に出射される各光ビームの位置関係が示されている。この図から、ｆθレンズ２６の屈折率の波長依存性によって、各ビームの主操作方向の位置がずれてしまうことを理解できよう。
【００６２】
ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａのみを発光させ、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂから出力される信号周期を測定する。次に、ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ｂのみを発光させ、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂから出力される信号周期を測定する。
【００６３】
図１１は、像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差との関係を示す図である。まず、像高位置を４０個のブロックに分割する。各像高位置に周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂを移動させる。そして、ＣＰＵ５０１は、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂ用いて、半導体レーザ４ａ、４ｂをそれぞれ発光させたときの周期を測定する。
【００６４】
例えば、周期測定センサ５３１ａ及び５３１ｂの距離を主走査速度で除算することで得られる時間を基準周期とする。そして、ＣＰＵ５０１は、半導体レーザ４ａ、４ｂが各ブロックを照射しているときに、各周期測定センサ５３１ａ、５３１ｂから出力される信号の周期を測定する。さらに、ＣＰＵ５０１は、基準周期に対するこの測定周期の倍率を算出する。この算出された倍率が、倍率補正データとなる。なお、半導体レーザ４ａ、４ｂの発振波長について、中心値での主走査倍率誤差が０であれば、倍率の補正値は１となる。
【００６５】
このように、本実施形態では、図１１に示す像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差の特性分布（理論値）とを考慮して、倍率補正データが算出される。
【００６６】
＜他の実施形態＞
上述の実施形態では、光学走査装置１から正しいユニットデータを得られなくなると、複数の光学走査装置について共通に使用されるデフォルトの設定データを使用していた（Ｓ３９０など）。そこで、本実施形態では、デフォルトの設定データを用いる代わりに、画像形成装置２の動作を停止させる例について説明する。
【００６７】
図１２は、他の実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部８の動作を示す例示的なフローチャートである。なお、図３と共通する処理については、同一の参照符号を付すことで説明を省略する。
【００６８】
機種コードの照合について２度失敗したり、チェックサムの照合について３度失敗したりすると、ステップＳ１２０１に進む。ステップＳ１２０１において、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、操作パネル等に上述のエラーを出力する。その後、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、画像形成装置２の画像形成動作を停止させる。
【００６９】
この他の実施形態によれば、通信エラー以上の致命的な故障が発生している場合に特に有効である。このような故障が発生している場合は、もはや正常に画像形成を実行できず、無駄に現像剤や用紙を消耗してしまうからである。
【００７０】
以上説明したように、本実施形態によれば、光学走査装置１のＥＥＰＲＯＭ５およびバックアップメモリ９に記憶されているユニットデータを正しく利用できなくなると、デフォルトの設定データを用いて画像形成を実行する。ユニットデータは、光学走査装置１の固有の特性に関する情報が含まれている。一方、デフォルトの設定データには、複数の光学走査装置によって共通に使用される情報が含まれている。両者は、ともに光学走査装置を制御するためのパラメータであるが、前者は、各光学走査装置に固有の情報であるため、より精度良く、光学走査装置を制御できる。後者は、例えば、平均値的な情報であるため、各光学走査装置の性能を完全に引き出すことは難しいが、画像の形成を継続できる利点がある。
【００７１】
また、データユニットの正しさを判定する際には、データユニットよりもサイズの小さい照合データと参照データが使用されてもよい。照合データは、例えば、ＥＥＰＲＯＭ５から読み出されたチェックサムである。さらに、参照データは、例えば、バッファメモリ９に記憶されているユニットデータから算出されたチェックサムである。よって、データユニットの全てについて整合性を判定する場合に比べて、通信時間と判定時間とを短くすることができる。また、通信時間を短くすることで、照合データのエラーを抑制できると考えられる。
【００７２】
また、本実施形態によれば、照合データと参照データとが整合しなかった場合に、ＥＥＰＲＯＭ５からユニットデータを再度読み出して、バックアップメモリ９に記憶する。そして、バックアップメモリ９に記憶されたユニットデータから、再度、参照データが算出される。そして、算出され参照データと、読み出した照合データとが再度比較される。よって、バックアップメモリ９のユニットデータとＥＥＰＰＲＯＭ５のユニットデータとが整合しなくなると、バックアップメモリ９のユニットデータを更新することで、当該ユニットデータを正しいデータに維持できる。
【００７３】
なお、バックアップメモリ９のユニットデータの更新は、画像形成装置２の起動時、またはリセット後に実行されることが望ましい。これは、光学走査装置１が新しいものに交換されている可能性があるからである。また、画像形成の開始前に実行しておけば、常に、最新のユニットデータを用いて好適に画像を形成できるからでもある。
【００７４】
さらに、他の実施形態で説明したように、ＥＥＰＲＯＭ制御部８は、ユニットデータらが整合していない場合、画像形成装置２の動作を停止してもよい。とりわけ、通信エラー以上の深刻な問題が発生している場合、デフォルトの設定データを用いても、好適な品質で画像形成を実行できない可能性もある。よって、このような場合は、画像形成装置２の動作を停止させることで、現像剤や用紙の無駄な消費を抑えることができよう。
【００７５】
なお、本実施形態に係る画像形成システムは、プリンタ、複写機、ファクシミリ、複合機などとして実現できることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】実施形態に係る光学走査装置１と画像形成装置２とを含む画像形成してムの例示的なブロック図である。
【図２】実施形態に係る光学走査装置の主要部を示す例示的な構成図である。
【図３】実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部の動作を示す例示的なフローチャートである。
【図４】実施形態に係るユニットデータの一例を示す図である。
【図５】実施形態に係る工具（治具）の一例を示すブロック図である。
【図６】実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ５へのユニットデータの書き込み方法を示す例示的なフローチャートである。
【図７】実施形態に係る光学走査装置のＥＥＰＲＯＭに格納されるユニットデータのアドレスマップ表である。
【図８】実施形態に係るビーム位相を説明するための図である。
【図９】光量補正を説明するための図である。
【図１０】倍率補正を説明するための図である。
【図１１】像高位置とｆθレンズ２６の主走査倍率誤差との関係を示す図である。
【図１２】他の実施形態に係るＥＥＰＲＯＭ制御部８の動作を示す例示的なフローチャートである。
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学走査装置と画像形成装置とを含む画像形成システムであって、
前記光学走査装置は、
前記光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含み、
前記画像形成装置は、
前記第１の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、
複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段と、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出されたユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出された設定データを用いて前記光学走査装置を制御する制御手段と
を含むことを特徴とする画像形成システム。
【請求項２】
前記判定手段は、
前記第１の記憶手段に記憶されているデータユニットから所定の演算により算出された、該データユニットよりもサイズの小さい照合データを前記第１の記憶手段から読み出す読出手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているデータユニットに前記所定の演算を施すことで参照データを算出する算出手段と、
前記照合データと前記参照データとを比較する比較手段と
を含むことを特徴とする請求項１に記載の画像形成システム。
【請求項３】
前記参照データと前記照合データはチェックサムであることを特徴とする請求項２に記載の画像形成システム。
【請求項４】
前記比較手段は、
前記照合データと前記参照データとが整合しなかった場合に、前記第１の記憶手段から前記ユニットデータを再度読み出して前記第２の記憶手段に記憶し、記憶されたユニットデータから前記参照データを算出し、算出した前記参照データと、前記照合データとを比較することを特徴とする請求項２または３に記載の画像形成システム。
【請求項５】
前記ユニットデータには、前記光学走査装置の認識データ、製造番号、前記光学走査装置に含まれる光源の光量補正値、主走査書き出し位置および印字倍率のうち少なくとも一つが含まれていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項６】
前記制御手段は、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御する代わりに、前記画像形成装置の動作を停止することを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項７】
前記第１の記憶手段に記憶されているデータユニットは、前記画像形成システムの電源投入時またはリセット時に読み出されて、前記第２の記憶手段に書き込まれることを特徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項８】
前記光学走査装置は、
画像データに基づいて変調された光ビームを射出する半導体レーザと、
前記光ビームをコリメート光とするコリメートレンズ、該光ビームを偏向する回転多面鏡、該回転多面鏡によって偏向された光ビームを等角および等速で走査するよう変換するｆθレンズ、像担持体の所定の位置に照射するよう調整するための反射ミラーを含む光学ユニットと
を含み、
前記ユニットデータは、前記半導体レーザや前記光学ユニットを構成する部品の偏差及び前記光学走査装置の組立公差から得られたデータであることを特徴とする請求項１ないし７のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項９】
個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む光学走査装置を搭載する画像形成装置であって、
前記第１の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、
複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段と、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御する制御手段と
を含むことを特徴とする画像形成装置。
【請求項１０】
光学走査装置を搭載する画像形成装置の制御方法であって、
前記光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する、前記光学走査装置が備える第１の記憶手段から前記ユニットデータを読み出すステップと、
読み出された前記ユニットデータを、前記画像形成装置が備える第２の記憶手段に書き込むステップと、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定するステップと、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する、前記画像形成装置が備える第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御するステップと
を含むことを特徴とする制御方法。
【請求項１】
光学走査装置と画像形成装置とを含む画像形成システムであって、
前記光学走査装置は、
前記光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含み、
前記画像形成装置は、
前記第１の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、
複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段と、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出されたユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出された設定データを用いて前記光学走査装置を制御する制御手段と
を含むことを特徴とする画像形成システム。
【請求項２】
前記判定手段は、
前記第１の記憶手段に記憶されているデータユニットから所定の演算により算出された、該データユニットよりもサイズの小さい照合データを前記第１の記憶手段から読み出す読出手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているデータユニットに前記所定の演算を施すことで参照データを算出する算出手段と、
前記照合データと前記参照データとを比較する比較手段と
を含むことを特徴とする請求項１に記載の画像形成システム。
【請求項３】
前記参照データと前記照合データはチェックサムであることを特徴とする請求項２に記載の画像形成システム。
【請求項４】
前記比較手段は、
前記照合データと前記参照データとが整合しなかった場合に、前記第１の記憶手段から前記ユニットデータを再度読み出して前記第２の記憶手段に記憶し、記憶されたユニットデータから前記参照データを算出し、算出した前記参照データと、前記照合データとを比較することを特徴とする請求項２または３に記載の画像形成システム。
【請求項５】
前記ユニットデータには、前記光学走査装置の認識データ、製造番号、前記光学走査装置に含まれる光源の光量補正値、主走査書き出し位置および印字倍率のうち少なくとも一つが含まれていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項６】
前記制御手段は、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御する代わりに、前記画像形成装置の動作を停止することを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項７】
前記第１の記憶手段に記憶されているデータユニットは、前記画像形成システムの電源投入時またはリセット時に読み出されて、前記第２の記憶手段に書き込まれることを特徴とする請求項１ないし６のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項８】
前記光学走査装置は、
画像データに基づいて変調された光ビームを射出する半導体レーザと、
前記光ビームをコリメート光とするコリメートレンズ、該光ビームを偏向する回転多面鏡、該回転多面鏡によって偏向された光ビームを等角および等速で走査するよう変換するｆθレンズ、像担持体の所定の位置に照射するよう調整するための反射ミラーを含む光学ユニットと
を含み、
前記ユニットデータは、前記半導体レーザや前記光学ユニットを構成する部品の偏差及び前記光学走査装置の組立公差から得られたデータであることを特徴とする請求項１ないし７のいずれかに記載の画像形成システム。
【請求項９】
個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する第１の記憶手段を含む光学走査装置を搭載する画像形成装置であって、
前記第１の記憶手段から読み出された前記ユニットデータを記憶する第２の記憶手段と、
複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する第３の記憶手段と、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定する判定手段と、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、前記第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御する制御手段と
を含むことを特徴とする画像形成装置。
【請求項１０】
光学走査装置を搭載する画像形成装置の制御方法であって、
前記光学走査装置の個体ごとの特性に関するユニットデータを記憶する、前記光学走査装置が備える第１の記憶手段から前記ユニットデータを読み出すステップと、
読み出された前記ユニットデータを、前記画像形成装置が備える第２の記憶手段に書き込むステップと、
前記第２の記憶手段に記憶されているユニットデータと、前記第１の記憶手段に記憶されているユニットデータとが整合しているか否かを判定するステップと、
前記ユニットデータらが整合している場合、前記第２の記憶手段から読み出したユニットデータを用いて前記光学走査装置を制御し、一方で、前記ユニットデータらが整合していない場合、複数の光学走査装置において共通に使用されるデフォルトの設定データを記憶する、前記画像形成装置が備える第３の記憶手段から読み出した設定データを用いて前記光学走査装置を制御するステップと
を含むことを特徴とする制御方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００７−７８８７７（Ｐ２００７−７８８７７Ａ）
【公開日】平成１９年３月２９日（２００７．３．２９）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００５−２６４４２９（Ｐ２００５−２６４４２９）
【出願日】平成１７年９月１２日（２００５．９．１２）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１９年３月２９日（２００７．３．２９）
【国際特許分類】
【出願日】平成１７年９月１２日（２００５．９．１２）
【出願人】（０００００１００７）キヤノン株式会社 (59,756)
【Ｆターム（参考）】
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