試験パターン生成装置、試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置
【課題】試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語に詳しくないユーザでも、試験パターンを容易に作成させる装置を提供する。
【解決手段】複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、を備える試験パターン生成装置を提供する。
【解決手段】複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、を備える試験パターン生成装置を提供する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験パターン生成装置、試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被試験デバイスを試験装置で試験する場合、ユーザは、当該試験装置用のプログラム言語を用いて試験に応じた試験プログラムを作成し、試験プログラムをデバッグしてから試験に用いていた（例えば、特許文献１および２参照）。
特許文献１ 特開２００６−３２３７０６号公報
特許文献２ 特開平１１−１１８８８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、このような試験プログラムの、特に被試験デバイスと通信する試験パターンを作成するには、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語の知識およびプログラミング経験等が求められ、試験パターンを簡単に作成することが困難であった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１の態様においては、複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、を備える試験パターン生成装置、ならびに試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置を提供する。
【０００５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態に係る試験パターン生成装置１００の構成例をシーケンス１０と共に示す。
【図２】本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０がユーザに表示する設定画面２００の構成例を示す。
【図３】本実施形態に係るデバイスサイクル生成部１３０がユーザに表示する設定画面３００の構成例を示す。
【図４】本実施形態に係るシーケンス生成部１５０がユーザに表示する設定画面３６０の構成例を示す。
【図５】本実施形態に係る試験プログラム生成装置４００の構成例を試験プログラム２０と共に示す。
【図６】本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。
【図７】コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る試験パターン生成装置１００の構成例をシーケンス１０と共に示す。試験パターン生成装置１００は、複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する。試験パターン生成装置１００は、プリミティブ生成部１１０と、プリミティブ記憶部１２０と、デバイスサイクル生成部１３０と、デバイスサイクル記憶部１４０と、シーケンス生成部１５０と、を備える。
【０００９】
プリミティブ生成部１１０は、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブ１２２をユーザの指示に基づき生成する。ここで、基本サイクルは、試験装置が被試験デバイスと送受信する信号の１サイクルであり、試験装置が発生できる信号の最小単位であってよい。また、サイクルプリミティブ１２２は、基本サイクル内における信号パターンの構成要素である。
【００１０】
プリミティブ生成部１１０は、サイクルプリミティブ１２２を波形図で生成する。プリミティブ生成部１１０は、信号波形を形成するパラメータをユーザが入力することに応じてサイクルプリミティブ１２２を生成してよい。プリミティブ生成部１１０は、サイクルプリミティブ１２２を、被試験デバイスの端子毎に生成する。また、プリミティブ生成部１１０は、予め信号波形の雛形が記憶され、当該雛形をユーザが呼び出してパラメータを入力または変更することに応じてサイクルプリミティブ１２２を生成してよい。
【００１１】
プリミティブ記憶部１２０は、プリミティブ生成部１１０が生成したサイクルプリミティブ１２２を記憶する。プリミティブ記憶部１２０は、ユーザの入力したパラメータ等をデータファイルとして記憶してよい。プリミティブ記憶部１２０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。また、プリミティブ記憶部１２０は、サイクルプリミティブ１２２の雛形が記憶されてよく、プリミティブ生成部１１０が当該雛形を呼び出してユーザに表示してよい。
【００１２】
デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブ１２２を配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成する。ここで、デバイスサイクルは、被試験デバイスにとって命令または応答等の意味のある信号単位で生成されてよい。デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルを波形図で生成する。
【００１３】
デバイスサイクル記憶部１４０は、デバイスサイクル生成部１３０が生成するデバイスサイクルを記憶する。デバイスサイクル記憶部１４０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１４】
シーケンス生成部１５０は、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンス１０を生成する。シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス１０を表形式で生成する。即ち、シーケンス生成部１５０は、ユーザの指定により、デバイスサイクルを表形式で配列し、当該デバイスサイクルの配列を記述したシーケンス１０を、試験パターンとして出力する。
【００１５】
図２は、本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０がユーザに表示する設定画面２００の構成例を示す。設定画面２００は、端子情報表示部２１０と、波形情報表示部２２０と、ドライバ動作範囲表示部２３０と、ストローブ情報表示部２４０と、波形説明部２５０とを有する。
【００１６】
端子情報表示部２１０は、通信すべき被試験デバイスの端子情報を表示する。端子情報表示部２１０は、端子の名称、正負論理、端子種類、サイクル時間等の端子情報を表示する。端子情報表示部２１０は、これらの端子情報を入力する端子情報入力部においてユーザが入力した結果を表示してよい。この場合、端子情報入力部は、端子情報を入力する画面を表示してユーザに端子情報を入力させてよい。また、端子情報表示部２１０は、表示した領域をユーザが操作することで、端子情報を入力および変更させてよい。
【００１７】
例えば、端子情報表示部２１０は、端子の名称を「Ｄｅｖｉｃｅ Ｐｉｎ」と示した領域に表示する。また、端子情報表示部２１０は、当該端子の正負論理を「Ｐ／Ｎ」と示した領域に、正論理の場合は「ＰＯＳＩＴＩＶＥ」、負論理の場合は「ＮＥＧＡＴＩＶＥ」と表示する。
【００１８】
また、端子情報表示部２１０は、端子の種類を「ｔｙｐｅ」と示した領域に、当該端子が入出力端子の場合は「ＩＯ」、ドライバ端子の場合は「ＩＮ」、高電圧ドライバ端子の場合は「ＩＮＨ」、コンパレータ端子の場合は「ＯＵＴ」と表示する。ここで、入出力端子は、パターン信号を入力および出力する端子であり、ドライバ端子は、パターン信号を入力する端子であり、コンパレータ端子は応答信号を出力する端子である。
【００１９】
また、端子情報表示部２１０は、サイクルプリミティブ１２２の１サイクルの時間を「Ｒａｔｅ」と示した領域に表示してよい。本図において、ユーザが、被試験デバイスの「ＣＬＥ」端子に、正論理で、ドライバ端子とした１サイクル３００ｎｓのサイクルプリミティブ１２２を生成する例を示す。
【００２０】
波形情報表示部２２０は、生成するサイクルプリミティブ１２２の波形情報をユーザの入力に応じて表示する。波形情報表示部２２０は、サイクルプリミティブ１２２の波形モード、データ、タイミング値等の情報を表示する。波形情報表示部２２０は、表示した領域をユーザが操作することで、波形情報を入力および変更させてよい。
【００２１】
例えば、波形情報表示部２２０は、波形モードを「Ｗａｖｅ Ｆｏｒｍ」と示した領域に表示する。ここで、波形情報表示部２２０は、波形モードとして、ＮＲＺ波形、反転ＮＲＺ波形、ＲＺ波形、反転ＲＺ波形、ハイ信号、ロー信号、またはオープン等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。本図において、ユーザがＮＲＺ波形を選択入力したことに応じて、波形情報表示部２２０は、ＮＲＺ波形を示すアイコンを表示する例を示す。
【００２２】
また、波形情報表示部２２０は、波形のデータ値を「Ｄａｔａ」と示した領域に、「１」または「０」と表示する。また、波形情報表示部２２０は、波形の第１のタイミング値を「ｅ１」と示した領域に表示する。また、波形情報表示部２２０は、波形の第２のタイミング値を「ｅ２」と示した領域に表示する。波形情報表示部２２０は、第１のタイミング値を波形の立ち上がりタイミング値とし、第２のタイミング値を波形の立ち下がりタイミング値としてユーザに入力させてよい。
【００２３】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、生成するパターン信号のうち、被試験デバイスに入力させるドライバ信号として動作する範囲の波形情報を、ユーザの入力に応じて表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、サイクルプリミティブ１２２の波形モード、タイミング値等の波形情報を表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、表示した領域をユーザが操作することで、波形情報を入力および変更させてよい。
【００２４】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、端子情報表示部２１０の「ｔｙｐｅ」領域が「ＩＯ」と表示されて、被試験デバイスの入出力端子と通信する場合にユーザ入力が有効となる。試験パターン生成装置１００は、例えば、ドライバ動作範囲表示部２３０の「Ｄｒｉｖｅｒ Ｅｎａｂｌｅ」と示した領域のチェックボックスにユーザがチェックしたことに応じて、ユーザが入力した波形をドライバ信号として生成する。
【００２５】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形モードを「Ｗａｖｅ Ｆｏｒｍ」と示した領域に表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形モードとして、ＮＲＺ波形、ＲＺ波形等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。
【００２６】
また、ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形の第３のタイミング値を「ｄ１」と示した領域に表示する。また、ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形の第４のタイミング値を「ｄ２」と示した領域に表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、第３のタイミング値をドライバ波形の開始タイミング値とし、第２のタイミング値をドライバ波形の終了タイミング値としてユーザに入力させてよい。
【００２７】
ストローブ情報表示部２４０は、被試験デバイスからの出力信号をストローブ信号のタイミングで比較判定を実行する場合のストローブ情報を、ユーザの入力に応じて表示する。ストローブ情報表示部２４０は、期待値、ストローブ信号種類、ストローブ位置等のストローブ情報を表示する。ストローブ情報表示部２４０は、表示した領域をユーザが操作することで、ストローブ情報を入力および変更させてよい。
【００２８】
ストローブ情報表示部２４０は、端子情報表示部２１０の「ｔｙｐｅ」領域が「ＩＯ」または「ＯＵＴ」と表示されて、被試験デバイスの出力端子と通信する場合にユーザ入力が有効となる。試験パターン生成装置１００は、例えば、ストローブ情報表示部２４０の「Ｃｏｎｐａｒｉｓｏｎ Ｅｎａｂｌｅ」と示した領域のチェックボックスにユーザがチェックしたことに応じて、ユーザが入力したストローブ位置で期待値との比較判定をするパターン信号を生成する。
【００２９】
ストローブ情報表示部２４０は、期待値を「Ｅｘｐ」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、期待値として、「１」、「０」、「ハイ」、または「ロー」等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。また、ストローブ情報表示部２４０は、ストローブ信号種類を「Ｔｙｐｅ」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、１つのストローブ信号位置で比較判定するストローブ信号種類として「Ｓｉｎｇｌｅ」、２つのストローブ信号位置の間の範囲で比較判定するストローブ信号種類として「Ｗｉｎｄｏｗ」と表示してユーザに選択させてよい。
【００３０】
また、ストローブ情報表示部２４０は、波形の第５のタイミング値を「ｓ１」と示した領域に表示する。また、ストローブ情報表示部２４０は、波形の第６のタイミング値を「ｓ２」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、第５のタイミング値を「Ｓｉｎｇｌｅ」ストローブのストローブ位置、または「Ｗｉｎｄｏｗ」ストローブの比較判定開始位置とし、第６のタイミング値を「Ｗｉｎｄｏｗ」ストローブの比較判定終了位置としてユーザに入力させてよい。
【００３１】
波形説明部２５０は、波形と、波形を形成するパラメータとの時間的な位置関係を表示する。波形説明部２５０は、おおよその時間的な位置関係を表示して、設定するパラメータと波形との関係をユーザに把握させる。本図において、波形説明部２５０は、第１から第６のタイミング値を、実線または破線による波形の概略図形と共に表示する例を示す。
【００３２】
以上のように、本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０は、被試験デバイスと送受信する信号の１サイクル分の波形の情報を表示し、ユーザの入力に応じてサイクルプリミティブ１２２を生成する。プリミティブ生成部１１０は、ラジオボタン、チェックボックス、スライダー、スピンボタン、リストボックス、ドロップダウンリスト、およびテキストボックス等のグラフィカルユーザインターフェースを用いてユーザ入力させるので、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、サイクルプリミティブ１２２を生成することができる。
【００３３】
図３は、本実施形態に係るデバイスサイクル生成部１３０がユーザに表示する設定画面３００の構成例を示す。設定画面３００は、番号表示部３１０と、名称表示部３２０と、端子名称表示部３３０と、波形表示領域３４０とを有する。
【００３４】
番号表示部３１０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の番号を表示する。番号表示部３１０は、サイクルプリミティブ１２２の信号波形をデバイスサイクルとして通信する順に番号を付して表示してよい。
【００３５】
名称表示部３２０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の名称を表示する。ここで、サイクルプリミティブ１２２の名称は、サイクルプリミティブ１２２に付されたファイル名であってよく、これに代えて、サイクルプリミティブ１２２に付されたラベルであってよい。
【００３６】
端子名称表示部３３０は、被試験デバイスの端子名称を表示する。図中において、端子名称表示部３３０は、被試験デバイスの「ＬＯＯＰ」、「ＡＬＥ」、「ＣＥ＃」、および「ＷＥ＃」端子の４つの端子名称を表示する例を示す。
【００３７】
波形表示領域３４０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の波形図を表示する。本図において、ユーザは「ｃｐ１」、「ｃｐ２」、および「ｃｐ３」の３つのサイクルプリミティブ１２２を順にデバイスサイクルとして配列したことに応じて、当該３つのサイクルプリミティブ１２２の波形図を表示した例を示す。
【００３８】
ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルを波形図で生成中にユーザの指示を受けると、表形式のタイミング表を編集するタイミングエディタを立ち上げ、信号パターンのタイミング値を設定させる。即ち、デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指示に応じて、デバイスサイクルのタイミングの数値を表形式にして表示して編集させるタイミングエディタを立ち上げ、タイミングの数値をユーザに編集させる。これによって、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルの波形を波形図で確認しつつ、タイミングの具体的な数値を直接編集することができる。
【００３９】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクル中にループ処理を含めて生成する。デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指定に応じて、１以上のサイクルプリミティブ１２２を指定回数分ループする処理を含めてよい。ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、番号表示部３１０の番号で、ループ範囲をユーザに指定させてよい。
【００４０】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、比較判定しながら指定回数分ループさせるループ処理をデバイスサイクル中に含めてよい。この場合、デバイスサイクル生成部１３０は、比較判定した結果、期待値と一致した場合の処理および期待値と一致しなかった場合の処理をユーザに指定させてよい。
【００４１】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクル中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、波形表示領域３４０の波形図またはタイミング表にループ変数の名前を表示してよい。この場合、デバイスサイクル生成部１３０は、設定画面３００にループ変数の名前を表示してよい。本図において、波形表示領域３４０は、ループ変数「ＬＰ１」を表示する例を示した。ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、ループ変数「ＬＰ１」をユーザがクリックすることで、ループ処理の詳細を表示させてよい。
【００４２】
このように、デバイスサイクル生成部１３０は、サイクルプリミティブ１２２の波形図を表示させつつ、ユーザにデバイスサイクルを生成させることができる。したがって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、デバイスサイクルを生成することができる。
【００４３】
図４は、本実施形態に係るシーケンス生成部１５０がユーザに表示する設定画面３６０の構成例を示す。設定画面３６０は、シーケンス１０に含まれるデバイスサイクルを表形式で表示する。設定画面３６０は、実行指定列３６２と、番号表示列３６４と、名称表示列３６６とを有する。
【００４４】
実行指定列３６２は、同一の行に表示されたデバイスサイクルを実行するか否かを指定する。実行指定列３６２は、チェックボックスを含み、ユーザが当該チェックボックスにチェックを入れたことに応じて、チェックを入れた行に入力されたデバイスサイクルを実行すべきデバイスサイクルとしてよい。
【００４５】
番号表示列３６４は、行番号を示す列である。番号表示列３６４は、表の第１行から、番号を１から順に割り当ててよい。シーケンス生成部１５０は、当該番号を、デバイスサイクルの信号波形をパターン信号として通信する順の番号としてよい。
【００４６】
名称表示列３６６は、デバイスサイクルの名称を表示する。ここで、デバイスサイクルの名称は、デバイスサイクルに付されたファイル名であってよく、これに代えて、デバイスサイクルに付されたラベルであってよい。
【００４７】
ここで、シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス中にループ処理を含めて生成する。シーケンス生成部１５０は、ユーザの指定に応じて、１以上のデバイスサイクルを指定回数分ループする処理を含めてよい。ここで、シーケンス生成部１５０は、番号表示列３６４に表示された番号で、ループ範囲をユーザに指定させてよい。
【００４８】
また、シーケンス生成部１５０は、比較判定しながら指定回数分ループさせるループ処理をシーケンス中に含めてよい。この場合、シーケンス生成部１５０は、比較判定した結果、期待値と一致した場合の処理および期待値と一致しなかった場合の処理をユーザに指定させてよい。
【００４９】
シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、表形式のシーケンスにループ変数の名前を表示する。この場合、シーケンス生成部１５０は、設定画面３６０にループ情報表示列３６８を設け、ループ変数の名前を表示してよい。本図において、ループ情報表示列３６８は、ループ変数「ｌｏｏｐ＿ｗ＿ｄ」を表示する例を示した。ここで、シーケンス生成部１５０は、ループ変数「ｌｏｏｐ＿ｗ＿ｄ」をユーザがクリックすることで、ループ処理の詳細を表示させてよい。
【００５０】
このように、シーケンス生成部１５０は、ユーザが指定したデバイスサイクルを表形式にした設定画面３６０を表示して、ユーザにシーケンス１０を生成させる。これによって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、試験パターンであるシーケンス１０を生成することができる。
【００５１】
図５は、本実施形態に係る試験プログラム生成装置４００の構成例を試験プログラム２０と共に示す。試験プログラム生成装置４００は、複数の端子を有する被試験デバイスの試験プログラムを生成する。試験プログラム生成装置４００は、図１から図４で説明した試験パターン生成装置１００と、シーケンス保存部４１０と、変数入力部４２０と、パラメータ保存部４３０と、プログラム生成部４４０とを備える。
【００５２】
シーケンス保存部４１０は、試験パターン生成装置１００が生成した試験パターンのシーケンス１０を、試験パターンファイルとして保存する。シーケンス保存部４１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００５３】
変数入力部４２０は、ユーザの指示に基づいて試験パターンのシーケンス１０で用いる変数の値を入力する。変数入力部４２０は、変数として、被試験デバイスに対するアドレス値およびデータ値の元データを入力してよい。また、変数入力部４２０は、変数として、シーケンス１０またはデバイスサイクルが含むループ処理のループ回数を指定する値を入力してよい。
【００５４】
変数入力部４２０は、デバイスサイクル生成部１３０またはシーケンス生成部１５０の設定画面において、ユーザがループ処理の設定を指示したことに応じて呼び出されてよい。変数入力部４２０は、ユーザの指定に応じて変数を入力する。
【００５５】
パラメータ保存部４３０は、変数入力部４２０が入力した変数を、パラメータファイルとして保存する。パラメータ保存部４３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００５６】
プログラム生成部４４０は、ユーザの指示に基づいて試験プログラムに試験パターンファイルおよびパラメータファイルを対応付けて、試験プログラム２０を生成する。プログラム生成部４４０は、実行形式の試験プログラム２０を生成してよい。
【００５７】
プログラム生成部４４０は、ハードウェアモジュールのアルゴリズム、試験条件、および試験フローの情報を有する試験プログラムを予め生成することで、当該試験プログラムに試験パターンを対応づけて試験プログラム２０を生成する。これによって、試験プログラム生成装置４００は、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしにユーザが生成した試験パターンを用いて、試験プログラム２０を生成することができる。
【００５８】
図６は、本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。試験装置５００は、複数の端子を有する被試験デバイス３０を試験する。試験装置５００は、図５で説明した試験プログラム生成装置４００と、試験プログラム記憶部５１０と、試験実行部５２０とを備える。
【００５９】
試験プログラム記憶部５１０は、試験プログラム生成装置４００が生成した試験プログラム２０を記憶する。試験プログラム記憶部５１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６０】
試験実行部５２０は、試験プログラム２０において対応づけられた、試験パターンファイルに指定された試験パターンおよびパラメータファイルに指定された変数の値を用いて当該試験プログラム２０により被試験デバイス３０の試験を実行する。試験実行部５２０は、アナログ回路、デジタル回路、アナログ／デジタル混載回路、メモリ、およびシステム・オン・チップ（ＳＯＣ）等の少なくとも１つの被試験デバイス３０を試験してよい。また、被試験デバイス３０はメモリデバイスであってよい。
【００６１】
試験実行部５２０は、被試験デバイス３０を試験するための試験プログラム２０に基づく試験信号を被試験デバイス３０に入力して、試験信号に応じて被試験デバイス３０が出力する出力信号に基づいて被試験デバイス３０の良否を判定する。このように、試験実行部５２０は、試験パターン生成装置１００でユーザが生成させたシーケンス１０を用いた試験プログラム２０に基づき、試験を実行することができる。
【００６２】
以上の本実施例において、試験実行部５２０は、試験プログラム生成装置４００と共に試験装置５００に備わることを説明した。これに代えて、試験実行部５２０は、試験プログラム生成装置４００の外部に設置される試験装置であってよい。この場合、図中の試験プログラム生成装置４００および試験プログラム記憶部５１０は、個別の試験プログラム生成装置であってよく、当該試験プログラム生成装置と試験装置とは電気的に接続されてよい。ここで、試験プログラム生成装置と試験装置とは、有線および／または無線通信によるネットワークで接続されてよい。
【００６３】
これによって、試験プログラム生成装置は、パーソナル・コンピュータまたはワークステーション等の計算機装置で構築することができ、試験装置とは異なる場所で試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置内で試験プログラムを生成できるので、当該試験プログラムをデバッグするアプリケーションを当該計算機装置内で実行することで、効率的に試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置は、試験結果の評価・解析アプリケーションを実行することで、試験装置が試験を実行中に、ユーザは試験結果の評価および解析作業をすることができる。
【００６４】
図７は、コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、および表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、およびＤＶＤドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部と、を備える。
【００６５】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００およびグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０およびＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００６６】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤドライブ２０６０は、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００６７】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、および／または、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。
【００６８】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５、またはＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００６９】
プログラムは、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験パターン生成装置１００または試験プログラム生成装置４００として機能させる。
【００７０】
プログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である試験パターン生成装置１００または試験プログラム生成装置４００として機能する。そして、この具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算または加工を実現することにより、使用目的に応じた特有のプリミティブ生成部１１０、プリミティブ記憶部１２０、デバイスサイクル生成部１３０、デバイスサイクル記憶部１４０、シーケンス生成部１５０、シーケンス保存部４１０、変数入力部４２０、パラメータ保存部４３０、およびプログラム生成部４４０等が構築される。
【００７１】
一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、またはＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置または通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０または記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。
【００７２】
また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０（ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、および／または記憶装置に含まれるものとする。
【００７３】
また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（または不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。
【００７４】
また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。
【００７５】
以上に示したプログラムまたはモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤまたはＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００７６】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００７７】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００７８】
１０ シーケンス、２０ 試験プログラム、３０ 被試験デバイス、１００ 試験パターン生成装置、１１０ プリミティブ生成部、１２０ プリミティブ記憶部、１２２ サイクルプリミティブ、１３０ デバイスサイクル生成部、１４０ デバイスサイクル記憶部、１５０ シーケンス生成部、２００ 設定画面、２１０ 端子情報表示部、２２０ 波形情報表示部、２３０ ドライバ動作範囲表示部、２４０ ストローブ情報表示部、２５０ 波形説明部、３００ 設定画面、３１０ 番号表示部、３２０ 名称表示部、３３０ 端子名称表示部、３４０ 波形表示領域、３６０ 設定画面、３６２ 実行指定列、３６４ 番号表示列、３６６ 名称表示列、３６８ ループ情報表示列、４００ 試験プログラム生成装置、４１０ シーケンス保存部、４２０ 変数入力部、４３０ パラメータ保存部、４４０ プログラム生成部、５００ 試験装置、５１０ 試験プログラム記憶部、５２０ 試験実行部、１９００ コンピュータ、２０００ ＣＰＵ、２０１０ ＲＯＭ、２０２０ ＲＡＭ、２０３０ 通信インターフェイス、２０４０ ハードディスクドライブ、２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ、２０６０ ＤＶＤドライブ、２０７０ 入出力チップ、２０７５ グラフィック・コントローラ、２０８０ 表示装置、２０８２ ホスト・コントローラ、２０８４ 入出力コントローラ、２０９０ フレキシブルディスク、２０９５ ＤＶＤ−ＲＯＭ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験パターン生成装置、試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被試験デバイスを試験装置で試験する場合、ユーザは、当該試験装置用のプログラム言語を用いて試験に応じた試験プログラムを作成し、試験プログラムをデバッグしてから試験に用いていた（例えば、特許文献１および２参照）。
特許文献１ 特開２００６−３２３７０６号公報
特許文献２ 特開平１１−１１８８８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、このような試験プログラムの、特に被試験デバイスと通信する試験パターンを作成するには、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語の知識およびプログラミング経験等が求められ、試験パターンを簡単に作成することが困難であった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１の態様においては、複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、を備える試験パターン生成装置、ならびに試験プログラム生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置を提供する。
【０００５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態に係る試験パターン生成装置１００の構成例をシーケンス１０と共に示す。
【図２】本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０がユーザに表示する設定画面２００の構成例を示す。
【図３】本実施形態に係るデバイスサイクル生成部１３０がユーザに表示する設定画面３００の構成例を示す。
【図４】本実施形態に係るシーケンス生成部１５０がユーザに表示する設定画面３６０の構成例を示す。
【図５】本実施形態に係る試験プログラム生成装置４００の構成例を試験プログラム２０と共に示す。
【図６】本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。
【図７】コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る試験パターン生成装置１００の構成例をシーケンス１０と共に示す。試験パターン生成装置１００は、複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する。試験パターン生成装置１００は、プリミティブ生成部１１０と、プリミティブ記憶部１２０と、デバイスサイクル生成部１３０と、デバイスサイクル記憶部１４０と、シーケンス生成部１５０と、を備える。
【０００９】
プリミティブ生成部１１０は、基本サイクル中に複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブ１２２をユーザの指示に基づき生成する。ここで、基本サイクルは、試験装置が被試験デバイスと送受信する信号の１サイクルであり、試験装置が発生できる信号の最小単位であってよい。また、サイクルプリミティブ１２２は、基本サイクル内における信号パターンの構成要素である。
【００１０】
プリミティブ生成部１１０は、サイクルプリミティブ１２２を波形図で生成する。プリミティブ生成部１１０は、信号波形を形成するパラメータをユーザが入力することに応じてサイクルプリミティブ１２２を生成してよい。プリミティブ生成部１１０は、サイクルプリミティブ１２２を、被試験デバイスの端子毎に生成する。また、プリミティブ生成部１１０は、予め信号波形の雛形が記憶され、当該雛形をユーザが呼び出してパラメータを入力または変更することに応じてサイクルプリミティブ１２２を生成してよい。
【００１１】
プリミティブ記憶部１２０は、プリミティブ生成部１１０が生成したサイクルプリミティブ１２２を記憶する。プリミティブ記憶部１２０は、ユーザの入力したパラメータ等をデータファイルとして記憶してよい。プリミティブ記憶部１２０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。また、プリミティブ記憶部１２０は、サイクルプリミティブ１２２の雛形が記憶されてよく、プリミティブ生成部１１０が当該雛形を呼び出してユーザに表示してよい。
【００１２】
デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指示に基づき複数のサイクルプリミティブ１２２を配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成する。ここで、デバイスサイクルは、被試験デバイスにとって命令または応答等の意味のある信号単位で生成されてよい。デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルを波形図で生成する。
【００１３】
デバイスサイクル記憶部１４０は、デバイスサイクル生成部１３０が生成するデバイスサイクルを記憶する。デバイスサイクル記憶部１４０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１４】
シーケンス生成部１５０は、ユーザの指示に基づき複数のデバイスサイクルを配列して、被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンス１０を生成する。シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス１０を表形式で生成する。即ち、シーケンス生成部１５０は、ユーザの指定により、デバイスサイクルを表形式で配列し、当該デバイスサイクルの配列を記述したシーケンス１０を、試験パターンとして出力する。
【００１５】
図２は、本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０がユーザに表示する設定画面２００の構成例を示す。設定画面２００は、端子情報表示部２１０と、波形情報表示部２２０と、ドライバ動作範囲表示部２３０と、ストローブ情報表示部２４０と、波形説明部２５０とを有する。
【００１６】
端子情報表示部２１０は、通信すべき被試験デバイスの端子情報を表示する。端子情報表示部２１０は、端子の名称、正負論理、端子種類、サイクル時間等の端子情報を表示する。端子情報表示部２１０は、これらの端子情報を入力する端子情報入力部においてユーザが入力した結果を表示してよい。この場合、端子情報入力部は、端子情報を入力する画面を表示してユーザに端子情報を入力させてよい。また、端子情報表示部２１０は、表示した領域をユーザが操作することで、端子情報を入力および変更させてよい。
【００１７】
例えば、端子情報表示部２１０は、端子の名称を「Ｄｅｖｉｃｅ Ｐｉｎ」と示した領域に表示する。また、端子情報表示部２１０は、当該端子の正負論理を「Ｐ／Ｎ」と示した領域に、正論理の場合は「ＰＯＳＩＴＩＶＥ」、負論理の場合は「ＮＥＧＡＴＩＶＥ」と表示する。
【００１８】
また、端子情報表示部２１０は、端子の種類を「ｔｙｐｅ」と示した領域に、当該端子が入出力端子の場合は「ＩＯ」、ドライバ端子の場合は「ＩＮ」、高電圧ドライバ端子の場合は「ＩＮＨ」、コンパレータ端子の場合は「ＯＵＴ」と表示する。ここで、入出力端子は、パターン信号を入力および出力する端子であり、ドライバ端子は、パターン信号を入力する端子であり、コンパレータ端子は応答信号を出力する端子である。
【００１９】
また、端子情報表示部２１０は、サイクルプリミティブ１２２の１サイクルの時間を「Ｒａｔｅ」と示した領域に表示してよい。本図において、ユーザが、被試験デバイスの「ＣＬＥ」端子に、正論理で、ドライバ端子とした１サイクル３００ｎｓのサイクルプリミティブ１２２を生成する例を示す。
【００２０】
波形情報表示部２２０は、生成するサイクルプリミティブ１２２の波形情報をユーザの入力に応じて表示する。波形情報表示部２２０は、サイクルプリミティブ１２２の波形モード、データ、タイミング値等の情報を表示する。波形情報表示部２２０は、表示した領域をユーザが操作することで、波形情報を入力および変更させてよい。
【００２１】
例えば、波形情報表示部２２０は、波形モードを「Ｗａｖｅ Ｆｏｒｍ」と示した領域に表示する。ここで、波形情報表示部２２０は、波形モードとして、ＮＲＺ波形、反転ＮＲＺ波形、ＲＺ波形、反転ＲＺ波形、ハイ信号、ロー信号、またはオープン等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。本図において、ユーザがＮＲＺ波形を選択入力したことに応じて、波形情報表示部２２０は、ＮＲＺ波形を示すアイコンを表示する例を示す。
【００２２】
また、波形情報表示部２２０は、波形のデータ値を「Ｄａｔａ」と示した領域に、「１」または「０」と表示する。また、波形情報表示部２２０は、波形の第１のタイミング値を「ｅ１」と示した領域に表示する。また、波形情報表示部２２０は、波形の第２のタイミング値を「ｅ２」と示した領域に表示する。波形情報表示部２２０は、第１のタイミング値を波形の立ち上がりタイミング値とし、第２のタイミング値を波形の立ち下がりタイミング値としてユーザに入力させてよい。
【００２３】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、生成するパターン信号のうち、被試験デバイスに入力させるドライバ信号として動作する範囲の波形情報を、ユーザの入力に応じて表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、サイクルプリミティブ１２２の波形モード、タイミング値等の波形情報を表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、表示した領域をユーザが操作することで、波形情報を入力および変更させてよい。
【００２４】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、端子情報表示部２１０の「ｔｙｐｅ」領域が「ＩＯ」と表示されて、被試験デバイスの入出力端子と通信する場合にユーザ入力が有効となる。試験パターン生成装置１００は、例えば、ドライバ動作範囲表示部２３０の「Ｄｒｉｖｅｒ Ｅｎａｂｌｅ」と示した領域のチェックボックスにユーザがチェックしたことに応じて、ユーザが入力した波形をドライバ信号として生成する。
【００２５】
ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形モードを「Ｗａｖｅ Ｆｏｒｍ」と示した領域に表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形モードとして、ＮＲＺ波形、ＲＺ波形等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。
【００２６】
また、ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形の第３のタイミング値を「ｄ１」と示した領域に表示する。また、ドライバ動作範囲表示部２３０は、波形の第４のタイミング値を「ｄ２」と示した領域に表示する。ドライバ動作範囲表示部２３０は、第３のタイミング値をドライバ波形の開始タイミング値とし、第２のタイミング値をドライバ波形の終了タイミング値としてユーザに入力させてよい。
【００２７】
ストローブ情報表示部２４０は、被試験デバイスからの出力信号をストローブ信号のタイミングで比較判定を実行する場合のストローブ情報を、ユーザの入力に応じて表示する。ストローブ情報表示部２４０は、期待値、ストローブ信号種類、ストローブ位置等のストローブ情報を表示する。ストローブ情報表示部２４０は、表示した領域をユーザが操作することで、ストローブ情報を入力および変更させてよい。
【００２８】
ストローブ情報表示部２４０は、端子情報表示部２１０の「ｔｙｐｅ」領域が「ＩＯ」または「ＯＵＴ」と表示されて、被試験デバイスの出力端子と通信する場合にユーザ入力が有効となる。試験パターン生成装置１００は、例えば、ストローブ情報表示部２４０の「Ｃｏｎｐａｒｉｓｏｎ Ｅｎａｂｌｅ」と示した領域のチェックボックスにユーザがチェックしたことに応じて、ユーザが入力したストローブ位置で期待値との比較判定をするパターン信号を生成する。
【００２９】
ストローブ情報表示部２４０は、期待値を「Ｅｘｐ」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、期待値として、「１」、「０」、「ハイ」、または「ロー」等を文字またはアイコン等で表示してユーザに選択させてよい。また、ストローブ情報表示部２４０は、ストローブ信号種類を「Ｔｙｐｅ」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、１つのストローブ信号位置で比較判定するストローブ信号種類として「Ｓｉｎｇｌｅ」、２つのストローブ信号位置の間の範囲で比較判定するストローブ信号種類として「Ｗｉｎｄｏｗ」と表示してユーザに選択させてよい。
【００３０】
また、ストローブ情報表示部２４０は、波形の第５のタイミング値を「ｓ１」と示した領域に表示する。また、ストローブ情報表示部２４０は、波形の第６のタイミング値を「ｓ２」と示した領域に表示する。ストローブ情報表示部２４０は、第５のタイミング値を「Ｓｉｎｇｌｅ」ストローブのストローブ位置、または「Ｗｉｎｄｏｗ」ストローブの比較判定開始位置とし、第６のタイミング値を「Ｗｉｎｄｏｗ」ストローブの比較判定終了位置としてユーザに入力させてよい。
【００３１】
波形説明部２５０は、波形と、波形を形成するパラメータとの時間的な位置関係を表示する。波形説明部２５０は、おおよその時間的な位置関係を表示して、設定するパラメータと波形との関係をユーザに把握させる。本図において、波形説明部２５０は、第１から第６のタイミング値を、実線または破線による波形の概略図形と共に表示する例を示す。
【００３２】
以上のように、本実施形態に係るプリミティブ生成部１１０は、被試験デバイスと送受信する信号の１サイクル分の波形の情報を表示し、ユーザの入力に応じてサイクルプリミティブ１２２を生成する。プリミティブ生成部１１０は、ラジオボタン、チェックボックス、スライダー、スピンボタン、リストボックス、ドロップダウンリスト、およびテキストボックス等のグラフィカルユーザインターフェースを用いてユーザ入力させるので、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、サイクルプリミティブ１２２を生成することができる。
【００３３】
図３は、本実施形態に係るデバイスサイクル生成部１３０がユーザに表示する設定画面３００の構成例を示す。設定画面３００は、番号表示部３１０と、名称表示部３２０と、端子名称表示部３３０と、波形表示領域３４０とを有する。
【００３４】
番号表示部３１０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の番号を表示する。番号表示部３１０は、サイクルプリミティブ１２２の信号波形をデバイスサイクルとして通信する順に番号を付して表示してよい。
【００３５】
名称表示部３２０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の名称を表示する。ここで、サイクルプリミティブ１２２の名称は、サイクルプリミティブ１２２に付されたファイル名であってよく、これに代えて、サイクルプリミティブ１２２に付されたラベルであってよい。
【００３６】
端子名称表示部３３０は、被試験デバイスの端子名称を表示する。図中において、端子名称表示部３３０は、被試験デバイスの「ＬＯＯＰ」、「ＡＬＥ」、「ＣＥ＃」、および「ＷＥ＃」端子の４つの端子名称を表示する例を示す。
【００３７】
波形表示領域３４０は、配列したサイクルプリミティブ１２２の波形図を表示する。本図において、ユーザは「ｃｐ１」、「ｃｐ２」、および「ｃｐ３」の３つのサイクルプリミティブ１２２を順にデバイスサイクルとして配列したことに応じて、当該３つのサイクルプリミティブ１２２の波形図を表示した例を示す。
【００３８】
ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルを波形図で生成中にユーザの指示を受けると、表形式のタイミング表を編集するタイミングエディタを立ち上げ、信号パターンのタイミング値を設定させる。即ち、デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指示に応じて、デバイスサイクルのタイミングの数値を表形式にして表示して編集させるタイミングエディタを立ち上げ、タイミングの数値をユーザに編集させる。これによって、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクルの波形を波形図で確認しつつ、タイミングの具体的な数値を直接編集することができる。
【００３９】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクル中にループ処理を含めて生成する。デバイスサイクル生成部１３０は、ユーザの指定に応じて、１以上のサイクルプリミティブ１２２を指定回数分ループする処理を含めてよい。ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、番号表示部３１０の番号で、ループ範囲をユーザに指定させてよい。
【００４０】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、比較判定しながら指定回数分ループさせるループ処理をデバイスサイクル中に含めてよい。この場合、デバイスサイクル生成部１３０は、比較判定した結果、期待値と一致した場合の処理および期待値と一致しなかった場合の処理をユーザに指定させてよい。
【００４１】
また、デバイスサイクル生成部１３０は、デバイスサイクル中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、波形表示領域３４０の波形図またはタイミング表にループ変数の名前を表示してよい。この場合、デバイスサイクル生成部１３０は、設定画面３００にループ変数の名前を表示してよい。本図において、波形表示領域３４０は、ループ変数「ＬＰ１」を表示する例を示した。ここで、デバイスサイクル生成部１３０は、ループ変数「ＬＰ１」をユーザがクリックすることで、ループ処理の詳細を表示させてよい。
【００４２】
このように、デバイスサイクル生成部１３０は、サイクルプリミティブ１２２の波形図を表示させつつ、ユーザにデバイスサイクルを生成させることができる。したがって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、デバイスサイクルを生成することができる。
【００４３】
図４は、本実施形態に係るシーケンス生成部１５０がユーザに表示する設定画面３６０の構成例を示す。設定画面３６０は、シーケンス１０に含まれるデバイスサイクルを表形式で表示する。設定画面３６０は、実行指定列３６２と、番号表示列３６４と、名称表示列３６６とを有する。
【００４４】
実行指定列３６２は、同一の行に表示されたデバイスサイクルを実行するか否かを指定する。実行指定列３６２は、チェックボックスを含み、ユーザが当該チェックボックスにチェックを入れたことに応じて、チェックを入れた行に入力されたデバイスサイクルを実行すべきデバイスサイクルとしてよい。
【００４５】
番号表示列３６４は、行番号を示す列である。番号表示列３６４は、表の第１行から、番号を１から順に割り当ててよい。シーケンス生成部１５０は、当該番号を、デバイスサイクルの信号波形をパターン信号として通信する順の番号としてよい。
【００４６】
名称表示列３６６は、デバイスサイクルの名称を表示する。ここで、デバイスサイクルの名称は、デバイスサイクルに付されたファイル名であってよく、これに代えて、デバイスサイクルに付されたラベルであってよい。
【００４７】
ここで、シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス中にループ処理を含めて生成する。シーケンス生成部１５０は、ユーザの指定に応じて、１以上のデバイスサイクルを指定回数分ループする処理を含めてよい。ここで、シーケンス生成部１５０は、番号表示列３６４に表示された番号で、ループ範囲をユーザに指定させてよい。
【００４８】
また、シーケンス生成部１５０は、比較判定しながら指定回数分ループさせるループ処理をシーケンス中に含めてよい。この場合、シーケンス生成部１５０は、比較判定した結果、期待値と一致した場合の処理および期待値と一致しなかった場合の処理をユーザに指定させてよい。
【００４９】
シーケンス生成部１５０は、試験パターンのシーケンス中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、表形式のシーケンスにループ変数の名前を表示する。この場合、シーケンス生成部１５０は、設定画面３６０にループ情報表示列３６８を設け、ループ変数の名前を表示してよい。本図において、ループ情報表示列３６８は、ループ変数「ｌｏｏｐ＿ｗ＿ｄ」を表示する例を示した。ここで、シーケンス生成部１５０は、ループ変数「ｌｏｏｐ＿ｗ＿ｄ」をユーザがクリックすることで、ループ処理の詳細を表示させてよい。
【００５０】
このように、シーケンス生成部１５０は、ユーザが指定したデバイスサイクルを表形式にした設定画面３６０を表示して、ユーザにシーケンス１０を生成させる。これによって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、試験パターンであるシーケンス１０を生成することができる。
【００５１】
図５は、本実施形態に係る試験プログラム生成装置４００の構成例を試験プログラム２０と共に示す。試験プログラム生成装置４００は、複数の端子を有する被試験デバイスの試験プログラムを生成する。試験プログラム生成装置４００は、図１から図４で説明した試験パターン生成装置１００と、シーケンス保存部４１０と、変数入力部４２０と、パラメータ保存部４３０と、プログラム生成部４４０とを備える。
【００５２】
シーケンス保存部４１０は、試験パターン生成装置１００が生成した試験パターンのシーケンス１０を、試験パターンファイルとして保存する。シーケンス保存部４１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００５３】
変数入力部４２０は、ユーザの指示に基づいて試験パターンのシーケンス１０で用いる変数の値を入力する。変数入力部４２０は、変数として、被試験デバイスに対するアドレス値およびデータ値の元データを入力してよい。また、変数入力部４２０は、変数として、シーケンス１０またはデバイスサイクルが含むループ処理のループ回数を指定する値を入力してよい。
【００５４】
変数入力部４２０は、デバイスサイクル生成部１３０またはシーケンス生成部１５０の設定画面において、ユーザがループ処理の設定を指示したことに応じて呼び出されてよい。変数入力部４２０は、ユーザの指定に応じて変数を入力する。
【００５５】
パラメータ保存部４３０は、変数入力部４２０が入力した変数を、パラメータファイルとして保存する。パラメータ保存部４３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００５６】
プログラム生成部４４０は、ユーザの指示に基づいて試験プログラムに試験パターンファイルおよびパラメータファイルを対応付けて、試験プログラム２０を生成する。プログラム生成部４４０は、実行形式の試験プログラム２０を生成してよい。
【００５７】
プログラム生成部４４０は、ハードウェアモジュールのアルゴリズム、試験条件、および試験フローの情報を有する試験プログラムを予め生成することで、当該試験プログラムに試験パターンを対応づけて試験プログラム２０を生成する。これによって、試験プログラム生成装置４００は、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしにユーザが生成した試験パターンを用いて、試験プログラム２０を生成することができる。
【００５８】
図６は、本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。試験装置５００は、複数の端子を有する被試験デバイス３０を試験する。試験装置５００は、図５で説明した試験プログラム生成装置４００と、試験プログラム記憶部５１０と、試験実行部５２０とを備える。
【００５９】
試験プログラム記憶部５１０は、試験プログラム生成装置４００が生成した試験プログラム２０を記憶する。試験プログラム記憶部５１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６０】
試験実行部５２０は、試験プログラム２０において対応づけられた、試験パターンファイルに指定された試験パターンおよびパラメータファイルに指定された変数の値を用いて当該試験プログラム２０により被試験デバイス３０の試験を実行する。試験実行部５２０は、アナログ回路、デジタル回路、アナログ／デジタル混載回路、メモリ、およびシステム・オン・チップ（ＳＯＣ）等の少なくとも１つの被試験デバイス３０を試験してよい。また、被試験デバイス３０はメモリデバイスであってよい。
【００６１】
試験実行部５２０は、被試験デバイス３０を試験するための試験プログラム２０に基づく試験信号を被試験デバイス３０に入力して、試験信号に応じて被試験デバイス３０が出力する出力信号に基づいて被試験デバイス３０の良否を判定する。このように、試験実行部５２０は、試験パターン生成装置１００でユーザが生成させたシーケンス１０を用いた試験プログラム２０に基づき、試験を実行することができる。
【００６２】
以上の本実施例において、試験実行部５２０は、試験プログラム生成装置４００と共に試験装置５００に備わることを説明した。これに代えて、試験実行部５２０は、試験プログラム生成装置４００の外部に設置される試験装置であってよい。この場合、図中の試験プログラム生成装置４００および試験プログラム記憶部５１０は、個別の試験プログラム生成装置であってよく、当該試験プログラム生成装置と試験装置とは電気的に接続されてよい。ここで、試験プログラム生成装置と試験装置とは、有線および／または無線通信によるネットワークで接続されてよい。
【００６３】
これによって、試験プログラム生成装置は、パーソナル・コンピュータまたはワークステーション等の計算機装置で構築することができ、試験装置とは異なる場所で試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置内で試験プログラムを生成できるので、当該試験プログラムをデバッグするアプリケーションを当該計算機装置内で実行することで、効率的に試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置は、試験結果の評価・解析アプリケーションを実行することで、試験装置が試験を実行中に、ユーザは試験結果の評価および解析作業をすることができる。
【００６４】
図７は、コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、および表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、およびＤＶＤドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部と、を備える。
【００６５】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００およびグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０およびＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００６６】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤドライブ２０６０は、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００６７】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、および／または、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。
【００６８】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５、またはＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００６９】
プログラムは、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験パターン生成装置１００または試験プログラム生成装置４００として機能させる。
【００７０】
プログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である試験パターン生成装置１００または試験プログラム生成装置４００として機能する。そして、この具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算または加工を実現することにより、使用目的に応じた特有のプリミティブ生成部１１０、プリミティブ記憶部１２０、デバイスサイクル生成部１３０、デバイスサイクル記憶部１４０、シーケンス生成部１５０、シーケンス保存部４１０、変数入力部４２０、パラメータ保存部４３０、およびプログラム生成部４４０等が構築される。
【００７１】
一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、またはＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置または通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０または記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。
【００７２】
また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０（ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、および／または記憶装置に含まれるものとする。
【００７３】
また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（または不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。
【００７４】
また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。
【００７５】
以上に示したプログラムまたはモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤまたはＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００７６】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００７７】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００７８】
１０ シーケンス、２０ 試験プログラム、３０ 被試験デバイス、１００ 試験パターン生成装置、１１０ プリミティブ生成部、１２０ プリミティブ記憶部、１２２ サイクルプリミティブ、１３０ デバイスサイクル生成部、１４０ デバイスサイクル記憶部、１５０ シーケンス生成部、２００ 設定画面、２１０ 端子情報表示部、２２０ 波形情報表示部、２３０ ドライバ動作範囲表示部、２４０ ストローブ情報表示部、２５０ 波形説明部、３００ 設定画面、３１０ 番号表示部、３２０ 名称表示部、３３０ 端子名称表示部、３４０ 波形表示領域、３６０ 設定画面、３６２ 実行指定列、３６４ 番号表示列、３６６ 名称表示列、３６８ ループ情報表示列、４００ 試験プログラム生成装置、４１０ シーケンス保存部、４２０ 変数入力部、４３０ パラメータ保存部、４４０ プログラム生成部、５００ 試験装置、５１０ 試験プログラム記憶部、５２０ 試験実行部、１９００ コンピュータ、２０００ ＣＰＵ、２０１０ ＲＯＭ、２０２０ ＲＡＭ、２０３０ 通信インターフェイス、２０４０ ハードディスクドライブ、２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ、２０６０ ＤＶＤドライブ、２０７０ 入出力チップ、２０７５ グラフィック・コントローラ、２０８０ 表示装置、２０８２ ホスト・コントローラ、２０８４ 入出力コントローラ、２０９０ フレキシブルディスク、２０９５ ＤＶＤ−ＲＯＭ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
基本サイクル中に前記複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、
ユーザの指示に基づき複数の前記サイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、
ユーザの指示に基づき複数の前記デバイスサイクルを配列して、前記被試験デバイスに供給する前記試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、
を備える試験パターン生成装置。
【請求項２】
前記プリミティブ生成部は、前記サイクルプリミティブを波形図で生成し、
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンスを表形式で生成する請求項１に記載の試験パターン生成装置。
【請求項３】
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンス中にループ処理を含めて生成する請求項２に記載の試験パターン生成装置。
【請求項４】
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンス中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、前記表形式のシーケンスにループ変数の名前を表示する請求項３に記載の試験パターン生成装置。
【請求項５】
前記デバイスサイクル生成部は、前記デバイスサイクルを波形図で生成する請求項１から４のいずれか一項に記載の試験パターン生成装置。
【請求項６】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクルを波形図で生成中にユーザの指示を受けると、表形式のタイミング表を編集するタイミングエディタを立ち上げ前記信号パターンのタイミング値を設定させる請求項５に記載の試験パターン生成装置。
【請求項７】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクル中にループ処理を含めて生成する請求項６に記載の試験パターン生成装置。
【請求項８】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクル中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、前記波形図または前記タイミング表にループ変数の名前を表示する請求項７に記載の試験パターン生成装置。
【請求項９】
複数の端子を有する前記被試験デバイスの試験プログラムを生成する試験プログラム生成装置であって、
請求項１から８のいずれか一項に記載の試験パターン生成装置と、
前記試験パターン生成装置が生成した前記試験パターンのシーケンスを、試験パターンファイルとして保存するシーケンス保存部と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンのシーケンスで用いる変数の値を入力する変数入力部と、
入力した前記変数を、パラメータファイルとして保存するパラメータ保存部と、
ユーザの指示に基づいて前記試験プログラムに前記試験パターンファイルおよび前記パラメータファイルを対応付けて、前記試験プログラムを生成するプログラム生成部と、
を備える試験プログラム生成装置。
【請求項１０】
前記プログラム生成部は、実行形式の前記試験プログラムを生成する請求項９に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１１】
前記被試験デバイスはメモリデバイスである請求項９または１０に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１２】
前記変数入力部は、変数として、前記メモリデバイスに対するアドレス値およびデータ値の元データを入力する請求項１１に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１３】
前記変数入力部は、変数として、前記シーケンスまたは前記デバイスサイクルが含むループ処理のループ回数を指定する値を入力する請求項９から１２のいずれか一項に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１４】
複数の端子を有する被試験デバイスの試験を実行させる試験プログラムを生成する生成方法であって、
基本サイクル中に前記複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成段階と、
ユーザの指示に基づき複数の前記サイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成段階と、
ユーザの指示に基づき複数の前記デバイスサイクルを配列して、前記被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成段階と、
前記試験パターンのシーケンスを、試験パターンファイルとして保存するシーケンス保存段階と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンのシーケンスで用いる変数の値を入力する変数入力段階と、
入力した前記変数を、パラメータファイルとして保存するパラメータ保存段階と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンファイルおよび前記パラメータファイルを対応付けて、前記試験プログラムを生成するプログラム生成段階と、
を備える生成方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の生成方法を、コンピュータにより実行させるプログラム。
【請求項１６】
複数の端子を有する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項９から１３のいずれか一項に記載の試験プログラム生成装置と、
前記試験プログラム生成装置が生成した前記試験プログラムを記憶する試験プログラム記憶部と、
前記試験プログラムにおいて対応づけられた、前記試験パターンファイルに指定された前記試験パターンおよび前記パラメータファイルに指定された前記変数の値を用いて当該試験プログラムにより被試験デバイスの試験を実行させる試験実行部と、
を備える試験装置。
【請求項１】
複数の端子を有する被試験デバイスとの間で通信する試験パターンを生成する試験パターン生成装置であって、
基本サイクル中に前記複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成部と、
ユーザの指示に基づき複数の前記サイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成部と、
ユーザの指示に基づき複数の前記デバイスサイクルを配列して、前記被試験デバイスに供給する前記試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成部と、
を備える試験パターン生成装置。
【請求項２】
前記プリミティブ生成部は、前記サイクルプリミティブを波形図で生成し、
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンスを表形式で生成する請求項１に記載の試験パターン生成装置。
【請求項３】
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンス中にループ処理を含めて生成する請求項２に記載の試験パターン生成装置。
【請求項４】
前記シーケンス生成部は、前記試験パターンのシーケンス中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、前記表形式のシーケンスにループ変数の名前を表示する請求項３に記載の試験パターン生成装置。
【請求項５】
前記デバイスサイクル生成部は、前記デバイスサイクルを波形図で生成する請求項１から４のいずれか一項に記載の試験パターン生成装置。
【請求項６】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクルを波形図で生成中にユーザの指示を受けると、表形式のタイミング表を編集するタイミングエディタを立ち上げ前記信号パターンのタイミング値を設定させる請求項５に記載の試験パターン生成装置。
【請求項７】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクル中にループ処理を含めて生成する請求項６に記載の試験パターン生成装置。
【請求項８】
前記デバイスサイクル生成部は、デバイスサイクル中にループ処理を含める場合に、ユーザがループ変数を指定することに応じて、前記波形図または前記タイミング表にループ変数の名前を表示する請求項７に記載の試験パターン生成装置。
【請求項９】
複数の端子を有する前記被試験デバイスの試験プログラムを生成する試験プログラム生成装置であって、
請求項１から８のいずれか一項に記載の試験パターン生成装置と、
前記試験パターン生成装置が生成した前記試験パターンのシーケンスを、試験パターンファイルとして保存するシーケンス保存部と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンのシーケンスで用いる変数の値を入力する変数入力部と、
入力した前記変数を、パラメータファイルとして保存するパラメータ保存部と、
ユーザの指示に基づいて前記試験プログラムに前記試験パターンファイルおよび前記パラメータファイルを対応付けて、前記試験プログラムを生成するプログラム生成部と、
を備える試験プログラム生成装置。
【請求項１０】
前記プログラム生成部は、実行形式の前記試験プログラムを生成する請求項９に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１１】
前記被試験デバイスはメモリデバイスである請求項９または１０に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１２】
前記変数入力部は、変数として、前記メモリデバイスに対するアドレス値およびデータ値の元データを入力する請求項１１に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１３】
前記変数入力部は、変数として、前記シーケンスまたは前記デバイスサイクルが含むループ処理のループ回数を指定する値を入力する請求項９から１２のいずれか一項に記載の試験プログラム生成装置。
【請求項１４】
複数の端子を有する被試験デバイスの試験を実行させる試験プログラムを生成する生成方法であって、
基本サイクル中に前記複数の端子のそれぞれとの間で通信する信号パターンを示すサイクルプリミティブをユーザの指示に基づき生成するプリミティブ生成段階と、
ユーザの指示に基づき複数の前記サイクルプリミティブを配列して、複数の基本サイクル分の信号パターンを示すデバイスサイクルを生成するデバイスサイクル生成段階と、
ユーザの指示に基づき複数の前記デバイスサイクルを配列して、前記被試験デバイスに供給する試験パターンのシーケンスを生成するシーケンス生成段階と、
前記試験パターンのシーケンスを、試験パターンファイルとして保存するシーケンス保存段階と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンのシーケンスで用いる変数の値を入力する変数入力段階と、
入力した前記変数を、パラメータファイルとして保存するパラメータ保存段階と、
ユーザの指示に基づいて前記試験パターンファイルおよび前記パラメータファイルを対応付けて、前記試験プログラムを生成するプログラム生成段階と、
を備える生成方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の生成方法を、コンピュータにより実行させるプログラム。
【請求項１６】
複数の端子を有する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項９から１３のいずれか一項に記載の試験プログラム生成装置と、
前記試験プログラム生成装置が生成した前記試験プログラムを記憶する試験プログラム記憶部と、
前記試験プログラムにおいて対応づけられた、前記試験パターンファイルに指定された前記試験パターンおよび前記パラメータファイルに指定された前記変数の値を用いて当該試験プログラムにより被試験デバイスの試験を実行させる試験実行部と、
を備える試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１３−１１３６６５（Ｐ２０１３−１１３６６５Ａ）
【公開日】平成２５年６月１０日（２０１３．６．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２５８９１６（Ｐ２０１１−２５８９１６）
【出願日】平成２３年１１月２８日（２０１１．１１．２８）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年６月１０日（２０１３．６．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１１月２８日（２０１１．１１．２８）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]