説明

2電極アーク溶接方法および2電極アーク溶接システム

【課題】 溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことのできる、2電極アーク溶接方法および2電極アーク溶接システムを提供すること。
【解決手段】 母材Wと消耗電極15との間にミグアークa1を発生させ((s−1)〜(s−3))、ミグアークa1をパイロットアークとして、母材Wと消耗電極15を囲む非消耗電極との間にプラズマアークa2を発生させ(s−4)、プラズマアークa2を発生させた後に、消耗電極15と母材Wとの間に流れるミグ電流をミグ予熱値で流しつつ、ミグアークa1およびプラズマアークa2のいずれもが発生している状態を継続させ(s−5)、上記ミグ電流の値を上記ミグ予熱値から上昇させ、消耗電極15から母材Wへの溶滴移行を開始する(s−6)、各工程を備える。このような構成によれば、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことができる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、2電極アーク溶接方法および2電極アーク溶接システムに関する。
【背景技術】
【0002】
従来から、消耗電極と非消耗電極とを保持する溶接トーチを用いることにより、消耗電極アークと非消耗電極アークとを発生させながら溶接を行う2電極アーク溶接方法が提案されている(たとえば特許文献1参照)。従来の方法においては、まず、消耗電極と母材との間にミグアークを発生させる。次に、このミグアークをパイロットアークとして、非消耗電極と母材との間にプラズマアークを発生させる。次に、ミグアークを消弧し、プラズマアークのみが発生している状態を継続する。これにより、プラズマアークによって母材を加熱する。次に、一定期間のあいだプラズマアークのみが発生している状態を継続したのち、消耗電極と母材との間にミグアークを再発生させる。ミグアークが発生すると、ミグアークおよびプラズマアークのいずれもが発生した状態を継続させつつ、消耗電極から母材へと溶滴を移行させる。
【0003】
このような溶接方法ではミグアークの再発生時には、消耗電極は、プラズマアークによって加熱された状態であるため比較的軟らかい。消耗電極が軟らかいと、消耗電極と母材とが接触したときに、消耗電極先端が曲がるために消耗電極と母材との接触面積が大きくなる。接触面積が大きくなると、接触している消耗電極を十分に溶融してアークを再発生させることができない場合が生じる。そうすると、ミグアークの再発生に失敗する確率が高くなる。また、ミグアークを再発生できた場合であっても、ミグアークを再発生する際にスパッタが発生するおそれがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2009−72802号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことのできる、2電極アーク溶接方法および2電極アーク溶接システムを提供することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の第1の側面によって提供される2電極アーク溶接方法は、母材と消耗電極との間にミグアークを発生させる工程と、上記ミグアークをパイロットアークとして、上記母材と上記消耗電極を囲む非消耗電極との間にプラズマアークを発生させる工程と、上記プラズマアークを発生させた後に、上記消耗電極と上記母材との間に流れるミグ電流をミグ予熱値で流しつつ、上記ミグアークおよび上記プラズマアークのいずれもが発生している状態を継続させる工程と、上記ミグ電流の値を上記ミグ予熱値から上昇させ、上記消耗電極から上記母材への溶滴移行を開始する工程と、を備える。
【0007】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記プラズマアークが発生した時刻から経過した時間を計測する工程を更に備え、上記溶滴移行を開始する工程は、上記経過した時間が設定時間を超えたときに行う。
【0008】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記消耗電極と上記母材との間のミグ電圧の値を検出する工程を更に備え、上記溶滴移行を開始する工程は、上記プラズマアークが発生したのちに上記ミグ電圧の値が設定電圧値より小さくなったときに行う。
【0009】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記プラズマアークが発生した時刻から経過した時間を計測する工程と、上記消耗電極と上記母材との間のミグ電圧の値を検出する工程とを更に備え、上記溶滴移行を開始する工程は、上記経過した時間が設定時間を超えた時、および、上記ミグ電圧の値が設定電圧値より小さくなった時の、いずれか早くが到来したときに行う。
【0010】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記溶滴移行を開始する工程の後に、上記非消耗電極から上記母材へ流れるプラズマ電流をプラズマ定常値で流しつつ、上記消耗電極から上記母材へと溶滴を移行させる工程を更に備え、上記発生している状態を継続させる工程においては、上記プラズマ電流を上記プラズマ定常値より大きいプラズマ予熱値で流す。
【0011】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記発生している状態を継続させる工程の後に、上記母材に沿って上記母材に対し上記消耗電極を相対移動させ始める工程を更に備える。
【0012】
本発明の第2の側面によって提供される2電極アーク溶接システムは、非消耗電極と母材との間にプラズマ電流を流すプラズマ出力回路と、上記非消耗電極と上記母材との間のプラズマアークの発生を検知すると検知信号を送る検知回路と、ミグ予熱値を記憶するミグ予熱値記憶回路と、上記検知信号を受け、上記検知信号を受けた後に溶滴移行開始指示信号を送る溶滴移行開始指示回路と、上記検知信号を受けると、消耗電極と上記母材との間に流れるミグ電流を上記ミグ予熱値で流す予熱期間を開始し、且つ、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記消耗電極から上記母材へ溶滴を移行させる溶滴移行期間を開始するミグ出力回路と、を備える。
【0013】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記溶滴移行開始指示回路は、上記検知信号を受けた時刻から経過した時間を計測する時間計測回路と、設定時間を記憶する設定時間記憶回路と、上記経過した時間が上記設定時間を超えたときに上記溶滴移行開始指示信号を送る比較回路とを含む。
【0014】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記溶滴移行開始指示回路は、上記消耗電極と上記母材との間に印加されるミグ電圧を検出する電圧検出回路と、設定電圧を記憶する設定電圧記憶回路と、上記検知信号を受けたのちに上記ミグ電圧が上記設定電圧を下回ったときに上記溶滴移行開始指示信号を送る比較回路とを含む。
【0015】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記溶滴移行開始指示回路は、上記検知信号を受けた時刻から経過した時間を計測する時間計測回路と、設定時間を記憶する設定時間記憶回路と、上記経過した時間が上記設定時間を超えたときに時間経過信号を送る第1比較回路と、上記消耗電極と上記母材との間に印加されるミグ電圧を検出する電圧検出回路と、設定電圧を記憶する設定電圧記憶回路と、上記検知信号を受けたのちに上記ミグ電圧が上記設定電圧を下回ったときに電圧低下信号を送る第2比較回路と、上記時間経過信号または上記電圧低下信号を受けると、上記溶滴移行開始指示信号を送る論理和回路とを含む。
【0016】
本発明の好ましい実施の形態においては、プラズマ予熱値を記憶するプラズマ予熱値記憶回路と、プラズマ定常値を記憶するプラズマ定常値記憶回路とを更に備え、上記プラズマ出力回路は、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記プラズマ電流を上記プラズマ定常値で流し、上記溶滴移行開始指示信号を受ける前は、上記プラズマ電流を上記プラズマ予熱値で流す。
【0017】
本発明の好ましい実施の形態においては、上記消耗電極を保持する溶接トーチを含む溶接ロボットと、上記溶接ロボットに動作制御信号を送る動作制御回路とを更に備え、上記動作制御回路は、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記動作制御信号として上記母材に沿って上記母材に対して上記消耗電極を相対移動させる信号を送る。
【0018】
このような構成によれば、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことができる。
【0019】
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】本発明の第1実施形態にかかる2電極アーク溶接システムの一例の構成を示す図である。
【図2】図1の溶接トーチの詳細を示す要部断面図である。
【図3】図1のミグ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【図4】図1のプラズマ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【図5】本発明の第1実施形態にかかる溶接方法における各信号等のタイミングチャートである。
【図6】本発明の第1実施形態にかかる溶接方法におけるミグアークおよびプラズマアークの状態を示す正面図である。
【図7】本発明の第2実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのミグ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【図8】本発明の第3実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのミグ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【図9】本発明の第4実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのプラズマ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【図10】本実施形態にかかる溶接方法における各信号等のタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、本発明の実施の形態につき、図面を参照して具体的に説明する。なお、以下においては、電流値や電圧値は、絶対値の時間平均値であっても、単に、電流値もしくは電圧値などと呼ぶ。
【0022】
図1〜図6を用いて本発明の第1実施形態について説明する。図1は、本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムの一例の構成を示す図である。
【0023】
同図に示す2電極アーク溶接システムA1は、溶接ロボット1と、ロボット制御装置2と、ミグ電源装置3と、プラズマ電源装置4とを備える。溶接ロボット1は、母材Wに対してたとえばアーク溶接を自動で行うものである。溶接ロボット1は、ベース部材11と、複数のアーム12と、複数のモータ13と、溶接トーチ14と、ワイヤ送給装置16と、コイルライナ19とを含む。
【0024】
ベース部材11は、フロア等の適当な箇所に固定される。各アーム12は、ベース部材11に軸を介して連結されている。
【0025】
図2は、図1に示す2電極アーク溶接システムのうち溶接トーチ14の詳細を示す要部断面図である。
【0026】
溶接トーチ14は、コンタクトチップ141と、非消耗電極142と、プラズマノズル143と、シールドガスノズル144とを有する。コンタクトチップ141、非消耗電極142、およびプラズマノズル143は、シールドガスノズル144に収容され、且つ、同心軸上に配置されている。シールドガスノズル144とプラズマノズル143との隙間からは、たとえばArなどのシールドガスGsが供給される。プラズマノズル143と非消耗電極142との隙間には、たとえばArなどのプラズマガスGpが供給される。非消耗電極142とコンタクトチップ141との間には、たとえばArなどのセンターガスGcが供給される。
【0027】
コンタクトチップ141に設けられた貫通孔からは、消耗電極15が送給される。コンタクトチップ141は消耗電極15と導通している。非消耗電極142は、たとえばCuまたはCu合金からなる。非消耗電極142は、図外の経路を通る冷却水によって間接的に水冷されている。非消耗電極142は、溶接時に送給される消耗電極15を囲む形状である。プラズマノズル143は、たとえばCuまたはCu合金からなる。プラズマノズル143は、冷却水を通すチャネルが形成されていることにより、直接水冷されている。
【0028】
モータ13は、移動機構であり、ロボット制御装置2により回転駆動する。この回転駆動により、各アーム12の移動が制御され、消耗電極15と非消耗電極142とを保持する溶接トーチ14が、上下前後左右に自在に移動できる。モータ13には、エンコーダ(図示略)が設けられている。エンコーダの出力は、ロボット制御装置2に送られる。
【0029】
ワイヤ送給装置16は、溶接ロボット1における上部に設けられている。ワイヤ送給装置16は、溶接トーチ14に消耗電極15を送り出すためのものである。ワイヤ送給装置16は、送給機構161(モータ)と、ワイヤリール(図示略)と、ワイヤプッシュ装置(図示略)とを有する。送給機構161を駆動源として、上記ワイヤプッシュ装置が、上記ワイヤリールに巻かれた消耗電極15を溶接トーチ14へと送り出す。
【0030】
コイルライナ19は、その一端がワイヤ送給装置16に、その他端が溶接トーチ14に、それぞれ接続されている。コイルライナ19は、チューブ状を呈し、その内部には消耗電極15が挿通されている。コイルライナ19は、ワイヤ送給装置16から送り出された消耗電極15を、溶接トーチ14に導くものである。送り出された消耗電極15は、溶接トーチ14から突出する。
【0031】
図3は、図1のミグ電源装置3の詳細を主に示すブロック図である。図4は、図1のプラズマ電源装置4の詳細を主に示すブロック図である。
【0032】
ロボット制御装置2は、動作制御回路21と、ティーチペンダント23とを含む。ロボット制御装置2は、溶接ロボット1の動作を制御するためのものである。
【0033】
動作制御回路21は、図示しないマイクロコンピュータおよびメモリを有している。このメモリには、溶接ロボット1の各種の動作が設定された作業プログラムが記憶されている。また、動作制御回路21は、ロボット移動速度Vrを設定する。動作制御回路21は、上記作業プログラム、上記エンコーダからの座標情報、およびロボット移動速度Vr等に基づき、溶接ロボット1に対して動作制御信号Msを送る。溶接ロボット1は動作制御信号Msを受け、各モータ13を回転駆動させる。これにより、溶接トーチ14が、母材Wにおける所定の溶接開始位置に移動したり、母材Wの面内方向に沿って移動したりする。また、動作制御回路21は、溶滴移行開始指示信号Ssを受ける。
【0034】
ティーチペンダント23は、動作制御回路21に接続されている。ティーチペンダント23は、溶接を実行する際のパラメータをアーク溶接システムA1のユーザが設定するためのものである。
【0035】
ミグ電源装置3は、ミグ出力回路31と、溶滴移行開始指示回路32と、ミグスタート値記憶回路34と、ミグ予熱値記憶回路35と、送給制御回路38とを備える。ミグ電源装置3は、消耗電極15と母材Wとの間に、ミグ電圧Vwaを印加し、ミグ電流Iwaを流すための装置である。またミグ電源装置3は、消耗電極15の送給を行うための装置である。
【0036】
ミグスタート値記憶回路34は、ミグスタート値ir1を記憶する。ミグスタート値ir1の値は、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由してミグスタート値記憶回路34に記憶される。ミグ予熱値記憶回路35は、ミグ予熱値ir2を記憶する。ミグ予熱値ir2は、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由してミグ予熱値記憶回路35に記憶される。
【0037】
ミグ出力回路31は、電力発生回路MCaと、電源特性切替回路SWと、ミグ電流検出回路IDaと、ミグ電流制御回路IRaと、電流誤差計算回路EIaと、電圧検出回路VDaと、ミグ電圧制御回路VRaと、電圧誤差計算回路EVaと、を含む。ミグ出力回路31は、ミグスタート値記憶回路34や、ミグ予熱値記憶回路35に記憶された各値に基づき、消耗電極15と母材Wとの間にミグ電流Iwaを流す。
【0038】
電力発生回路MCaは、たとえば3相200V等の商用電源を入力として、後述の誤差信号Eaに従ってインバータ制御、サイリスタ位相制御等の出力制御を行い、ミグ電圧Vwaおよびミグ電流Iwaを出力する。
【0039】
ミグ電流検出回路IDaは、消耗電極15と母材Wとの間に流れるミグ電流Iwaの値を検出するためのものである。ミグ電流検出回路IDaは、実際に流れているミグ電流Iwaの値に対応するミグ電流検出信号Idaを、後述の電流誤差計算回路EIa送る。
【0040】
ミグ電流制御回路IRaは、消耗電極15と母材Wとの間に流れるミグ電流Iwaの値を設定するためのものである。ミグ電流制御回路IRaは、各記憶回路に記憶された、ミグスタート値ir1、および、ミグ予熱値ir2の各値の少なくともいずれかに基づき、ミグ電流Iwaの値を指示するためのミグ電流設定信号Iraを生成する。そして、ミグ電流制御回路IRaは、生成したミグ電流設定信号Iraを後述の電流誤差計算回路EIaに送る。本実施形態においては、ミグ電流制御回路IRaは、溶接開始信号Stと、後述の検知信号Sdを受ける。ミグ電流制御回路IRaは、溶接開始信号Stを受けると、ミグ電流設定信号Iraとして、ミグスタート値ir1でミグ電流Iwaを流すためのものを、電流誤差計算回路EIaに送る。また、ミグ電流制御回路IRaは、検知信号Sdを受けると、ミグ電流設定信号Iraとして、ミグ予熱値ir2でミグ電流Iwaを流すためのものを、電流誤差計算回路EIaに送る。
【0041】
電流誤差計算回路EIaは、実際に流れているミグ電流Iwaの値と、設定されたミグ電流の値との差ΔIwaを計算するためのものである。具体的には、電流誤差計算回路EIaは、ミグ電流検出信号Idaと、設定されたミグ電流の値に対応するミグ電流設定信号Iraとを受け、差ΔIwaに対応する電流誤差信号Eiaを送る。なお、電流誤差計算回路EIaは、電流誤差信号Eiaとして、差ΔIwaを増幅した値に対応するものを送ってもよい。
【0042】
電圧検出回路VDaは、消耗電極15と母材Wとの間に印加されるミグ電圧Vwaの値を検出するためのものである。電圧検出回路VDaは、ミグ電圧Vwaに対応するミグ電圧検出信号Vdaを、後述の電圧誤差計算回路EVaに送る。
【0043】
ミグ電圧制御回路VRaは、消耗電極15と母材Wとの間に印加するミグ電圧Vwaの値を設定するためのものである。ミグ電圧制御回路VRaは、図示しない記憶回路に記憶された電圧設定値に基づき、ミグ電圧Vwaの値を指示するためのミグ電圧設定信号Vraを、後述の電圧誤差計算回路EVaに送る。
【0044】
電圧誤差計算回路EVaは、実際に印加されているミグ電圧Vwaの値と、設定された溶接電圧の値との差ΔVwaを計算するためのものである。具体的には、電圧誤差計算回路EVaは、ミグ電圧検出信号Vdaと、設定された溶接電圧の値に対応するミグ電圧設定信号Vraとを受け、差ΔVwaに対応する電圧誤差信号Evaを送る。なお、電圧誤差計算回路EVaは、電圧誤差信号Evaとして、差ΔVwaを増幅した値に対応するものを送ってもよい。
【0045】
電源特性切替回路SWは、ミグ出力回路31の電源特性(定電流特性もしくは定電圧特性)を切り替えるものである。ミグ出力回路31の電源特性が定電流特性である場合には、ミグ電流Iwaの値が設定された値となるように、ミグ出力回路31において出力が制御される。一方、ミグ出力回路31の電源特性が定電圧特性である場合には、ミグ電圧Vwaの値が設定された値となるように、ミグ出力回路31において出力が制御される。より具体的には、電源特性切替回路SWは、後述の溶滴移行開始指示信号Ssと、電流誤差信号Eiaと、電圧誤差信号Evaとを受ける。電源特性切替回路SWにおけるスイッチが図3のb側に接続している場合、ミグ出力回路31の電源特性は定電流特性であり、電源特性切替回路SWは、電流誤差信号Eiaを誤差信号Eaとして電力発生回路MCaに送る。このとき、電力発生回路MCaは、ミグ電流Iwaの値が設定された値となる(すなわち上述の差ΔIwaがゼロとなる)ような制御を行う。一方、電源特性切替回路SWにおけるスイッチが図2のa側に接続している場合、ミグ出力回路31の電源特性は定電圧特性であり、電源特性切替回路SWは、電圧誤差信号Evaを誤差信号Eaとして電力発生回路MCaに送る。このとき、電力発生回路MCaは、ミグ電圧Vwaの値が設定された値となる(すなわち上述の差ΔVwaがゼロとなる)ような制御を行う。電源特性切替回路SWにおけるスイッチは、溶滴移行開始指示信号Ssを受けると、図2のb側に接続している状態からa側に接続している状態に変化する。
【0046】
溶滴移行開始指示回路32は、母材Wが、溶滴移行を開始するのに適する温度までプラズマアークa2によって熱せられたと判断したときに、ミグ出力回路31に溶滴移行するための出力を開始させる。溶滴移行開始指示回路32は、後述の検知信号Sdを受け、検知信号Sdを受けた後に溶滴移行開始指示信号Ssを送る。本実施形態においては、溶滴移行開始指示回路32は、検知信号Sdを受けた時刻からある設定時間が経過したときに、溶滴移行開始指示信号Ssを送る。より具体的には、溶滴移行開始指示回路32は、時間計測回路321と、設定時間記憶回路322と、比較回路323とを有する。
【0047】
時間計測回路321は、検知信号Sdを受けた時刻から経過した時間T1を計測する。設定時間記憶回路322は、設定時間T2を記憶する。設定時間T2は、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由して設定時間記憶回路322に記憶される。比較回路323は、時間T1が設定時間T2を超えたときに、溶滴移行開始指示信号Ssを送る。
【0048】
送給制御回路38は、溶接トーチ14から消耗電極15を送り出す速度(送給速度Fw)を制御するためのものである。送給制御回路38は、送給速度Fwを指示するための送給速度制御信号Fcを送給機構161に送る。
【0049】
図4に示すように、プラズマ電源装置4は、プラズマ出力回路41と、プラズマ定常値記憶回路45と、検知回路47とを含む。プラズマ電源装置4は、非消耗電極142と母材Wとの間に、プラズマ電圧Vwbを印加し、プラズマ電流Iwbを流すための装置である。
【0050】
プラズマ定常値記憶回路45は、プラズマ定常値ir5の値を記憶する。プラズマ定常値ir5の値は、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由してプラズマ定常値記憶回路45に記憶される。
【0051】
プラズマ出力回路41は、電力発生回路MCbと、プラズマ電流検出回路IDbと、プラズマ電流制御回路IRbと、電流誤差計算回路EIbとを含む。プラズマ出力回路41は、プラズマ定常値記憶回路45に記憶された値に基づき、非消耗電極142と母材Wとの間にプラズマ電流Iwbを流す。
【0052】
電力発生回路MCbは、たとえば3相200V等の商用電源を入力として、後述の電流誤差信号Eibに従ってインバータ制御、サイリスタ位相制御等の出力制御を行い、プラズマ電圧Vwbおよびプラズマ電流Iwbを出力する。
【0053】
プラズマ電流検出回路IDbは、非消耗電極142と母材Wとの間に流れるプラズマ電流Iwbの値を検出するためのものである。プラズマ電流検出回路IDbは、実際に流れているプラズマ電流Iwbの値に対応するプラズマ電流検出信号Idbを、後述の電流誤差計算回路EIbと、検知回路47とに送る。
【0054】
プラズマ電流制御回路IRbは、非消耗電極142と母材Wとの間に流れるプラズマ電流Iwbの値を設定するためのものである。プラズマ電流制御回路IRbは、プラズマ定常値記憶回路45に記憶された、プラズマ定常値ir5に基づき、プラズマ電流値Iwbの値を指示するためのプラズマ電流設定信号Irbを生成する。そして、プラズマ電流制御回路IRbは、生成したプラズマ電流設定信号Irbを後述の電流誤差計算回路EIbに送る。本実施形態においては、プラズマ電流制御回路IRbは、溶接開始信号Stを受ける。プラズマ電流制御回路IRbは、溶接開始信号Stを受けると、プラズマ電流設定信号Irbとして、プラズマ定常値ir5でプラズマ電流Iwbを流すためのものを、電流誤差計算回路EIbに送る。
【0055】
電流誤差計算回路EIbは、実際に流れているプラズマ電流Iwbの値と、設定されたプラズマ電流の値との差ΔIwbを計算するためのものである。具体的には、電流誤差計算回路EIbは、プラズマ電流検出信号Idbと、設定されたプラズマ電流の値に対応するプラズマ電流設定信号Irbとを受け、差ΔIwbに対応する電流誤差信号Eibを送る。なお、電流誤差計算回路EIbは、電流誤差信号Eibとして、差ΔIwbを増幅した値に対応するものを送ってもよい。図4に示すプラズマ出力回路41の電源特性は、定電流特性である。このとき、電力発生回路MCbは、プラズマ電流Iwbの値が設定された値となる(すなわち上述の差ΔIwbがゼロとなる)ような制御を行う。
【0056】
検知回路47は、非消耗電極142と母材Wとの間のプラズマアークa2の発生を検知するためのものである。検知回路47は、プラズマアークa2の発生を検知すると、検知信号Sdを、ミグ電流制御回路IRaと溶滴移行開始指示回路32とに送る。本実施形態においては、検知回路47は、プラズマ電流検出信号Idbを受ける。検知回路47は、プラズマ電流Iwbの変化を検出することにより、プラズマアークa2の発生の有無を判断する。たとえば、検知回路47は、プラズマ電流Iwbの値があるしきい値を超えたときに、プラズマアークa2が発生したと判断する。本実施形態とは異なるが、検知回路47はプラズマ電圧Vwbの変化を検出することにより、プラズマアークa2の発生の有無を判断してもよい。この場合、検知回路47は、たとえば、ミグアークa1が発生したのちにプラズマ電圧Vwbの値があるしきい値よりも減少したとき、もしくは、プラズマ電圧Vwbの値の減少量があるしきい値よりも大きくなったときに、プラズマアークa2が発生したと判断するとよい。
【0057】
次に、図5および図6をさらに用いて、2電極アーク溶接システムA1を用いたアーク溶接方法について説明する。図5は、本実施形態にかかる溶接方法における各信号等のタイミングチャートである。図6は、本実施形態にかかる溶接方法におけるミグアークおよびプラズマアークの状態を示す正面図である。図5(a)は電源特性切替回路SW、(b)は送給速度Fw、(c)はミグ電圧Vwa、(d)はミグ電流設定信号Ira、(e)はミグ電流Iwa、(f)はプラズマ電圧Vwb、(g)はプラズマ電流設定信号Irb、(h)はプラズマ電流Iwb、(i)は検知信号Sd、(j)は溶滴移行開始指示信号Ss、の変化状態を示す。なお、図5(a)のHighレベルは電源特性切替回路SWのスイッチがb側に接続し、Lowレベルはa側に接続している状態を表す。また、図5の(s−1)〜(s−6)の時点におけるミグアークa1およびプラズマアークa2の状態が、図6の(s−1)〜(s−6)に示すものに、それぞれ相当する。
【0058】
(1)ミグアークa1およびプラズマアークa2の発生期間(時刻t1〜時刻t4)
<時刻t1〜時刻t2>
本実施形態においては、ミグアークa1を発生させるためには、通常のリトラクトスタートを行う。まず、時刻t1において、たとえば、ティーチペンダント23からの溶接開始信号Stが動作制御回路21に送られ、その後、電力発生回路MCaと、ミグ電流制御回路IRaと、電力発生回路MCbと、プラズマ電流制御回路IRbとに送られる(一部図示略)。図5(a)に示すように、時刻t1においては、電源特性切替回路Swにおけるスイッチはb側に接続している。そのため、時刻t1において、ミグ出力回路31は定電流特性となる。同図(b)に示すように、時刻t1において、送給制御回路38は、送給速度制御信号Fcとして送給速度Fwを正の値である値fw1(スローダウン送給速度)とするものを、溶接ロボット1のワイヤ送給装置16に送る。これにより、送給速度Fwを値fw1として消耗電極15が溶接トーチ14から前進送給される。なお、値fw1は、たとえば、100〜300cm/minである。また、同図(d)に示すように、ミグ電流制御回路IRaは、溶接開始信号Stを受けると、ミグ電流設定信号Iraとしてミグ電流Iwaをミグスタート値ir1で流すものを、電流誤差計算回路EIaに送る。時刻t1においては、消耗電極15と母材Wとが離間しているため、同図(e)に示すように、時刻t1からある程度の期間(本実施形態では時刻t1〜時刻t2)のあいだは消耗電極15と母材Wとの間にミグ電流Iwaが流れない。そして、同図(c)に示すように、時刻t1から時刻t2のあいだは、消耗電極15と母材Wとの間にはミグ電圧Vwaとして、たとえば、80V程度の無負荷電圧が印加される。
【0059】
同様に、同図(g)に示すように、プラズマ電流制御回路IRbは、溶接開始信号Stを受けると、プラズマ電流設定信号Irbとしてプラズマ電流Iwbをプラズマ定常値ir5で流すものを、電流誤差計算回路EIbに送る。プラズマ定常値ir5は、たとえば、50〜200Aである。時刻t1においては、同図(h)に示すように、時刻t1からある程度の期間(本実施形態では時刻t1〜時刻t4)のあいだは非消耗電極142と母材Wとの間にプラズマ電流Iwbが流れない。そして、同図(f)に示すように、時刻t1から時刻t4のあいだは、非消耗電極142と母材Wとの間にはプラズマ電圧Vwbとして、たとえば、80V程度の無負荷電圧が印加される。
【0060】
<時刻t2〜時刻t3>
図6(s−2)に示すように、時刻t2において、消耗電極15が送給され母材Wに接触する。これにより、図5(e)に示すように、時刻t2において、消耗電極15と母材Wとの間に、ミグ電流Iwaがミグスタート値ir1で流れ始める。ミグスタート値ir1は、30〜70A程度の小さい値である。そのため、消耗電極15から母材Wへのミグ電流Iwaの通電が開始しても、消耗電極15がジュール熱によってほとんど加熱されない。また、同図(c)に示すように、時刻t2においてミグ電圧Vwaがほぼ0となる。同図(b)に示すように、時刻t2において、送給制御回路38は、送給速度制御信号Fcとして送給速度Fwを負の値である値fw2とするものを、溶接ロボット1のワイヤ送給装置16に送る。これにより、消耗電極15が後退送給される。
【0061】
<時刻t3〜時刻t4>
図6(s−3)に示すように、時刻t3において、消耗電極15が、後退送給されることにより母材Wから離間する。すると、消耗電極15と母材Wとの間にミグアークa1が発生する。時刻t3におけるミグアークa1の発生は、消耗電極15の溶断ではなく消耗電極15を引き上げることにより発生する。また、上述のように、時刻t3におけるミグ電流Iwaの値はミグスタート値ir1であるため、比較的小さい。そのため、時刻t3においてスパッタは非常に発生しにくい。時刻t3においてミグアークa1が発生したのちも、非消耗電極142と母材Wとの間にプラズマアークa2が発生する時(時刻t4)まで、消耗電極15が後退送給され続ける。
【0062】
そして、図6(s−4)に示すように、時刻t4において、プラズマアークa2が発生する。プラズマアークa2の発生は、ミグアークa1の成長によって、消耗電極15および非消耗電極142の直下がプラズマ雰囲気となることにより促される。すなわち、プラズマアークa2は、ミグアークa1をパイロットアークとして発生する。プラズマアークa2の発生により、図5(h)に示すように、時刻t4において、非消耗電極142と母材Wとの間に、プラズマ電流Iwbがプラズマ定常値ir5で流れ始める。また、同図(f)に示すように、時刻t4においてプラズマ電圧Vwbが減少する。プラズマアークa2が発生するとプラズマ電流Iwbの変化に基づき、検知回路47がプラズマアークa2が発生したと判断する。同図(i)に示すように、検知回路47は、プラズマアークa2が発生したと判断すると、検知信号Sdを、ミグ電流制御回路IRaと溶滴移行開始指示回路32(本実施形態では時間計測回路321)とに送る。
【0063】
(2)母材Wの予熱期間(時刻t4〜時刻t5)
図5(b)に示すように、時刻t4において、送給制御回路38は、送給速度制御信号Fcとして送給速度Fwを正の値である値fw3とするものを、溶接ロボット1のワイヤ送給装置16に送る。これにより、送給速度Fwを値fw3として消耗電極15が溶接トーチ14から前進送給される。なお、値fw3は、たとえば、50〜150cm/minである。同図(d)に示すように、ミグ電流制御回路IRaは、検知信号Sdを受けると、ミグ電流設定信号Iraとしてミグ電流Iwaをミグ予熱値ir2で流すものを、電流誤差計算回路EIaに送る。これにより、同図(e)に示すように、時刻t4において、ミグ電流Iwaがミグ予熱値ir2で流れ始める。すなわち、時刻t4において、ミグ出力回路31が、ミグ電流Iwaをミグ予熱値ir2で流す予熱期間を開始する。ミグ予熱値ir2は、たとえば、15〜30Aである。好ましくは、ミグ予熱値ir2は、ミグスタート値ir1より小さい。このように、時刻t4〜時刻t5において、ミグアークa1が発生している状態が継続する。一方、時刻t4〜時刻t5においては、プラズマアークa2が発生している状態も継続する。時刻t4〜時刻t5においては、プラズマアークa2によって、母材Wのうち溶接開始部分が加熱される。これにより、母材Wの溶接開始部分に十分な入熱が行われる。そのため、溶接ビードの溶け込み深さを、溶接開始部分から定常溶接部分に至るまで均一にすることができる。
【0064】
一方、溶滴移行開始指示回路32は、検知信号Sdを受けると、検知信号Sdを受けた時刻から経過した時間T1を計測する。そして、図5(j)に示すように、比較回路323は、時間T1が設定時間記憶回路322に記憶された設定時間T2を超えたと判断したときに、溶滴移行開始指示信号Ssを、ミグ出力回路31における電源特性切替回路SWと、動作制御回路21とに送る。なお、設定時間T2としては、母材Wを加熱するのに適すると考えられる時間を設定するとよい。設定時間T2は、たとえば、0.1〜1.0秒である。
【0065】
(3)溶滴移行期間(時刻t5〜)
図5(a)に示すように、時刻t5において、電源特性切替回路SWが溶滴移行開始指示信号Ssを受けると、電源特性切替回路SWのスイッチがb側に接続している状態から、a側に接続している状態に変化する。そのため、時刻t5において、ミグ出力回路31の電源特性は、定電圧特性に変化する。また、同図(b)に示すように、時刻t5において、送給制御回路38は、送給速度制御信号Fcとして送給速度Fwを正の値である値fw4とするものを、溶接ロボット1のワイヤ送給装置16に送る。これにより、送給速度Fwを値fw4として消耗電極15が溶接トーチ14から前進送給される。そして、同図(e)に示すように、ミグ電流Iwaの値が、ミグ予熱値ir2から比較的大きなミグ定常値ir3に上昇する。すなわち、ミグ出力回路31が、消耗電極15から母材Wへと溶滴移を移行させる溶滴移行期間を開始する。ミグ定常値ir3は、ミグスタート値ir1やミグ予熱値ir2よりも大きく、たとえば、70〜250Aである。一方、時刻t5以降も、非消耗電極142と母材Wとの間には、プラズマアークa2が発生した状態が継続する。時刻t5以降のプラズマ電流Iwbの値は、プラズマ定常値ir5である。さらに、動作制御回路21は、溶滴移行開始指示信号Ssを受けると、動作制御信号Msとして、消耗電極15および非消耗電極142を保持する溶接トーチ14を母材Wに対し相対移動させるための信号を、溶接ロボット1に送る。これにより、溶接ロボット1は、溶接トーチ14を、母材Wに沿って母材Wに対し移動させ始める。このようにして、時刻t5において、消耗電極15から母材Wへの溶滴を移行させる溶滴移行期間が開始され、2電極アーク溶接が行われる。溶滴移行期間においては、ミグアークa1は、プラズマアークa2に包まれた状態となる。これにより、プラズマアークa2は、ミグアークa1が広がるのを拘束する作用がある。
【0066】
次に、本実施形態の作用効果について説明する。
【0067】
本実施形態においては、時刻t4〜時刻t5において、ミグ電流Iwaをミグ予熱値ir2で流しつつ、ミグアークa1およびプラズマアークa2のいずれもが発生している状態を継続している。さらに、時刻t5において、ミグ電流Iwaの値をミグ予熱値ir2から上昇させ、消耗電極15から母材Wへの溶滴移行を開始している。そのため、従来のようにミグアークa1を再発生させることなく、溶滴移行期間(時刻t5〜)を開始することができる。よって、従来のようにミグアークa1を再発生させた場合に生じうるスパッタが、そもそも発生しない。したがって、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制できる。また、本実施形態においては、いったんミグアークa1を発生させたのちは、ミグアークa1を消弧させることなく、溶滴移行期間を開始している。したがって、ミグアークa1の再発生を失敗するといったことが生じない。よって、効率よく溶接を行うことができる。以上より、本実施形態によれば、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことができる。
【0068】
好ましくは、ミグ予熱値ir2は、ミグスタート値ir1より小さい。ミグ予熱値ir2がミグスタート値ir1より小さいと、ミグ予熱値ir2とミグスタート値ir1とが同一である場合よりも、消耗電極15が加熱されにくい。そのため、予熱期間(時刻t4〜時刻t5)における消耗電極15から母材Wへの溶滴移行を抑制できる。また、予熱期間(時刻t4〜時刻t5)においてはプラズマアークa2が発生している状態となっている。そのため、ミグ予熱値ir2がミグスタート値ir1より小さくても、ミグアークa1が消弧しにくく、ミグアークa1が発生している状態を維持しやすい。
【0069】
本実施形態においては、ミグアークa1をパイロットアークとして、プラズマアークa2を発生させている。そのため、プラズマアークa2を発生させるための高周波回路等をプラズマ電源装置4が備える必要が無い。
【0070】
以下、本発明の他の実施形態について説明する。以下の説明および参照する図において、上述の実施形態と同一もしくは類似の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する。
【0071】
次に、図7を用いて、本発明の第2実施形態について説明する。
【0072】
図7は、本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのミグ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【0073】
本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA2においては、第1実施形態と異なり、溶滴移行開始指示回路32が時間計測回路321、設定時間記憶回路322、および比較回路323を含まない。代わりに、2電極アーク溶接システムA2においては、溶滴移行開始指示回路32が電圧検出回路324と設定電圧値記憶回路325と比較回路326とを含む。このような点において、本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA2は、第1実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA1と異なる。
【0074】
電圧検出回路324は、消耗電極15と母材Wと間に印加されるミグ電圧Vwaを検出する。設定電圧値記憶回路325は、設定電圧Vthを記憶する。設定電圧Vthは、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由して設定電圧値記憶回路325に記憶される。比較回路326は、検知信号Sdを受けたのちにミグ電圧Vwaが設定電圧Vthを下回ったときに、溶滴移行開始指示信号Ssを送る。
【0075】
図5に示したのと同様に、2電極アーク溶接システムA2を用いて溶接を行う場合、上述の工程とほぼ同様の工程を行う。本実施形態においては、溶滴移行期間(時刻t5〜)を開始するか否かを溶滴移行開始指示回路32にて判断する工程が、第1実施形態と異なる。
【0076】
時刻t4〜時刻t5の期間も第1実施形態とほぼ同様に、ミグアークa1およびプラズマアークa2が発生している状態を継続する。時刻t4〜時刻t5の期間は、消耗電極15が母材Wへとほとんど溶滴移行していない。また、消耗電極15は前進送給されている。そのため、図5(c)に示すように、ミグ電圧Vwaは徐々に小さくなる。本実施形態では、比較回路326は、検知信号Sdを受けたのちにミグ電圧Vwaが設定電圧Vthを下回ったとき、母材Wを十分に加熱できたと判断する。このとき、比較回路326は、溶滴移行開始指示信号Ssを、ミグ出力回路31における電源特性切替回路SWと、動作制御回路21とに送る。これにより、消耗電極15から母材Wへ溶滴を移行させる溶滴移行期間(時刻t5〜)が開始される。
【0077】
本実施形態によれば、第1実施形態で述べた理由と同様の理由により、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことができる。
【0078】
ミグ電圧Vwaの値は、ミグアークa1のアーク長に比例する。そのため、ミグ電圧Vwaが設定電圧Vthを下回ったときに溶滴移行を開始する本実施形態においては、ミグアークa1があるアーク長を下回ったときに、溶滴移行を開始しているといえる。したがって、時刻t4以降、消耗電極15が母材Wに予想以上に接近してしまうことにより、溶滴移行を開始する前に消耗電極15が母材Wに接触してしまう不具合を、回避することができる。
【0079】
次に、図8を用いて、本発明の第3実施形態について説明する。
【0080】
図8は、本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのミグ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。
【0081】
本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA3においては、上述の実施形態と異なり、溶滴移行開始指示回路32が、時間計測回路321と、設定時間記憶回路322と、第1比較回路323’と、電圧検出回路324と、設定電圧値記憶回路325と、第2比較回路326’と、論理和回路329とを含む。
【0082】
本実施形態における時間計測回路321、設定時間記憶回路322、電圧検出回路324、設定電圧値記憶回路325は、上述の実施形態における構成と同様であるから、説明を省略する。本実施形態における第1比較回路323’は、第1実施形態にかかる比較回路323が溶滴移行開始指示信号Ssを送るのに対し、時間経過信号Ss1を送る点において異なり、その他の点は同一である。本実施形態における第2比較回路326’は、第2実施形態にかかる比較回路326が溶滴移行開始指示信号Ssを送るのに対し、電圧低下信号Ss2を送る点において異なり、その他の点は同一である。論理和回路329は、時間経過信号Ss1および電圧低下信号Ss2を受ける。論理和回路329は、時間経過信号Ss1または電圧低下信号Ss2のいずれかを受けると、溶滴移行開始指示信号Ssを送る。すなわち、プラズマアークa1が発生した時刻から経過した時間T1が設定時間T2を超えた時、および、ミグ電圧Vwaの値が設定電圧値Vthよりも小さくなった時の、いずれか早くが到来したときに、論理和回路329が溶滴移行開始指示信号Ssを送る。これにより、溶滴移行期間(時刻t5〜)が開始される。
【0083】
本実施形態にかかる2電極アーク溶接方法は、溶滴移行開始指示信号Ssを送る工程が上述の実施形態と異なるだけであるから、その説明を省略する。
【0084】
本実施形態によれば、第1実施形態で述べた理由と同様の理由により、溶接期間全体にわたって生じうるスパッタの発生を抑制でき、且つ、効率よく溶接を行うことができる。
【0085】
第2実施形態と同様に、ミグ電圧Vwaが設定電圧Vthを下回ったときに溶滴移行を開始する本実施形態においては、ミグアークa1があるアーク長を下回ったときに、溶滴移行を開始しているといえる。したがって、時刻t4以降、消耗電極15が母材Wに予想以上に接近してしまうことにより、溶滴移行を開始する前に消耗電極15が母材Wに接触してしまう不具合を、回避することができる。
【0086】
本実施形態によればさらに、溶滴移行を開始するか否かを、プラズマアークa2が発生した時刻4から経過した時間T1に基づいても、判断している。そのため、時刻t4以降、消耗電極15が母材Wに予想していたほど接近していなかったとしても(すなわちミグ電圧Vwaが設定電圧Vthを下回っていなかったとしても)、時間T1が設定時間T2を超えたときには、溶滴移行が開始される。したがって、時刻t4以降、消耗電極15が母材Wに予想していたほど接近していなかったとしても、過度に母材Wを予熱することなく、溶滴移行を開始することができる。
【0087】
次に、図9および図10を用いて、本発明の第4実施形態について説明する。
【0088】
図9は、本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムのプラズマ電源装置の詳細を主に示すブロック図である。図10は、本実施形態にかかる溶接方法における各信号等のタイミングチャートである。
【0089】
本実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA4は、プラズマ電源装置4がプラズマ予熱値記憶回路44を更に含む点において、第1実施形態にかかる2電極アーク溶接システムA1と相違する。プラズマ予熱値記憶回路44は、プラズマ予熱値ir4を記憶する。プラズマ予熱値ir4は、たとえば、溶接を開始する前にティーチペンダント23から入力され、動作制御回路21を経由してプラズマ予熱値記憶回路44に記憶される。また、プラズマ出力回路41におけるプラズマ電流制御回路IRbは、溶滴移行開始指示信号Ssを受ける。
【0090】
次に、本実施形態にかかる2電極アーク溶接方法のうち第1実施形態で述べた点と異なる点について、説明する。
【0091】
本実施形態においては、図10(g)に示すように、時刻t1において、プラズマ電流制御回路IRbは、溶接開始信号Stを受けると、プラズマ電流設定信号Irbとしてプラズマ電流Iwbをプラズマ予熱値ir4で流すものを、電流誤差計算回路EIbに送る。そして、同図(h)に示すように、時刻t4において、プラズマアークa2の発生により、非消耗電極142と母材Wとの間に、プラズマ電流Iwbがプラズマ予熱値ir4で流れ始める(すなわち、プラズマ出力回路41は、プラズマ電流Iwbをプラズマ予熱値ir4で流し始める)。プラズマ予熱値ir4は、プラズマ定常値ir5より大きい値に設定するのがよい。プラズマ予熱値ir4は、たとえば、150〜250Aである。
【0092】
同図(h)に示すように、時刻t5において、プラズマ電流制御回路IRbは、溶滴移行開始指示信号Ssを受けると、プラズマ電流設定信号Irbとしてプラズマ電流Iwbをプラズマ定常値ir5で流すものを、電流誤差計算回路EIbに送る。これにより、時刻t5以降の溶滴移行期間においては、プラズマ電流Iwbがプラズマ定常値ir5で流れる(すなわち、プラズマ出力回路41は、プラズマ電流Iwbをプラズマ定常値ir5で流す)。
【0093】
本実施形態では、予熱期間(時刻t4〜時刻t5)にて、プラズマ電流Iwbをプラズマ定常値ir5より大きいプラズマ予熱値ir4で流す。このような構成は、予熱期間(時刻t4〜時刻t5)中にプラズマアークa2が母材Wに与える熱量を多くするのに適する。したがって、本実施形態によれば、母材Wの溶接開始部分における溶接ビードの溶け込み深さをより深くすることができる。これにより、平坦なビードを形成することができる。
【0094】
なお、本実施形態にて述べたプラズマ予熱値記憶回路44を更に含む構成を、第2もしくは第3実施形態にて述べた構成と組み合わせてもよい。また、予熱期間(時刻t4〜時刻t5)においてプラズマ電流Iwbを、プラズマ定常値ir5より大きいプラズマ予熱値ir4で流す、本実施形態にて述べた方法を、第2もしくは第3実施形態で述べた方法と組み合わせてもよい。
【0095】
本発明の範囲は、上述した実施形態に限定されるものではない。本発明の各部の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。たとえば、上述の実施形態では、時刻t5においてミグ電圧Vwaの値が変化していないが、時刻t5においてミグ電圧Vwaが変化しないものに本発明が限定されるものではない。
【0096】
時刻t5以降のミグ電圧Vwaやミグ電流Iwa、および、時刻t4以降のプラズマ電圧Vwbやプラズマ電流Iwbは、直流の一定値、直流のパルス、もしくは交流のパルスをとるものであってもよい。
【符号の説明】
【0097】
A1,A2,A3,A4 2電極アーク溶接システム
1 溶接ロボット
11 ベース部材
12 アーム
13 モータ
14 溶接トーチ
141 コンタクトチップ
142 非消耗電極
143 プラズマノズル
144 シールドガスノズル
15 消耗電極
16 ワイヤ送給装置
161 送給機構
19 コイルライナ
2 ロボット制御装置
21 動作制御回路
23 ティーチペンダント
3 ミグ電源装置
31 ミグ出力回路
32 溶滴移行開始指示回路
321 時間計測回路
322 設定時間記憶回路
323 比較回路
323’ 第1比較回路
324 電圧検出回路
325 設定電圧値記憶回路
326 比較回路
326’ 第2比較回路
329 論理和回路
34 ミグスタート値記憶回路
35 ミグ予熱値記憶回路
38 送給制御回路
4 プラズマ電源装置
41 プラズマ出力回路
44 プラズマ予熱値記憶回路
45 プラズマ定常値記憶回路
47 検知回路
Ea 誤差信号
EIa 電流誤差計算回路
Eia 電流誤差信号
EIb 電流誤差計算回路
Eib 電流誤差信号
EVa 電圧誤差計算回路
Eva 電圧誤差信号
Fc 送給速度制御信号
Fw 送給速度
IDa ミグ電流検出回路
Ida ミグ電流検出信号
IDb プラズマ電流検出回路
Idb プラズマ電流検出信号
ir1 ミグスタート値
ir2 ミグ予熱値
ir3 ミグ定常値
ir4 プラズマ予熱値
ir5 プラズマ定常値
IRa ミグ電流制御回路
Ira ミグ電流設定信号
IRb プラズマ電流制御回路
Irb プラズマ電流設定信号
Iwa ミグ電流
Iwb プラズマ電流
MCa 電力発生回路
MCb 電力発生回路
Ms 動作制御信号
Sd 検知信号
Ss 溶滴移行開始指示信号
St 溶接開始信号
SW 電源特性切替回路
T1 時間
T2 設定時間
VDa 電圧検出回路
Vda ミグ電圧検出信号
Vr ロボット移動速度
VRa ミグ電圧制御回路
Vra ミグ電圧設定信号
Vwa ミグ電圧
Vwb プラズマ電圧

【特許請求の範囲】
【請求項1】
母材と消耗電極との間にミグアークを発生させる工程と、
上記ミグアークをパイロットアークとして、上記母材と上記消耗電極を囲む非消耗電極との間にプラズマアークを発生させる工程と、
上記プラズマアークを発生させた後に、上記消耗電極と上記母材との間に流れるミグ電流をミグ予熱値で流しつつ、上記ミグアークおよび上記プラズマアークのいずれもが発生している状態を継続させる工程と、
上記ミグ電流の値を上記ミグ予熱値から上昇させ、上記消耗電極から上記母材への溶滴移行を開始する工程と、を備える、2電極アーク溶接方法。
【請求項2】
上記プラズマアークが発生した時刻から経過した時間を計測する工程を更に備え、
上記溶滴移行を開始する工程は、上記経過した時間が設定時間を超えたときに行う、請求項1に記載のアーク溶接方法。
【請求項3】
上記消耗電極と上記母材との間のミグ電圧の値を検出する工程を更に備え、
上記溶滴移行を開始する工程は、上記プラズマアークが発生したのちに上記ミグ電圧の値が設定電圧値より小さくなったときに行う、請求項1に記載のアーク溶接方法。
【請求項4】
上記プラズマアークが発生した時刻から経過した時間を計測する工程と、
上記消耗電極と上記母材との間のミグ電圧の値を検出する工程とを更に備え、
上記溶滴移行を開始する工程は、上記経過した時間が設定時間を超えた時、および、上記ミグ電圧の値が設定電圧値より小さくなった時の、いずれか早くが到来したときに行う、請求項1に記載のアーク溶接方法。
【請求項5】
上記溶滴移行を開始する工程の後に、上記非消耗電極から上記母材へ流れるプラズマ電流をプラズマ定常値で流しつつ、上記消耗電極から上記母材へと溶滴を移行させる工程を更に備え、
上記発生している状態を継続させる工程においては、上記プラズマ電流を上記プラズマ定常値より大きいプラズマ予熱値で流す、請求項1ないし4のいずれかに記載の2電極アーク溶接方法。
【請求項6】
上記発生している状態を継続させる工程の後に、上記母材に沿って上記母材に対し上記消耗電極を相対移動させ始める工程を更に備える、請求項1ないし5のいずれかに記載の2電極アーク溶接方法。
【請求項7】
非消耗電極と母材との間にプラズマ電流を流すプラズマ出力回路と、
上記非消耗電極と上記母材との間のプラズマアークの発生を検知すると検知信号を送る検知回路と、
ミグ予熱値を記憶するミグ予熱値記憶回路と、
上記検知信号を受け、上記検知信号を受けた後に溶滴移行開始指示信号を送る溶滴移行開始指示回路と、
上記検知信号を受けると、消耗電極と上記母材との間に流れるミグ電流を上記ミグ予熱値で流す予熱期間を開始し、且つ、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記消耗電極から上記母材へ溶滴を移行させる溶滴移行期間を開始するミグ出力回路と、を備える、2電極アーク溶接システム。
【請求項8】
上記溶滴移行開始指示回路は、上記検知信号を受けた時刻から経過した時間を計測する時間計測回路と、設定時間を記憶する設定時間記憶回路と、上記経過した時間が上記設定時間を超えたときに上記溶滴移行開始指示信号を送る比較回路とを含む、請求項7に記載の2電極アーク溶接システム。
【請求項9】
上記溶滴移行開始指示回路は、上記消耗電極と上記母材との間に印加されるミグ電圧を検出する電圧検出回路と、設定電圧を記憶する設定電圧記憶回路と、上記検知信号を受けたのちに上記ミグ電圧が上記設定電圧を下回ったときに上記溶滴移行開始指示信号を送る比較回路とを含む、請求項7に記載の2電極アーク溶接システム。
【請求項10】
上記溶滴移行開始指示回路は、上記検知信号を受けた時刻から経過した時間を計測する時間計測回路と、設定時間を記憶する設定時間記憶回路と、上記経過した時間が上記設定時間を超えたときに時間経過信号を送る第1比較回路と、上記消耗電極と上記母材との間に印加されるミグ電圧を検出する電圧検出回路と、設定電圧を記憶する設定電圧記憶回路と、上記検知信号を受けたのちに上記ミグ電圧が上記設定電圧を下回ったときに電圧低下信号を送る第2比較回路と、上記時間経過信号または上記電圧低下信号を受けると、上記溶滴移行開始指示信号を送る論理和回路とを含む、請求項7に記載の2電極アーク溶接システム。
【請求項11】
プラズマ予熱値を記憶するプラズマ予熱値記憶回路と、
プラズマ定常値を記憶するプラズマ定常値記憶回路とを更に備え、
上記プラズマ出力回路は、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記プラズマ電流を上記プラズマ定常値で流し、上記溶滴移行開始指示信号を受ける前は、上記プラズマ電流を上記プラズマ予熱値で流す、請求項7ないし10のいずれかに記載の2電極アーク溶接システム。
【請求項12】
上記消耗電極を保持する溶接トーチを含む溶接ロボットと、
上記溶接ロボットに動作制御信号を送る動作制御回路とを更に備え、
上記動作制御回路は、上記溶滴移行開始指示信号を受けると、上記動作制御信号として上記母材に沿って上記母材に対して上記消耗電極を相対移動させる信号を送る、請求項7ないし11のいずれかに記載の2電極アーク溶接システム。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【図9】
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【図10】
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【公開番号】特開2012−71331(P2012−71331A)
【公開日】平成24年4月12日(2012.4.12)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−218274(P2010−218274)
【出願日】平成22年9月29日(2010.9.29)
【出願人】(000000262)株式会社ダイヘン (990)
【Fターム(参考)】