【課題】クロックエンベデッドシリアルデータ伝送を可能にするとともに、簡易な構成で符号化または復号化することを可能にする。
【解決手段】本発明に係る符号化方法は、入力されるデータ列の上位４ビットまたは下位４ビットにおいて同じビット値が連続するか否か判定し（Ｓ２０１、Ｓ２０３）、連続しないと判定された場合、隣接ビットと異なるビット値である反転ビットを中間ビットに有する符号列ＣＷ１へ、データ列を変換し（Ｓ２０９）、連続すると判定された場合、隣接ビットと同じビット値である連続ビットを中間ビットに有するとともに、反転ビットを上位ビット列または下位ビット列に有する符号列ＣＷ２，ＣＷ３へ、前記データ列を変換するものである（Ｓ２０２、Ｓ２０４）。 （もっと読む）

【課題】命令コードを効率的にキャッシュすることが可能なキャッシュメモリ装置を提供することである。
【解決手段】本発明にかかるキャッシュメモリ装置は、フェッチアドレス５１に対応した命令コード５２をキャッシュするキャッシュメモリ１２と、キャッシュメモリ１２にキャッシュされる命令コード５２を制御するキャッシュ制御回路１３と、を備える。キャッシュ制御回路１３は、フェッチアドレス５１がサブルーチンへの分岐を示す場合、当該サブルーチンに対応する命令コードをキャッシュ対象とし、キャッシュ対象とされた命令コードの数が予め設定された上限数を超えた場合、キャッシュ対象とされた命令コードを無効にする。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の性能を向上させる。
【解決手段】製造されたパッケージを、トレイ１１の上面１９に形成されたポケット１６に収納して搬送する際に、基部２３と、突出部２４とを含み、突出部２４がポケット１６内に入り込むときも、基部２３がトレイ１１の上面１９と接触しないように配置された接触部材２１を上方から接触させる。そして、パッケージ検出センサ２２が検出した検出値に基づいて、ポケット１６にパッケージが正常に収納されているか否かを検出する。 （もっと読む）

【課題】メモリ書き込み時の消費電力を削減できるメモリ制御装置を提供する。
【解決手段】メモリ制御装置は、データバスを介してメモリ装置にデータをバースト転送するデータ出力バッファ回路３９０と、データのうちのメモリ装置内のメモリセルへの書き込みを禁止するデータを示すマスク信号をメモリ装置に出力するマスク信号出力バッファ回路１９０とを具備し、データ出力バッファ回路３９０は、マスク信号が書き込み禁止を示すときに出力ノードをハイインピーダンスにする。 （もっと読む）

【課題】課題は、デルタシグマ変調器の低消費電力化および小型化を図ることである。
【解決手段】デルタシグマ変調器（１）は、減算器（１１）と、積分器（１２）と、それぞれが並列接続された複数のＤＡ変換器（１４_１−１４_ｋ）とを備える。減算器は、第１アナログ信号（Ａ）と第２アナログ信号（Ｉ_ＤＡＣ）とを入力し、第１アナログ信号から第２アナログ信号を減算する。積分器は、減算器の減算結果を積分する。複数のＤＡ変換器は、積分器の出力を基に量子化されたデジタル信号をアナログ信号にそれぞれ変換し、それぞれ変換したアナログ信号を第２アナログ信号として、減算器に異なるタイミングで出力する。 （もっと読む）

【課題】三角波信号を利用した昇降圧回路の出力におけるリップル電圧を低減する。
【解決手段】本発明による昇降圧回路は、三角波信号２００の上限値ＶＰＨ及び下限値ＶＰＬを決める電圧ＶＨ、ＶＬに基づいて設定されるシフト量ＥｐＬで、第１制御信号２０１の電圧をシフトして第２制御信号２０２を生成するレベルシフト回路１０２と、第１制御信号２０１と三角波信号２００との比較結果によって、降圧用スイッチング素子１１のスイッチング動作を制御する第１コンパレータ１０３と、第２制御信号２０２と三角波信号３００との比較結果によって昇圧用スイッチング素子１２のスイッチング動作を制御する第２コンパレータ１０４を具備する。 （もっと読む）

【課題】研磨パッドの摩耗に起因する研磨パッドの剛性低下による悪影響を十分に抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】研磨テーブル１上に設けられた研磨パッド２と、前記研磨パッド２に対してウェハ３を接触させた状態で前記ウェハ３を前記研磨パッド２に対して相対的に移動させて前記ウェハ３を研磨する研磨ヘッド４と、前記研磨パッド２の摩耗後の厚さに応じて前記研磨パッド２の温度を制御する温度制御部６と、を有する。 （もっと読む）

【課題】テスト時間が短い半導体集積回路のテストシステム及びテスト方法を提供する。
【解決手段】本発明にかかる半導体集積回路２０は、複数の被試験回路８１乃至８３を有し、外部のテストシステム１０と無線で通信することにより、被試験回路８１乃至８３をそれぞれテストする複数のテストパターンに、被試験回路８１乃至８３を識別するＩＤが付加されたテスト入力信号を受信する無線インターフェース部１３と、ＩＤを識別し、ＩＤに対応する被試験回路８１乃至８３に、ＩＤが付加されたテスト入力信号に含まれるテストパターンを入力し、被試験回路８１乃至８３からテストパターンに応じたテスト結果が出力される度に、テスト結果に、ＩＤを付加したテスト出力信号を、無線インターフェース部を介して、外部のテストシステム１０に出力する試験回路と、を有するものである。 （もっと読む）

【課題】多層配線中に、抵抗率が高く、かつ抵抗温度係数が小さい抵抗素子を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】第１絶縁層（層間絶縁層３４０）と、第１絶縁層（層間絶縁層３４０）上に設けられ、少なくとも表層がＴａＳｉＮ層４４０である抵抗素子４００と、第１絶縁層（層間絶縁層３４０）および抵抗素子４００上に設けられた層間絶縁層３６０と、層間絶縁層３６０に設けられ、一端がＴａＳｉＮ層４４０と接続する複数のビア５００と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】映像音声出力装置の備える機能を最大限に発揮できる映像音声出力装置及び映像音声出力装置の制御方法を提供すること。
【解決手段】本発明にかかるシンク機器部１０３は、映像・音声フォーマット解析部１０８と、ＥＤＩＤ生成部１０７と、を備える。映像・音声フォーマット解析部１０８は、複数のパラメータを含むフォーマットの映像音声信号を、ソース機器部１０１から受信する。ＥＤＩＤ生成部１０７は、受信した複数のパラメータのレベルの中に、サポート可能なレベルの上限未満のレベルが含まれる場合、当該上限未満のレベルのパラメータにおけるサポート可能なレベルの上限を引き下げると共に、他のパラメータにおけるサポート可能なレベルの上限を引き上げる。 （もっと読む）