説明

株式会社ブイ・テクノロジーにより出願された特許

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【課題】大型の被露光材を露光するために、複雑且つ高コストの露光機構を要することなく、露光に使用するマスクのコストを抑えることである。
【解決手段】本発明に係る露光装置は、光源からの照射光を遮断する遮光領域と照射光を透過させる透光領域とをガラス基板に形成した複数のフォトマスクと、光源と搬送された被露光材との間に、複数のフォトマスクを保持するマスク保持部とを備える。マスク保持部は、同一平面上に並置された複数のフォトマスクを、隣り合うフォトマスクの各端部が互いに接触するように、連結して保持するものであり、複数のフォトマスクは、並置且つ連結されることによって全体として1個のフォトマスクを構成すると共に、マスク保持部に対して、それぞれ個別に着脱できるものである。 (もっと読む)


【課題】露光装置の経時変化等の原因により、露光時におけるマスク位置が露光対象基材の移動方向に直交する方向にずれたときに、マスク位置を精度よく補正することができる露光装置を提供する。
【解決手段】光源とマスク3との間に介在するように基準板4が配置されており、基準板4には、各マスク3毎に、マスク3が配置されるべき位置の基準を示す第1基準マーク41が設けられている。カメラ51により第1基準マーク41及びマスクアライメントマーク(スリット32)を検出し、制御部7は、検出された両者間の距離aに基づいて、フィルム移動方向に直交する方向におけるマスク3のずれを検出し、駆動部6によりマスク3の位置を補正する。 (もっと読む)


【課題】移動方向に直交する方向に複数個の露光対象領域が設けられた露光対象基材を一方向に連続的に供給して露光する露光装置において、露光対象基材がその移動方向に直交する方向に伸縮した場合に、マスクの位置を精度よく補正できる露光装置を提供する。
【解決手段】フィルム2には、その移動方向に直交する方向に複数の露光対象領域4が設けられている。光源から出射された露光光は、フィルム移動方向に直交する方向に複数枚配列されたマスク3のパターンを介してフィルムに照射される。フィルム2の露光対象領域間及び両端部には、伸縮確認用マーク2cが設けられており、この伸縮確認用マーク2cをマスクアライメントマークと共にカメラ51により観察し、制御部7は、伸縮確認用マーク2cがフィルム移動方向に直交する方向にずれたときに、駆動部6により、このずれに応じてマスク3の位置を補正する。 (もっと読む)


【課題】高精細な複数の開口パターンの形成を容易にすると共に、ハンドリング中も開口パターンの形状及び位置が維持できるようにする。
【解決手段】平板状の磁性金属材料に薄膜パターンよりも形状が大きい貫通する複数の開口部6を設けて保持部材1を形成し、保持部材1の一面に可視光を透過する樹脂製フィルム2を密着して保持し、第1の磁気チャック17上に載置された基板3に対して保持部材1を位置合わせした後、磁力により保持部材1を吸着してフィルム2を基板3面に密着させ、保持部材1の開口部6内のフィルム2の部分にレーザ光を照射して、薄膜パターンと同形状の貫通する開口パターン4を形成し、第2の磁気チャック18の磁力により保持部材1を吸着して該保持部材1及びフィルム2を一体的に基板3上から剥離する。 (もっと読む)


【課題】基板とマスクとのアライメントを高精度でとることができるアライメントマーク及び露光装置を提供する。
【解決手段】基板とマスクとを相対的に位置合わせする際に、マイクロレンズアレイを基板アライメントマーク32とマスクアライメントマーク31との間に配置し、アライメント光を照射し、マスク上に基板アライメントマーク32の正立等倍像を結像させる。このマスクアライメントマーク31は、その輪郭を示す全ての辺3e,3f、3g、3hが、マイクロレンズの配列方向に対して傾斜している。 (もっと読む)


【課題】フィルムが移動してフィルム露光工程が進行している時に、既に露光された部分の偏光部の幅及び位置と、偏光部の偏光方向とを検査することができ、薄いフィルムの上下振動による検査精度の低下が防止された検査部を有するフィルム露光装置を提供する。
【解決手段】露光後のフィルム11は、そのまま、検査部のロール20に送給され、このロール20に巻き架けられる。ロール20には、その周面に、ロール軸方向に延びる溝20aが形成されており、この溝20a内に、ロール軸方向に延びる棒状の検査用照明光源21と偏光板22が配置されている。このロール20のロール軸の直上域には、照明光を検知する検査用カメラ25と、λ/4板23と、偏光板24とが配置されている。ロール20の溝20aがロール上端に回動してきたときに、光源21とカメラ25とが鉛直の光軸上にて正対し、フィルム11の偏光部の検査が可能となる。 (もっと読む)


【課題】3D偏光フィルム及び配向フィルム等の製造時の露光に使用でき、薄いが剛性が高く、高精度で露光することができると共に、マスクコストを低減できるスキャン露光用メタルマスク及びスキャン露光装置を提供する。
【解決手段】メタルスリットマスク5は、金属製の基板15に、スキャン方向に延びる矩形のスリット5aがスキャン方向及びスキャン方向に直交する方向にマトリクス状に配列されて形成されている。これらのスリット5a群の中で、スキャン方向に配列された各列3個のスリット5a1,5a2,5a3は、それらの相互間に、基板15の領域15a、15bが位置しており、これらの領域15a、15bは、スキャン方向に直交する方向に直線状に連なっている。この3個のスリット5a、5b、5cのスリット列のスキャン方向に直交する方向に隣接するもの同士の間隔は、フィルムに形成すべき帯状の露光領域の幅に対応して決められている。 (もっと読む)


【課題】大型の被露光材を露光するために、複雑且つ高コストの露光機構を要することなく、露光に使用するマスクのコストを抑えることである。
【解決手段】本発明に係る露光装置は、光源からの照射光を遮断する遮光領域と照射光を透過させる透光領域とを金属板に形成した複数のメタルマスクと、光源と搬送された被露光材との間に、複数のメタルマスクを保持するマスク保持部とを備える。マスク保持部は、同一平面上に並置された複数のメタルマスクを、隣り合うメタルマスクの各端部が互いに接触するように、連結して保持するものであり、複数のメタルマスクは、並置且つ連結されることによって全体として1個のメタルマスクを構成すると共に、マスク保持部に対して、それぞれ個別に着脱できるものである。 (もっと読む)


【課題】基板とマスクとのアライメントを高精度でとることができるアライメントマークを提供する。
【解決手段】基板1とマスク2とを相対的に位置合わせする際に、マイクロレンズアレイ3を基板アライメントマーク11とマスクアライメントマーク2aとの間に配置し、アライメント光を照射し、マスク2上に基板アライメントマーク11の正立等倍像を結像させる。マイクロレンズアレイ3の各マイクロレンズには、多角視野絞り(例えば6角視野絞り)が設けられているが、基板アライメントマーク11は、多角視野絞りの開口の全ての辺に対して傾斜し、複数本の線状のマーク片を有しており、このマーク片同士の交差部の像により、基板アライメントマーク11のアライメント中心を検出できる。 (もっと読む)


【課題】高精細な薄膜パターンの形成を容易に行い得るようにする。
【解決手段】基板2上に一定形状の薄膜パターン4を成膜形成する薄膜パターン形成方法であって、箔状の磁性部材5に薄膜パターン形成領域9に対応して該薄膜パターン4と同形状の貫通する開口パターン6を形成し、磁性部材5が磁力により第1の磁気チャック3の平坦な吸着面3aに吸着されて保持されたマスク1の開口パターン6を、第2の磁気チャック8上に載置された基板2の薄膜パターン形成領域9に位置合わせするステップと、第2の磁気チャック8の磁力により磁性部材5を吸着してマスク1を第1の磁気チャック3から基板2上に移すステップと、マスク1の開口パターン6を介して基板2上の薄膜パターン形成領域9に成膜し、薄膜パターン4を形成するステップと、を行うものである。 (もっと読む)


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