説明

株式会社日立ハイテクサイエンスにより出願された特許

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【課題】熱膨張補正により測定した重量データを正確に補正できるようにした。
【解決手段】差動型熱天秤装置1は、サンプル側及びリファレンス側のそれぞれに天秤ビーム10、20が設けられ、天秤ビーム10、20の各々の先端にサンプル又はリファレンス物質を収容する容器を載せ、天秤ビーム10、20のサンプル側とリファレンス側との重量差を測定するものであり、サンプル側及びリファレンス側のそれぞれの天秤ビーム10、20における熱膨張に伴う重量変化分を計算し、天秤ビーム10、20毎に測定したそれぞれの重量データを補正する第一補正手段と、補正したサンプル側及びリファレンス側の重量データ同士の差を算出する第二補正手段とを有している。 (もっと読む)


【課題】 X線レンズを用いて集光したX線を試料に照射するとき、試料の集光X線の焦点の周辺部に生じるハロー成分のX線が生じ、これにより微小領域での分析の精度が問題となっていた。
【解決手段】X線レンズ2と試料Sの間に、X線レンズからのX線を形状を制御するために開口部を備え、Xレンズ側よりも試料側の開口が小さくなっている先細りの形状を有するコリメータ3を設置した。 (もっと読む)


【課題】加熱炉を破損させることなく好適な冷却ガスの流量を加熱炉に供給することができ、加熱炉の精密な温度制御を可能とした。
【解決手段】熱分析装置1は、加熱炉2内の温度を計測する温度センサ4と、温度プログラムを設定できると共に温度プログラム信号を出力する温度プログラム設定器5と、温度プログラム信号及び温度センサ4の検出信号の差に応じてヒータ3への供給電力を調節する温度制御部6と、プログラム温度に対応する空気流量を算出する演算処理部7と、演算処理部7で算出された空気流量の信号に応じて加熱炉2内に供給する空気流量を調整するマスフローコントローラ8とを備えている。演算処理部7では、空気流量を算出する演算式が所定の境界温度より高温側と低温側とでそれぞれ異なるように設定されている。 (もっと読む)


【課題】収差を軽減して試料に荷電粒子ビームを照射可能であるとともに、試料の表面にガスを導入する場合などでも、放電のおそれ無く荷電粒子ビームを照射することが可能な荷電粒子ビーム装置を提供する。
【解決手段】荷電粒子ビーム装置1は、荷電粒子ビームIを放出する荷電粒子源9と、荷電粒子ビームIを補正、偏向する補正・偏向手段19、及び、二つの外側電極16a、16bと、外側電極16a、16bに挟み込まれた少なくとも一つの中間電極16cとが、照射方向に配列して構成され、荷電粒子ビームIを集束させて試料Mに照射させる対物レンズ16を有する荷電粒子ビーム光学系11と、荷電粒子ビーム光学系11の対物レンズ16の中間電極16cに、外側電極16a、16bに対して正負いずれかの電位差が生じるように電圧を切り替えて印加することが可能な対物レンズ制御電源36とを備える。 (もっと読む)


【課題】 光源からの光を測定対象や光検出器の受光面へ位置合わせを行う際に、位置合わせを容易に、かつ確実に行うことが可能な光学式変位検出機構を提供する。
【解決手段】 測定対象となるカンチレバー6に光を照射する光源10と、光源10を駆動する光源駆動回路21と、光源10からカンチレバー6に照射した後の光を受光し、光強度を検出する光検出器16と、光検出器16の検出信号を所定の利得で増幅する増幅器22から構成される光学式変位検出機構において、光検出器16で検出される検出感度を利得(増幅率)調整器を用いて実際に測定対象を測定する時よりも小さい値に設定して、光検出器16の所定の位置に光検出器用位置決め機構18により光のスポット20の位置決めを行うようにした。 (もっと読む)


【課題】 光源の出力を大きくして光路上の光の伝達効率を高めることで、光検出器の受光面への入射光量を大きくし、検出感度に対するショットノイズやジョンソンノイズの割合を少なくするような光学式変位検出機構を提供する。
【解決手段】 測定対象6に光を照射する光源10と、光源10を駆動する光源駆動回路21と、光源10から測定対象6に照射した後の光を受光し電気信号に変換して光強度を検出する半導体よりなる光検出器16と、光検出器16の検出信号を所定の増幅率で電流/電圧変換する電流/電圧変換回路を含む増幅器22から構成される光学式変位検出機構9において、スペクトルの半値幅が10nm以上となる光源10を用いることで、モードホップノイズや戻り光ノイズが発生することなしに光源10の強度を2mW以上で駆動するようにした。 (もっと読む)


【課題】短時間で容易に、かつ、精度良くアパーチャの中心軸の位置調整が可能な荷電粒子ビーム装置、及び、アパーチャの軸調整方法を提供する。
【解決手段】荷電粒子ビーム装置1は、荷電粒子源9と、アパーチャ18と、対物レンズ12と、観察手段32と、アパーチャ駆動部19と、制御部30とを備える。制御部30は、荷電粒子ビームIを照射することで、試料Nの表面N1に複数のスポットパターンを形成させるスポットパターン形成手段33と、スポットパターンのスポット中心の位置、及びハローの幾何学的な中心位置を算出する解析手段34と、各スポットパターンにおけるスポット中心の位置とハローの中心位置とを結んだ線同士が交差する位置に基づいて調整位置を算出する調整位置決定手段35とを有し、調整位置にアパーチャ18の中心軸を移動させることでアパーチャ18の位置を調整する。 (もっと読む)


【課題】 高速に駆動させた場合でも、圧電素子に無理なく、安定的に動作する与圧機構を備えた圧電アクチュエータを提供する。また、圧電素子の変位を大きな信号として検出し、検出精度が向上した圧電アクチュエータを提供する。
【解決手段】 一端が前記土台6に固定され他端が積層型圧電素子2または被駆動体5に接触した弾性部材となる板バネ4が、土台6に固定した一端側の部分より積層型圧電素子2に保持された他端の部分の方が断面二次モーメントが小さくなるように、土台6側から積層型圧電素子2側へ向かって厚みが薄くなるようにした。また、板バネ4の積層型圧電素子2に近い一端の積層型圧電素子2の伸縮方向に直交し被駆動体5側となる一面である側面4aに歪ゲージセンサー8を取り付けた。 (もっと読む)


【課題】 測定対象が変わっても測定対象の反射率などの光学特性、あるいは形状や機械的特性に依存せずに検出感度やノイズの割合が調整可能で、測定対象への照射光による測定対象の熱変形の影響が小さくでき、最適な条件下で測定精度を確保することが可能な光学式変位検出機構を提供する。
【解決手段】 測定対象となるカンチレバー6に光を照射する光源10と、光源10を駆動する光源駆動回路21と、光源10からカンチレバー6に照射した後の光を受光し、光強度を検出する光検出器16と、光検出器16の検出信号を所定の増幅率で増幅する増幅器22から構成される光学式変位検出機構において、光強度調整器28と増幅率調整器27を設けカンチレバー6への照射光強度や光検出器16の増幅率を可変できるようにした。 (もっと読む)


【課題】 定常状態であることを前提とせずに、散逸に関する値、あるいは散逸エネルギーに比例する値を計測できる。
【解決手段】 カンチレバー2の共振周波数に追随して励振を行う励振手段12と、カンチレバー2の先端の探針の変位を検出する変位検出器10と、変位検出器10からの信号から振幅を逐次得る振幅検出器20と、振幅の時間差分値を得る差分値検出器21と、時間差分値間の商の値を得る割り算器22と、商の値の対数値を得る対数変換器23と、対数値を差分時間で割った値を求めて散逸に関する値を得る第二の割り算器24と備えるようにした。 (もっと読む)


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