【課題】２種類の異なる波長の光を照明して検査対象物を透過又は反射させて２つの画像のデータの差を求め、その差から検査対象物の欠陥を検出することができる検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】青色の光を含む２種類の異なる波長の光を検査対象物に照明し、検査対象物を透過又は反射した光に基づいて作られた２つの画像のデータの差を求め、その差から検査対象物の欠陥を検出する。青色の光を含む２種類の波長の光で検査対象物を照明する照明手段と、照明手段から２種類の波長の光が検査対象物に照明されて検査対象物を透過又は反射したあと、２つの画像を撮像する撮像手段と、撮像された検査対象物の２つの画像のデータから検査対象物の欠陥を検出するための画像処理手段を備え、撮像手段により得られた２つの画像のデータの差を求め、検査対象物の欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】透明体の不良について、より明瞭に検査できる透明体検査装置、透明体検査方法、および透明体検査システムを提供する。
【解決手段】普通人が視認すると透明に見える透明体を検査する透明体検査装置に、前記透明体に含有されている蛍光成分を発光させる所定波長の照明光を照射する照明手段と、該照射を受けて発光している前記透明体を撮影して撮影画像を取得する撮影手段と、該撮影画像に基づいて前記透明体に不良がないか判定する判定手段とを備えた。 （もっと読む）

【課題】記録媒体上の２つの線分の成す角を高精度に求めることのできる角度測定方法、その方法の実施に好適な画像記録装置、及びそのためのプログラムを提供する。
【解決手段】記録媒体上に記録された測定パターンである第１の線分と第２の線分とが成す角の角度を求める。このために、ｓｔｅｐ２において、第１の線分の向きである第１の方向と第２の線分の向きである第２の方向とのどちらとも平行ではない走査方向となるように記録媒体を画像読み取り装置に配置し、ｓｔｅｐ３において、この記録媒体に対する走査を画像読み取り装置に行わせて測定パターンを読み取らせ、その測定パターンが表されている画像データを生成させる。そして、ｓｔｅｐ４及びｓｔｅｐ５において、この画像データから測定対象の角度を求める。 （もっと読む）

【課題】 しわの発生を未然に確実に防止することができる搬送膜のしわ検知装置およびその方法を提供する。
【解決手段】 搬送ライン１に沿って搬送される搬送膜２に生成されるしわの発生を未然に検知する搬送膜２のしわ検知装置３であって、搬送膜２の表面に向けて照射光を照射する光源部３２と、光源部３２より照射された照射光を受光して搬送膜２の二次元形状を撮像するカメラ部３３と、カメラ部３３より撮像された撮像データから、搬送膜２の表面に発現した複数の線状稜線２１・２１・・・からなる紋様２０の所定のデータ値を検出する検出部３４と、検出部により検出された所定のデータ値が搬送膜２にしわが発生した時のデータ値の範囲内にあるか否かを判定する判定部３５とを有する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、画像認識カメラのキャリブレーションを精度良く行うことができる画像認識カメラのキャリブレーション方法を提供する。
【解決手段】基準マークＭａ,Ｍａを形成した透光性の校正用マスク３１を用い、画像認識カメラ６により、上昇待機位置Ｓ２に移動した校正用マスク３１の基準マークＭａ,Ｍａを位置認識する第１マーク認識工程と、第１マーク認識工程の後に、校正用マスク３１を降下させワークテーブル４にセットするマスクセット工程と、マスクセット工程の後に、画像認識カメラ６により校正用マスク３１の基準マークＭａ,Ｍａを、位置認識する第２マーク認識工程と、第１マーク認識工程および第２マーク認識工程においてそれぞれ位置認識した２つの認識結果に基づいて、校正データを取得する校正データ取得工程と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、画像認識カメラのキャリブレーションを精度良く行うことができる。
【解決手段】基準マークＭａ,Ｍａを形成した透光性の校正用マスク３１を用い、所定の位置に移動した画像認識カメラ６により、保持ヘッド２に保持され上昇待機位置Ｓ２に移動した校正用マスク３１の基準マークＭａ,Ｍａを、一方の鏡筒２１,２２を介して位置認識すると共に、保持ヘッド２に保持され接合位置Ｓ１に移動した校正用マスク３１の基準マークＭａ,Ｍａを、他方の鏡筒２１,２２を介して位置認識するマーク認識工程と、マーク認識工程において位置認識した２つの認識結果に基づいて、校正データを取得する校正データ取得工程と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】 用紙長の測定精度向上。
【解決手段】 搬送用紙の先端、後端を同時に検知して用紙長を測定する。
片方の端部を光学センサで検知し、そのタイミングでもう一方の搬送方向端部位置を搬送方向に配置されたラインセンサで検知、用紙長を算出する。
時間成分を排除して精度を向上。 （もっと読む）

【課題】 封筒媒体の搬送状態、或いはフラップのよじれ等の影響を受けることなく、封緘状態を確実に判別できるようにする。
【解決手段】 封筒本体Ｐａに一体的に形成されるフラップＰｂを折り曲げて接着することにより封緘される封筒Ｐをそのフラップ側を先頭にして搬送する搬送機構３と、この搬送機構３によって搬送される封筒ＰにそのフラップＰｂ側から後端側に向かってレーザ光を走査し、フラップＰｂと封筒本体Ｐａから反射されるレーザ光を受光することにより、封筒Ｐの搬送方向に沿う厚さ方向の形状を検出する検出部５と、この検出部５が検出した形状に基づいて封緘状態を判別する判別部とを具備することを特徴とする。 （もっと読む）

シート材料の表面の形状プロファイルを測定するための装置は、前記シート材料の表面に向けて光ビームを提供する光源と、前記光ビームが前記表面で検出される際に前記表面の複数の位置に入射して、前記複数の位置のそれぞれにおいて反射光ビームを生じるように前記光源を前記シート材料の表面上を移動させるために前記光源に連結する線形の移動ステージと、前記複数の位置のそれぞれにおいて生じた反射光ビームを選択的に受信するために所定の位置に配置される複数の光受信器と、前記光源と前記複数の位置のそれぞれで生じた反射光ビームを受信する前記複数の光受信器から選択される１つの光受信器との位置差に関する情報を受信するように構成されるデータ収集装置と、前記位置差情報を前記シート材料の表面の形状プロファイルと関連付けるように構成されるデータ解析装置とを備えている。
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アーティファクトを低減するために、領域ベースのフィルタリングを用いて少なくとも２つのイメージから奥行情報を抽出するシステムおよび方法を提供する。本開示は、走査線動的プログラミング（ＤＰ）または他の同様の方法によって生成されるアーティファクトを低減するために、事後処理アルゴリズムまたは機能を提供する。該システムおよび方法は、あるシーンから第１のイメージおよび第２のイメージを取得すること（２０２）と、第１のイメージ内の少なくとも１つの点と第２のイメージ内の対応する少なくとも１つの点との視差を推定して、視差マップを生成すること（２０４）と、第１のイメージと第２のイメージの少なくとも一方を少なくとも１つの領域にセグメント化すること（２０８）と、該セグメント化された領域に基づいて視差マップをフィルタリングすること（２１０）を提供する。さらに、水平方向よりも垂直方向に大きな平滑化効果を有する異方性フィルタを用いることにより、奥行境界を実質的に不鮮明にすることなく縞状アーティファクトを低減する。
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【課題】極薄セラミックスフィルムの厚さを非接触で高速度に、連続的に測定する方法と装置を提供する。
【解決手段】フィルムの製造ラインで厚さをスキャン測定する本体と、操作・表示をするノートパソコンと、電源・通信部箱を組合せて構成し、投光光源の角度を、計測軸より一定の角度をずらせて投光して、直接光の透過減衰率を測らず、透過拡散放射率の強度のみを測定し、透過波長と厚さによる拡散透過放射率の違いを利用して極薄セラミックスフィルム厚さを測定する。 （もっと読む）

【課題】搬送角度を容易に求めることが可能な画像検査装置、画像検査方法および検査用画像作成方法を提供する。
【解決手段】一方向を長手とする複数のレンズを有するレンズシートＬに印刷されている検査用画像を用いて搬送角度を算出する画像検査装置であって、検査用画像は、特定のラインを基準ラインとし、この基準ラインから一方側および他方側のそれぞれに向かって離間するラインごとに、当該基準ラインに対する傾斜角度が所定の角度ずつ増大するように、各ラインが配置されていて、この検査用画像が印刷されているレンズシートＬに光を照射し、このレンズシートＬから反射される光を読み取って、該レンズシートＬに対応する読み取り画像を出力するスキャナ手段１１Ｂと、読み取り画像から、レンズシートＬの搬送角度を算出する算出手段１１Ｃと、を具備している。 （もっと読む）

【課題】 検出対象物の検出可能範囲が広く、しかも位置検出精度を向上した受発光一体型素子アレイおよびそれを用いたセンサ装置を提供する。
【解決手段】 本発明に係る受発光一体型素子アレイＬは、基板１と、基板１上に列状に配置して設けられた複数の受光素子２と、基板１上に、受光素子２の配列方向に沿って、列状に配置して設けられた複数の発光素子３と、を備えている。そして、発光素子３は、各受光素子２に対し、複数個ずつ対応するように設けられている。 （もっと読む）

少なくとも部分的に正反射性の挙動を示し、露光領域内に位置する対象物（２）の構造細部の反射による観察のための装置であって、放射線の流れを放射する少なくとも２つの別個の領域（２６、２７）を有する放射面（６）を伴い、少なくとも１つの特性が１つの領域と隣の領域とで異なる少なくとも１つの放射線源と、露光領域に対して放射線源と一直線を成して放射線の経路に位置する光学投影系と、光学投影系の入口絞り（１４）と放射面（６）とを光学的にリンクさせるようになっている光学露光系（１８）と、露光領域内の対象物と光学的にリンクされるとともに、その受けられる放射線が対象物（２）における偏向に依存する投影面（１０）とを含む装置。 （もっと読む）

【課題】波長依存性を有する多層膜試料の膜厚をより高い精度を測定することが可能な多層膜解析装置および多層膜解析方法を提供する。
【解決手段】波数変換部７２１は、バッファ部７１に格納される波長毎に、波数Ｋ_１（λ）および波数変換反射率Ｒ_１’（λ）（＝Ｒ（λ）／（１−Ｒ（λ）））を順次算出し、バッファ部７３１へ出力する。バッファ部７３１は、波数変換部７２１から順次出力される波数Ｋ_１（λ）と波数変換反射率Ｒ_１’（λ）とを対応付けて格納する。フーリエ変換部７４１は、バッファ部７３１に格納される波数変換反射率Ｒ_１’（Ｋ_１）を波数Ｋ_１についてフーリエ変換を行って、パワースペクトルＰ_１を算出する。ピーク探索部７５１は、フーリエ変換部７４１によって算出されたパワースペクトルＰ_１の中に現れるピークを探索し、各ピーク位置に対応する膜厚を取得する。 （もっと読む）

【課題】透明体である被検出対象物のエッジ位置検出機能、ラインセンサの全遮光状態判定機能、及び、被検出対象物内部の汚れの誤計測回避機能を備えた、透明体の位置制御に用いるのに好適なエッジ検出装置を提供する。
【解決手段】ラインセンサ１と、ラインセンサ１に向けて単色光を照射する光源２と、単色光の光路に位置付けられた被検出対象物３のエッジにおける光量分布からラインセンサ１の画素配列方向における被検出対象物３のエッジ位置Ｅを検出するエッジ位置解析手段４ａと、エッジ位置解析手段４ａで被検出対象物３のエッジ位置Ｅを検出した時点で、ラインセンサ１における被検出対象物３のエッジ位置Ｅに対応する画素までの全受光量を求め、この全受光量が予め記憶したラインセンサ１の全入光状態でのエッジ位置Ｅに対応する画素までの全受光量よりも小さいときに被検出対象物３による全遮光状態として判断する全遮光状態判断手段４ｂを備えた。 （もっと読む）

【課題】本発明は、寸法精度の厳しい品種の平版印刷版においても十分な検査精度の得られるシート傾斜角測定方法、シート検査方法、シート検査装置、の提供を目的とする。
【解決手段】平版印刷版Ｐの搬送面に向かって投光する投光部２Ａ、４Ａと、投光部２Ａ，４Ａからの光を受光する受光部２Ｂ、４Ｂとを有する投受光部２，４を、平版印刷版Ｐの搬送方向に対して直交する方向に沿って１対配設し、投受光部２，４の夫々において、平版印刷版Ｐが投光部２Ａ、４Ａからの光を遮断する遮光タイミングを測定し、一対の投受光部２、４のうちの一の投受光部と他の投受光部とにおける遮光タイミング差と、前記平版印刷版Ｐの搬送速度Ｖと、一の投受光部と他の投受光部との距離Ｄ１とに基いて平版印刷版Ｐの前縁ｐ１の搬送方向に直交する方向に対する傾斜角θ１を求めるシート傾斜角測定方法。 （もっと読む）

【課題】シート状の大型の被検体において、開口合成に必要な被測定領域内の各部分に対応した複数の干渉縞画像を短時間で取得することが可能で、被検体の被測定領域全域に亘る厚みムラを高精度に測定し得る大型サンプル測定用干渉計装置を得る。
【解決手段】被検体９の一面９ａ側から測定光を照射し、被検体９上の各第１領域の透過波面情報を担持した第１干渉縞画像を得る第１の干渉計ヘッド１Ａ〜１Ｇと、被検体９の他面側９ｂから測定光を照射し、被検体９上の各第２領域の透過波面情報を担持した第２干渉縞画像を得る第２の干渉計ヘッド２Ａ〜２Ｆとを、互いに隣接する第１領域と第２領域とが一部重なり合うように、かつ各々の第１領域および第２領域により被測定領域を包含し得るように配置する。 （もっと読む）

【課題】 従来、光の入射方向によっては、同じ紙表面が違う画像として捉えられてしまい、読取対象に関する情報を正確に読み取ることできなかったという課題を解決することを目的とする。
【解決手段】 紙１５の表面に斜め方向より光を照射する発光素子１１と、その照射領域内を映像として読取るエリアセンサ１３とを備え、読取結果から紙１５に関する情報を読取る映像読取装置において、発光素子１１を、紙１５の搬送方向に対し斜めの方向より照射するよう所定の角度をもって配置した。 （もっと読む）

【目的】欠陥候補クラスタ画像の形状傾向に応じて検査レベルを異ならせる。
【構成】カメラによって読取られて得られた印刷物の画像を表す被検査画像データと，メモリに記憶されている基準画像を表す基準画像データとに基づいて画素ごとの差がとられ，その後２値化されて２値画像データが得られる。２値画像データがラベリング処理されて欠陥候補クラスタ画像を構成する差分画素が特定される。欠陥候補クラスタ画像のそれぞれについて外接矩形の大きさに対する割合（面積比率）が算出される。面積比率が大きい場合（ステップ21でYES ），その欠陥候補クラスタ画像は点状の形状を持ち，面積比率が小さい場合（ステップ21でNO），その欠陥候補クラスタ画像は線状の形状を持つと判断される。点状および線状の形状ごとに異なるしきい値が用られて，欠陥候補クラスタ画像が検査される（ステップ22，23）。 （もっと読む）