対象物の画像化のシステムと方法。
検出器アレイの画像が画像面に配設される。検出器の各アレイは内挿部を有しているタイミング回路に接続され内装器はそれが放電する時とは異なった速度で第１のキャパシタを充電する第１の回路を含む。光パルスは対処物の方に送られるので光パルスの一部分は反射パルスとして対象物から反射され光パルスがいつ対象物へ送られたかを示す第１の値が記録される。反射されたパルスは１またはそれ以上の検出器で検出されそのパルスのパルス特性とその反射パルスが検出器にいつ到達したかを表わす第２の値とが記録される。対象物との範囲はその後第１及び第２の値と反射されたパルス特性の関数として計算される。 （もっと読む）

【課題】
電気設備の汚損・不良箇所とその程度を定量的に判定できるようにする。
【解決手段】
点検対象の電気設備１２を紫外線カメラ１４と可視カメラにより、同一光軸かつ同一画角で撮影する。画像解析装置３０は、紫外線映像から時系列に複数のフレームを抽出し、各フレーム上で同一紫外線発生源からの紫外線像を検出する。各フレームの当該紫外線像を同一画面上で積算し、積算紫外線像を隣接するもの毎にグループ化する。積算紫外線像の各グループから所定強度未満の部分を除去した後、積算紫外線像の各グループのサイズを算出する。算出されたサイズを基準距離でのサイズに標準化する。判定装置３２は、標準化されたサイズを、電気設備のある場所の天候に応じた判定閾値と比較する。 （もっと読む）

【課題】 低コストで、かつ短時間で、微細な凹凸まで正確に計測する。
【解決手段】 輝度の方向特性がなだらかに変化する配光特性を、面内の所定の領域において略均一に有し、かつ被検査体に光を照射ための再帰型反射スクリーン１と、被検査体６表面で反射する光を撮像して撮像画像を得るエリアセンサカメラ２と、撮像画像の濃度分布に基づいて被検査体の表面形状を測定する画像処理装置３とを含む。 （もっと読む）

例えば画像キャプチャ装置又はコンピュータ装置の可変機能を手動で選択的に制御及び／又はアクチュエートするための光学入力及び／又は制御装置であって、ダイオードレーザ（３）からの放射が収束される透明な窓（１２）を有する光学入力及び／又は制御装置である。物体、例えばユーザの指（１５）が窓（１２）を横切って移動するとき、指（１５）の移動により周波数がドップラーシフトされる散乱された放射の部分が、レーザキャビティに再入射する。レーザダイオード（３）の自己混合効果を用いて相対運動が測定される。この効果は、レーザ（３）により放出されてレーザキャビティに再入射する放射が、レーザのゲインの変化を誘起し、したがってレーザ（３）により放出された放射の変化を誘起する、という現象である。この変化は、放射の変化を電気信号に変換するフォトダイオード（４）によって検出することができ、この信号を処理する電気回路が提供される。
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深度情報を含む画像を生成する方法と装置が提供される。この方法では、場面から発する放射を検出し、異なる面における場面の少なくとも２つの画像を形成する。各画像は強度データ値のセットを有する。データ値の変動が得られ、強度分散の２つのセットがデータ値から得られ、強度分散データは深度情報を得るために処理される。深度情報は、画像データにおける異なる深度情報を識別するためにコード化される。

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【課題】搬送される対象物を平面分光器を用いて、高い分解能で異種品の検出を可能とすること。
【解決手段】本発明では、搬送手段（11）と、近赤外線の照射手段（４）と、反射光を平面分光する平面分光手段（２）と、撮像手段（３）と、反射光のスペクトルデータを得て主成分分析手法を用いて異種品を検出する解析手段（５）とを備え、前記解析手段（５）は、前記スペクトルデータを平均化および標準化する前処理、波長軸平均化処理、ラグランジェ補間する補間処理、測定位置最適化処理、空間軸平均化処理、一次・二次微分および平滑化する変換処理、予め取得したローディングベクトルデータに基づいて主成分得点を算出する主成分得点算出処理、および異種品の判定を行う判定処理を行う。 （もっと読む）

物体の空間的特性を決定するための方法には、２つ以上の界面を含む測定物体からの走査低コヒーレンス干渉信号を得ることが含まれる。走査低コヒーレンス干渉信号には、２つ以上の重なり合う低コヒーレンス干渉信号（それぞれ個々の界面に起因する）が含まれる。低コヒーレンス干渉信号に基づいて、少なくとも１つの界面の空間的特性が決定される。場合によって、決定は、低コヒーレンス干渉信号のサブセットに基づき、信号の全体に基づくのではない。あるいはまたは加えて、決定は、低コヒーレンス干渉信号を得るために用いられる干渉計の機器応答を示す場合があるテンプレートに基づくことができる。
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本発明の様々な実施形態では、オンチップ測定情報を、順番にではなく、ランダムに出力することができ、三次元画像を必要とするオブジェクト追跡、及び他の情報のためのオンチップ信号処理を、すぐに遂行することができる。システム全体は小さく、強固で、かなり少ないオフチップの別個の構成要素を必要とし、かつ、検出信号特性の改善を示す。オンチップ回路は、そのようなTOFデータを使って、場面内の一つのオブジェクト、又は全てのオブジェクト上の全ての点の距離及び速度を、同時に、容易に測定することができる。同様に、オンチップ回路はまた、検出センサ内の各画素における検出画像の分光組成を特定することができる。有利なことに、その個々の画素が分光組成を特定することができるセンサを使用して、さらに、TOF情報を特定することもできる。
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【課題】 被写体や照明光の影響を受けることなく、正確な３次元情報の入力が可能である３次元情報入力カメラを提供する。
【解決手段】 ３次元情報入力カメラは、被写体または照明光についての撮影条件を検出する撮影条件検出手段を備える。投影手段１は、２種以上のパターン光を選択可能に投影できるように構成される。投影手段１は、撮影条件検出手段による被写体または照明光についての撮影条件検出結果に基づいて、投影するパターン光の種類を選択して投影する。 （もっと読む）

高周波成分をＳ₁＝ｃｏｓ（ω・ｔ）と理想化できる変調された周期的波形を有する光エネルギーを放射してターゲットを照射することにより、距離及び／または輝度を測る、好ましくはＣＭＯＳで実施可能な方法とシステム。放射された光エネルギーの一部分は、ターゲットにより反射され、複数の半導体光検出器のうち少なくとも一つにより検出される。光検出器の量子効率は、検出した信号を処理してターゲットと光検出器を隔てる距離ｚに比例するデータを作り出すために変調されている。検出は、放射された光エネルギーと反射された光エネルギーの一部分の間の位相変化の測定することを含む。量子効率は固定位相法または可変位相法により変調でき、高められた光電荷収集、差動変調、空間的マルチプレクシング及び時間的マルチプレクシングを用いて高めることができる。光検出器の容量と動作周波数において共振するインダクターを使って、本システムの必要電力条件を削減することもできる。本システムはチップ上の光検出器、関連エレクトロニクス、処理を含む。 （もっと読む）