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Fターム[2F069PP04]の内容

測定手段を特定しない測長装置 (16,435) | 測定の前処理 (185) | 測定対象物への測定用加工 (13)

Fターム[2F069PP04]に分類される特許

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【課題】簡便でありながら、精度高く、タイヤのトレッド溝底における歪みを測定することができるタイヤ溝底の歪みの測定方法を提供する。
【解決手段】タイヤ溝底に切り込みを入れ、その開き量を測定することにより、タイヤ溝底の歪みを測定するタイヤ溝底の歪みの測定方法であって、切り込みに有色の微粉末を塗布した後、微粉末を粘着テープに転写し、粘着テープの転写跡を測定することにより、切り込みに基づく開き量を測定するタイヤ溝底の歪みの測定方法。前記切り込みは、幅2〜15mm、深さ0.5〜3mmの直線状の切り込みであり、タイヤ周上の2〜10箇所で行われている。前記微粉末は、酸化チタンである。 (もっと読む)


【課題】ベルマウス模型の3次元計測を用いることによって、ベルマウス図面の精密な製作と同時に図面製作時間の短縮を可能にするベルマウス模型を用いたベルマウス図面製作方法を提供する。
【解決手段】実際のベルマウスの模型の3次元計測を用いることによって実際のベルマウスの図面を製作する方法であって、実際のベルマウスから縮尺したベルマウス模型を複数の断面に分割するステップと、縮尺したベルマウス模型の複数の断面を複数の曲線で表示するステップと、複数の曲線の座標を計測するステップと、計測された座標を利用してベルマウス模型の複数の断面図を形成するステップと、断面図を拡大することによって実際のベルマウスの図面を製作するステップとを含む方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】測定誤差の少ない圧電体薄膜の変位量を得ることができる圧電体薄膜の評価方法を提供する。
【解決手段】圧電体薄膜31の評価方法は、まず、圧電体薄膜31を含む試料12を試料固定治具20に固定する。試料12には、圧電体薄膜31に電圧を印加するために圧電体薄膜31を挟むように、第1電極42と第2電極43とが形成されている。次に、探針33を圧電体薄膜31の電界方向に対して交差する方向にある測定面に直接接触させる。そのあと、圧電体薄膜31に電圧を印加しながら、探針33を測定領域に直接走査させることにより、圧電体薄膜31の圧電特性(第1変位量)を測定する。 (もっと読む)


【課題】岩盤内の不連続面位置等の特定された区間を除いて分離したケーシングパイプが固定される方法及び装置を提供する。
【解決手段】分離ケーシング設置装置1は、2本のケーシング5,5と、夫々のケーシング5を内側より一時的に押圧固定するメカニカルパッカ6と、離隔したケーシング5,5間に配設する連結部材7を有し、メカニカルパッカ6により同一中心軸を有して一体をなした状態で組立て、孔井3内に挿入して不連続面4の位置とケーシング5の離隔位置が対応するように高さ調整し、連結部材7の内側に水圧を負荷して拡張変形させ孔井壁面3aに密着させながらケーシング5と孔壁3aとの間に固結材9を充填して、岩盤不連続面4の孔井壁面開口部を固定材で塞がない分割ケーシング構造を達成する。 (もっと読む)


【課題】 ころを安定して転動させることができるシェル形外輪の軌道面の真直度および平行度を測定する形状測定装置を提供する。
【解決手段】 シェル形外輪の形状測定装置は、内径穴35を有する基準リング32と、内径穴35に圧入されたシェル形外輪22の内径面26および基準リング32の外径面または内径面の母線形状を測定するプローブ部33と、プローブ部33を軸方向に走査して移動させるプローブ移動手段とを有する。 (もっと読む)


【課題】試験片のマクロまたはミクロの変形の測定を含め、試験片の変形特性を決定するために試験片にマークを付けて測定するための方法および装置を提供すること。
【解決手段】試験片にマークを付けて測定するための方法および装置であって、エネルギー式システムを用いて試験片の変形特性を決定するために高解像度ゲージマークを形成する。 (もっと読む)


【課題】光記録媒体でのV溝形状のグルーブと、ここに形成された記録マークとの位置関係及び記録マークの形状を精密に測定する。
【解決手段】V溝形状のグルーブを有する光記録媒体に記録マークを形成しておき、これを、記録マーク測定装置50における走査型プローブ顕微鏡52をAFMモードとしてプローブにより走査し、得られた凹凸像の信号から、V溝の底部のみを残すデータ処理を施して、グルーブ底部強調凹凸像を得て、このグルーブ底部強調凹凸像と検出電流により得られたコンダクティブAFM像とを合成して、グルーブ底部と記録マークとの位置関係を測定する。 (もっと読む)


【課題】 FIBなどを使用して電気配線などを形成しても、スカム等の影響を受けることなく、絶縁膜の微細領域の電気的欠陥を測定することができる、絶縁膜の測定方法を提供する。
【解決手段】 測定すべき膜を有する素子の上に、前記膜の上に測定の障害となる不純物を付着させないための保護膜を形成する保護膜形成工程と、前記素子を測定するための測定用電気配線を形成すべき領域の前記保護膜を除去する保護膜加工工程と、前記領域内に前記測定用電気配線を形成する測定用電気配線形成工程と、前記膜の上に形成されている前記保護膜を除去する保護膜除去工程と、前記膜を電気的に測定する膜測定工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 自動車の走行時、中間軸に対する等速自在継手の折れ角を簡便な手段により検出できるようにする。
【解決手段】 一対の等速自在継手12,13を中間軸14によりトルク伝達可能に連結したドライブシャフト11において、一方の等速自在継手12の外表面および中間軸14の外表面に、両者の軸線に対する姿勢を指標するターゲット19,20を設け、前記等速自在継手12のターゲット19と中間軸14のターゲット20のそれぞれの座標位置を検出手段21,22により検出し、その検出された前記両ターゲット19,20の位置に基づく等速自在継手12の軸ベクトルOと中間軸14の軸ベクトルSによって、前記中間軸14に対する等速自在継手12の折れ角を演算手段23により算出可能とする。 (もっと読む)


【課題】 超高真空中において試料に応力を印加しながらその表面構造の原子レベルの分解能でのその場観察を行うことができる超高真空走査型プローブ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 この出願の発明の超高真空走査型プローブ顕微鏡は、超高真空状態の真空槽内に、板状試料(2)の一端又は両端を支持する試料ホルダー(3)と、垂直方向の変位がナノスケールで制御され、板状試料(2)に対し応力を印加する応力印加機構(6)、(7)、(8)と、応力が印加された板状試料表面の状態を原子レベルの分解能でその場計測するプローブ(1)を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


磁気ディスク用サスペンションの捩れ角測定において、磁気ディスク用サスペンションの基準面を、既知の捩れ角が設定された平滑な基準平面を有する治具上に加圧して固定する取付け手順と、前記治具に固定した前記サスペンションにおけるスライダ搭載面の前記基準面に対するロール方向及びピッチ方向の捩れ角を測定する測定手順とから構成される。
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【課題】 走査型プローブ顕微鏡の試料台の上に試料の被観察部である中心部がプローブの深針に近接するように設置し、試料の両端部を対向する一対の把持具で把持し、対向位置にある一対の把持具が反対方向に移動可能であり、試料の被観察部である中心部が静止状態を保つように試料に歪みを与えることができる走査型プローブ顕微鏡用試料延伸ホルダーおよび該試料延伸ホルダーを用いた試料の表面状態の観察方法を提供する。
【解決手段】 走査型プローブ顕微鏡に設置された試料10を延伸させる試料延伸ホルダー1であって、試料10の両端部を把持する一対の把持具9と、一対の把持具9を移動可能に支持する支持部材4と、対向位置にある一対の把持具9を互いに離間する方向に移動させる移動機構7とを備えた。 (もっと読む)


【課題】測定対象とされる被検面を備えた被検体を、測定結果に悪影響を及ぼすことのない適正な荷重により、測定系に対して静止状態となるように保持し得るようにする。
【解決手段】被検面41の軸線Cが重力方向に対して略直角となるように配置された被検体40に、該被検体40を上下から押圧するとともに被検面41に曲げを生じさせるような荷重を作用せしめる。荷重を作用せしめた際の被検面41の変形量を、荷重の大きさを変えて少なくとも2回計測し、その計測結果に基づき被検面41の変形量と荷重の大きさとの間に成立する対応関係を求める。この対応関係から、被検面41の変形量が例えば製造誤差の許容範囲内に収まるような大きさの適正荷重を求め、求められた適正荷重により被検体40を保持する。 (もっと読む)


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