【課題】半導体装置の電極密度が高密度化された場合であっても、コンタクト端子の配列における狭ピッチ化に容易に対応しインピーダンス整合を図ることができ、しかも、大幅な設計変更することなくコンタクト端子ごとの配置の変更も容易にできること。
【解決手段】信号ラインに対応した金属製アッパハウジング１０のセル１０ａｉにおいて、電気絶縁性を有するアダプタ２４の端部と電気絶縁性を有するロアハウジング１２の内面との間には、環状の空気層Ａｉが互いに同一の構成を有するコンタクト端子２０ａｉのスリーブ２０Ｓの周囲に形成され、また、接地ラインに対応したセル１０ａｉにおいては、コンタクト端子２０ａｉの接点部２０ＣＴ２がロアハウジング１２の透孔１２ａｉに挿入され、その接点部２０ＣＴ１がセル１０ａｉの内面に当接する導電性のカラー２２の小径孔２２ｂに挿入されるもの。 （もっと読む）

【課題】温度変化によって冷却槽が熱伸縮しても、超電導線の臨界電流値を正確に測定し、また測定異常により測定装置が停止することを防止する測定電極、および超電導臨界電流測定装置を供給する。
【解決手段】超電導線８を冷却するための冷媒４を内部に保持する冷却槽２０の内部に具えられ、超電導線８の臨界電流値を測定する測定電極であって、超電導線８を挟み込む、略板状の上部電極３６および下部電極３７から構成されており、上部電極３６と下部電極３７とは、上部電極３６と下部電極３７との少なくとも一つを移動させる移動手段６を介して接続されており、下部電極３７は、冷却槽２０の底部に接触していない。 （もっと読む）

【課題】計測用クリップを着脱させて利用できる低圧配電路用の電圧測定補助具を提供することを課題とする。
【解決手段】電圧測定補助具を、クリップが取り付け可能なクリップ取付端子と、これに電気的に接続され、電線の絶縁被覆に食い込む鋭利な先端を備えた鋭先電極と、電線を挟み込むと共に鋭先電極を電線の絶縁被覆に対して側方から押し付ける押圧手段を備えた締め付け機構とを有し、クリップ取付端子と鋭先電極とを一体化したモジュールを締め付け機構に着脱自在に装着する。クリップ取付端子と鋭先電極とを締め付け機構に一体化させてもよい。 （もっと読む）

【課題】この発明は、電流リード線と電圧リード線が互いに干渉し合うことがなく正確な測定が行われるようにし、かつ導電性部材を固定するボルトが支障とならないような計測用端子を得ようとするものである。
【解決手段】一方の端にネジ穴８_１,８_２を設け、他方の端に一部が突設して被接続端子７と接触するようにした接触部６_１，６_２を設けた二つの導電性部材導電性部材３_１，３_２をその中間に絶縁性支柱４を挟んでネジ９_１,９_２で止め、さらに両導電性部材の間に電池の被接続端子７を挟んで固定し、両導電性部材は中間部に配した被接続端子のみで電気的に導通し、被接続端子以外では相互に電気的に絶縁された状態としたことを特徴とする計測用端子である。 （もっと読む）

【課題】ＩＣ装置のピン素子やテスト・チップ・レセプタクルを清掃して、テスト・プローブの尖端を清潔に保つ、清掃用ＴＣＣ清掃装置及びその清掃方法の開発。
【解決手段】本発明の装置は試験用メイン・フレームと複数の器皿と、チップ・テスト・レセプタクルと、１つまたはそれ以上の取り上げ/安置器とを含んでいる。待試チップ（電子素子）は皿に搭載され、複数の粘着清掃チップは別な皿に搭載される。粘着清掃チップは固体層と粘着層を含み、後者には摩擦物質が混入されている。取り上げ/安置器は粘着清掃チップ・テスト・レセプタクルの上方の位置に運び、酸化物やその他のレセプタクルに附着した雑物を吸取りや摩擦により清掃する。食刻によるテスト・プローブの清掃のための設備作業の中断を必要とせず、作業能率が向上する。 （もっと読む）

【課題】被験体の被覆部分を避けてテストクリップを被測定領域に確実に接触させることができ、再接続作業を不要にするとともに、被験体の太さに拘らず、テストクリップと被験体の被測定領域との接触を維持する。
【解決手段】プローブにおいて、断面がほぼ三角形状であって、該三角形状の頂点付近で前記被験体の被測定領域に接触可能なＬ字型のテストクリップと、駆動手段により駆動される可動保持体とを備え、前記テストクリップと前記可動保持体とで前記被験体の被測定領域を挟持して、接触を維持できるようにした。 （もっと読む）

【課題】電子部品への接触子の接触状況が安定し、正確な接触圧を確保することができ、電気特性の正確な測定を可能とする電子部品測定装置及び電子部品測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る電子部品測定装置１は、電子部品Ｓに接触する接触子２と、この接触子２を保持する上下のレバー３及び複数のローラ４とを備える。また、本装置１は、電子部品Ｓを保持して各処理工程を搬送するチャック５と、このチャック５が本装置１の処理工程へ電子部品Ｓを搬送してきた際に、当該電子部品Ｓを下部から保持するホールドピン６と、レバー３及びホールドピン６を上下方向に駆動するシャフト７及びカム８から成るカム機構部９と、このカム８の動力となるモータ１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 電子部品から平行に延びるフレキシブルな薄板電極にワンタッチで確実に接続できる試験用コネクタを提供する。
【解決手段】
上段挟持板１０はプラスチック製の細長い板であり、その下面に、左右の接触端子１２が間隔を設けて取り付けてある。下段挟持板１１は細長いプリント基板でできており、その上面に形成される金属箔部分１３が左右の接触端子を形成している。上段挟持板は１０両端の近くから下に向かって支柱１７が延びており、これら支柱は下段挟持板１１を貫き、プラスチックの細長い基台１９に固定されている。他方、下段挟持板１１から上段挟持板１０を貫いて３本の上段支柱１７が上に伸びており、これら上段支柱の上に細長い押圧部材２０が支持されている。押圧部材と上段挟持板の間には支柱に沿う格好でコイルスプリング２１が縮設されている。 （もっと読む）

【課題】スライドシャフトを貫通させたシャフトブロックの頂面を上部クリップの先端部分で当接することによりシャフトブロックをスライドシャフトに沿って上下にスライドさせることができ、プローブを垂直方向に上下動させることができるクリップ型コネクタを提供する。
【解決手段】クリップ型コネクタは、被検査対象体を載置する下部ブロックを先端に設けた下部クリップと、先端部分が下方に付勢されながら回動自在となるように前記下部クリップに軸着された上部クリップと、前記下部クリップに設けられた前記下部ブロックに連設したシャフトブロックに垂直に立設されるスライドシャフトと、前記スライドシャフトを貫通させ、該スライドシャフトに沿って上下にスライドするシャフトブロックと、前記シャフトブロックと連設し、前記シャフトブロックの頂面を前記上部クリップにおける先端部分で当接して前記スライドシャフトに沿って上下にスライドする上部ブロックと、前記上部ブロックから下向きに突設されるプローブと、を備えたことである。 （もっと読む）

【課題】ペア線等の組導線の抵抗測定を高精度に行うことができる組導線の抵抗測定装置および抵抗測定方法を提供すること。
【解決手段】抵抗測定装置１００は，４端子法による抵抗測定装置であって，可撓性を有する電圧測定系のプローブ２と，同じく可撓性を有する電流測定系のプローブ３とを備え，両プローブを互いに逆方向から被検体であるコイルのリード１２ａに巻き掛けている。その状態でプローブ２とプローブ３とが互いに引っ張り合うように，プローブ２およびプローブ３を互いに逆向きに移動させる。そして，プローブ２とプローブ３とがリード１２ａを引っ張り合った状態で，電圧値および電流値を測定する。 （もっと読む）

【課題】作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供する。
【解決手段】テストプローブ１８は、測定部に接触させる第１のプローブ１４Ａと第１のプローブ１４Ａが取り付けられる第１のプローブ本体１６Ａとを有する第１のテストプローブ１８Ａと、測定部に接触させる第２のプローブ１４Ｂと、第２のプローブ１４Ｂが取り付けられる第２のプローブ本体１６Ｂとを有する第２のテストプローブ１８Ｂとで構成される。第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔に第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４を挿入することで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが相対的に回動自在に連結され、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。 （もっと読む）

【課題】電子部品のセットが容易でかつメンテナンスの容易な電子部品の評価試験用治具及び評価試験用電極を提供する。
【解決手段】評価試験用治具１０は、電源に接続される２極の端子を有するソケット２０と、ソケット２０の差込口２１・２１に挿入されてソケット２０の２極の端子にそれぞれ電気的に接続される一対の第１挿入接続部材３１ａ及び第２挿入接続部材３１ｂ、及び各第１挿入接続部材３１ａ及び第２挿入接続部材３１ｂに電気的に接続され、かつチップコンデンサ１を挟持する一対の第１挟持部材３２ａ及び第２挟持部材３２ｂを有するチップクリップ３０とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 クリップ開状態保持機構をクリップ式検査治具本体に対して容易に着脱すること。
【解決手段】 クリップ開状態保持機構（６００）は、クリップ式検査治具本体（４００）の操作部（４５２）を基板（３００）側に押圧し、基板とクリップ式検査治具本体の先端間を開状態に保持するものである。クリップ開状態保持機構は、基板に取り付け取り外し自在に設けられたベースフレーム（６１０Ｒ、６１０Ｌ）と、第１の端に操作部（６３４）が設けられたレバー（６３０）と、レバーの第２の端に回動自在に結合されたリンク（６４０）と、一端がリンクの第２の端に回動自在に結合されたプッシャー（６５０）とを備える。レバーの回動操作により、リンクを介してプッシャーを上下動させ、操作部（４５２）を押圧、押圧解除するようにしている。 （もっと読む）

【課題】 従来、プローブを利用して半導体素子の特性を検査する装置にあってはプローブを複数種必要とし、また、リード線が長くなってしまい、高速パルスが通りにくくなって検査の精度に支障をきたしてしまう虞があったという点である。
【解決手段】 半導体素子の検査装置は保持部材に装填された半導体素子の端子を少なくとも先端が傾動及び復元可能とされたプローブ部材で電気的に接触させることとし、前記したプローブ部材は半導体素子の端子数と対応して複数設けられ、保持部材に装填された半導体素子を中心として放射位置に配設されていることとし、プローブ部材はプローブチップを先端に固着した板バネで成形されており、その板バネは中途に鈍角とされた少なくとも一箇所以上の屈折部により、先端を内方に寄せて、基板に固着形成されていることとする。 （もっと読む）

【課題】検査用治具部材２０が１部材で形成されている電子部品の検査用治具を提供する。
【解決手段】導電性板バネ１０の先端部を互いに先端が離れるように板厚方向で斜めに折って側方から見てＹ字状として弾接部１４を形成し、弾接部１４が相対的に接近する半田ボールの頂部を除く側面に弾接するようにし、検査治具部材２０の一面に導電性板バネ１０の後端部が当接する端子４２を設けた基板４０を配設した電子部品の検査用治具であって、導電性バネ１０の中間部に先端部の弾接部１４よりも幅の広い幅広部１２を形成する。検査治具部材２０に、導電性板バネ１０の先端部が挿通できて半田ボールに弾接して弾性変形し得る挿通孔２２を貫通穿設するとともに、この挿通孔２２の内壁に基板が配設される側から検査治具部材２０の厚さの途中まで幅広部１２の幅方向の縁部を圧入し得る係止用溝２４を設ける。 （もっと読む）

【課題】１回の連続上昇動作でＣＡＮパッケージ半導体デバイスのリードの先端及び側面の２箇所にケルビン接触するソケットタイプのＣＡＮパッケージ半導体デバイス特性検査用ケルビンコンタクト式ソケットを提供する。
【解決手段】主コンタクトピン１０とサイドコンタクトピン９を内蔵したソケットをカム機構のついた取り付け座１に組み込み、昇降機構８によって可動するカムによりサイドコンタクトピン９が左右に開閉する構造のＣＡＮパッケージ半導体デバイス特性検査用ケルビンコンタクト式ソケット。 （もっと読む）

【課題】プローブ接続時の寄生インダクタンスを低減できる測定プローブを実現する。
【解決手段】一端に第１の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第１のフック部と途中に設けられた第１のヒンジ部と他端に測定プローブ本体と接続する第１の接続手段とを有する導電材よりなる第１の測定アームと、一端に第２の測定対象端子を係止し弾性材よりなる第２のフック部と途中が前記第１のヒンジ部に回動自由に接続された第２のヒンジ部と他端に前記測定プローブ本体と接続する第２の接続手段とを有する導電材よりなる第２の測定アームと、前記ヒンジ部に設けられ前記第１，第２の測定対象端子を前記第１のフック部と前記第２のフック部とが協同して弾性的に挟持するように前記第１，第２の測定アームとに力を印加する力印加手段とを具備したことを特徴とする測定プローブである。 （もっと読む）

【課題】寄生負荷が小さく、接続／分離が容易なプローブを提供する
【解決手段】
プロービングアクセサリ１０３を有し、テストポイントに接続された相補型プローブアクセサリ１０９に電気的に接続され、プロービングアクセサリ１０３が張力の印加により相補型プローブアクセサリ１０９を捕捉および開放する、プロービングシステム１００，１０１。 （もっと読む）

【課題】プローブの製造工程が複雑にならずに、製造コストを削減することができるプローブおよび検査装置を提供すること。
【解決手段】プローブ２の接触部２０は、半田ボール４１に接触する複数の突起部２２，２３を有し、複数の突起部２２，２３は、プローブ本体部２１の長手方向に沿った軸Ｄを囲むように配置されている。突起部２２は、軸Ｄ側でつきあわされる一対の側面部２２２を有し、突起部２３も軸Ｄ側でつきあわされる一対の側面部２３２を有する。一対の側面部２２２，２３２で形成される稜線２２１，２３１は、プローブ本体部２１側で交差している。プローブ本体部２１の中心軸Ｃと直交する断面において、一対の突起部２２，２３のうち、一方の突起部２２の稜線２２１および中心軸Ｃ間の距離Ｗ１と、他方の突起部２３の稜線２３１および中心軸Ｃ間の距離Ｗ２と、が異なっている。 （もっと読む）

【課題】突起電極を有する半導体装置において、電気特性検査あるいはバーンイン試験を行う際に、突起電極の変形が起こりにくく、位置ずれを発生させることなく安定したコンタクト性を確保できるプローブカードを提供することを目的とする。
【解決手段】複数の突起電極６を有する半導体装置５の検査に使用されるプローブカードであって、ポリイミドからなる基板１の主面に、半導体装置５の１つの突起電極６に対して、少なくとも３個以上の半球状金属（例えば、ニッケル）で構成する金属バンプ２を各半球状金属が互いに部分的に重なり合うよう形成する。基板１の主面と反対側の面には、検査対象の半導体装置５の突起電極６に対応してパターニングされた金属パッド３を形成し、金属パッド３と少なくとも３個以上の半球状金属が重なり合った金属バンプ２をそれぞれ、基板１を貫通するスルーホール４内に充填された金属により電気的に接続する。 （もっと読む）