本発明は、光信号の主成分の振幅を決定するための光学分析系を提供する。その主成分は、分光学的な分析を受ける物質の特定の化合物又は様々な化合物の濃度を示す。その光信号は、重み付けの関数によって指定された、波長選択的な重み付け及び波長選択的な空間的な分離を受ける。その光信号は、好ましくは、それぞれその重み付けの関数の正の及び負のスペクトルの帯域に対応する二個の部分に分離される。その分離は、強度の顕著な損失無しにその光信号の分離された部分の別個の検出を提供し、それによって、決定された主成分の改善された信号対雑音比を提供する。その光信号の分離及び重み付けは、二個の多変量光学素子によって実現される。
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発光分光分析法を使用する、溶融材料、例えば鋳鉄あるいは鋼、あるいはスラグ、ガラスあるいは溶岩を分析するための方法及び装置が提供される。少なくとも一つの分光計と、被分析材料を励起させるための少なくとも一つの励起装置とを有する検出素子が使用される。被分析材料を励起させることにより被分析材料から放射物が部分的あるいは完全に発生され、発生した放射物が検出素子内の分光計により分析される。検出素子は溶融した被分析材料との接触状態に持ち来され、分光計によって供給される分析成分を含む情報を伝送する。本発明によれば浸漬センサも提供される。 （もっと読む）

本発明は、分光法、特に、侵襲性又は非侵襲性血液分析のためのラマン分光法の方法を提供する。検出ボリュームから受信される戻り放射線の蛍光成分は削除され、それはパルス化励起光源用いることにより可能である。パルス長は、蛍光寿命より実質的に短い。それ故、蛍光成分の削除は、時間ゲーティング若しくは他のエレクトロニクス又は光テク手段により実行される。
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スペクトル測定システムからのデータのダイナミックレンジを改善可能な方法および装置を提供する。分光器測定を行う際、画像の品質と、ユーザが所望の特徴を区別する能力を改善することができる光源およびスペクトル測定システムを提供する。 （もっと読む）

【課題】電磁放射線をフィルタリングする装置および発信装置構成を提供すること。
【解決手段】電磁放射線をフィルタリングする装置および発信源構成は、電磁放射線の周波数に基づいて当該電磁放射線の１つ以上の成分を物理的に分離するよう構成された少なくとも１つのスペクトル分離構成を備える。また、前記１つ以上の成分に関連する少なくとも１つの信号を受信するよう構成された少なくとも１つの連続回転光学構成を備える。さらに、前記信号を受信するよう構成された少なくとも１つのビーム選択構成を備える。 （もっと読む）

【課題】 薄膜の面内モード吸収スペクトルと面外モード吸収スペクトルを、偏光していない通常の電磁波を用いて、一つの同じ薄膜から同時に測定できる。
【解決手段】 透明基板１に対して、非偏光の通常の電磁波を複数の異なる入射角で照射させ、それぞれの入射角での透過シングルビームスペクトルS_obsｊを測定する。そして、それらの測定スペクトルS_obsｊから、演算により透明基板１の面内モードスペクトルS_{a IP}と面外モードスペクトルS_{a OP}を算出する。次に、透明基板１と薄膜１０が合さったものに対して、同様に、透過シングルビームスペクトルS_obsｊを測定し、その面内モードスペクトルS_{b IP}と面外モードスペクトルS_{b OP}を算出する。そして、S_{a IP}とS_{b IP}の比S_{b IP}／S_{a IP}を演算することにより、薄膜１０の面内モード吸収スペクトルS_IPを算出し、S_{a OP}とS_{b OP}の比S_bOP／S_{a OP}を演算することにより、薄膜１０の面外モード吸収スペクトルS_OPを算出する。 （もっと読む）

端成分スペクトル値を多スペクトルイメージデータから識別する方法において、各多スペクトルデータ値は各端成分スペクトルの混合比の和に等しい。この方法は、データを処理して端成分の数と同数の頂点を有する多次元シンプレックスを獲得するステップを含んでいる。各頂点の位置は、端成分の１つのスペクトルを表している。データの処理は、各端成分スペクトルの開始推定値を各イメージデータ値に与えることによって行われる。各データ値に対する混合比は、端成分全てのスペクトルの推定値から推定される。各端成分のスペクトルは、各イメージデータ値に対する端成分全てのスペクトルの混合比の推定値から推定される。推定ステップは、正規化された剰余平方和の相対変化が十分に小さくなるまで繰返される。正規化された剰余平方和は、シンプレックスのサイズの尺度である項を含んでいる。 （もっと読む）