分析される入力光信号を伝送する入力光信号導波路；各々が入力光信号導波路に接続され、かつ入力光信号に関連している結合光信号を伝送するカプラ出力を各々が含む複数のカプラを有する平面導波路回路（ＰＬＣ）に実装されている変換分光計である。交互配置の非対称な導波路マッハツェンダー干渉計（ＭＺＩ）がＰＬＣ上に形成されており、ＭＺＩの各々は少なくとも１つの入力ＭＺＩ導波路を有し、ＭＺＩ入力導波路の各々は、カプラ出力の各々から結合光信号を受信する。入力ＭＺＩ導波路の少なくともいくつかは、ＰＬＣの共通層内で、許容できない減数無しに結合信号を伝送可能な角度にて交差する。この構成は、ＰＬＣの空間的効率を向上させ、更に多くのＭＺＩの実装を可能にし、スペクトル分解能の向上をもたらす。
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【課題】テラヘルツ光の光路長変化を測定誤差の原因とならないように補正することができるテラへルツ分光測定装置を提供すること
【解決手段】レーザー光を受けてテラヘルツ光を発光する発光素子１０と、前記テラヘルツ光を受光して検出信号を検出するための受光素子２０と、前記発光素子１０と前記受光素子２０との間に配置される試料Ｓと、前記発光素子１０から前記試料Ｓを通じて前記受光素子２０までの光路において、光路長を変更するための光学ユニット４０と、を備えたことを特徴とするテラへルツ分光測定装置１。 （もっと読む）

【課題】ノイズの出方が波長によって異なる場合であってもノイズが適切に除去される分光データ処理装置を提供する。
【解決手段】分光データVからのノイズの除去にあたっては、一の光の強弱に関する値V(i)に着目し、閾値THL,THUによって決まる範囲THL〜THUから、差値V(i)-T(i)が外れるか否かを判定する。続いて、外れると判定した場合は、光の強弱に関する値V(i)にノイズが重畳しているとみなして、光の強弱に関する値V(i)を基準値T(i)により近い値V'(i)に置換する。この処理を光の強弱に関する値V(1),V(2),…,V(m)の全部に対して行うことにより、ノイズを除去した分光データV'が得られる。閾値THL,THUは、波長区分W(1),W(2),…,W(n)ごとに独立している。 （もっと読む）

【課題】強力なプローブ光や背景光が試料の測定値におよぼす影響を比較的簡単な構成で軽減除去でき、測定試料の成分変化をオフラインはもちろんのこと直接リアルタイムでも測定できる誘導ラマン分光分析装置を実現する。
【解決手段】ポンプ光とプローブ光を重ね合わせて測定対象２５に入射し、前記プローブ光の波長を変化させながら誘導ラマン利得または損失スペクトルを測定するように構成された誘導ラマン分光分析装置において、前記プローブ光を信号光と参照光に分波するプローブ光分波手段２２と、このプローブ光分波手段２２で分波された信号光を前記測定対象２５に入射する信号光入射手段と、前記測定対象２５を透過した信号光を前記分波された参照光と合波して干渉信号を生成する合波手段２７と、この合波手段２７で生成された干渉信号を測定して誘導ラマン利得または損失スペクトルを求める干渉信号測定手段、を設けたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 バリデーションを実行することに使用可能な標準試料であるか否かを検査することができる赤外分光光度計を提供すること。
【解決手段】 測定対象物に赤外線を照射する照射部１０と、測定対象物からの反射光或いは透過光を検出する光検出部５と、反射光或いは透過光に基づいて、測定対象物の赤外線領域の吸収スペクトルを測定する測定部６６と、試料保持部４に標準試料Ｓが配置されることにより得られる標準試料Ｓの吸収スペクトルを用いて、バリデーションを実行するバリデーション実行部６７とを備える赤外分光光度計１、２０であって、バリデーションを実行することに使用可能な標準試料であるか否かを決定するための標準試料基準値を記憶する記憶部６５と、バリデーション実行部６７は、バリデーションを実行する前に、標準試料Ｓの吸収スペクトルと標準試料基準値とに基づいて、使用可能な標準試料Ｓであるか否かを検査する。 （もっと読む）

【課題】単一の波長基準光源にて光スペクトラムアナライザの全ての設定波長に対する波長校正を正確に行う。
【解決手段】基準光の回折格子に対する入射角と分光器からの出射光の回折格子に対する出射角とが等しくなる回折格子の回転角度及び該回転角度における出力波長を含む設計値を用いて校正値を算出する。 （もっと読む）

【課題】 非常に良好な像質と小歪曲を有する小型のイメージング分光計を提案すること、及び良好な像質と、ゼロでない前方距離を有する冷却イメージセンサの使用に特に適合するように入射スリット及び／又はセンサを位置決めするためのより大きい柔軟性とを与えるイメージング分光計を提供すること。
【解決手段】 本発明はＸ方向に伸びる入射口（１）と、出射口と、凹面支持体上に線集合を備える回折格子（４）と、レンズ（２）を備える光学系とを備えるダイソン型イメージング分光計に関し、前記レンズは平面の第１面（８）と凸の第２面（３）を備え、前記レンズの前記凸面と前記回折格子の前記凹面は同心であり、前記光学系は、前記入射口から来る入射光ビームを受け、それを前記回折格子に向け、前記回折格子により回折されたビームを受け、前記回折されたビームのスペクトル像を前記出射口の平面（７）内に形成するように構成され、前記スペクトル像は前記入射口の像の延長方向Ｘ’に空間分解されように構成される。本発明によれば、回折格子（４）は非平行かつ不等間隔の線集合を備え、かつ／あるいは回折格子の支持体は、改良された像質と非常に小さい歪曲の入射口の像を出射平面内に形成するために非球面である。 （もっと読む）

【課題】全ポートの波長情報を瞬時に特定してモニタすることができ、構造が簡単で小型の波長モニタ装置を提供する。
【解決手段】波長モニタ装置１０は、共通ポート(COM port)および入出力ポート（１^stport〜９^thport）と、各ポートからの入射光をコリメート光にするコリメータ１１〜２０と、回折格子２１と、回折格子２１で分光された光を集光する集光レンズ２２と、使用帯域の波長（λ１〜λ４５）の光を透過する波長選択特性を有するフィルタ２４と、フィルタ２４をそれぞれ透過した光を受ける二次元ＣＣＤアレイ２５と、を備える。二次元ＣＣＤアレイ２５の出力信号に基づき、各ポートからどのような波長の光が入射されたかを、複数の画素の列番号と行番号からなるアドレスにより瞬時に特定してモニタすることができる。 （もっと読む）

フィルタホイール及び当該フィルタホイールを含む分光計が、開示される。フィルタホイールは、第１の複数のフィルタが取り付けられる第１の支持構造体と少なくとも一つのフィルタが供給される第２の支持構造体とを持つ。放射線源は放射ビームを生成し、ビームスプリッタは放射ビームを第１の検出経路及び第２の検出経路に分割する。第１の複数のフィルタは、第１の検出経路に選択的に移動可能である。第２の支持構造体上の少なくとも一つのフィルタは、第２の検出経路に配置されている。分光計は、第１の検出経路内の選択されたフィルタを通過する放射線を検出する第１の放射線検出器と、第２の検出経路のフィルタを通過する放射線を検出する第２の放射線検出器とを含む。
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【課題】 測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供すること。
【解決手段】 試料１７中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置されるための試料室１４と、試料室１４に配置された試料１７中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器１０と、照明部２０を制御する制御部３０とを備える分光光度計１であって、制御部３０は、試料１７が試料室１４に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部２０を自動的に制御することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】より短時間かつ高精度にスペクトルを測定可能な光学特性測定装置および光学特性測定方法を提供する。
【解決手段】処理装置は、補正領域で検出された信号強度に基づいて、補正値を算出する（ステップＳ２０４）。続いて、処理装置は、ステップＳ２０２において取得された検出領域で検出された測定スペクトルに含まれる各成分値から、ステップＳ２０４において算出した補正値を減じることで補正測定スペクトルを算出する（ステップＳ２０６）。ここで、検出領域は分光器からの光の入射面に対応する領域であり、補正領域は分光器で分光された光が入射しない領域である。 （もっと読む）

ハイパースペクトルおよびマルチスペクトル撮像のための装置および方法について述べる。具体的には、画像マッピング分光計システム、使用方法、および製造方法を示す。概して、画像マッピング分光計は、画像マッピングフィールドユニットと、スペクトル分離ユニットと、選択的撮像素子とを含む。画像マッピング分光計を、光学試料のスペクトル撮像に使用してもよい。ある実施例では、画像マッピング分光計の画像マッピングフィールドユニットを、表面成形ダイヤモンドツールを用いて製造できる。
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【課題】各チャネルの信号光の強度だけでなく、信号光の波長およびノイズ光の強度についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供する。
【解決手段】Ｍ本の入力導波路とＮ本の出力導波路を備えるアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）において、出力導波路は、各透過波長がΔλ間隔になるように配置されており、入力導波路は、各透過波長がΔλ＋ｕ間隔になるように配置される。このとき、ｊ番目（ｊ＝１，２，・・・，Ｍ）番目の入力導波路から、ｉ＋Ｍ−ｊ番目（ｉ＝１，２，・・・，Ｎ−Ｍ＋１）の出力導波路への透過波長は、順次ｕずつシフトする。この特性を利用し、ＡＷＧの入力導波路を切り替えながら所定の出力導波路へ出力される光強度を検出すれば、所定の透過バンド幅を透過する光強度を、順次透過中心波長をシフトしながら検出することになる。これにより、各チャネルの信号光の強度だけでなく、光強度スペクトルを測定することができる。 （もっと読む）

分光計の検出器の温度値を求めるための分光法の構造及び方法。オプトエレクトロニクス検出器における温度変動を補償するために、サーマル温度センサによって検出器温度を検出することが知られている。検出器と温度センサの間の有限距離に基づき、温度検出の精度が限定される。本発明により、検出器温度を高い精度と少ないコストで判定可能にすることが意図される。入射光をスペクトル分解する手段、及び分割された光のスペクトル領域をスペクトル分解検出するための光検出器に加えて、当該スペクトル領域の部分領域を検出するための第２の光検出器が参照検出器として設けられ、参照検出器の感度は実質的に温度非依存性である。これら両方の検出器の信号の比率は、参照検出器の感度の温度非依存性に基づき、第１の検出器の相対的な温度を表す高度に正確な目安となり、少ないコストで求めることができる。

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【課題】特定波長の先鋭性の高いテラヘルツ波発生手段を実現し、分解能に優れた分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、１ＧＨｚ以上の或る特定の波長領域の電磁波（テラヘルツ波）を可変的に発振可能な光源装置１と、該光源装置１から発振された電磁波に対して共鳴条件に合った特定波長の電磁波を反射光として選択的に反射させるチューナブル波長選択フィルタ３０１とを具備した分光装置であって、前記チューナブル波長選択フィルタ３０１は、光束が入射する側に一定周期の複数の溝構造を有しており、電磁波の入射角を光源装置１からの発振波長と連動させて可変可能な駆動手段３に、チューナブル波長選択フィルタ３０１が保持されている構成とした。 （もっと読む）

本発明は概して分光計およびこの分光計において有用な光学システムに関する。より詳細には、本発明は、機能性、融通性、および設計オプションを改良した光学システムに関する。例えば、本発明の光学システムは、一または複数の透過型収差補正手段と共に、収差補正凹面回折格子を用いる。
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【課題】周波数ディザによって電磁信号を伝搬する際のノイズを抑制するシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】周波数ディザによってノイズを抑制するためのシステム１０であって、送信機１２、受信機３０および周波数ディザ回路４０を含むほか、送信機１２と受信機３０の間の電磁信号の伝搬経路に沿ったキャビティ２６も含む。送信機１２は１つ以上の選択可能な周波数の各周波数で電磁信号を受信機３０へ送信するように構成される。周波数ディザ回路４０は各選択可能な周波数で送信機１２から受信機３０へ送信された電磁信号に周波数ディザを適用するように構成される。この点に関し、適用される周波数ディザは、当該システムにおける予測される定在波の最小周波数周期の関数として選択されているスパンと、前記１つ以上の選択可能な周波数を含む周波数スペクトルをサンプリングするための信号処理帯域幅の関数として選択されているレートとを有する。 （もっと読む）

【課題】コヒーレントアンチストークスラマン散乱光および多光子励起の蛍光の観察を同一の装置において両立することを可能とし、種々の観察方法により標本を観察する。
【解決手段】標本Ａ中の分子の特定の振動周波数に略等しい周波数差を有する２つの異なる周波数を有するパルスレーザ光を導光する２つの光路１３，１４と、２つの光路１３，１４を導光されてきたパルスレーザ光を合波する合波装置９と、合波されたパルスレーザ光を標本Ａに照射する集光レンズ１０５と、２つの光路１３，１４を導光される各パルスレーザ光のチャープレートを検出する周波数特性検出装置１０と、検出された各パルスレーザ光のチャープレートが略同等となるように、少なくとも一方の光路を導光されるパルスレーザ光のチャープレートを調節可能な周波数分散量調節装置６とを備えるレーザ顕微鏡装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】 本発明の解決すべき課題は、演算負荷が小さく、しかも簡易な設定で精度の高いベースライン補正を行うことにある。
【解決手段】
基準軸Ｘと、該基準軸Ｘに対し直交方向に伸張する計測値軸Ｙとを有し、前記基準軸Ｘ上の各点に対し一の計測値が特定される計測曲線のベースライン設定方法において、
基準軸Ｘ上の特定点ｘ_ｉに対応し、基準軸に平行に所定長の線分Ｌを引き、
前記線分Ｌ上の各点Ｌ（ｘ_ｊ）おける計測値ｙ_ｊのうち、最も基準軸に近いｙ_ｍｉｎを、前記特定点（ｘ_ｉ，ｙ_ｉ）におけるベースライン点（ｘ_ｉ，ｙ_ｍｉｎ）とし、
有効基準軸範囲でベースライン点を取得し、該ベースライン点を結ぶ線をベースラインとすることを特徴とするベースライン設定方法。 （もっと読む）

【課題】ターゲット、ハイパー分光器または光学系を移動させずに、ターゲット全体のハイパースペクトル画像を走査することができる。
【解決手段】焦点面１７０上に、複数の列光学画像１７１、１７２、１７３を含むターゲット１４０の光学画像を合焦させる光学系１１０と、光学系１１０と別に設置されたハイパー分光器１２０と、選択的に複数の列光学画像１７１、１７２、１７３のうちの１つをハイパー分光器１２０へ伝達させる中継モジュール１３０と、を備えるハイパースペクトル走査装置が提供される。 （もっと読む）