分光光度計
【課題】 測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供すること。
【解決手段】 試料１７中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置されるための試料室１４と、試料室１４に配置された試料１７中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器１０と、照明部２０を制御する制御部３０とを備える分光光度計１であって、制御部３０は、試料１７が試料室１４に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部２０を自動的に制御することを特徴とする。
【解決手段】 試料１７中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置されるための試料室１４と、試料室１４に配置された試料１７中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器１０と、照明部２０を制御する制御部３０とを備える分光光度計１であって、制御部３０は、試料１７が試料室１４に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部２０を自動的に制御することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光光度計に関し、特に紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
試料（例えば、樹脂、膜、結晶、ガラス、粉体等）中の被測定箇所における吸収スペクトルを測定するために、分光光度計が用いられている。
図４は、従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。分光光度計５１は、測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置される試料室１４と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器１０と、照明部２０と検出器１０とを制御するコンピュータ（制御部）６０とを備える。
照明部２０は、重水素ランプやハロゲンランプ等の光源２３と、光源２３から出射された光を分散する回折格子２２と、測定光束が試料１７中に照射される照射面積（例えば、８ｍｍ×８ｍｍ）を決めるとともに目的波長の測定光束を通過させるスリット２１とを有する。
コンピュータ６０は、ＣＰＵ６１を備え、さらにメモリ３５と、モニタ画面等を有する表示装置３３と、入力装置３２であるキーボードやマウスとが連結されている。
【０００３】
このような分光光度計５１において、照明部２０から出射された測定光束は、試料１７が配置された試料室１４へ導かれる。試料室１４で測定光束は、試料１７中の被測定箇所に照射され、試料１７中の被測定箇所を通過した後で試料１７中の被測定箇所から外へ透過光として出る。このとき、測定光束は、試料１７中の被測定箇所による固有の吸収を受ける。そして、試料１７中の被測定箇所から外へ出た透過光は、検出器１０で検出される。その後、コンピュータ６０は、検出器１０の受光信号を解析することにより、試料１７中の被測定箇所における吸収スペクトルを得る。
【０００４】
ところで、このような分光光度計５１では、紫外領域（１８０ｎｍ）から赤外領域（３０００ｎｍ）までの内から選択される波長λ２（例えば、２００ｎｍ）から波長λ３（例えば、８００ｎｍ）までの測定光束を、試料１７中の被測定箇所に順次照射することが回折格子２２の角度や位置等を調整することで可能となっている。例えば、操作者は、入力装置３２を用いて測定条件設定画像をモニタ画面２３ａに呼び出すことにより、入力装置３２を用いて波長λ２や波長λ３等の測定条件を入力している。これにより、試料１７中の被測定箇所における波長λ２から波長λ３までの吸収スペクトルを得ている。
また、試料１７中における被測定箇所が小さい場合に、試料１７中の被測定箇所に測定光束が正確に照射されるかを調べるために、波長λ２から波長λ３までの測定光束を選択して照射する前に、入力装置３２を用いて測定条件設定画像をモニタ画面２３ａに呼び出して、可視領域（４００ｎｍ〜１０００ｎｍ）の特定波長λ１（例えば、５５０ｎｍ）の測定光束を入力することにより、試料１７に特定波長λ１の測定光束を照射することで、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを確認していた（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６―２５０８３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを調べるために、波長λ２から波長λ３までの測定光束を選択して照射する前に、特定波長λ１の測定光束を選択して照射するには、入力装置３２等を操作する必要があり、複数の試料１７を測定する場合には、試料１７を交換するたびに入力装置３２等を操作する必要があり、非常に手間がかかるという問題があった。
そこで、本発明は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するためになされた本発明の分光光度計は、試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、前記試料が配置されるための試料室と、前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしている。
【０００７】
ここで、「試料が試料室に配置される前」とは、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置される前のことをいい、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射されない試料室中の仮位置に配置されることとは異なる。よって、本発明には、試料が仮位置に配置されるときには、特定波長の測定光束を照射せず、試料が仮位置に配置された後、特定波長の測定光束を照射し、その状態で試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置されることも含まれる。
また、「少なくとも一の特定波長の測定光束」とは、一の特定波長の測定光束のみであってもよく、一の特定波長から他の特定波長までの測定光束を順次照射するものであってもよく、一の特定波長と他の特定波長とが混ざった測定光束であってもよい。
本発明の分光光度計によれば、制御部は、試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御する。このように制御部が照明部を制御しているので、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を操作する必要もなくなる。
【発明の効果】
【０００８】
以上のように、本発明の分光光度計によれば、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる。
【０００９】
（その他の課題を解決するための手段及び効果）
また、本発明の分光光度計は、前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
そして、本発明の分光光度計は、前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているようにすることができ、さらに初期設定として出荷時等に設定しておけば、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を一度も操作する必要もなくなる。
【００１０】
さらに、本発明の分光光度計は、前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、５５０ｎｍ付近に設定すればよいが、試料が緑色である場合には、４７０ｎｍの青色や６５０ｎｍの赤色等に設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。
【００１２】
図１は、本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。
分光光度計１は、測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置される試料室１４と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器１０と、照明部２０と検出器１０とを制御するコンピュータ（制御部）３０とを備える。なお、分光光度計５１と同様のものについては、同じ符号を付している。
コンピュータ３０においては、ＣＰＵ３１を備え、さらにメモリ３５と、モニタ画面等を有する表示装置３３と、入力装置３２であるキーボードやマウスとが連結されている。ＣＰＵ３１が処理する機能をブロック化して説明すると、特定波長設定λ１を設定する設定部４３と、照明部２０を制御する照明部制御部４１と、検出器１０を制御する検出器制御部４２とを有する。
【００１３】
図２は、分光光度計１により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。モニタ画面２３ａには、測光値の種類「反射率」と、検出器ユニット「積分球」と、スリット幅「８」ｍｍと、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと、光源「自動」と、時定数「５．０」と、入力された測定条件を確定するためのＯＫボタンと、入力された測定条件を取消すためのＣａｎｃｅｌボタンとが表示されている。このように表示された初期条件設定画像は、入力装置３２を用いてモニタ画面２３ａに呼び出されることになり、操作者は、初期条件設定画像を見ながら、入力装置３２を用いて測定条件を入力していくことになる。
【００１４】
設定部４３は、特定波長設定λ１を設定する制御を行う。例えば、操作者によって入力装置３２が操作されることにより、初期条件設定画像をモニタ画面２３ａに表示する。そして、操作者によって特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと入力されることにより、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定する。このとき、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、５５０ｎｍ付近に設定すればよいが、試料１７が緑色である場合には、４７０ｎｍの青色や６５０ｎｍの赤色等に設定してもよい。
【００１５】
照明部制御部４１は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、照明部２０を制御する。例えば、設定部４３によって特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定されると（試料１７が試料室１４に配置される前には）、特定波長λ１の測定光束を照射する。そして、波長λ２「２００」ｎｍと波長λ３「８００」ｎｍと設定されると（試料１７が試料室１４に配置された後には）、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射する。そして、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射した後には、特定波長λ１の測定光束を照射する。このように試料１７を測定しているとき以外には、特定波長λ１の測定光束を照射する。これにより、操作者は、入力装置３２を操作する必要もなく、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができるようになっている。
検出器制御部４２は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、検出器１０を制御する。例えば、照明部制御部４１によって波長λ２の測定光束が照射されたときには、検出器１０からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ３５に記憶させ、照明部制御部４１によって次の波長の測定光束が照射されたときには、検出器１０からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ３５に記憶させるように、照明部制御部４１によって波長λ２から波長λ３までの測定光束が順次照射されていくことにより、受光信号をメモリ３５に記憶させていく。
【００１６】
次に、分光光度計１により、複数の試料を順次測定する測定方法について説明する。図３は、分光光度計１による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１の処理において、操作者は、入力装置３２を用いて初期条件設定画像を呼び出し、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと入力する。
次に、ステップＳ１０２の処理において、設定部４３は、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定して、照明部制御部４１は、特定波長λ１の測定光束を照射する。
【００１７】
次に、ステップＳ１０３の処理において、操作者は、試料１７を試料室１４に配置する。このとき、操作者は、特定波長λ１の測定光束が試料１７中のどの位置に照射されているかを確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することになる。
次に、ステップＳ１０４の処理において、操作者は、入力装置３２を用いて測定条件設定画像を呼び出し、波長λ２「２００」ｎｍ、波長λ３「８００」ｎｍと入力する。
次に、ステップＳ１０５の処理において、照明部制御部４１は、試料１７中の被測定箇所に照射する測定光束として、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射していくとともに、検出器制御部４２は、受光信号をメモリ３５に記憶させていく。
【００１８】
次に、ステップＳ１０６の処理において、照明部制御部４１は、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定して、特定波長λ１の測定光束を照射する。
次に、ステップＳ１０７の処理において、操作者は、次の試料を測定するか否かを判断する。次の試料を測定すると判断したときには、ステップＳ１０８の処理において、操作者は、試料１７を試料室１４から除去して、ステップＳ１０３の処理に戻る。
一方、次の試料を測定しないと判断したときには、本フローチャートを終了させる。
【００１９】
以上のように、本発明の分光光度計１によれば、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２０】
本発明は、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。
【図２】分光光度計により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。
【図３】分光光度計による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。
【図４】従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。
【符号の説明】
【００２２】
１：分光光度計
１０：検出器
１４：試料室
１７：試料
２０：照明部
３０：コンピュータ（制御部）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光光度計に関し、特に紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
試料（例えば、樹脂、膜、結晶、ガラス、粉体等）中の被測定箇所における吸収スペクトルを測定するために、分光光度計が用いられている。
図４は、従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。分光光度計５１は、測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置される試料室１４と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器１０と、照明部２０と検出器１０とを制御するコンピュータ（制御部）６０とを備える。
照明部２０は、重水素ランプやハロゲンランプ等の光源２３と、光源２３から出射された光を分散する回折格子２２と、測定光束が試料１７中に照射される照射面積（例えば、８ｍｍ×８ｍｍ）を決めるとともに目的波長の測定光束を通過させるスリット２１とを有する。
コンピュータ６０は、ＣＰＵ６１を備え、さらにメモリ３５と、モニタ画面等を有する表示装置３３と、入力装置３２であるキーボードやマウスとが連結されている。
【０００３】
このような分光光度計５１において、照明部２０から出射された測定光束は、試料１７が配置された試料室１４へ導かれる。試料室１４で測定光束は、試料１７中の被測定箇所に照射され、試料１７中の被測定箇所を通過した後で試料１７中の被測定箇所から外へ透過光として出る。このとき、測定光束は、試料１７中の被測定箇所による固有の吸収を受ける。そして、試料１７中の被測定箇所から外へ出た透過光は、検出器１０で検出される。その後、コンピュータ６０は、検出器１０の受光信号を解析することにより、試料１７中の被測定箇所における吸収スペクトルを得る。
【０００４】
ところで、このような分光光度計５１では、紫外領域（１８０ｎｍ）から赤外領域（３０００ｎｍ）までの内から選択される波長λ２（例えば、２００ｎｍ）から波長λ３（例えば、８００ｎｍ）までの測定光束を、試料１７中の被測定箇所に順次照射することが回折格子２２の角度や位置等を調整することで可能となっている。例えば、操作者は、入力装置３２を用いて測定条件設定画像をモニタ画面２３ａに呼び出すことにより、入力装置３２を用いて波長λ２や波長λ３等の測定条件を入力している。これにより、試料１７中の被測定箇所における波長λ２から波長λ３までの吸収スペクトルを得ている。
また、試料１７中における被測定箇所が小さい場合に、試料１７中の被測定箇所に測定光束が正確に照射されるかを調べるために、波長λ２から波長λ３までの測定光束を選択して照射する前に、入力装置３２を用いて測定条件設定画像をモニタ画面２３ａに呼び出して、可視領域（４００ｎｍ〜１０００ｎｍ）の特定波長λ１（例えば、５５０ｎｍ）の測定光束を入力することにより、試料１７に特定波長λ１の測定光束を照射することで、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを確認していた（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６―２５０８３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを調べるために、波長λ２から波長λ３までの測定光束を選択して照射する前に、特定波長λ１の測定光束を選択して照射するには、入力装置３２等を操作する必要があり、複数の試料１７を測定する場合には、試料１７を交換するたびに入力装置３２等を操作する必要があり、非常に手間がかかるという問題があった。
そこで、本発明は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するためになされた本発明の分光光度計は、試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、前記試料が配置されるための試料室と、前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしている。
【０００７】
ここで、「試料が試料室に配置される前」とは、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置される前のことをいい、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射されない試料室中の仮位置に配置されることとは異なる。よって、本発明には、試料が仮位置に配置されるときには、特定波長の測定光束を照射せず、試料が仮位置に配置された後、特定波長の測定光束を照射し、その状態で試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置されることも含まれる。
また、「少なくとも一の特定波長の測定光束」とは、一の特定波長の測定光束のみであってもよく、一の特定波長から他の特定波長までの測定光束を順次照射するものであってもよく、一の特定波長と他の特定波長とが混ざった測定光束であってもよい。
本発明の分光光度計によれば、制御部は、試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御する。このように制御部が照明部を制御しているので、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を操作する必要もなくなる。
【発明の効果】
【０００８】
以上のように、本発明の分光光度計によれば、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる。
【０００９】
（その他の課題を解決するための手段及び効果）
また、本発明の分光光度計は、前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
そして、本発明の分光光度計は、前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているようにすることができ、さらに初期設定として出荷時等に設定しておけば、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を一度も操作する必要もなくなる。
【００１０】
さらに、本発明の分光光度計は、前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、５５０ｎｍ付近に設定すればよいが、試料が緑色である場合には、４７０ｎｍの青色や６５０ｎｍの赤色等に設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。
【００１２】
図１は、本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。
分光光度計１は、測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置される試料室１４と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器１０と、照明部２０と検出器１０とを制御するコンピュータ（制御部）３０とを備える。なお、分光光度計５１と同様のものについては、同じ符号を付している。
コンピュータ３０においては、ＣＰＵ３１を備え、さらにメモリ３５と、モニタ画面等を有する表示装置３３と、入力装置３２であるキーボードやマウスとが連結されている。ＣＰＵ３１が処理する機能をブロック化して説明すると、特定波長設定λ１を設定する設定部４３と、照明部２０を制御する照明部制御部４１と、検出器１０を制御する検出器制御部４２とを有する。
【００１３】
図２は、分光光度計１により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。モニタ画面２３ａには、測光値の種類「反射率」と、検出器ユニット「積分球」と、スリット幅「８」ｍｍと、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと、光源「自動」と、時定数「５．０」と、入力された測定条件を確定するためのＯＫボタンと、入力された測定条件を取消すためのＣａｎｃｅｌボタンとが表示されている。このように表示された初期条件設定画像は、入力装置３２を用いてモニタ画面２３ａに呼び出されることになり、操作者は、初期条件設定画像を見ながら、入力装置３２を用いて測定条件を入力していくことになる。
【００１４】
設定部４３は、特定波長設定λ１を設定する制御を行う。例えば、操作者によって入力装置３２が操作されることにより、初期条件設定画像をモニタ画面２３ａに表示する。そして、操作者によって特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと入力されることにより、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定する。このとき、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、５５０ｎｍ付近に設定すればよいが、試料１７が緑色である場合には、４７０ｎｍの青色や６５０ｎｍの赤色等に設定してもよい。
【００１５】
照明部制御部４１は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、照明部２０を制御する。例えば、設定部４３によって特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定されると（試料１７が試料室１４に配置される前には）、特定波長λ１の測定光束を照射する。そして、波長λ２「２００」ｎｍと波長λ３「８００」ｎｍと設定されると（試料１７が試料室１４に配置された後には）、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射する。そして、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射した後には、特定波長λ１の測定光束を照射する。このように試料１７を測定しているとき以外には、特定波長λ１の測定光束を照射する。これにより、操作者は、入力装置３２を操作する必要もなく、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができるようになっている。
検出器制御部４２は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、検出器１０を制御する。例えば、照明部制御部４１によって波長λ２の測定光束が照射されたときには、検出器１０からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ３５に記憶させ、照明部制御部４１によって次の波長の測定光束が照射されたときには、検出器１０からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ３５に記憶させるように、照明部制御部４１によって波長λ２から波長λ３までの測定光束が順次照射されていくことにより、受光信号をメモリ３５に記憶させていく。
【００１６】
次に、分光光度計１により、複数の試料を順次測定する測定方法について説明する。図３は、分光光度計１による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。
まず、ステップＳ１０１の処理において、操作者は、入力装置３２を用いて初期条件設定画像を呼び出し、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと入力する。
次に、ステップＳ１０２の処理において、設定部４３は、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定して、照明部制御部４１は、特定波長λ１の測定光束を照射する。
【００１７】
次に、ステップＳ１０３の処理において、操作者は、試料１７を試料室１４に配置する。このとき、操作者は、特定波長λ１の測定光束が試料１７中のどの位置に照射されているかを確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することになる。
次に、ステップＳ１０４の処理において、操作者は、入力装置３２を用いて測定条件設定画像を呼び出し、波長λ２「２００」ｎｍ、波長λ３「８００」ｎｍと入力する。
次に、ステップＳ１０５の処理において、照明部制御部４１は、試料１７中の被測定箇所に照射する測定光束として、波長λ２から波長λ３までの測定光束を順次照射していくとともに、検出器制御部４２は、受光信号をメモリ３５に記憶させていく。
【００１８】
次に、ステップＳ１０６の処理において、照明部制御部４１は、特定波長設定λ１「５５０」ｎｍと設定して、特定波長λ１の測定光束を照射する。
次に、ステップＳ１０７の処理において、操作者は、次の試料を測定するか否かを判断する。次の試料を測定すると判断したときには、ステップＳ１０８の処理において、操作者は、試料１７を試料室１４から除去して、ステップＳ１０３の処理に戻る。
一方、次の試料を測定しないと判断したときには、本フローチャートを終了させる。
【００１９】
以上のように、本発明の分光光度計１によれば、測定光束が試料１７中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料１７を、試料１７中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２０】
本発明は、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。
【図２】分光光度計により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。
【図３】分光光度計による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。
【図４】従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。
【符号の説明】
【００２２】
１：分光光度計
１０：検出器
１４：試料室
１７：試料
２０：照明部
３０：コンピュータ（制御部）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、
前記試料が配置されるための試料室と、
前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、
前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、
前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。
【請求項３】
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の分光光度計。
【請求項４】
前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、
前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の分光光度計。
【請求項１】
試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、
前記試料が配置されるための試料室と、
前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、
前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、
前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１に記載の分光光度計。
【請求項３】
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の分光光度計。
【請求項４】
前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、
前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の分光光度計。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図２】
【図３】
【図４】
【公開番号】特開２０１０−１１７１７１（Ｐ２０１０−１１７１７１Ａ）
【公開日】平成２２年５月２７日（２０１０．５．２７）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−２８８９２０（Ｐ２００８−２８８９２０）
【出願日】平成２０年１１月１１日（２００８．１１．１１）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年５月２７日（２０１０．５．２７）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１１月１１日（２００８．１１．１１）
【出願人】（０００００１９９３）株式会社島津製作所 (3,708)
【Ｆターム（参考）】
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