説明

Fターム[2G020AA03]の内容

各種分光測定と色の測定 (14,545) | 測定領域 (1,784) | 波長範囲 (875) | 赤外 (327)

Fターム[2G020AA03]に分類される特許

81 - 100 / 327


【課題】高価な検出器を用いなくとも測定の精度が低下するおそれのない干渉計及びそれを備えた分光装置を提供する。
【解決手段】干渉計2は、光源11と、該光源11からの光を平行光に変換するコリメータ光学系12と、該平行光を透過光Tと反射光Rに分離して偶数個の固定鏡M1、M2に導くとともに、偶数個の固定鏡M1、M2にて互いに逆方向の光路に反射された透過光Tと反射光Rとを合成して出射するビームスプリッタBSと、該ビームスプリッタBSにて合成され出射された光を集光する集光光学系16と、該集光光学系16にて集光された光を受光する検出器17とを備える。ビームスプリッタBSは、ビームスプリッタBSから離間した回転軸Xの回りに回転する。 (もっと読む)


【課題】前分光方式の分光イメージングにおいて、所定の波長毎に得られる分光画像に含まれるノイズを除去する。
【解決手段】照射領域P内に基準白色部5及び基準黒色部6が配置されており、撮像部3が、照射領域Pの被写体W、基準白色部5及び基準黒色部6を同一画像に撮像するものであり、画像処理部4が、所定の波長域毎に得られた分光画像iを取得し、各分光画像iに含まれる基準白色部5の白色成分又は基準黒色部6の黒色成分を比較して、それらの白色成分又は黒色成分が同一となるように分光画像iを補正して、補正後の分光画像iを合成してカラー画像又は疑似カラー画像Iを生成する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成でありながら測定対象のスペクトルに含まれる環境光の影響の除去もしくは低減を可能として、測定対象の認識精度をより高めることのできるスペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】スペクトル測定装置11は、波長情報と光強度情報とを測定可能なスペクトルセンサ14にて検出される観測光のスペクトルデータS0に基づいて測定対象を認識する。このスペクトル測定装置11は、第1の認識部30にてスペクトルセンサ14にて検出される異なる2つの位置のスペクトルデータの一方から他方を除算もしくは減算してそれぞれ元の2つのスペクトルデータに相関する1つの相関スペクトルデータを算出し、この算出した相関スペクトルデータに基づいて前記異なる2つの位置に対応する測定対象を同時に同定する。 (もっと読む)


【課題】望ましくない赤外線に関して補正された、所望の波長帯域のそれぞれの強度が測定できる光センサを提供する。
【解決手段】所定の方向から受けられる第1の波長帯域の光の強度を示す第1の出力信号を生成する光センサ20が開示されている。光センサは、第1および第2の光検出器22〜24、31を有する基板36と、第1のフィルタ層25〜27と、コントローラ37とを含む。光検出器は、光スペクトルの赤外線部分の光および前記第1の波長帯域の光に対して感度がよく、第1および第2の光検出器信号を生成する。第1のフィルタ層は、第1の波長帯域の光および光スペクトルの赤外線部分の光を伝える一方で、第1の光検出器によって受けられる光を変えることなく、第1の波長帯域外の可視スペクトルの部分の光を遮る。コントローラは、第1および第2の光検出器信号を処理して、入力光中の赤外線に関して補正される第1の出力信号を生成する。 (もっと読む)



【課題】 テラヘルツ時間領域分光装置において光軸上に配置させた複数のレンズを用いて光路長を変化させる時間遅延機構を提供する。
【解決手段】
テラヘルツ時間領域分光装置の時間遅延ユニットにおいて、レーザー光の光軸を中心として、入射面が該光軸と垂直になるように配設した複数のレンズと、レンズの一つから入射したレーザー光を折り返し他のレンズより出射可能に配設したミラーと、レンズに対するレーザー光の入射位置を移動することによって光路長を可変とする手段と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
キセノンフラッシュランプを用いた分光光度計において、過去の蓄積データとの照合が可能な分光光度計、及びその性能測定方法を提供する。
【解決手段】
通常は、キセノンフラッシュランプ1からの光束2を用い、凹面鏡3を介して分光器4で任意の波長に分光し、試料5を透過した光束を光検知器6で検出することで、分光分析を行う。性能測定を行うときは、キセノンフラッシュランプ1と分光器4との間の光束2上に低圧水銀ランプ9を配置し、シャッター機構を構成する遮光板11を作動して遮光及び透過させて光強度を検出することで、低圧水銀ランプ9の輝線スペクトルを用いた「波長正確さ」または「分解」の測定を行う。 (もっと読む)


【課題】 手持ち式分光計に組み込むことができる干渉計を開示する。
【解決手段】 干渉計は、包囲光路光学部品群と検出器を有し、包囲光路光学部品群は少なくとも2つの反射素子(221、222)とビームスプリッタ(210)を有し、ビームスプリッタは入力ビーム(205)を第1および第2ビーム(231、232)へ分割する。包囲光路光学部品群は第1および第2のビームを、領域を包囲する光路の逆方向に周回させ、第1および第2のビームを検出器(250)に向けて出力する。検出器は第1および第2のビームの干渉により生じたパターンを検知する。好ましい実施例では、2つの反射素子は一対の凹面鏡であり、包囲光路光学部品群は三角形の領域を包囲する。反射および結像のために凹面鏡を使用するので干渉計は小型になる。 (もっと読む)


【課題】回折格子構造体において0次透過を0%近くに抑制し、また、太陽電池組立体は回折格子構造体との結合により吸収率が改善されること。
【解決手段】基材及び回折格子から成る回折格子構造体であって、前記回折格子が、交互に並んだリッジ部と溝とを含み、該リッジ部と溝とが、長方形状であり、且つ、0次透過が0%近くに抑制されるように選択されるフィルファクタ及び回折格子の高さを画成する、回折格子構造体、及び、光を吸収して電気エネルギーに変換するための吸収層と、該吸収層の第1側部上に配設される第1回折格子層と、前記吸収層の第2側部上に配設される第2回折格子層とを含む太陽電池組立体であって、前記第2側部が前記第1側部とは反対側にある、太陽電池組立体。 (もっと読む)


【課題】スペクトルを変えるか、又は調整できることができる放射発生装置、スペクトル分析装置提供する。
【解決手段】調整可能な分光組成を有する電磁放射を発生させるための放射発生装置において、駆動時に放射素子固有電磁放射4a〜4nをそれぞれ発生させるように構成された多数の放射素子1,1a〜1nであって、そのうちの第1の放射素子を第2の放射素子とは独立に駆動させることができる多数の放射素子1,1a〜1nと、分光素子2と、光開口3とを備え、分光素子2が放射素子固有電磁放射4a〜4nをその波長とそれぞれの放射素子固有電磁放射を発生させる放射素子の位置とに応じて偏向させるように構成され、それにより各放射素子固有電磁放射の特定のスペクトル範囲が光開口3から出ることができ、その結果、多数の放射素子1a〜1nを選択的に駆動させることにより、光開口3を通して出る生成電磁放射220の分光組成を調整できる。 (もっと読む)


電荷担体層に対する少なくとも第1および第2のコンタクト、単一又は多数の欠陥を組み入れた外見上2D電荷担体層または調整可能な固体2D電荷担体層からなる高速ミニチュアテラヘルツ及びギガヘルツ電磁放射オンチップの分光計。また、デバイスは第1および第2のコンタクトの間のデバイス応答および電荷担体層パラメータのうちの少なくとも1つの制御可能な調整のためのデバイスを測定するデバイスを含む。動作原理は、異なる波長の放射線が電荷担体層のプラスマ・モードの異なった集合を励起するという事実に基づく。
(もっと読む)


【課題】小型でありながら広い測定波長帯域にわたって連続的なスペクトルを高い信頼性をもって得られるようにする。
【解決手段】第1および第2の2つのミラー111,112を互いに平行として所定厚の空気層を介して対向的に配置してなるファブリペローフィルタ110を用いた分光測定器において、ファブリペローフィルタ110と、ファブリペローフィルタ110を透過した赤外線を受光してその受光量に応じた受光信号を出力する赤外線検知素子122とを1対1の関係で備える複数個のセンサユニット10を含み、各ファブリペローフィルタ110の赤外線透過帯域をそれぞれ異なる帯域として、各センサユニット10を同一の支持基板上に並置する。 (もっと読む)


空間フーリエ変換分光計が開示される(例えば350)。該フーリエ変換分光計は、第1及び第2の光学表面(例えば454、458及び554、558)を伴うファブリーペロー干渉計(例えば320、420、520)を含む。第1の光学表面と第2の光学表面との間のギャップ(例えば462、562)は、フーリエ変換分光計の光軸(例えば466、566、666)に直交する方向に空間的に変化する。ファブリーペロー干渉計は、入力光から干渉縞を形成する。プロセッサ(例えば342)に通信可能につながれた検出器(例えば340、640)によって、干渉縞の画像が捉えられる。プロセッサは、入力光のスペクトル成分に関する情報を決定するために、干渉縞画像を処理するように構成される。 (もっと読む)


イメージングシステム用の集積回路が、光学センサアレイ(40)と、ある波長帯域を1つ又はそれ以上のセンサに向けて通過させるようにそれぞれ構成された光学フィルタアレイ(10)とを有する。光学フィルタアレイは、センサアレイと一体化されている。集積回路は、センサアレイから画素値を読み出して画像を表現する読み出し回路(30)を有する。光学フィルタの異なるものが異なる厚さを有するように構成され、干渉を用いて異なる波長帯域を通過させて、波長スペクトルの検出を可能にしている。読み出し回路は、1つの光学フィルタ下にある複数の画素が並列で読み出し可能である。厚さは、アレイ全体で非単調的に変化してもよい。読み出しまたは後の画像処理は、厚さ誤差を補償するために、スペクトルのサンプリングまたはシフト(shift)を実行する波長間の選択または補間(interpolation)を含んでもよい。
(もっと読む)


本発明は、受け取られた光のスペクトル成分を検出するスペクトル検出装置100であって、前記受け取られた光をフィルタリングする及び所定の波長範囲内の波長を有する光を出力するフィルタリング構造110と、フィルタリング構造110により出力された光を検出する光センサ120とを有するスペクトル検出装置100において、フィルタリング構造110は、時間とともに前記所定の波長範囲の変化を可能にするように可変である、スペクトル検出装置100に関する。この配置は、低い費用において、提供されることができる小型のスペクトル検出装置を可能にする。
(もっと読む)


【課題】干渉性の高い基準光源を用いずに移動鏡15の位置を求めることができ、これによって、小型で高分解能のフーリエ変換型の分光器1を実現する。
【解決手段】駆動機構21は、共振によって移動鏡15を移動させ、時間経過とともに移動鏡15の位置を周期的に変化させる。この構成において、移動鏡位置算出機構23は、移動鏡15の基準位置X0と変位が最大の位置Xmとの間の位置Xpを検出し、位置Xpよりも変位が大きい位置Xeを外挿法によって算出し、算出した位置Xeを干渉強度測定点に対応する移動鏡15の位置とする。外挿法によって干渉強度測定点に対応する移動鏡15の位置Xeを算出するので、移動鏡15の変位量を大きくして、高分解能の分光器1を実現する場合でも、干渉性の高い基準光源(例えば大型のHe−Neレーザ)を用いることなく、干渉強度測定点に対応する移動鏡15の位置Xeを求めることができる。 (もっと読む)


【課題】駆動軸の不要な回折光度計方式の分光検出器、および該分光検出器に用いられる熱型検出素子を提供する。
【解決手段】1つの面上に光吸収ピーク波長の異なる受光部を2つ以上備えた熱型検出素子を提供する。前記受光部は、電極間に焦電性材料による膜を介在させた構成であり、前記膜の膜厚を前記受光部毎にそれぞれ異ならせた構成である。また、前記熱型検出素子は、湾曲可能なフレキシブル基板上に前記各受光部を一次元アレイ状に配設して構成されている。 (もっと読む)


【課題】外部光源の放射スペクトルを測定する分光光度計において、外部光を導入するための専用の導入開口及び光軸を切り換えるための光軸切換機構を必要としない分光光度計を提供する。
【解決手段】内部光源を交換可能な分光光度計において、内部光源を取り外した後、図示しない光源位置決め部品に着脱可能な、外部ミラー5及び内部ミラー6により構成される外部光導入光学装置4が装着されることを特徴とする。また、外部ミラー5に、その鏡面を外部光源の方向に向けるための光軸調整軸7を備えさせることにより、外部光源を専用の保持機構に取り付けることなく、設置状態のままで測定することができる。 (もっと読む)


【課題】インコヒーレント光を用いた測定において回折限界以下の空間分解能を得る。
【解決手段】膜質評価装置1は、マイケルソン干渉計3で赤外光の干渉光を形成した後に、ビームスプリッタ12で第1の測定光と第2の測定光に分岐させる。第1の測定光と第2の測定光は、測定対象物Wの表面に位置をずらして照射させる。これにより、2つの測定光が重ねあわされる領域と重ね合わされない領域が形成される。差分処理部21で2つの測定光を受光したときの光強度信号の差分を算出し、このデータに基づいてフーリエ変換することで赤外スペクトルを得る。 (もっと読む)


【課題】波長領域毎に異なるスペクトル形状を示す測光値データにおいて、リアルタイムに波長領域毎のピーク検知パラメータの決定し、そのピークパラメータ値によるピーク検知処理の結果を提供する。
【解決手段】試料に対して測定光を照射する発光手段と、測定光を任意の波長に分光する分光手段と、分光手段により分光された波長について光度検出を行う検出手段と、測定すべき波長走査範囲と波長走査速度を入力する入力手段21と、測定を実行する測定手段23と、得られたデータを処理するデータ処理手段24と、を有する分光分析装置において、データ処理手段24は、測定手段23から得られた測定データと前記パラメータとからピークを検知し、該ピーク検知の際に波長領域毎の感度を決定する。 (もっと読む)


81 - 100 / 327