【課題】簡易な構成で試料を測定し得るテラヘルツ分光装置を提案する。
【解決手段】超短パルス発振器を構成するゲインファイバから得られる光パルスをディテクタに導く光ファイバに対して負荷を与えて、ディテクタに対するパルス光の到達時間を遅延させる。またこの光ファイバを、時間遅延部から負荷が与えられた状態においてゲインファイバから出力されるパルス光のパルス幅の広がりが相殺されるよう、該パルス光の中心波長を基準とする所定帯域での分散特性が互いに異なる光ファイバを連結して構成する。 （もっと読む）

本発明は、可変振幅及び／又はピーク間持続時間を有する複数の比較的高い電流及び高い勾配のピークを含む第１の変調部分と、変調ピークを実質的に持たない比較的低い電流及び低い勾配の第２の変調部分とを含む電流波形を有する発光分光測定（ＯＥＳ）のためのスパークを発生させるスパーク発生器を提供する。好ましくは、スパークは、２つ又はそれよりも多くのプログラマブル電流源から発生される。本発明はまた、スパーク発生器を備える発光分光計と、スパーク発生器を用いた発光分光測定の方法とを提供する。 （もっと読む）

【課題】可動部のない高精度の光スペクトル分析手段を提供する。
【解決手段】光スペクトルアナライザー及び光信号をスペクトル的に分析する方法である。光スペクトルアナライザーは、光信号を整形する光変調器などの波形整形器(101)、整形された光信号を分散させる分散ファイバーなどの分散素子(103)、整形され分散された光信号を表す出力信号を提供する検出器(105)、及び、たとえば、出力信号の逆フーリエ変換またはフーリエ変換などの変換を計算することによって出力信号を分析して光信号の周波数スペクトルを提供する信号プロセッサ(107)を備える。 （もっと読む）

【課題】シングルチャネル和周波分光法を高機能化し、赤外光と可視光の波長を可変にしたＳＦＧ分光装置及びその測定方法を提案する。
【解決手段】パルスレーザ光源と、その出力光を分岐し、分岐の一部を波長変換する波長可変の長波長励起光発生器と、他の一部を波長変換する波長可変の短波長励起光発生器と、長波長励起光を試料に照射する第１光学系と、短波長励起光を試料に照射する第２光学系と、遅延器と、試料からの光から和周波光を選択する第３光学系と、光検出器とを備える。長波長励起光発生器は、波長帯域を掃引し、短波長励起光発生器では試料ごとに出力波長を変える。第１光学系と第２光学系および遅延器は、長波長励起光と短波長励起光とを試料で空間的および時間的に重なるように照射する。第３光学系は、和周波光の光路を調整して光検出器に入射させ、選択された和周波光以外の光を抑制する。 （もっと読む）

【課題】試料の測定精度を向上し得るテラヘルツ分光装置を提案する。
【解決手段】テラヘルツ波発生素子と、楕円鏡と、テラヘルツ波発生素子で発生したテラヘルツ波を、楕円鏡がもつ第１焦点の焦点面に対して斜め方向から照射する光学レンズと、楕円鏡がもつ第２焦点に配置されたテラヘルツ波検出素子とを含むテラヘルツ分光装置とした。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で試料を測定し得るテラヘルツ分光装置を提案する。
【解決手段】超短ファイバレーザ器１１におけるゲインファイバ１１Ｃに対して、光カプラ１１Ｄを介して直に光ファイバＯＦ２を連結し、該光ファイバＯＦ２を通じて、ゲインファイバ１１Ｃから出力されるパルス光（ポンプ光）をエミッタ１２に導く。 （もっと読む）

【課題】熱、ガス、圧力をパルス化し刺激として試料に与えることによって、これらの刺激に基づく反応中間体の時間分解分光解析を実現する。
【解決手段】時間分解分光解析装置は、測定のための試料（３２）を保持する試料室（３０）と、試料室（３０）を加熱する高周波誘導加熱装置（３４、３６）と、試料室（３０）を収容する冷媒タンク（３８）と、試料に加熱によって形成された反応中間体検出のためのパルスレーザー光を照射する分析パルスレーザー装置（４０）と、高周波誘導加熱装置における高周波周期と分析パルスレーザー装置におけるパルス発振周期とを時差を設けて同期させるための制御装置（４４）と、分析パルスレーザー装置による試料からの放射光を受光し検出する検出器（４２）と、を備え、検出器による検出は、分析パルスレーザー装置における複数のパルスの積算に基づいて行う。 （もっと読む）

【課題】効率的で質の高い分光システムを提供する。
【解決手段】本発明に係る分光システム１００は、試料１０２から、フォトルミネッセンス波長成分及びラマンシフト成分を含む複数の波長成分を含有する光を受光するように設置されたアパーチャと、前記光の光学経路上に設置され、前記光の前記成分を空間的に分離するように構成された分離素子１２２と、前記ラマンシフト成分を受光し、当該ラマンシフト成分の強度を示す１つ又は複数の信号を生成するように設置された第１のアレイ検出器１３１と、前記フォトルミネッセンス波長成分を受光し、当該フォトルミネッセンス波長成分の強度を示す１つ又は複数の信号を生成するように設置された第２のアレイ検出器１３２とを備える。 （もっと読む）

【課題】時間分解分光器に対して改善された検出器の配置を提供する。
【解決手段】時間分解分光器は任意の原因のために時間と共に変化するスペクトルを分析するものである。スペクトルの時間変化は、例えば、（ｉ）（放射減衰のためなど）時間と共に所定のサンプルスペースからのスペクトルの変化、（ｉｉ）（レーザ走査分光器など）サンプルスペースの連続部分がサンプリングされるときのスペクトルの変化のためである。ＣＣＤデバイスは、時間変化するスペクトルを検出し、スペクトルを表す信号電荷を生成するように配置されるフォトサイトのアレイと、信号電荷を受信し、電荷増倍を提供するように配置される１又は複数のＣＣＤ増倍レジスタとを備えている。速度及び感度の強化は、１又は複数の増倍レジスタに直列に電荷を提供するために、フォトサイトのアレイから並列に信号電荷を受信する記憶領域によって与えられる。 （もっと読む）

【課題】ディレイステージの位置決め精度に拘らず正確なスペクトルを得ることができるテラヘルツ分光装置を提供する。
【解決手段】ディレイステージ８を移動させる毎にテラヘルツ検出器７からテラヘルツパルス波の電場強度に対応する検出信号を取得する。同時に、ステージ位置測定器９から出力されたディレイステージ８の位置に対応するパルスを取得し、テラヘルツ波の電場強度を取得したときのディレイステージ８の位置に対応した時間波形を得る。時間波形を等時間間隔のデータに補正した後、フーリエ変換して振幅スペクトルと位相スペクトルとを得る。 （もっと読む）

【課題】 相互の単体スペクトルの重なりが大きい複数の構成要素が測定対象物に含まれる場合であっても各構成要素の同定を容易に行うことができる分析装置を提供する。
【解決手段】 波長帯域７５０ｎｍ〜２５００ｎｍに含まれる帯域幅３００ｎｍ以上の広帯域光Ｌ_１が、広帯域光発生源１０から実質的に単一の空間モードで発生して、照射光学系２０により測定対象物９０の被照射領域９１に照射される。この広帯域光Ｌ_１の照射に伴い被照射領域９１から出射した物体光Ｌ_２は、捕獲光学系３０により捕獲され、時間分解分光器４０により受光されて、その受光した物体光Ｌ_２の各波長成分について時間的強度変化が求められる。そして、解析部５０により、この時間分解分光器４０により求められた物体光Ｌ_２の各波長成分についての時間的強度変化に基づいて、測定対象物９０の成分が解析される。 （もっと読む）

【課題】パルスレーザ装置を用いることなく、連続レーザ装置によって、リングダウン分光を行えるようにすること。
【解決手段】方向性光結合素子３６はＰ偏光に対してのみ光結合している。第２偏光子２１はＳ偏光成分のみを出力し、第１偏光子２２はＰ偏光のみを通過させる素子である。ファラデー偏光子２３にパルス磁場が印加されると、この印加期間だけＳ偏光からＰ偏光に９０度位相が回転し、偏光子２３の出力では、パルスＰ偏光が得られその期間外は連続したＳ偏光となる。このパルスＰ偏光レーザ光は方向性光結合素子３６に入射して、光ファイバー１０に分岐されて、光ファイバー１０を循環し、リングダウンパルス光が得られ方向性光結合素子３６を介して一部の光が第１光伝送路１２側に分岐される。第１偏光子２２は、Ｐ偏光のみ通過させるので、このＰ偏光のリングダウンパルス光は、受光素子３２に入射する。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】本発明は、パルス測定装置およびこれに対応する方法を提供する。この装置は、測定されるパルスを異なるビームパスに沿って伝搬する２つのサブパルスに分割するスプリッタと、２つのサブパルスが前記非線形媒体内を伝搬することによって得られるアップコンバートされたパルスと干渉する少なくとも一つの構成要素と、測定されるパルスのスペクトルおよび時間的特性の少なくとも一つを取得するために干渉の結果を検出する検出装置とを具えるパルス測定装置を提供する。非線形媒体では、各サブパルスが、予め定められた角度で前記媒体を通って伝搬するｏ波成分およびｅ波成分に分解でき、非線形媒体内におけるｏ波成分とｅ波成分の相互作用によるアップコンバージョンの位相整合機能により、アップコンバージョンが、予め定められた周波数範囲にわたりｏ波またはｅ波の一方の周波数から実質的に独立しており、ｏ波とｅ波のうちの他方の周波数を選択可能である。この位相整合機能は、スペクトルがずれたアップコンバートされた測定されるパルスの複製を生成する。 （もっと読む）

【課題】 基板の吸収による影響を受けずに広帯域の計測が可能な赤外光放射装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 パルス励起光が照射されて光キャリアを生成する光伝導膜２２と、光伝導膜２２の一側面上に形成され、その先端間に間隙２１ａを介して配置された、赤外光を放射する一対のアンテナ電極膜２１と、光伝導膜２２の他側面側でかつ少なくとも間隙２１ａに対応する領域に形成され、遠赤外光を透過する赤外光透過部材２４とを備えている。赤外光透過部材２４としては、ダイヤモンド・ライク・カーボンが好適に用いられる。 （もっと読む）

【課題】 被測定物の特性変化による被測定光のスペクトラムの時間的な変化を観測できるようにする。
【解決手段】 同期制御手段２５は、特性が所定周期で繰り返し変化する被測定光Ｓを被測定物１から受ける際に、被測定光Ｓの特性変化期間に対して、分光器２１の波長掃引期間の開始タイミングが１掃引毎または複数掃引毎に所定時間ずつシフトするように、分光器２１または被測定物１を制御する。また、スペクトラム波形生成手段２６は、同期制御手段２５によって前記特性変化期間に対して波長掃引期間が所定時間ずつシフトしている間にＡ／Ｄ変換器２３から出力されたデータに対する並べ替え処理を行い、被測定光Ｓの前記特性変化期間内における各時刻のスペクトラム波形のデータを生成する。 （もっと読む）

【課題】 測定試料の形状および物性および設置方法を限定せずに、測定試料によって反射したテラヘルツパルスの振幅強度情報と位相情報を含む測定を行う方法および装置の提供する。
【解決手段】 レーザーパルスを用いて発生させたテラヘルツパルス光を測定対象に照射し測定対象から反射する反射光を検出する分光光学系とレーザーを用いて測定対象と分光光学系との相対位置を検出する位置計測装置を備える分光計測装置を構成し、検出した相対位置情報を用いて、分光光学系の遅延装置を補正する。これにより、測定試料の形状および物性および設置方法を限定せずに、測定試料によって反射したテラヘルツパルス光の振幅強度情報と位相情報を含む測定を可能とする。 （もっと読む）

【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系６によって二次元変換光学系６の光軸に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面ＦＣ上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムＳを結像させ、撮像面７ａが共役面ＦＣと共役となるようにして配置された撮像装置によって擬似二次元スペクトログラムＳと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系６を、縮小光学系とする。 （もっと読む）

【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を、二次元変換光学系によって二次元変換光学系の光軸ＡＸ２に交差する仮想平面内でそれぞれスペクトル分布が生じる方向とは交差する方向にスペクトル分布が生じるように変換して、回折格子と共役となる共役面ＦＣ上にプローブ光の擬似二次元スペクトログラムＳを結像させ、撮像面７ａが共役面ＦＣと共役となるようにして配置された撮像装置７によって擬似二次元スペクトログラムＳと参照光との干渉縞パターンを得る時間分解分光装置において、二次元変換光学系と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系１１を配置する。 （もっと読む）

【課題】 時間分解分光計測を高精度に行うことができる時間分解分光装置を提供する。
【解決手段】 コリメートされたプローブ光を第一回折格子に斜めに入射させて、分散によるスペクトル分布が生じる方向での位置及び時間遅延量が異なる一次回折光の集合に変換し、これら各一次回折光を二次元変換光学系によって変換して擬似ニ次元スペクトログラムＳを得る時間分解分光装置において、第一回折格子に対する共役面ＦＣ上に第一回折格子と同じ格子定数の第二回折格子８を設置し、この第二回折格子８と撮像装置との間に、縮小光学系であるリレー光学系１１を配置する。 （もっと読む）