【課題】 少ないバンド数の画像と、マルチスペクトルフィルタアレイの画像をセットで取得し、信号処理によりスペクトル画像を復元することで、イメージングセンサの枚数を減らし、ワンショット撮影も可能とする。
【解決手段】 被写体像に対して、広帯域の分光感度特性に対応する３色以上の第１の色数と第１の画素数を有する第１の画像の画像情報を第１のイメージセンサ１３Ｒ，１３Ｇ，１３Ｂにより取得するとともに、上記被写体像に対して、第２の画素数を有し、画素ごとに異なる分光感度特性に対応する第２の色数を有し、その分光感度特性は狭帯域で上記広帯域の分光感度特性と重なりを有し、全ての画素を集めたときの色数は上記第１の色数よりも多い第３の色数である第２の画像の画像情報を第２のイメージセンサ１４により取得し、取得された上記第１の画像の画像情報と上記第２の画像の画像情報に基づいて、上記被写体像に対するマルチスペクトル画像情報として、上記記第３の色数と上記第１の画素数を有する第３の画像の画像情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】精度の良いスペクトル特性を測定可能な分光測定装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置１は、発光波長が異なる複数のＬＥＤを備えた光源部１６と、所定波長の光を選択して取り出す波長可変干渉フィルター５と、光量を検出するディテクター１１と、制御回路部２０と、を備え、制御回路部２０は、校正モード及び測定モードを切り替えるモード切替部２１と、校正モードにおいて外光の特性を解析する外光解析部２３と、外光の特性に基づいて各ＬＥＤの発光量を設定する基準光設定部２４と、測定モードにおいて設定された発光量に基づいて各ＬＥＤを駆動させる光源駆動部２５と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 信頼性の高い分光センサを提供する。
【解決手段】 分光センサ１は、キャビティ層２１並びにキャビティ層２１を介して対向する第１及び第２のミラー層２２，２３を有し、所定の波長範囲の光を入射位置に応じて選択的に透過させる干渉フィルタ部２０と、第１のミラー層２２側に配置され、干渉フィルタ部２０に入射する光を透過させる光透過基板３と、第２のミラー層２３側に配置され、干渉フィルタ部２０を透過した光を検出する光検出基板４と、干渉フィルタ部２０と光透過基板３との間に配置された第１のカップリング層１１と、を備える。キャビティ層２１及び第１のカップリング層１１は、シリコン酸化膜である。 （もっと読む）

【課題】高価な分光器を必要とせずに、特徴量を高精度に推定可能とする。
【解決手段】被検体の特定成分に関する特徴量を推定する特徴量推定装置は、波長帯域の相違する複数のバンド画像を分光スペクトルに変換するための分光推定パラメーターを保存する分光推定パラメーター保存部３６と、分光スペクトルを前記特徴量に変換するための検量処理パラメーターを保存する検量処理パラメーター保存部３８とを備える。さらに、特定成分に応じた所定の波長帯域を含む複数の波長帯域で前記被検体を撮影して得られるマルチバンド画像を取得するマルチバンド画像取得部と、前記分光推定パラメーターを用いて、マルチバンド画像から分光スペクトルを演算する分光推定部１６と、検量処理パラメーターを用いて、前記分光スペクトルから前記特徴量を演算する検量処理部１８とを備える。 （もっと読む）

【課題】ギャップ量を精度良く得る光フィルター及び光フィルターモジュール並びに分析機器及び光機器を提供すること。
【解決手段】光フィルター１０は、第１基板２０と、第２基板３０と、第１基板に設けられた第１反射膜４０と、第２基板に設けられた第２反射膜５０と、平面視で第１反射膜の周囲の位置にて第１基板に設けられた第１，第２電極６２，６４と、第２基板に設けられて第１，第２電極と対向する第３，第４電極７２，７４とを有する。 （もっと読む）

【課題】入射光の入射制限角度を高精度に制御可能な光学センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、受光素子（例えばフォトダイオード３０）と、受光素子の受光領域に対する入射光の入射角度を制限する角度制限フィルター４０と、を含む。入射光の波長をλとし、角度制限フィルターの高さをＲとし、角度制限フィルターの開口の幅をｄとする場合に、ｄ^２／λＲ≧２を満たす。 （もっと読む）

【課題】微小な傾斜構造体を製造可能な製造方法を提供する。
【解決手段】基板の上方に第１の層を形成する工程（ａ）と、第１の層の上方に第２の層を形成する工程（ｂ）と、第２の層に、基板の面と交差する方向の端面を形成する工程（ｃ）と、第２の層の端面をエッチングすると同時に、第２の層の端面のエッチングによって露出した第１の層を順次エッチングする工程（ｄ）と、を含む。基板の面方向における第２の層のエッチングレートは、第１の層のエッチングレートより大きいことが望ましい。 （もっと読む）

【課題】干渉フィルターの反射膜間のギャップの変動を防止し、正確な分光特性を測定可能な光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】測色センサー４は、第１基板５１、第１基板５１に対向する第２基板５２、第１基板５１の第２基板５２に対向する面に設けられ固定ミラー、及び第２基板５２に設けられ、固定ミラーと所定のギャップを介して対向する可動ミラーを有するエタロン５と、エタロン５を透過した検査対象光を受光する受光素子４２と、エタロン５を保持する保持部材４３とを備える。エタロン５は、基板厚み方向に見る平面視において、第１基板５１及び第２基板５２が対向する光干渉領域Ａｒ１と、光干渉領域Ａｒ１から突出した突出領域Ａｒ２とを備える。保持部材４３は、突出領域Ａｒ２における、光干渉領域Ａｒ１とは反対側の一端側において、エタロン５を保持する。 （もっと読む）

【課題】精度の高い分光特性の測定ができる分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置１は、可視光の波長域にピーク波長を有さず、短波長から長波長に向かうに従って光量が増大する光を射出するタングステンランプ２１１と、可視光の波長域にピーク波長を有する光を射出する紫色ＬＥＤ２１２と、タングステンランプ２１１及び紫色ＬＥＤ２１２から射出される光を混合する光混合器２２と、光混合器２２で混合された光が入射され、混合された光の入射光のうち、特定波長の光を透過させるエタロン５と、エタロン５を透過した光を受光する受光部３１と、エタロン５の透過する光の波長を切り替え、受光部３１により受光された光に基づいて、エタロン５を透過した光の分光特性を測定する測定制御部４２とを備える。 （もっと読む）

【課題】環境温度の変化によっても分光測定の精度を向上できる光モジュール、及び光分析装置を提供すること。
【解決手段】入射光から特定の波長の光を透過させるエタロンと、入射光の入射方向におけるエタロンの前段側に配設される光学チョッパー６と、エタロンを透過した光の光量の変化量を検出する焦電センサーとを備える。光学チョッパー６は、入射光の入射方向に対して直交する直交平面内で回転軸６１を中心に回転可能な複数の遮光板６２を等間隔に備える。そして、複数の遮光板６２は、エタロンに対向する面が直交平面に対して傾斜する傾斜部６２２１を有し、傾斜部６２２１は、遮光板６２が回転する回転方向とは反対方向に向かうにしたがって、エタロンに近づくように傾斜している。 （もっと読む）

【課題】一対の基板の対向する面に設けられた電極の配線を確実に基板の外部に引き出し、接続信頼性を向上させることが可能な光フィルター、光フィルターモジュール、および分析機器を提供すること。
【解決手段】エタロン５は、平面正方形状の板状の光学部材であり、第１基板５１および第２基板５２を備えている。第１基板５１は、第２基板５２に対向しない第１突出部５１３を有しており、この第１突出部５１３に第１電極パッド５４１Ｂが形成されている。また、第２基板５２は、第１基板５１に対向しない第２突出部５２４を有しており、この第２突出部５２４に第２電極パッド５４２Ｂが形成されている。 （もっと読む）

【課題】望ましくない赤外線に関して補正された、所望の波長帯域のそれぞれの強度が測定できる光センサを提供する。
【解決手段】所定の方向から受けられる第１の波長帯域の光の強度を示す第１の出力信号を生成する光センサ２０が開示されている。光センサは、第１および第２の光検出器２２〜２４、３１を有する基板３６と、第１のフィルタ層２５〜２７と、コントローラ３７とを含む。光検出器は、光スペクトルの赤外線部分の光および前記第１の波長帯域の光に対して感度がよく、第１および第２の光検出器信号を生成する。第１のフィルタ層は、第１の波長帯域の光および光スペクトルの赤外線部分の光を伝える一方で、第１の光検出器によって受けられる光を変えることなく、第１の波長帯域外の可視スペクトルの部分の光を遮る。コントローラは、第１および第２の光検出器信号を処理して、入力光中の赤外線に関して補正される第１の出力信号を生成する。 （もっと読む）

【課題】小型化可能な光学センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】光学センサーは、半導体基板１０上に形成された、フォトダイオード３１、３２用の不純物領域と、フォトダイオード３１、３２の受光面に対する入射光の入射角度を制限するための角度制限フィルター４１、４２と、を含む。角度制限フィルター４１、４２は、フォトダイオード３１、３２用の不純物領域が形成される面を半導体基板１０の表面とする場合に、半導体基板１０の裏面側からフォトダイオード３１、３２用の不純物領域に対して受光用の穴を形成することによって残存する半導体基板１０により形成される。 （もっと読む）

【課題】小型化可能な分光センサー及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】分光センサー装置は、光源部１１０と、光源部１１０からの光を観察対象に照射することで得られる光が入射される分光センサー１００を含む。分光センサー１００は、透過波長が異なる複数の光バンドパスフィルター６１〜６４と、複数のフォトセンサー部３１〜３４を有する。第１の光バンドパスフィルター６１は、第１の特定波長を透過する波長特性を有し、第２の光バンドパスフィルター６２は、第１の特定波長とは異なる第２の特定波長を透過する波長特性を有する。第１のフォトセンサー３１は、第１の光バンドパスフィルターを透過した第１の特定波長の光をセンシングし、第２のフォトセンサーは、第２の光バンドパスフィルターを透過した第２の特定波長の光をセンシングする。 （もっと読む）

【課題】 高次回折光を取り除いた分光測定を行うに際し、手間がかからず、走査高速化に対応でき、データの不連続性も生じないようにする。
【解決手段】 被測定光は、走査機構２により回転される回折格子１により分光され、受光器３に入射する。回折格子１と受光器３との間の光軸上には、測定波長の高次回折光を遮断するカットフィルター７が配置されている。カットフィルター７は干渉フィルターであり、カットフィルター７の配置角度はフィルター駆動機構７１により変化する。フィルター駆動機構７１は、カットフィルター７の回転軸を、走査機構２が備える回折格子１の回転軸に連結して連動させる。 （もっと読む）

【課題】装置を大型化すること無く選択波長の可変範囲を容易に広げること。
【解決手段】この分光装置１は、光源３からの光Ｌ２を、光Ｌ２の入射角に応じた波長範囲で選択的に透過させる４枚のバンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄと、バンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄが主面１０ａ上に立設され、主面１０ａに沿って回転中心Ｃ_１の周りを回転可能にされた平板状の回転テーブル１０とを備える分光装置であって、４枚のバンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄは、それぞれ、光入射面１２或いは光出射面１３が、回転テーブル１０の主面１０ａ上の回転中心Ｃ_１と主面１０ａ上の該バンドパスフィルタ１１ａ〜１１ｄの中心点１５ａ〜１５ｄとを結ぶ線に対して傾斜するように配置されている。 （もっと読む）

【課題】基板同士を加圧して接合させた場合でも、基板間のミラーが損傷しない波長可変干渉フィルター、この波長可変干渉フィルターを備えた測色センサー、およびこの測色センサーを備えた測色モジュールを提供する。
【解決手段】エタロン５は、透光性を有する第一基板５１と、第一基板５１の一面側に対向するとともに、第一基板５１に加圧接合される透光性の第二基板５２と、第一基板５１および第二基板５２の互いに対向する面にそれぞれ設けられ、互いに対向配置される一対のミラー５６，５７と、一対のミラー５６，５７の間の寸法を可変する静電アクチュエーター５４と、第二基板５２の可動ミラー５７の内周側に設けられるとともに、第一基板５１に向かって突出する支持突出部５２４と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】複数の撮像画素中に複数の焦点検出画素が散在する撮像素子において、撮像画素の出力信号の飽和に先立って焦点検出画素の出力信号が飽和することを低減することができる撮像素子を提供する。
【解決手段】分光測定装置は、光源からの光束を波長に応じた回折角で分光する回折素子と、回折素子によって分光された所定波長の光束を検出する検出器と、分光された所定波長の光束の進行光路中に配置され、所定波長を透過するが、所定波長の略半分の波長を減衰する波長透過特性を有するフィルターと、を備える。 （もっと読む）

【課題】大掛かりな測定系の構築を必要とせず、簡便に光送信機に搭載される光変調器の動作条件を推定する。
【解決手段】光送信機２０に搭載された光変調器２２の仮定の動作条件である仮定動作パラメータを設定入力し、光変調器２２を搭載した光送信機２０からの被測定光のスペクトラムを測定するとともに、設定された仮定動作パラメータに基づく光スペクトラムを算出する。そして、測定した被測定光のスペクトラムと各仮定動作パラメータに基づき算出した光スペクトラムとの２乗平均誤差値を算出し、このうち最小の誤差値となる仮定動作パラメータに基づく光スペクトラムを判別抽出し、この抽出した光スペクトラムと被測定光の光スペクトラムのピーク値を合せた状態のスペクトラム波形とこれらの２乗平均誤差値とを表示部１７に表示する。 （もっと読む）

【課題】物質固有の減衰係数による影響を軽減して計測精度を向上させた多波長同時吸収分光装置を提供する。
【解決手段】キャリアエンベロープオフセット（ＣＥＯ）ロックされた光周波数コム光源から出力されるレーザ光を２つのレーザ光へ分岐する分岐部(120)と、分岐されたレーザ光のうち一方のレーザ光をプローブ光として測定対象物を設置するキャビティ(131)に入射してこのプローブ光の出力波形を抽出するプローブ光抽出部(130)と、分岐されたレーザ光のうち他方のレーザ光をリファレンス光として周波数をシフトし、この周波数をシフトしたリファレンス光を前記キャビティ(131)と同じ構成でかつ真空状態のキャビティ(142)に入射してリファレンス光の出力波形を抽出するリファレンス光抽出部(140)と、プローブ光とリファレンス光を干渉させる干渉信号導出部(150)と、前記干渉信号の光周波数コムのモード毎の光強度を導出する干渉信号調整部(160)とを設けた。 （もっと読む）