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Fターム[2G028CG08]の内容

抵抗、インピーダンスの測定 (8,300) | 測定する値 (1,732) | インピーダンス、アドミタンス、(WL、1/WC、R) (267)

Fターム[2G028CG08]に分類される特許

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【課題】4端子対法による計測が行える回路基板検査装置において、プローブのコンタクトチェックのための専用回路が不要であり、また、測定中においても適宜コンタクトチェックが行えるようにする。
【解決手段】高電位側電圧プローブP3および低電位側電圧プローブP4に接続される各同軸ケーブルCの内部導体ILと外部導体Sとの間に、高周波領域で定在波が発生しないように、インピーダンスマッチング用の抵抗素子R0とスイッチSW2とを含む直列回路22を接続し、スイッチSW2がオフであるときの内部導体ILと外部導体S間の第1の電圧値と、スイッチSW2がオンであるときの内部導体ILと外部導体S間の第2の電圧値とに基づいて、各電圧プローブP3,P4の接触状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】測定値と検査用閾値とを比較する検査機能で装置を動作させる際に、測定者による測定レンジの設定作業が不要でありながら、短時間で測定を行うことができる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置1は、複数の測定レンジの中の一つの測定レンジでDUT90のパラメータを測定する測定部2と、測定に用いる一つの測定レンジを測定部2に設定するCPU3(レンジ制御部)と、測定部2の測定した測定値と予め設定された検査用閾値との比較を行うCPU3(検査部)とを備える測定装置1であって、レンジ制御部が、検査用閾値に基づいて、一つの測定レンジを決定する。 (もっと読む)


【課題】測定値に対する演算処理を行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置1は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部2に実行させる測定制御手段と、測定条件に従って測定部2が測定した測定値を使用して、タッチパネル10に表示されている、演算式入力設定窓23の入力操作領域23aを操作して、予め設定された演算式表示領域23bに表示されている演算式で演算を行う演算手段とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】複数の測定レンジのうちの一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定装置において、測定条件の設定を簡便に行うことのできる測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置は、複数の測定レンジの中の一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定部と、タッチパネル10に表示させた測定レンジごとの測定条件を個別に入力設定するためのレンジリスト編集画面と、それぞれの測定レンジに対応させて測定条件を記憶するメモリと、測定に用いる一つの測定レンジを測定部に設定すると共に、一つの測定レンジに対応する測定条件をメモリから読み込んで、測定条件で測定部に測定させる測定制御部とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】差動信号伝送用ケーブルの端末部において生じるインピーダンス不整合を可能な限り低減し、差動信号伝送用ケーブルそのものが持つ純粋な特性を評価することができる差動信号伝送用ケーブルの特性評価機構及び特性評価方法を提供する。
【解決手段】差動信号伝送用ケーブル11の信号線導体12が接続される信号線パッド13と、差動信号伝送用ケーブル11のシールド導体14が接続されるグランドパッド15と、を有する基板16と、信号線導体12を信号線パッド13に押し付ける押さえ部材17と、弾性絶縁シート18と、弾性絶縁シート18の片面に設けられた金属箔19と、からなり、金属箔19をシールド導体14とグランドパッド15とに接触させることで、シールド導体14とグランドパッド15とを間接的に接続するシールド導体保持シート20と、シールド導体保持シート20を固定するクリップ21と、を備える特性評価機構10である。 (もっと読む)


【課題】デルタ回路を構成する第1ないし第3のインピーダンス要素のうちの第1のインピーダンス要素のインピーダンス測定において、第2のインピーダンス要素と第3のインピーダンス要素の間に流れる電流をゼロに抑え、第1のインピーダンス要素のインピーダンスを正確に測定できるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】このインピーダンス測定装置では、第2の導電路L2と電気接続された出力端子及び反転入力端子と、所定の基準電位(例えば、グランド電位)に電気接続された非反転入力端子とを有するオペアンプ34が備えられる。そして、第1のインピーダンス要素Z1と第2のインピーダンス要素Z2の間の第1の導電路L1の電位、及び第2のインピーダンス要素Z2と第3のインピーダンス要素Z3の間の第2の導電路L2の電位を基準電位に誘導しつつ、第1のインピーダンス要素Z1のインピーダンスが測定される。 (もっと読む)


【課題】電流供給用端子がシールド付き電線で電流源に接続されている測定装置において、電流供給端子とシールドとが接触したとしても電流制限回路が流れる電流を制限して装置を保護することができ、しかも、通常状態では、電流制限回路で無駄な電力が消費されず、無駄な熱が発生しない測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置1は、電流供給端子Hc,Lcを介して測定対象体(DUT)に測定用電流IDUTを供給する電流源2と、DUTに生じた電圧を検出する電圧検出回路3とを備え、測定用電流IDUT及び電圧検出回路3の検出電圧に基づいてDUTの電気的特性を測定するインピーダンス測定装置1であって、一対の電流供給端子Hc,Lcが各々シールド付き電線W1,W2で電流源2に接続され、シールドには、所定電位を付与すると共に、流れる最大電流を制限可能な電流制限用の抵抗Rp1が接続されているものである。 (もっと読む)


【課題】被測定試料(DUT)から得られる電圧信号と電流信号とを同時に測定しながら、測定系に含まれている信号変換回路で生ずる誤差を確実に打ち消す。
【解決手段】DUTの電圧信号出力系と電流信号出力系の信号変換回路100,200と、基準信号出力部440と、信号変換回路100を電圧信号出力系又は基準信号出力部440に接続するスイッチSW1と、信号変換回路200を電流信号出力系又は基準信号出力部440に接続するスイッチSW2とを有し、SW1,SW2を基準信号出力部440側に切り換えての第1ステップで出力される変換後基準信号からインピーダンスZを算出し、SW1,SW2を各出力系側に切り換えての第2ステップで信号変換回路100より出力される変換後電圧信号と信号変換回路200より出力される変換後電流信号とからインピーダンスZを算出したのち、Z/Zなる除算を行ってDUTのインピーダンスZを求める。 (もっと読む)


【課題】従来は直流インピーダンスを測定して電池の寿命を診断していたが、一部の電池は診断できなかった。また、測定に時間がかかるので、オンラインで診断することが難しかった。本発明は、簡単な装置で使用中に電池の交流インピーダンスを測定でき、寿命診断ができる装置を提供することを目的にする。
【解決手段】短時間電池の出力でコンデンサを充電し、この充電中におけるコンデンサ両端の電圧変化を測定し、ラプラス変換を用いて交流インピーダンスを演算するようにした。また、この交流インピーダンスから電池の寿命を診断するようにした。簡単な装置で、従来診断できなかった電池をも診断できる。 (もっと読む)


【課題】充電状態の電気二重層キャパシタの測定に関し、電荷放電を抑制して省エネルギー化を実現する。微小電圧変化での測定を可能にし、ノイズの影響を回避する。
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ(キャパシタモジュール4)に正弦波負荷(正弦波負荷回路12)を接続して放電回路(10)を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ(キャパシタモジュール4)を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段(電流検出回路20)で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段(電圧検出回路22)で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段(演算部24、MPU32)により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。 (もっと読む)


【課題】等価回路のパラメータを正確に測定する。
【解決手段】試料のインピーダンスZ,位相θの実測周波数特性を実測する処理21と、Zの実測周波数特性での極大極小点を検出する処理22と、極大点のみのときに試料の等価回路が第1,第2等価回路のいずれかであると特定する処理24と、Z,θの各実測周波数特性から第1,第2等価回路の各パラメータ値を算出する処理25と、Z,θの各実測周波数特性からリアクタンスの実測特定周波数特性を算出する処理26と、第1,第2等価回路の各リアクタンスついての理論第1周波数特性および理論第2周波数特性を算出する処理27と、理論第1周波数特性および理論第2周波数特性のうちの実測特定周波数特性に、より近似する周波数特性の等価回路を試料の等価回路として特定する処理28と、特定した等価回路の各パラメータ値を試料の等価回路の各パラメータ値として決定する処理29とを実行する。 (もっと読む)


【課題】より簡単に、より迅速に等価回路モードを選択する。
【解決手段】周波数特性測定制御部52は、測定部を制御し、試料のインピーダンスおよび位相を測定させ、その測定値を取得する。判定部53は、測定されたインピーダンスに極大値または極小値があるか否かを判定する。等価回路モード選択部54は、極大値または極小値があるか否かの判定結果によって、試料の等価回路を示す等価回路モデルを用いて測定が行われる等価回路モードを選択する。本発明は測定装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】低周波数における容量性の高インピーダンスを効果的に測定する。
【解決手段】SMU12から、1kHz未満のゼロでない周波数の交流成分を含む電圧信号V1をDUT30に供給する。供給した電圧信号V1は、バッファ増幅器20を介して制御及び測定部22で測定する。一方、DUT30を流れる電流信号は、バッファ増幅器24を介して制御及び測定部22で測定する。制御及び測定部22は、電圧信号及び電流信号の測定値を同期させてデジタル化し、デジタル化した電圧信号及び電流信号からインピーダンスを計算する。 (もっと読む)


【課題】測定スピードを飛躍的に向上する。
【解決手段】検索部53は、周波数方向の第1の間隔の測定点で測定された第1の測定値から、極大値または極小値である極値を検索する。測定制御部52は、測定部31を制御し、測定部31に、第1の測定値から検索された極値を含む周波数の範囲を第1の間隔に比較して狭い予め定められた第2の間隔の予め定められた数の測定点で測定させる。検索部53は、第2の間隔の測定点で測定された第2の測定値から極大値または極小値である極値を検索する。象限周波数測定ポイント追加部55は、第2の測定値から検索された極値の周波数の象限周波数を含む周波数の範囲について、第1の間隔に比較して狭い予め定められた第3の間隔の予め定められた数の測定点を設定する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する際に、素子定数の一部を任意の値に固定して、他の残りの素子定数を推定することができる等価回路解析装置及び等価回路解析方法を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置は、測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定する測定部と、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を任意の値に設定する操作が可能な設定ボタン13bと、素子定数Cを固定する操作が可能な固定ボタン14bと、測定部の測定した測定対象物の周波数特性に基づいて、固定ボタン14bによって固定された素子定数Cを変更せずに、他の素子定数R,Lの推定を行う推定部とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】より簡単に、より迅速に電気的特性を測定する。
【解決手段】掃引測定制御部52は、測定部に、それぞれ予め定められている開始周波数から終了周波数までの予め定められた数の測定点における周波数で試料の第1の測定値を測定させる。共振周波数特定部53は、第1の測定値から共振周波数を特定する。中心周波数設定部54は、特定された共振周波数を測定の中心の周波数である中心周波数に設定する。掃引測定制御部52は、測定部に、中心周波数を中心とした範囲の予め定められた数の測定点における周波数で測定対象の第2の測定値を測定させる。表示制御部55は、表示部に、第1の表示領域に第1の測定値を表示させ、第2の表示領域に第2の測定値を表示させる。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】より短い測定時間で、より正確な共振周波数を得る。
【解決手段】極値探索部51は、被測定回路12を測定して得られた周波数とインピーダンスとを示す測定点から、極大値または極小値である極値を探索する。算出部52は、周波数を示す第1の軸とインピーダンスを示す第2の軸とが直交する平面上に配置された測定点のうち、極値および極値の周波数より高い周波数の測定点であって、隣接する測定点を結ぶ直線と極値の周波数より低い周波数の測定点との平面上の位置の関係から共振周波数を算出する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】抵抗体の等価回路のパラメータを十分な精度で算出する。
【解決手段】抵抗体の並列共振周波数fpを含む周波数帯域のZ,θの各周波数特性を取得するZθ周波数特性取得処理と、抵抗体のレジスタンスrの周波数特性、並列共振周波数fpおよび最大値rmaxを検出するr周波数特性測定処理と、象限周波数f1,f2からQを算出するQ算出処理と、パラメータ値Cv(=Q/(2×π×fp×rmax))を算出するC算出処理と、パラメータ値Lv(=2×Q/{(2×π×fp)×Cv×(2×Q−1)})を算出するL算出処理と、並列共振周波数fpから十分に離れた低域側の周波数fL1でのZおよびθに基づいて周波数fL1でのコンダクタンスGおよびサセプタンスBを算出するGB算出処理と、パラメータ値Rv(=2×π×f×G×Lv/(2×π×f×Cv−B))を算出するR算出処理とを実行する。 (もっと読む)


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